Решетка отражательная

В спектрометрах в основном применяются решетки отражательного типа, когда источник излучения и точка наблюдения лежат по одну сторону от плоскости решетки. Штрихи решетки могут иметь различную форму. Однако обычно им придают пилообразный профиль с оптически гладкими сторонами. Такой профиль решетки, предложенный Вудом, позволяет увеличивать интенсивность отражения в определенном порядке и тем самым улучшать эффективность спектрометра. [c.438]

Отражательные решетки ступенчатого профиля (рис. 6.39,6) часто называют концентрирующими или блестящими. Это свя зано с тем, что для отражательной решетки максимальная интенсивность дифрагировавшего света наблюдается в направлении [c.300]

Разное взаимодействие Е п и Е с металлической поверхностью и для отражательных решеток. Оно существенно зависит от формы штриха (разное проникновение тангенциальной Е ц - и нормальной -составляющих в глубь тела решетки), и возникает различие в коэффициентах отражения (ри и pj ), что приводит к поляризации дифрагировавшей волны. На рис. 6.45 приведена экспериментально найденная зависимость отношения рх/рц от длины волны дифрагировавшего света для решетки с профилированным штрихом (300 штрихов на 1 мм, т.е. d х 3 мкм). Мы видим, что при л > 1 мкм отношение p l/ph резко возрастает, т. е. решетка начинает работать как поляризатор. Величину эффекта можно изменять, варьируя форму штриха решетки. Очень тонкими опытами было доказано, что при создании на дне штриха плоской площадки шириной от d/6 до d/3 для обеих компонент напряженности электрического поля (Е и и Е i) условия отражения становятся примерно одинаковыми и отношение pi/pu мало отличается от единицы. [c.303]

К поляризующему действию отражательной металлической решетки с профилированным штрихом [c.303]

Рис. 9.23. Фазовая отражательная решетка, использующая различие в изменении фазы при полном внутреннем отражении от стекла и серебра.

Фраунгофер указал на принципиальную возможность изготовления отражательных решеток, хотя все его решетки работали как пропускающие. [c.208]

Рассмотренный случай дифракции на трехмерной решетке имеет исключительно важное значение. Он осуществляется практически при дифракции рентгеновских лучей на естественных кристаллах. Лучи Рентгена представляют собой электромагнитные волны, длина которых в тысячи раз меньше длин волн обычного света. Поэтому устройство для рентгеновских лучей искусственных дифракционных решеток сопряжено с огромными трудностями. Мы видели, что трудность эта может быть обойдена путем применения лучей, падающих на решетку под углом, близким к ЭО". Однако дифракция рентгеновских лучей была осуществлена задолго до опытов с наклонными лучами на штрихованных отражательных решетках. По мысли Лауэ (1913 г.), в качестве дифракционной решетки для рентгеновских лучей была использована естественная пространственная решетка, которую представляют собой кристаллы. Атомы и молекулы в кристалле расположены в виде правильной трехмерной решетки, причем периоды таких решеток сравнимы с длиной волны рентгеновских лучей. Если на такой кристалл направить пучок рентгеновских лучей, то каждый атом или молекулярная группа, из которых состоит кристаллическая решетка, вызывает дифракцию рентгеновских лучей. Мы имеем случай дифракции на трехмерной решетке, рассмотренный выше. Действительно, наблюдаемые дифракционные картины соответствуют характерным особенностям дифракции на пространственной решетке. [c.231]

Спектральная ширина излучения жидкостных лазеров составляет 4—30 нм. Ее можно сделать значительно уже, если внутрь резонатора поместить какой-либо дисперсионный элемент, т. е. создать селективный резонатор. Такого рода резонаторы могут быть различных типов. Можно, например, поместить внутрь резонатора (между активным слоем и одним из зеркал) обычную призму или интерферометр. Часто заменяют одно из зеркал отражательной дифракционной решеткой. При наличии в резонаторе селективных элементов вдоль оси лазера может распространяться излучение лишь некоторых длин волн. Излучение других волн, отражаясь от решетки или проходя через призму, отклоняется от оси и выходит за пределы резонатора. [c.294]

Металлическая связь присуща типичным металлам и многим интерметаллическим соединениям. Энергия этой связи также высока (сотни килоджоулей на моль). Характерными решетками для металлов являются кубические гранецентрированная (ГЦК) и объемно-центрированная (ОЦК) и гексагональная плотной упаковки. Металлы обладают высокой электро- и теплопроводностью, вызванной наличием свободных электронов, и высокой пластичностью, обусловленной характером связи, позволяющей смещаться без разрушения одной части решетки относительно другой на значительные расстояния. Наличием свободных электронов объясняется также непрозрачность и высокая отражательная способность металлов. [c.20]

Поскольку полоса энергетических уровней широкая, спектральная линия излучения лазера имеет большую ширину (около 0,4 мкм). Это позволяет при помощи частотно-селективного элемента осуществлять плавную перестройку частоты лазера в широком диапазоне. Таким элементом может являться отражательная дифракционная решетка, используемая вместо глухого зеркала. Длина волны излучения такого типа лазера зависит от концентрации раствора, что позволяет осуществлять также перестройку генерации. [c.65]

Чувствительность методов фазового анализа зависит от многих факторов от отражательной способности атомных плоскостей (точнее, от рассеивающей способности атомов, составляющих данные плоскости решетки), от соотношения коэффициентов поглощения всей смеси и определяемой фазы, от доли некогерентного рассеяния (фона) на рентгенограмме, от величины искажений решетки искомой фазы, от величины кристаллов. [c.13]

Усилитель мощности, звука, изображения. Антенна — сложная решетка. Антенна — простая, отражательная. Компенсатор — электрический или механический [c.150]

Отражательные дифракционные решетки широко используются для получения спектров и спектральных изображений в рентгеновском диапазоне и являются основным средством исследования в таких областях науки, как физика твердого тела, физика горячей плазмы, космическая астрофизика и др. Известно, что в более длинноволновых диапазонах спектра (инфракрасном, видимом и ближнем ультрафиолетовом) высокого качества спектров можно достигнуть с помощью обычной сферической решетки, работающей вблизи нормального падения. В рентгеновской области спектра достаточно высокие дисперсия и эффективность отражения могут быть получены только при скользящем падении однако в этом случае обычная сферическая решетка с регулярными штрихами работает с большими аберрациями, которые ограничивают максимальное разрешение и светосилу прибора. [c.249]

Рис. 2.1.8. Схема однороторной нереверсивной дробилки с разгрузкой через контрольную колосниковую решетку с шарнирной подвеской отражательных плит, поверхность которых выполнена по ломаной линии

Рис. 2.1.10. Схемы однороторных однокамерных нереверсивных дробилок со свободной разгрузкой, отражательными колосниковыми решетками, комбинированной подвеской отражательных устройств и

Рис. 2.1.11. Схемы однороторных нереверсивных дробилок с комбинированной разгрузкой, отражательными колосниковыми решетками с плоскими и криволинейными отражательными поверхностями а - однокамерная с шарнирной подвеской отражательных устройств, горизонтальным расположением колосников б - двухкамерная с комбинированной подвеской отражательных устройств, вертикальным расположением колосников I - ротор 2 - отбойник

Лазер на сероуглероде. Стационарная генерация на сероуглероде S2 — среде с локальным откликом — была получена с использованием моноимпульсного излучения лазера на руШне в качестве источника накачки [10]. Использовалась коллинеарная схема взаимодействия решетки отражательного типа записывались пучками с ортогональной поляризацией (из-за наличия ненулевой недиагональной компоненты тензора Нелинейной поляризации Ххуух в S2) [c.178]

Четырехволновое взаимодействие на пропускающей голограмме исследовалось в [10.205, 10.2751 (R 10 при Я, = 605 нм, d 9.15 мм, Л = 4 мкм, 0 10-ь 15 кВ-см- ). В соответствии с [10.276] в BGO может наблюдаться также 4-волновое взаимодействие, на решетках отражательного типа. [c.290]

Фазовые решетки могут быть отражающими и пропускающими. Идеально отражающие решетки вызывают периодическое изменение фазы и не приводят к изменению амплитуды. Можно создать решетки, способные одновременно менять как амплитуду, так и фазу. Подобные решетки называются амплитудно-фазовыми. На практике решетки, изготовленные нанесением штрихов на стекло или металл, являются фактически амплитудно-фазовыми. Отражательные решетки были изготовлены еще в 80-х годах XIX в. Роулендом путем нанесения штрихов на плоскую н вогнутую металлические поверхности. Преимуществом вогнутой сферической дифракционной решетки является то, что она одновременно выполняет роль фокусирующего зеркала и поэтому не нуждается в наличии дополнительных объективов для получения изображения щели. Это делает ее удобной для использования во всем оптическом диапазоне. Отра- [c.150]

На практике обычно пользуются отражательными эшелонами, предложенными в 1933 г. Вильямсом (рнс. 6.33) и называемыми обыч1ю эшелонами Майкельсона — Вильямса. Эшелон Майкельсона — Вильямса состоит из ряда пластин из плавленого кварца. Специальная обработка пластин позволяет добиться оптического контакта. В результате все устройство как бы вырезано из одного куска плавленого кварца. Спектральные характеристики, в том числе и разрешающая способность эшелона Майкельсона — Вильямса, выше разрешающей способности эи1елоиа Майкельсона. Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В принципе эшелон Майкельсона — В1 пзямса можно было бы использовать также в ультрафиолетовой области. Однако это связано с очень высокой, практически неосуществимой точностью изготовления. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль [c.153]

Полученные выражения легко распространить и на случай падения плоской волны на дифракционную решетку под некоторым углом. Обозначим через О угол между направлением пучка и направлением нормали к решетке. Тогда (рис. 6.36,а) для возникновения главных максимумов вместо с(з1пф = т/. получается условие d(sin(p — sinO) =-- тХ, непосредственно следующее из вычисления разности хода Л для двух интерферирующих лучей. В дальнейшем подробно рассмотрены отражательные дифракционные решетки (рис. 6.36,6), выражение для разности хода которых следует записать в виде [c.295]

Отражательные решетки несравненно более высокого качества были впервые получены в 80-х годах XIX в. американским физиком Роулендом, наносившим штрихи на металлическую плоскую или вогнутую поверхность с помощью винтовой делительной машины. Решетки, изготовленные на машинах Роуленда, в усовершенствовании которых принимали участие Вуд и другие крупные физики, оставгипись лучшими в мире вплоть до 50-х годов нашего столетия. В настоящее время усилиями Ф. М. Герасимова и его сотрудников налажен массовый выпуск превосходных дифракционных решеток и разработаны оригинальные методы их исследования. При характеристике свойств современных решеток мы воспользуемся некоторыми результатами этих исследований. [c.298]

Важнейший шаг был сделан Роулэндом, построившим специальные машины для изготовления тончайших решеток большого протяжения. Кроме того, Роулэнд первый стал делать вогнутые отражательные решетки, выполняющие одновременно роль решетки и собирающей линзы. Решетки Роулэнда имели до 20 000 штрихов на дюйм при большой ширине (до 10 см) и превосходном качестве. [c.208]

Дальнейшие улучшения в машинах Роулэнда ввели Андерсон, Вуд и др. В настоящее время высококачественные решетки изготовляются во многих странах, в том числе и в СССР. Как правило, это отражательные решетки с почти треугольным профилем штриха (см. рис. 9.22, а, так называемые эшеллеты), концентрирующие до 70—80% падающего на решетку света в спектр какого-либо одного, ненулевого порядка. Изготавливаются гравированные решетки для различных областей спектра, от далекой инфракрасной ( . ж 1 мм) до ультрафиолетовой % 100 нм) и ближней рентгеновской ( . 1 нм), с размерами до 400 X 400 мм и с числом штрихов (в зависимости от области спектра) от 4 до 3600 на мм. Широкое распространение нашли копии с гравированных решеток реплики), которые получаются путем изготовления отпечатков на специальных пластмассах с последующим нанесением на них металлического отражающего слоя. По качеству реплики почти не отличаются от оригиналов. [c.208]

Для равномерного распределения газов, несущих золовые частицы, по секциям на входе в электрофильтр предусмотрены направляющие лопатки и распределительная решетка, а выше и ниже элект15одов по всей их длине установлены поперечные отражательные листы. О)вокупность этих элементов составляет газораспределительное устройство 6. Для удаления осевшей пыли с коронирующих электродов их встряхивают специальным устройством 7, но с меньшим динамическим воздействием, чем в системе осадительных электродов. [c.146]

Некоторые американские фирмы рассчитывают отдачу тепла решетке другим способом. Они непосредственно определяют количество тепла, отданного шлакоулавливающей решетке. При этом предполагают, что искомое количество тепла слагается из двух частей с одной стороны — из радиации факела в камере плавления, с другой — радиации факела из охлаждающей камеры. При этом за поверхность, поглощающую тепло, принимают отражательную поверхность трубок решетки. Этот способ дает сравнительно малую величину охлаждения продуктов горения на )ешетке, так как не учитывает передачи тепла конвекцией Л. 87]. Оба приведенных метода являются приближенными. Можно определенно утверждать, что в шлакоулавливающей решетке кипящей воде передается значительное количество тепла, так что в тепловом отношении решетка является одной из наиболее полно используемых теплообменных поверхностях котла. [c.313]

ТОПОЧНЫЙ франт 2 — отражательный щит 3 — топочная дверца 4 — паровое сопло 5 —шуровочная плита 5 —заслонка для регулирования воздуха / — воздухопровод 8 — диффузор 5 — колосниковая решетка 10 — подколосниковые балки // — скобы /2 —зольник / 3 — слой топлива / / —порог /5— литое основание порога 16—топочное пространство. [c.127]

Седьмая глава посвящена применению отражательных дифракционных рещеток для получения рентгеновских спектров и спектральных изображений. Высокая эффективность этих элементов, как и зеркал, может быть достигнута только при скользящем падении (если не говорить о многослойных покрытиях), которое при использовании обычных сферических решеток приводит к большим аберрациям. В седьмой главе кратко рассматриваются основные типы решеток с коррекцией аберраций решетки асферической формы, с переменным шагом и кривизной штрихов. Весьма важным является вопрос об эффективности нарезных и гологра- [c.8]

Если говорить не только об отражательной оптртке, но и об оптике МР-диапазона в целом, то необходимо упомянуть дифракционную оптику нормального падения — прозрачные решетки и зонные пластинки (френелевские линзы), обсуждение которых выходит за рамки книги. Они представляют собой тончайшую регулярную структуру (с размером штриха 0,01—0,1 мкм), свободно висящую или расположенную на пленке толщиной порядка 1 мкм, либо на ажурной поддерживающей арматуре . Изготавливают их методами планарной микроэлектронной технологии. Прозрачные решетки и зонные пластинки используются как в спектроскопии плазмы, так и в микроскопии биологических объектов. Расчетная дифракционная эффективность зонных пластинок равна 15—40 % в диапазоне 2—12 нм. [c.10]

При рассмотрении эффективности дифракционных решеток используются два понятия абсолютная эффективность, равная отношению энергии, дифрагируемой решеткой при длине волны Х в данном порядке, к энергци, падаюш,ей на решетку при той же длине волны, и просто эффективность, равная отношению энергии, дифрагируемой решеткой при длине волны X в данном порядке к световому потоку, отражаемому зеркалом при тех же рабочих условиях (или полному потоку, отраженному решеткой). Абсолютная эффективность всегда меньше эффективности на множитель, характеризующий отражательную способность зеркала. Эффективность решетки существенно зависит от поляризации излучения, длины волны и угла падения. [c.253]

Вогнутые отражательные дифракционные решетки обладают свойствами как дифрагирующего, так и фокусирующего элемента. Их применя10т в вакуумной ультрафиолетовой области спектра, чтобы свести до минимума число отражательных поверхностей. Вогнутая решетка заменяет собой коллимирующий и фокусирующий объективы и плоскую решетку. Классическую вогнутую решетку получают, нанося на зеркальную вогнутую поверхность штрихи, образуемые пересечением этой поверхности равноотстоящими параллельными плоскостями. Главный недостаток таких решеток связан с астигматизмом. [c.258]

При построении светосильных рентгеновских спектрометров, в которых используются дифракционные решетки в сочетании с зеркальными объективами скользящего падения типа Вольтера, значительными преимуществами перед классической роуландовской схемой обладают схемы установки решетки в сходящемся пучке непосредственно после объектива. Такие схемы реализуются, например, в телескопах-спектрометрах для исследования спектров астрофизических источников как с пропускающими [6, 89, 90, 1011, так и с отражательными решетками [51]. [c.275]

В некоторых конструкциях приборов используют схему Романа—Водара, при которой центр круга фокусировки перемещается, однако решетка и одна из щелей движутся по прямой. На рис. 7.17 приведена схема прибора РСМ-500 [17]. Излучение рентгеновской трубки А фильтруется отражательным фильтром. Входная щель С жестко связана с решеткой, расстояние между вертикальной осью вращения решетки и выходной щелью Е, а также угол дифракции ф — величины постоянные. Решетка D движется вдоль прямой G, одновременно поворачиваясь вокруг вертикальной оси. Ось щели Е при этом перемещается вдоль прямой СН, составляющей с прямой СО постоянный угол, равный углу дифракции. Перемещения связаны так, что оси щелей и центр решетки все время остаются на круге Роуланда, круг [c.284]

Разработка технологии изготовления голографических решеток и нарезных решеток с переменным шагом штрихов привела к созданию принципиально новых типов спектрометров, имеющих только один отражательный элемент — решетку. В работе [53] описан спектрометр на основе сменных тороидальных голографических решеток с плоским полем фирмы Жобен Ивон для областей спектра 10—100 и 15,5—170 нм. Эти области спектра представляют большой интерес для диагностики плазмы в токамаках, так как в его длинноволновой части 50—160 нм находятся линии примесей с низким значением г (главным образом С и О), соответствующие переходам с Ап = 0 и излучаемые с периферии плазмы, а в диапазоне 10—40 нм — линии высокоионизованных примесей со средним значением г (С1, Т1, Ре), излучаемые горячим ядром. В качестве детектора использовался приемник на основе МКП с люминофорным преобразователем и координатным съемом (разрешение 50 мкм). Решетки размерами 22x6 мм с плотностью 450 (10—100 нм) и 290 штрихов/мм (15,5—160 нм) с меридиональным и сагиттальным радиусами кривизны 919 и 102,5 мм работали под углом падения 71° и давали плоский спектр шириной 40 мм под углом к нормали 19—25°. Полуширина линии 30,4 нм составляла менее двух ячеек разрешения. На поле 40 мм приходилось всего 1000 ячеек, дисперсия составляла 0,11 нм на ячейку (для решетки с большей плотностью штрихов). Благодаря высокой светосиле спектры плазмы удавалось регистрировать примерно за 20 мс с чувствительностью 10 фот/см .с.ср. [c.289]

Отражательные решетки предполагается использовать в проектах телескопов ЭКСУВЕ и ФУЗЕ, которые будут работать в малоисследованной области спектра 10—90 нм. Рассматривается также применение отражательных решеток в телескопах более коротковолнового рентгеновского диапазона, а именно АКСАФ и ЛАМАР [641. [c.296]

Основные результаты этих моделей согласуются с теорией дифракции в кристаллической решетке, если рассматривать МИС как сверхрешетку о периодом d, равным сумме толщин 4 и компонент МИС. Можно сформулировать два физических результата, качественно справедливых для всех этих моделей. Во-первых, коэффициент отражения от МИС в максимуме прямо пропорционален амплитуде соответствующей гармоники Фурье — разложения электронной плотности, которая возникает благодаря слонсгой структуре МИС. Во-вторых, угловое положение 0д максимума отражательной способности определяется условием Брэгга [2] [c.434]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...