Дифракция в на отражение

Включение потенциалов Бете в двухволновое приближение, как в случае дифракции электронов на прохождение (см. [339]), очевидно. Однако, например, в случае прохождения через очень тонкие кристаллы, когда в дифракционный процесс включается только несколько слоев атомов, как при дифракции электронов на отражение, справедливость потенциалов Бете уже может оказаться под вопросом. [c.192]

Изделие, покрытое шликером и высушенное, нагревают в печи до оплавления эмали. Температура и продолжительность обжига неодинаковы для различных эмалей. Так как эмаль представляет собой стекло, то изменение ее оптических свойств может быть достигнуто введением в состав частиц, имеющих - иной показатель преломления (глушитель). Падающий на эмаль свет из-за наличия посторонних частиц рассеивается в процессах отражения и дифракции. Таким образом, можно при меньшей толщине слоя покрытия исключить влияние подложки и сделать эмаль непрозрачной при достаточно малой толщине 30—40 мкм. [c.102]

К соотношению (161.3) можно прийти, рассматривая дифракцию света на бегущей волне. В направлении, определяемом углом б, приходит свет, зеркально отраженный от бегущих волн, движущихся со скоростями ц. Принимая во внимание эффект Допплера, можно получить формулу Мандельштама — Бриллюэна (161.3). [c.594]

Процесс распространения нейтронных волн в веществе, как и всякий волновой процесс, во многом аналогичен распространению электромагнитных, в частности, световых волн. Нейтронные волны в веществе могут испытывать дифракцию, преломление, отражение (в том числе полное внутреннее), могут поляризоваться и т. д. Эта аналогия часто приводит к тому, что и методы расчета в ряде случаев аналогичны в нейтронной и обычной оптике. Например, в п. 2 мы увидим, что условия дифракции в обоих случаях одинаковы. Длины волн холодных нейтронов ненамного превышают межатомные расстояния. Поэтому распространение волн тепловых и холодных нейтронов в веществе более похоже на прохождение жестких рентгеновских волн, чем на распространение видимого света. [c.550]

Проходя через кристалл, тепловые нейтроны подобно рентгеновским лучам претерпевают дифракционное рассеяние. Это рассеяние проявляется в том, что при попадании пучка нейтронов в кристалл возникают новые пучки, идущие в направлениях, отличающихся от первоначального. Возможные направления этих дифрагированных пучков рассчитываются для нейтронов совершенно так же, как и для рентгеновских лучей. Упрощенный, но, как показывает более точное рассмотрение, в общем правильный механизм явления дифракции таков. На кристалл падает плоская нейтронная волна. Ядра, расположенные в определенной кристаллической плоскости, отражают эту волну. Параллельных кристаллических плоскостей очень много. Волны, отраженные в каждой из [c.551]

Широкое использование их для практических целей одновременно ставило задачи и перед другими разделами радиоэлектроники. Прежде всего, например, возникали вопросы, относящиеся к исследованию своеобразных колебательных систем, используемых в этой области техники. Подлежали глубокому рассмотрению вопросы внутренней электродинамики полых резонаторов и направляющих устройств. Ставились и разрешались вопросы внешней электродинамики, главным образом в связи с развитием радиолокации. Надо было теоретически и практически изучить излучение и прием радиоволн новых диапазонов. По-другому пришлось подойти к расчету и конструированию антенных устройств. Предстояло разобраться в явлениях отражения ультракоротких волн от различных целей , начиная от простых геометрических фигур и кончая сложными телами, какими на практике могли быть корабли, самолеты, ракеты, спутники Земли и другие объекты. Очень большое внимание надо было уделить вопросам распространения волн (влияния подстилающей поверхности, дифракции, рефракции, поляризации и др.). Были подвергнуты изучению явления поглощения и рассеяния ультракоротких волн естественными и искусственными образованиями в атмосфере, в газах, аэрозолях, при наличии метеорологических неоднородностей в атмосфере, отражения от метеорных следов и т. п. Находились в центре внимания также и задачи, связанные с отысканием способов уменьшения или полного устранения отражений этих волн и многое другое. Наконец, нужно было разработать совершенно новые методы измерений и создать для этого измерительную технику. [c.381]

На рис. 15 дана зависимость Gx от толщины слоя при обратной съемке стальных образцов на Со-излучении (20=136,7°). Из рисунка следует, что 95% интенсивности отраженного пучка возникает при дифракции в слое толщиной 0,025 мм и из них 50% отражает состояние решетки в слое толщиной всего лишь 0,005 мм. Следует отметить, что толщина слоя 0,025 мм соответствует проникновению лучей на толщину примерно в одно зерно (при размере зерен 8 баллов). [c.37]

Простейшим О. р. является интерферометр Фабри— Перо, состоящий из двух плоских параллельных зеркал. Если между зеркалами, расположенными на расстоянии d друг от друга, нормально к ним распространяется плоская волна, то в результате отражения её от зеркал в пространстве между ними образуются стоячие волны (собств. колебания). Условие их образования d = gVl, где q — число полуволн, укладывающихся между зеркалами, наз. продольным индексом колебания (обычно q 10 —10 ). Собств. частоты О. р. образуют арифметич. прогрессию с разностью 2d (эквидистантный спектр). В действительности из-за дифракции на краях зеркал поле колебаний зависит и от поперечных координат, а колебания характеризуются также поперечными индексами т, п, определяющими число обращений поля в О при изменении поперечных -координат. Чем больше тип, тем выше затухание колебаний, обусловленное излучением в пространство (вследствие дифракции света на краях зеркал). Моды с /п = rt = О наз. продольными, остальные — поперечными. [c.454]

В любой упругой среде из-за внутр. трения и теплопроводности распространение У. в. сопровождается её поглощением (см. Поглощение звука). Если на пути У. в. имеется к.-л. препятствие (отражающая стенка, вакуумная полость и т. д.), то происходит дифракция волн на этом препятствии простейший случай дифракции—отражение и прохождение У. в. на плоской границе двух полупространств. [c.234]

Особенности Э. в., законы их возбуждения и распространения описываются Максвелла уравнениями. Если в какой-то области пространства существуют электрич. заряды е и токи 1, то изменение их со временем г приводит к излучению Э. в. На характер распространения Э. в. существенно влияет среда, в к-рой они распространяются. Э. в. могут испытывать преломление, в реальных средах имеет место дисперсия волн, вблизи неоднородностей наблюдаются дифракция волн, интерференция волн, полное внутреннее отражение и др. явления, свойственные волнам любой природы. Пространств, распределение эл.-магн. полей, временные зависимости Е(1)и H(t), определяющие тип волн (плоские, сферические и др.), вид поляризации и др. особенности Э. в., задаются, с одной стороны, характером источника излучения, с другой—свойствами среды, в к-рой они распространяются. В случае однородной и изотропной среды вдали от зарядов и токов, создающих эл.-магн. поле, ур-ния Максвелла приводят к волновым уравнениям [c.543]

Рассмотрим дифракцию Е- или Я-поляризованной плоской электромагнитной волны единичной амплитуды на периодической структуре (см. рис. 1). Условия 1, 2, 4 1.1 выполняются, если решение задачи в зонах отражения и прохождения решетки представить в виде следующих разложений [c.16]

При изучении процессов рассеяния волн решетками большой интерес представляет распределение линий потока энергии поля вблизи отдельных элементов, зачастую дающее ключ к пониманию тех или иных особенностей дифрагированных полей [201—203]. В [204] установлен закон симметрии линий потока энергии в зонах отражения и прохождения при дифракции нормально падающих плоских волн на периодических структурах, обладающих двойной симметрией (решетки из прямоугольных и круглых брусьев, плоские ленточные решетки и пр.). В качестве иллюстрации установленной [c.36]

Подробный обзор приближенных методов решения задачи дифракции волн на эшелетте дан в 132]. Эти методы применимы для малых глубин канавок (метод Рэлея, метод малых возмуш,ений) либо при очень коротких длинах волн и условии, что направление распространения одной из гармоник поля близко к направлению луча, зеркально отраженного от грани зубца эшелетта (метод Бреховских, метод физической оптики). В строгой постановке задача дифракции волн на симметричном эшелетте с углом 90° при вершине зубца впервые рассмотрена в 1962 г. методом частичных областей, приемлемым лишь при нормальном падении первичной волны [44]. [c.142]

Подведем предварительные итоги рассмотрения нашей вспомогательной задачи. Если угол падения плоской волны на периодическую структуру из поглощающих экранов достаточно мал, то большая часть энергии излучения не поглощается, ал рассеивается благодаря дифракции. В рассеянном излучении основную роль играет отраженная волна, на которую приходится значительная часть суммарной, интенсивности излучения. Таким образом, амплитуда отраженной плоской волны сопоставима с амплитудой исходной падающей волны, приближаясь к ней по мере уменьшения а. [c.97]

Следует отметить, что при анализе данных формул не учитывались явления дифракции, преломления и отражения упругих волн на границах раздела сред, так как среда считалась однородной в связи с тем, что длина волны колебаний была значительно больше размеров отдельных компонентов среды. [c.135]

Первоначально Шредингер предпринял попытку истолковать корпускулы, и в частности электроны, как волновые пакеты. Эта попытка потерпела неудачу пакеты с течением времени расплываются 1 и могут даже разделиться на две части, а необходимым признаком элементарных частиц является их неделимость. Так, электрон не может в процессе дифракции разделиться на части, тогда как волна, например, на границе двух сред разделяется на отраженную и преломленную. [c.18]

Чтобы можно было наблюдать дифракцию нейтронов на кристаллах, длина волны нейтрона должна быть порядка периода пространственной решетки ( 10 см). Такая длина волны соответствует энергии нейтронов меньше 100 эв. Дифракция медленных нейтронов на кристаллах представляет большой интерес, так как появляется возможность определять межатомные расстояния независимо от числа орбитальных электронов в атоме благодаря тому, что нейтроны рассеиваются на ядрах (при рентгеновской дифракции рассеяние происходит на электронах). Кро,ме того, при отражении от поверхности кристалла в заданном направлении выделяются нейтроны с определенной энергией. [c.202]

Отражение от конца трубы дает сложную дифракционную картину вблизи отверстия. Строгое рассмотрение этого явления может быть проведено на основе теории неоднородных волн (гл. 6). Здесь мы ограничимся указанием, что для труб, диаметр которых гораздо меньше длины волны, уже на небольшом расстоянии А/< Х от отверстия отраженная волна делается плоской линии тока изобразятся в этой области прямыми, параллельными оси трубы. Все волны другого вида, возникающие в результате отражения и в сумме дающие картину дифракции, затухают очень быстро вблизи отверстия и вдаль не распространяются. [c.147]

Микрофон МКЕ-212 выполнен в виде миниатюрной малошумящей электретной мембраны диаметром 10 мм с воспринимающим отверстием диаметром всего лишь 0,5 мм, которая смонтирована заподлицо на жесткой пластине размерами 165 X 185 мм (толщиной 10 мм). Поэтому устраняются все отражения и дифракция в преобразователе. В результате частотная характеристика микрофона соответствует частотной характеристике мембраны. [c.93]

Причины всех этих явлений довольно просты, но они играют гораздо большую роль, чем это кажется на первый взгляд. Изучение поведения звука в помещениях не менее важно, чем любой другой аспект акустики, и не только потому, что наслаждение, испытываемое тысячами любителей музыки, зависит от познаний архитектора в области акустики, но и, быть может, еще в большей степени потому, что разнообразные шумы, которые возникают в помещениях и наносят вред слуху работающих там людей, во многом зависят именно от окружения. Настоящая глава как бы подытоживает все сказанное в предыдущих главах, и здесь мы покажем, как явления излучения, дифракции, поглощения и отражения, комбинируясь тем или иным путем, способны либо доставлять удовольствие, либо портить жизнь всем, кто находится в помещениях. [c.179]

Голографирование. Восстановление изображения предмета. Уширенный с помощью простого оптического устройства пучок лазера (рис. 8,1) одновременно направляется на исследуемый объект и на зеркало. Отраженная от зеркала опорная волна и рассеянная объектом световая волна надают на обычную фотопластинку, где происходит регистрация возникшей сложной интерференционной картины. После соответствующей экспозиции фотопластинку проявляют, в результате чего получается так называемая голограмма — за[)егнстрнро-ванная на фотопластинке нптерфереици-онная картина, полученная при наложе-пип опорной н предметной воли. Голограмма внешне похожа на равномерно засвеченную пластинку, если не обращать внимания иа отдельные кольца н нятна, возникшие вследствие дифракции света на пылинках и не имеющие отношения к информации об объекте. [c.206]

В опытах по дифракции электронов на поликристаллической фольге найдено, что диаметр дифракцис1НН0Г0 кольца, соответствующего отражению первого порядка от плоскостей с межплоскостным расстоянием d, равен г = 3 10 м. Расстояние от фольги до экрана /= 15- 10 м. Найти d. Энергия электронов 200 эВ. [c.66]

Дельта-метод (рис. 2,3, в) основан на использовании дифракции волн на дефекте. Часть падающей на дефект поперечной волны от и.злучателя 2 отражается зеркально, а другая часть дифрагирует в виде поперечной и трансформированной продольной волн. При отражении волна также частично трансформируется в продольную волну. Дифрагированная продольная волна поступает на приемник 4 продольных волн, который несколько позднее принимает также продольную волну, отраженную от нижней поверхности изделия. [c.96]

Ложные сигналы рассматриваемого типа возникают в результате отражения и дифракции от выпуклости сварного 1.шва ML (риг. 5.43, б) [58]. При углах ввода 35. .. 55° ложные сигналы обусловлены зеркальным отражением от поверхности ъ некоторой точке /- i или При больших углах ввода зеркального отражения не наблюдается, однако остаются более слабые сигналы, возникаю-HtHe в результате дифракции на ребрах М и L. Дифракция порождает также поверхностные и головные волны, распространяющиеся вдоль дуги AIL, причем при меньших углах ввода образуются поверхностные, а при больших — головные волны. Эти волны многократно проходят вдоль дуги ML, частично трансформируясь каждый раз в объемные волны. В результате после дифракционного эхо-сигнала наблюдают ряд ослабевающих импульсов 15]. [c.282]

Гетеролазеры и гетерофотоприём-н и к и, используемые в сочетании с плёночными полупроводниковыми Болиоводами, могут выполняться на основе единой Г. и на общей полупроводниковой подложке объединяться (интегрироваться) в оптич. схему (методами планарной технологии). Для управления условиями генерации и распространения света часто используются сложные Г., активный слой к-рых состоит из неск. слоев постоянного или плавно изменяющегося состава с соответствующим изменением Sg. Помимо локализации света в пределах одного или неск, слоёв в плоскости ГП, при создании интегрально-оптнч. схем возникает необходимость дополнит, локализации световых потоков в плоскости волноводных слоёв (в плоскости ГП). Такие волноводы наз. полосковыми и создаются изменением либо состава и свойств полупроводника в плоскости ВОЛ1ГОВОДНОГО слоя, либо толщины слоёв, Встраивание гетеролазера в волноводную схему осуществляется с помощью оптического резонатора, образуемого периодич, модуляцией толщины волноводного слоя. При определ. выборе периода модуляции благодаря дифракции в волноводе возникает волна, бегущая в обратном направлении. В результате формируется распределённое отражение света (см. Интегральная оптика). [c.449]

Резонансная дифракция света на высокочастотном звуке, длина волны к-рого удовлетворяет условию наа. дифракцией Брэгга или брэгговской д к ф р а к ц и о й. Она представляет собой частичное отражение волны от звуковой решётки (рис. 5). Эффективная дифракция имеет место, если воллы, отражённые от соседних максиму.чов показателя пре-ломле1шя, ммен т разность оптич. хода, равную К. Это происходит, если свет падает под определ. углом, т. н. уг.дом Брэгга 0б- При брэгговской дифракции свет отклоняется только в один из максимумов 1-го поряд- [c.678]

Анализ энергетич. спектров неупруго рассеянных электронов составляет основу спектроскопии характеристических потерь энергии электронов, исследующей коллективные (плазменные) и одночастичные возбуждения валентных электронов с энергией до < 50эВ, и ионизационной спектроскопии, изучающей возбуждение и ионизацию электронов внутр. оболочек атомов (электронов острова) в диапазоне потерь энергии —5000 эВ. В зависимости от используемой энергии первичных электронов в Э. с. (и в дифракции электронов) различают два случая. Если энергия лежит в интервале от десятков до 100 кэВ, то регистрируются либо электроны, прошедшие сквозь тонкий слой вещества, когда получаемая информация характеризует его объёмные свойства, либо электроны, отражённые от поверхности под скользящими углами. Обычно при этом аппаратуру совмещают в одном приборе с электронным микроскопом [5 ]. В области низких и ср. значений энергии (не превосходящих неск. кэВ) используется геометрия эксперимента на отражение. В этом случае получают информацию о структуре и свойствах приповерхностного слоя, толщина к-рого примерно равна длине свободного (по отношению к неупругому взаимодействию) пробега электрона X. При энергии электронов 50—100 эВ, когда X, составляет неск. моноатомных слоев, достигается наиб, чувствительность метода к свойствам поверхности. При большей и меньшей энергии глубина зондирования возрастает. [c.553]

Определим точнее предмет исследования предлагаемой книги. Как всякий оптический элемент (призма, зеркало, линза, объектив и т. п.), голографический оптический элемент преобразует волновой фронт падающей на него световой волны фокусирует, отклоняет, расщепляет его и т. п. Однако, и в этом первая особенность голографических элементов, в основе данного преобразования лежит дифракция света на периодической или квази-периодической структуре, а не преломление или отражение, как в классических аналогах. В этом смысле голографические элементы можно назвать дифракционными оптическими элементами. Вторая особенность заключается в методе получения здесь, как правило не используют традиционной оптической технологии. Дифракционную структуру элемента формируют, фиксируя в высокоразрещающей фоточувствительной среде картину, возникающую при интерференции двух или нескольких когерентных световых волн. [c.3]

Применение такого мощного источника излучения, как синхротрон, снизило требования к апертуре и светосиле приборов и дало возможность повысить разрешение за счет использования высоких порядков дифракции в скрещенных схемах. Обзор современных типов монохроматоров скользящего падения для синхротронов приведен в работе [25]. Из более поздних публикаций укажем на работу Вернера и Висселя [99], в которой описан монохроматор с плоской решеткой, работающей в схеме конической дифракции (рис. 7.18). Пучок, прошедший через входную щель, коллимируется параболическим зеркалом и через плоское зеркало направляется под скользящим углом на решетку дифрагированный пучок поворачивается вторым плоским зеркалом и фокусируется параболическим зеркалом на выходной щели. Сканирование спектра выполняется одновременно перемещением решетки перпендикулярно к отражающей грани штрихов и поворотом плоских зеркал, при этом изменяется только угол скольжения, условие блеска сохраняется. При использовании решетки с плотностью 3600 штрихов/мм и углом блеска 13,5" эффективность отражения в 1-м порядке спектра, согласно измерениям [96] и теории [76], составляет около 70 %, и в области спектра [c.285]

В общем случае дифракции плоской волны на мо нокристаллической пластине отражающие плоскости наклонены к рабочим поверхностям (рис. 8.2) и углы скольжения к ним падающего / (прошедшего Т) и отраженного Ц пучков различны. Различают два основных типа дифракции, на отражение — по Брэггу (/ — асимметричная, 2 —симметричная) и на прохождение — по Лау.э 3 — асимметричная, 4 — симметричная). Штриховая линия указывает направление отражающих плоскостей. Однако из-за значителоного фотоэлектрического поглощения дифрагированной волны применение последнего огранитено областью длин волн менее 0,2 им Для многое,/ о йных молекулярных структур, очевидно, во ,-можна только симметричная дифракция на отражение. [c.305]

Наиболее интересным в плане получения самых разнообразных дифракционных характеристик, но и в то же время наиболее трудным для анализа является резонансный случай, в котором длина волны возбуждения соизмерима с периодом решеток. До широкого внедрения в практику расчетов средств электронно-вычислительной техники исследования в резонансной области обычно замыкались на анализе некоторых частных или предельных ситуаций [30—41]. Вынужденные довольствоваться малым, авторы указанных и других работ заложили прочный фундамент, на котором строится современное здание теории дифракции волн на периодических решетках в резонансной области частот. Действительно, практически в каждом широко используемом сегодня методе построения математических моделей для численных экспериментов на ЭВМ явно просматривается влияние идей и результатов, полученных в 40—60-х годах. Прежде всего это касается метода частичных областей (методов переразложения, сшивания) (25, 42—46], методов теории потенциала (интегральных уравнений) 17, 47—521, модифицированного метода Винера — Хопфа — Фока [53— 56], модифицированного метода вычетов [54], метода полуобращения матричных уравнений типа свертки [25, 57, 58]. Подобная преемственность наблюдается и в желании глубже проникнуть в суть явлений и эффектов, обнаруживаемых при исследовании процессов дифракции волн на решетках различных типов и геометрий в резонансной области частот. Вслед за работами Л. Н. Дерюгина [59, 60], в которых впервые на одном частном примере теоретически проанализированы поверхностный и двойной резонансы в отражательной решетке, появились работы с результатами всестороннего аналитического и численного исследований явлений аномального рассеяния волн в области точек скольжения (на рэлеевских длинах волн) [25, 61—65], полного резонансного прохождения [25, 66, 67] и полного резонансного отражения [7, 25, 29, 53, 57, 64, 68—77] плоских волн в случае полупрозрачных решеток, полного незеркального отражения волн отражательными решетками [25, 78—88] и т. д. [c.7]

Таким образом, доказана возможность проявления эффекта квазиполного незеркального отражения с большим коэффициентом телескопичности при дифракции волн на решетках с кусочно регулярными областями свяви первичного и рассеянного полей. Отмеченные геометрические особенности структур играют определяюш,ую роль при реализации соответствующих режимов рассеяния. Дело в том, что проявление описанных выше эффектов является откликом на возбуждение колебаний, близких к собственным для решеток, если последние рассматривать как открытые электродинамические структуры, возбуждение таких колебаний возможно при определенных режимах связи первичного и рассеянного полей, а следовательно, и при определенной конфигурации связывающих объемов. Необходимостью реализации нужных режимов связи вызвано и введение диэлектрического заполнения в геометрии периодических структур. [c.193]

При распространении электромагнитного излучения в периодических средах возникает много интересных и потенциально полезных явлений. К ним относятся дифракция рентгеновского излучения в кристаллах, дифракция света на периодических изменениях механических напряжений, возникающих при прохождении звуковой волны, и запрещенная зона для света в слоистых периодических средах. Эти явления используются во многих оптических устройствах, таких, как дифракционные решетки, голограммы, лазеры на свободных электронах, лазеры с распределенной обратной связью, лазеры с распределенным брэгговским отражением, брэгговские отражатели с высокой отражательной способностью, акустооптические фильтры, светофильтры Шольца и т. д. В данной главе мы рассмотрим некоторые общие свойства электромагнитного излучения в периодических средах и общую теорию его распространения в слоистой периодической среде. Эта теория имеет весьма близкую формальную аналогию с квантовой теорией электронов в кристаллах и поэтому позволяет использовать понятия блоховских волн, запрещенных зон, затухающих и поверхностных волн. Наконец, мы обсудим применение этой теории для решения ряда хорошо известных задач, таких, как расчет коэффициента отражения от брэгговского зеркала, коэффициентов пропускания фильтра Шольца и оптических поверхностных волн. Кроме того, мы обсудим двойное лучепреломление за счет формы и его применение в дихроичных поляризаторах. Периодические структуры играют также важную роль в интегральной оптике, рассмотрение которой мы отложим до гл. 11. [c.169]

Выражения для kn получены при рассмотрении простых видов потерь. При учете более сложных видов потерь, таких как дифракция света на апертурах Элементов резонатора или потери за счет деполяризации света в элементах резонатора, приходится решать более сложные задачи для каждого конкретного случая отдельно. Выписать в общем случае добавки к Кц за счет подобных потерь не представляется возможным. Часто на практике подобными потерями на фоне рассмотренных выше можно пренебречь. Рассмотрим численные оценки потерь для Лаверов в режиме свободной генерации с йепрерывной и импульсной накачкой. Основным отличием в устройстве этих двух лазеров является коэффициент отражения выходного зеркала для непрерывных лазеров он достаточно большой (р2 0,9), для имоульсных заметно меньше (р2 0,5). Отличие обусловлено тем, что в импульсных лазерах средняя за импульс мощность накачки заметно выше, чем в непрерывных. [c.54]

Картину электронной дифракции — электронограмму — получают как на просвет от образца толщиной порядка нескольких десятков нанометров, так и на отражение от плоского образца, поставленного так, что электронный луч практически скользит по его поверхности, образуя с ней угол в несколько минут. Благодаря чрезвычайно сильному рассеянию электронов при почти полном отсутствии поглощения, а также использованию при получении электронограмм почти всей мощности электронного пучка интенсивность дифракционных максимумов электроно-граммы очень высокая. Электронограмму можно получить за доли секунды. Однако в связи с особенностями рассеяния электронов на электронограммах не удается получить интерференционные максимумы с высокими индексами кристаллографических плоскостей, что весьма обедняет информацию. Так как углы дифракции 6 малы, погрешность в определении межплоскостных расстояний по элекТронограммам велика несмотря на острый профиль интерференционных линий она составляет обычно несколько десятков процентов. [c.65]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...