Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Параметры оптической системы

Рис. 14.22. К выводу зависимости освещенности изображения от яркости предмета и параметров оптической системы. Рис. 14.22. К выводу <a href="/info/237557">зависимости освещенности изображения</a> от яркости предмета и параметров оптической системы.

Большинство конструктивных параметров оптической системы можно представить числовыми значениями диаметры и толщины компонентов, расстояния между ними в случае асферических компонентов - коэффициенты асферичности спектральные показатели преломления и коэффициенты пропускания оптических ког понентов. В сложных оптических системах число конструктивных параметров составляет несколько десятков.  [c.11]

Для быстрого нахождения величин макро- и микротвердости на ЭВМ МИР были рассчитаны и напечатаны таблицы значений твердости при различных размерах отпечатков, параметров оптической системы измерения отпечатков и величин нагрузок. Измерение размеров отпечатков проводилось с погрешностью, не превышающей 1% [206].  [c.112]

Последние выражения, позволяющие вычислять указанные критерии в оптических единицах, т. е. вне зависимости от конкретных параметров оптической системы, использованы в п. 3.3 при исследовании корреляции различных критериев качества.  [c.91]

Побочное вредное изображение. В оптических приборах в результате неправильного выбора параметров оптической системы иногда наблю-  [c.389]

В приближении тонких линз найти параметры оптической системы. Определить увеличение.  [c.145]

Тепловой метод неразрушающего контроля основан на регистрации инфракрасного излучения, исходящего от поверхности нагретого тела или его теплового поля, приемниками различного типа. Его применяют для обнаружения расслоений, пустот, раковин и других дефектов. Этот метод предусматривает дистанционное исследование тепловых полей излучения объектов в инфракрасном диапазоне. Тепловому методу неразрушающего контроля присущи следующие особенности высокая чувствительность к температурным сигналам (от десятых до тысячных долей градуса в зависимости от параметров оптической системы приемника) хорошее разрешение по углу зрения высокое быстродействие, ограниченное при активном контроле, как правило, мощностью нагревателя, а при пассивном —особенностями оптико-механического сканирования и инерционностью приемника зависимость выходного сигнала от свойств контролируемой поверхности и канала передачи инфракрасного излучения.  [c.91]

Перед началом дисперсионного анализа частиц необходимо выбрать рабочие параметры оптической системы микроскопа, а именно, метод микроскопии, полезное увеличение и в соответствии с этим подобрать объектив, окуляр и осветительный аппарат.  [c.155]

Более удобная форма, не зависящая от параметров оптической системы, получается, если выразить ОПФ через угловую пространственную частоту, измеряемую в герцах на радиан дуги,  [c.388]

Необходимо сделать несколько замечаний относительно предыдущих результатов. Во-первых, заметим, что в случае короткой экспозиции средняя ОПФ, связанная с атмосферой, зависит от диаметра /)о изображающей оптики, тогда как в случае длительной экспозиции результат не зависел от параметров оптической системы, формирующей изображение. Причина зависимости от йо в случае короткой экспозиции заключается в том, что среднеквадратичный наклон зависит от обратной величины как это видно из формулы (8.7.10). Таким образом, чем больше апертура, тем меньше наклонная компонента искажения волнового фронта.  [c.413]


Коэффициенты преобразования зависят только от параметров оптической системы и положения рассматриваемых плоскостей  [c.185]

В общем случае, когда указанные параметры оптической системы неизвестны, можно воспользоваться так называемым методом двух пробных лучей . Суть метода заключается в том, что выбираются два произвольных луча, проходящих через рассматриваемую оптическую систему. Пусть координаты следов выбранных лучей на входной плоскости системы будут х, ф 1 и Ф (рис. П.А.З). Рис. П.А.З. К методу двух Проследив ход лучей в системе, пробных лучей можно любым известным способом  [c.186]

Светосила щелевого спектрального прибора. При фотографической регистрации сведения о спектральном составе исследуемого излучения получаются в результате измерений плотности почернения фотослоя, на котором фокусируется спектр. Плотность почернения зависит от распределения освещенности на фокальной поверхности камерного объектива Яркость изображений, наблюдаемых на экране электронно-оптического преобразователя (ЭОП) или телевизора, также определяется освещенностью, создаваемой в каждой точке фотокатода ЭОПа или передающей трубки. Поэтому важно знать зависимость освещенности изображений входной щели, образующих спектр на фотослое или фотокатоде от параметров оптической системы спектрального прибора и условий измерений.  [c.347]

Знаки параметров оптической системы Х20, Хо и о совпа-)т со знаком коэффициента при г > ( з и (2<0. Они поло-тельны, когда минимальное увеличение будет при т=1, и от-,ательны, когда минимальное увеличение будет при т=—1.  [c.31]

Если обработка ведется в цилиндрической световой трубке, в которую вырождается световой конус при tg(9/2) = О, то дополнительно исключается оплавление стенок за счет непосредственного поглощения ими лазерного излучения. В итоге продукты разрушения будут в минимальной степени участвовать в формировании отверстия. Тем самым создаются все предпосылки для получения точных отверстий, размеры которых определяются и регулируются параметрами оптической системы и излучения.  [c.304]

Формулы Зайделя, выраженные через параметры одного параксиального луча. Часто представляется желательным выразить коэффициенты первичной аберрации в такой форме, которая наиболее отчетливо показывает их зависимость от параметров оптической системы формулы (13) непригодны для этой цели. Чтобы воспользоваться ими необходимо, в соответствии с законами параксиальной оптики, построить ход двух лучей, один из которых выходит из осевой точки предмета, а другой — из центра входного зрачка. Зайдель, однако, показал, что параметры второго луча можно исключить, т. е. выразить коэффициенты первичных аберраций только через параметры первого луча. Естественно, в 4х>рмулах останется величина, зависящая от положения входного зрачка, поскольку ясно, что изменение положения соответствующей диафрагмы влияет на аберрации.  [c.215]

Пока все хорошо. Оптическая система описывается функцией т ( ), структура объекта — функцией Фоо ((о), а характер назначения прибора укажет, какой фактор качества необходимо выбрать. Но чтобы практически использовать эти соотношения, необходимо сделать некоторые предположения относительно Фоо ( ). При отсутствии конкретных данных об объекте мы можем прибегнуть к теории информации и исходить, так сказать, из принципа максимального незнания . Именно, мы выберем для Фоо ( ) форму белого (т. е. со спектром, равномерным по крайней мере до частоты среза фильтра) гауссова (нормального) шума. Это связано с тем, что среди всех структур объектов, характеризуюш ихся фиксированной величиной среднего квадрата флуктуаций яркости, структуре с нормальным распределением величин яркости соответствует максимальная энтропия. Выбор спектра, равномерного вплоть до пределов разрешения, позволяет нам вынести Фо ( ) за знак интеграла и сконцентрировать внимание на зависимости показателей качества от параметров оптической системы [через х((о)].  [c.162]

Таким образом, величины Р, W и я, зависящие только от внутренних элементов компонента (от радиусов поверхностей и от показателей преломления стекол), являются параметрами, полностью определяющими все аберрации третьего порядка монохроматического луча при любом положении предмета и любом положении входного зрачка. В дальнейшем мы будем называть эти величины основными параметрами оптической системы они определяют, как показывают вычисления, ие только аберрации третьего  [c.254]


ПАРАМЕТРЫ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ  [c.299]

Суш ествует два основных пути для определения частных производных. Первый путь — составление этих производных на основании соотношений между параметрами оптической системы и положением изображения, фокусным расстоянием и другими габаритными элементами, выражаемых основными формулами параксиальной оптики, например -- Аналогично  [c.472]

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЗНАЧЕНИЙ ДОПУСТИМЫХ ОТКЛОНЕНИЙ ПРИ СОВОКУПНОМ ДЕЙСТВИИ ВСЕХ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ  [c.473]

Для плоского волнового фронта радиус ш-й зоны Френеля связан с параметрами оптической системы соотношением = тЬк, где т — видимое из точки наблюдения число зон Френеля Ь — расстояние до точки наблюдения (см. формулу 7.2). Отсюда находим, что  [c.168]

Отметим также, что в качестве конструктивных параметров оптической системы как объекта проектированш на системотехническом уровне выступают размеры зрачка входа и его псложение, увеличение системы, а также параметры разложения в ряд соотв лствующей передаточной функции или импульсного отклика.  [c.55]

Оператор О.С. (оптическая систем2 , некогерентная). При использовании этого оператора возможны три способа задания конструктивных параметров оптической системы  [c.175]

Значения конструктивных параметров оптической системы задаются в полулогарифмической форме, соответствующей записи исходных данных для программ на aлгopитмичe кo языке Фортран-IV для чисел с  [c.175]

Оператор О.С. Отличие этого формуляра от описанного выше заключается прежде всего в отсутствии описания конструк гивных параметров оптической системы на схемотехническом уровне. Креме того, формуляр содержит описание области определения и собственно функции, с помощью которой описывается ОПФ или импульсный отклик оптической системы. Ниже приводится образец фо])муляра, в котором опущены поля для задания графиков функщ<й.  [c.198]

Оценки основных термодинамических характеристик плазмы искрового канала температуры, коэффициентов и показателей поглощения, потерь энергии с излучением и других - основаны на измерениях спектральной плотности лучистого потока (или яркости Ья). Результаты измерений спектральной плотности яркости искрового канала в оптически прозрачных твердых диэлектриках (ЩГК, органическом стекле, полевом шпате) по методу сравнения, несмотря на тщательный контроль за сохранением условий эксперимента (параметров разрядной цепи, длины межэлектродного промежутка, параметров оптической системы, геометрии образца и т.д.), подвержены значительным статистическим флуктуациям. Природа этих разбросов обусловлена малыми радиальными размерами искрового канала, особенно в начальной стадии его расширения, искривлениями и нестабильностью положения канала относительно оси электродов, вариациями кинетики трещин вокруг канала и т.п. Изучение влияния типа ЩГК, режимов энерговклада и других факторов возможно только с применением статистических методов, в частности, дисперсионного анализа. Результаты проверки закона распределения отдельных измерений максимального значения спектральной плотности  [c.45]

Таким образом, естественно разбить параметры оптической системы на две группы в одну нз них входят оптические силы ф(, и высоты й,, ко второй относятся лараметры, oпpeдeляюш e форму линз, например углы а, образуемые с осью первым вспомогательным лучом в стекле отдельных линз. ч  [c.241]

Одним из авторов этой книги совместно с М. М. Ермолаевым была рассмотрена возможность использования в оптическом коррел5ггоре (рис. 68) фильтров-голограмм, синтезированных на ЭВМ, а также сопоставления результатов корреляционного анализа типовых объектов при работе с синтеэированньош и физическими голограммами. Совпадение геометрических условий расчета и параметров оптической системы контролировали следующим образом. Синтезированную голограмму устанавливали в плоскости П3. При освещении опорным пучком в плоскости Пд наблюдали восстановленное изображение и опорный пучок. Угол между ними должен соответствовать углу между опорным и объектным пучками, принятому при синтезировании голограммы. Изображения объектов-транспарантов изготавливали в таком масштабе, ч ы при установке в плоскости Щ они имели в плоскости те же размеры, что и изображения, восстановленные синтезированными голограммами.  [c.136]

В оптических приборах в результате неправильного выбора параметров оптической системы иногда наблюдается наложение друг на друга основного и побочного изображений. Побочное изображение в телескопических системах возникает в тех случаях, когда вследствие неправильного выбора размеров призменной системы различные пучки лучей имеют неодинаковое число отражений. Для устранения побочного изображения, даваемого качающимися визирньиш призмами, иногда приходится вводить подвижные шторки (фиг. 261).  [c.414]

Одностороннее ограничение поля зрения, неравЬо-мерность его освещения возникают при нарушении центрировки оптической системы, неправильной настройки освещения, применении ламп с плотностью витков спирали, не соответствующей параметрам оптической системы, осветителя. Этот недостаток устраняют юстировкой оптической системы, правильной настройкой освещения, а также установкой матового стекла в осветительную систему. Иногда аналогичные дефекты возникают вследствие применения неисправных или нестандартных оправ вспомогательных приспособлений и возникновения рефлексов от дефектов на поверхностях линз и тубуса. В этом случае нужно заменить оправу и элемент, дающий рефлекс.  [c.166]

Выразим параметры оптической системы СПУ через коэффициенть  [c.12]

Выражения (11). (13) и (14) позволяют По заданным значецням М. I н к вычисл 1ть С и, До, а следовательно, п параметры оптической системы СПУ по формулам. (3)  [c.15]

Выразим величину смещения плоскости изображения Д в функ-и параметров оптической системы л о. о, 2, л го величин т, и 2 [16]. Используем для величин т и А обычное правило аков, применяемое в теории оптических систем (влево от нуле-го положения величины имеют знак минус, вправо — плюс).  [c.17]


Определяем зависимость смещения плоскости нзображении, 11 от параметров оптической системы и величины т  [c.81]

Нахождение численных значений конструктивных параметров для выбранной конструкции оптической системы как при неавтоматическом, так и при автоматическом выполнении работы может быть осуществлено двумя принципиально различными путями. Во-первых, могут использоваться методы универсального характера, основанные на различных способах постепенных приближений и применимые к системам любого типа и любой степени сложности. Такие методы, хорошо известные и при неавтоматическом выполнении работы, иосят название методов проб. При использовании таких методов необходимо иметь некоторые числовые значения конструктивных параметров оптической системы, принимаемой за исходную. Эти значения могут быть выбраны более или менее произвольно либо определены на основании предварительных расчетов, например расчетов в области аберраций третьего порядка. Во-вторых, могут использоваться методы, основанные на решении систем уравнений, связывающих конструктивные параметры системы с аберрациями. Такого рода уравнения удается составить, к сожалению, только для области третьих порядков  [c.379]


Смотреть страницы где упоминается термин Параметры оптической системы : [c.529]    [c.104]    [c.222]    [c.663]    [c.417]    [c.9]    [c.356]    [c.318]    [c.238]    [c.28]    [c.41]    [c.501]    [c.501]   
Смотреть главы в:

Методы расчета оптических систем Изд.2  -> Параметры оптической системы



ПОИСК



Ось оптическая системы

Параметр системы



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте