Характеристические линии элементов

Колебания некоторых структурных элементов молекул (например, групп СНг) могут быть характеристичными не только по частоте, но и по форме, т. е. выделенная группа атомов может сохранять форму своего колебания в разных молекулах. Это приводит к тому, что соответствующие линии колебательных спектров в определенном ряду молекул сохраняют не только частоту, но и интенсивность. В таком случае говорят о характеристических линиях (или полосах) колебательного спектра, обладающих совокупностью характеристических параметров. [c.97]

Таким образом, решение системы квазилинейных дифференциальных уравнений в частных производных, описывающих процесс деформирования листовой заготовки на участке 1, удалось свести к интегрированию обыкновенных дифференциальных уравнений (характеристических соотношений), записанных для двух характеристических поверхностных элементов, параллельных координатным линиям или Для вычисления пяти неизвестных функций а , [c.93]

ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКИЕ ЛИНИИ НЕКОТОРЫХ . - ЭЛЕМЕНТОВ С БЛИЗКИМИ ЗНАЧЕНИЯМИ ДЛИН ВОЛН (Л.) [c.145]

Аппаратура. Давно известно, что при облучении образца электронным пучком возникает рентгеновское излучение на фон сплошного спектра рентгеновских лучей накладываются линии, являю щ иеся характеристическими для элементов, входяш их в состав образца. Идентифицируя эти линии эмиссионного спектра, можно определить присутствующие элементы, а измерения интенсивности выбранных линий могут использоваться для очень точного количественного анализа при сравнении с таковыми для эталонных образцов. [c.391]

Рассмотрим линейный элемент или, что то же, направление на поверхности Е в точке Я, по которому конус Маха касается Е ). Мы назовем это направление характеристическим направлением на поверхности Е в точке Р. Совокупность характеристических направлений на характеристическом многообразии определяет поле направлений соответствующие этому полю кривые носят название характеристических линий. В соответствии с теорией характеристических поверхностей характеристические линии можно получить, решая систему уравнений [c.158]

При следующих начальных условиях точка х(0) лежит на Е, а вектор п(0) в этой точке направлен по нормали к Е. Ясно поэтому, что характеристическая линия вполне определяется своим начальным поверхностным элементом и, следовательно, два характеристических многообразия, касающихся в некоторой точке Р, имеют целую линию [c.158]

Именно этим свойством объясняется узость характеристической линии испускания таких ионов, что определяет их успех в лазерных приложениях. Поэтому совершенно естественно попытаться использовать это свойство в жидкостях. Однако когда такие ионы вводятся в раствор как свободные (скажем, в виде галоидного соединения редкоземельного элемента, растворимого в воде), эффективность их флюоресценции очень мала. Подвижность молекул растворителя слишком велика даже [c.46]

Измеренные значения почернений аналитических линий и линий сравнения пересчитывают с помощью характеристической кривой в соответствующие значения интенсивностей. По полученным данным для трех эталонов строят градуировочные графики = = f( g ) для каждого из элементов и по ним определяется концентрация соответствующего элемента в исследуемом образце. [c.48]

Качественный рентгеноспектральный анализ проводится главным образом по спектрам испускания. Наличие на спектрограмме линий характеристического спектра искомого элемента (при содержании его не меньше 0,03 — 0,01 /о) указывает на его присутствие в исследуемом веществе. [c.158]

Э. Резерфорда его учеником Г. Мозли, который измерял длины волны характеристических рентгеновских лучей, испускаемых различными элементами, и нашел прямую связь между частотой спектра линий этих лучей и порядковым номером данного элемента в периодической системе. Этот порядковый номер N, как показал ван ден Брук и тот же Мозли, численно равнялся положительному заряду атомного ядра z данного элемента N = z), а, значит, указывал общее число электронов в оболочке нейтрального атома того же элемента. [c.452]

АС дополнительно поставляет программе диагностики и прогноза характеристические частоты. Характеристические частоты получаются путём выборки частот по отказам конкретных элементов объекта (сетка характеристических частот), хранящихся в БД, и проверки их на частотный диапазон исследуемой функции. При этом все линии спектра, не попадающие в сетку, обнуляются. [c.355]

Наличие большого дипольного момента необходимо, но оно не гарантирует большой величины соответствующего матричного элемента F/ -перехода и большого коэффициента усиления активной среды. Кроме этого, оказываются важными значения характеристических чисел для данных вращательных переходов возможности выбора этих параметров ограничены наличием случайных совпадений линий поглощения с линиями генерации лазера накачки. [c.150]

В первоначальных приборах различные участки подводили под электронный зонд с помощью механического перемещения образца, а выбор участка производился с помощью оптического микроскопа, встроенного в систему. Теперь наиболее употребительна методика сканирования электронного пучка. Рентгеновские лучи генерируются серией точек во время каждой строчки или кадра, а рентгеновский сигнал фиксируется счетчиком, усиливается и преобразуется в луч, который попадает на экран синхронно со сканированием зонда. При использовании пропорционального счетчика регистрирующая система может быть настроена (с помощью амплитудного анализатора) только на регистрацию интересующего нас характеристического излучения тогда экран электронно-лучевой трубки покажет распределение одного элемента по поверхности, как на фиг. 27 [29]. Длр получения количе -ственных данных сканирующий луч может быть остановлен в любой точке, после чего измеряется интенсивность некоторых выбранных линий. Другой путь — зонд можно сканировать по образцу вдоль определенной линии, а сигнал отклоняет второй луч двухлучевой электронно-лучевой трубки. Чаще всего тем не менее для облегчения предварительного исследования оптический микроскоп сохраняют и в сканирующих приборах. [c.392]

Следовательно, угол между нормалью к характеристической поверхности / = О и вектором п равен л/4. Совокупность элементов характеристических поверхностей образует конус с углом развода я/4 вокруг третьего главного направления. Характеристические поверхности образуют всю совокупность поверхностей, пересекающих линии третьего главного направления под углом, равным тг/4. [c.141]

Эмиссионный спектральный анализ. Эмиссионный спектральный анализ основан на изучении характеристических линейчатых спектров излучения светящихся паров вещества. Спектр излучения является однозначной характеристикой элемента, как и его атомный номер. Если поместить вещество в пламя, то оно окрасится в соответствии с введенным веществом. Свет окрашенного пламени можно разложить с помощью призмы и получить линейчатый оптический спектр — своеобразный паспорт вещества. Этот спектр состоит из отдельных ярких линий, расположенных в различных участках спектра. Изменяя температуру пламени, можно усилить яркость одних линий и ослабить другие, но нельзя изменить длину волны линии. Если в пламя введена многокомпонентная проба, то оптический спектр излучения пламени содержит характерные линии всех элементарных компонентов. Чтобы получить представление о составе исследуемого вещества, анализируют структуру этих линий. [c.123]

Ускоренные электроны пучка возбуждают рентгеновское характеристическое излучение атомов вещ,ества. Возникаюш,ее излучение разлагается в спектр, а интенсивность линий спектра регистрируется с помощью счетчика фотонов. Качественный состав микрообъема определяется сопоставлением длин волн линий характеристического спектра, вычисленных по углу отражения этих линий от кристалла по закону Вульфа-Брэгга с табличными значениями длин волн. Концентрация элемента в анализируемом объеме определяется по интенсивности соответствующих линий, которая сводится к сравнению интенсивности линий от исследуемого образца с интенсивностью аналогичной линии от стандартного образца, в котором содержание анализируемого элемента известно. Изменение концентрации элемента вдоль выбранного направления вызывает пропорциональное изменение интенсивности излучения, которое записывается в виде концентрационных кривых на диаграмме автоматически. [c.230]

МОЗЛИ ЗАКОН — закон, связывающий частоту спектральных линий характеристического рентгеновского излучения с порядковым номером X испускающего это излучение элемента согласно М,. ч,, квадратный корень из частоты V соответствующе характеристич. пинии есть линейная функция от I (см. рис.). Линии каждой серии спектра при уведи- [c.279]

ИЛИ, точнее, изотопа элемента (линии характеристического рентгеновского излучения). [c.203]

Н а ч а л ь н а я характеристическая задача (задача Римана). Допустим, что на отрезках линий скольжения О А и ОВ (рис. 9.25) величины сГд и ф известны. Естественно, что они удовлетворяют дифференциальным уравнениям равновесия элемента и поэтому связаны соотношениями (9.21). [c.194]

Начальная характеристическая задача (задача Римана). Пусть известны значения функций а, 9 на отрезках линий скольжения ОА, ОВ (рис. 87). Так как а, 9 удовлетворяют на ОА, ОВ дифференциальным уравнениям равновесия элемента скольжения (31.4), то эти значения не могут быть вполне произвольными они связаны соотношениями [c.155]

Сопоставление развития сквозной трещины с разрушением некоторого элементарного объема приводит при указанном допущении к простейшему варианту статистического описания процесса разрушения. Принимается следующая расчетная схема активного элемента. Пьезокерамический материал активного элемента предполагается состоящим из элементарных объемов дх X (рис. 4.8). Элементарные объемы должны быть достаточно малыми, чтобы их напряженное состояние мало отличалось от однородного, и в то же время достаточно большими, чтобы их структура была статистически однородной и они обладали механическими свойствами, имеющимися у пьезокерамических образцов. Характеристические размеры активного элемента и входящих в него элементарных объемов в соответствии с результатами [21] определяются суммой длин линий пересечения поверхностей (кромок) и линий пересечения клеевых швов пьезоэлементов с нешлифованными после склейки поверхностями, на которых локализуется наибольшее количество дефектов. Прочностные свойства элементарного объема пьезокерамики в окрестности точки х Х отображаются законом распределения пределов прочности при однородном одноосном растяжении совокупности таких объемов со скоростью нагружения Уо. Этот закон можно представить [c.80]

Характеристические линии элементов 145 Характеристическое излучение К-серии 117 Хиллиарда формула 84 Химическая коррозия в расплавах 252 [c.351]

Во-первых, энергия МР-фотонов совпадает с энергией колебаний внутренних атомных электронов, благодаря чему рентгеновская спектроскопия наряду с оптической представляет собой важный метод изучения строения вещества. Характеристические линии элементов с зарядом ядра 2 < 12, в том числе таких практически валсных, как магний, натр.ий, фтор, кислород, азот, углерод, лежат в МР-диапазоне. Наблюдение этих линий, возбуждаемых пучком электронов или фотонов, лежит в основе современных чувствительных и универсалгшых методов элементного и химического анализа твердых тел и поверхностей, которые широко применяются как в научных исследованиях, так и в промышленности. [c.3]

Для всех методов очень валскыми являются проблемы пг р.ы-шения чувствительности и локальности. Они успешно решаются с помощью многослойной рентгеновской оптики. В частности, для методов ЕРМА и XRF чувствительность определяется эффективностью и спектральным разрешением дисперсионного элемента. Если речь идет об анализе на легкие элементы с зарядом Z < 13, то необходимо вести спектральный анализ в области длин волн 0,9 нм < Я <3 11,4 нм, где расположены характеристические линии элементов от магния до бериллия. [c.120]

ХАтКТЕРИСТЙЧЕСКИЙ СПЕКТР—линейчатый рентгеновский спектр атома хим. элемента. X. с. служит однозначной характеристикой атома, индивидуальность X. с. сохраняется и при вступлении атома в хим. соединение. Поэтому по спектральному положению и интенсивности его линий (характеристических линий) осуществляют рентг. спектральный анализ. X, с. лежат в области 5 10 -10 нм. [c.403]

Отрыв электрона может произойти и другими способами (при захвате /С-электрона ядром, при отрыве электрона под действием ядерного излучения того же элемента и поглощения соответствующего кванта рентгеновского излучения). На освободившееся место может перейти электрон одной из оболочек L, М, А/ и т. д. Все эти переходы создаются /(-серии рентгеновского спектра, состоящие из линий Ка, Kfi, Ку Очевидно, что в /С-серии самой длинной является /Са-линия, т. е. Аналогичным образом при переходе электронов па освободившееся место в L-оболочке из А1-, Л/-оболочек возникают La-, Lp-лииип и т. д. М- и Л/-серии рентгеновского спектра наблюдаются только у тяжелых элементов. Таким образом, спектры характеристического рентгеновского излучения состоят из линий, составляющ[[х несколько серий. [c.161]

Рентгеновские спектры бывают двух видов сплошные и линейчатые. Сплошные спектры возникают при торможении быстрых электронов в веществе антикатода и являются обычным тормозным излучением электронов. Строение сплошного спектра не зависит от материала антикатода. Линейчатый спектр состоит из отдельных линий излучения. Он зависит от материала антикатода и гюлностью характеризуется им. Каждый элемент обладает своим, харак1ерным для него линейчатым спектром. Поэтому линейчатые рентгеновские спектры называются также характеристическими. [c.293]

Характеристические рентгеновские спектры состоят из спектральных серий К, Ь, М, N, О), все линии каждой яз к-рых объединены общим начальным уровнем ионизации уровня энергии, с к-рых происходит квантовый переход при заполнении образовавшейся вакансии для линвй одной серии различны. Вероятность излучат, переходов разл. мультипольности, а следовательно, и интенсивность соответствующих спектральных линий определяются различными отбора правилами. Переходы для наиб, ярких линий К- и Ь-сернй, а также обозначения этих линий приведены на рис. 1, Линии одной серии элементов образуют одинаковые группы дублетов, что позволило дать им одинаковые для всех ат. номеров Z обозначения греческими пли латинскими буквами. Зависимость спектрального положения одноимённых линий от Z определяется Мозли законом. [c.361]

Характеристическое рентгеновское излучение Ка каждого элемента в действительности состоит из двух линий—КохИ K t так называемого -дублета. Когда период решетки однороден, при больших углах линии дублета разделены. Если образец хорошо отцентрирован и не слишком сильно поглош,ает лучи, период решетки, вычисленный по каждой линии, должен быть одинаков, с точностью, непрерывно повышающейся при возрастании угл1а в от О до 90°. В действительности образцы поглощают часть рентгеновских Л1учей, а конструкция камеры никогда не бывает совершенной можно показать, что в результате этого для каждой линии получаются несколько различающиеся периоды решетки. К счастью, этот источник ошибок может быть устранен методами экстраполяции [135], и при благоприятных условиях таким способом периоды решетки могут быть определены с точностью до 0,002%. [c.253]

Принцип работы растроюго электронного микроскопа заключается в том, что, изменяя длину волны электронов, можно вызвать и зафиксировать или характеристическое рентгеновское излучение микрообъемов поверхности о кта, или поток вторичньк электронов. Изображение в растровом микроскопе дается на экране катодно-лучевой трубки и синхронизировано со сканированием поверхности образца электронным лучом. Таким образом, на экране можно получать изображения сканируемого участка поверхности в рентгеновских лучах, поглощенных или отраженных электронах, а также получать, используя эталоны элементов, их концентрационную кривую вдоль линии сканирования. [c.44]

Основными источниками рентгеновского излучения долгое время оставались рентгеновские трубки, которые дают интенсивное характеристическое излучение атомов веществ, входящих в состав анода, таких как Си, Рс1, Ре, Мо, А1 и др. Однако в области длин волн Я > I нм лежат только К-литт легких элементов (с зарядом ядра г < 12), либо нужно использовать -линии [c.4]

Различают непрерывный и линейчатый спектры рентгеновского излучения. Непрерывный спектр связан с излучением быстрого электрона при его торможении в теле антикатода. При увеличении ускоряющего напряжения U и, следовательно, кинетической энергии электронов mv t2 = eU) коротковолновая граница этого тормозного излучения смещается (максимальная энергия и.злучаемых рентгеновских квантов Йш равна кинетический энергии eil бомбардирующих электронов) и, кроме того, появляются узкие максимумы (характеристическое излучение). Длины волн этих дискретных линий зависят от того, какой химический элемент использован в качестве материала антикатода. Электрон, бомбардирующий антикатод, обладает большой кинетической энергией и мижет выбить электрон с внутренней оболочки атома. В результате атом оказывается возбужденным и может совершить квантовый переход в основное состояние с испусканием кванта электромагнитной энергии. Благодаря бшыпий разности энергий основного состояния и состояния с возбуждением электрона внутренней оболочки для всех атомов с атомным номером Z порядка 10 или больше это излучение принадлежит рентгеновской области спектра. [c.9]

Миш1мальный размер характеристических элементов (в дальнейшем просто минимальный элемент) является одной из важнейших характеристик шаблона. Для Х-У координатных генераторов изображений [18] размеры минимальных элементов у шаблонов, имеющих линейный и концентрический рисунок, могут существенно раз.пичаться. Для линейной решетки или цилиндрической линзы минимальная ширина линии может быть равна размеру записывающего пятна. Изогнутые линии на таких генераторах получают набором отрезков или точек. Важным параметром, характеризующим набор масок ДОЭ, также является совпадение минимальных элементов (линий), необходимое для совмещения масок из набора. Оба эти параметра (минимальная ширина линии и совпадение минимальных элементов на масках набора) имеют одинаковое влияние на технологический процесс. Правильное определение минимального элемента важно для поддержания необходимой величины экспозиции, ири которой отрабатываются все линии структуры ДОЭ. Кроме того, большой разброс минимальных элементов в наборе масок одного ДОЭ заставляет менять диапазон настроек экспозиции при переходе от одной маски к другой. [c.248]

Градация, контраст изображения и интервал почернений обусловливают следующую важную характеристику фотографического слоя — разрешающую способность Я. Под разрешающей способностью понимают свойство фотографического материала передавать раздельно близко расположенные элементы изображения. Она выражается числом линий (периодов) на миллиметр (линия/мм), которые раздельно различаются на проявленном фотографическом слое. Разрешающая способность в общем случае измеряется путем печати на фотослой решеток (мир) с различной частотой штрихов (Муттер [151]). Для измерения очень высоких значений Я наиболее пригодны интерференционные методы, позволяющие достигать больших чисел линий на 1 мм в поверхности слоя (Вольфе, Эйзен [195], Польце [156]). Разрешающая способность не является постоянной для всего линейного участка характеристической кривой. Для всех фотоматериалов существует резко выраженный максимум разрешающей способности, соответствующий относительно узкому интервалу экспозиций (Лау, Иоганнессон [117]). На фиг. 5 [c.21]

Основное достоинство растровых электронных микроскопов состоит в том, что с их помошью можно очень быстро изучить большое число образцов, так как подготовка их весьма несложна, исследованию подвергаются практически обычные металлографические шлифы. Растровые электронные микроскопы, снабженные детектором возбуждаемого в образце рентгеновского излучения, используются для локального рентгеноспектрального количественного анализа микроучастков образца. Такие приборы иначе называют рентгеноспектральными м и к р о а н а л и 3 а т о р а м и или м и к р о з о н д я. м и. Характеристическое рентгеновское излучение, возбужденное в точке, на которую воздействует электронный зонд, попадает на кристалл-анализатор, разлагающий рентгеновское излучение в спектр. Из этого спектра можно выделить линии, характерные для заданного химического элемента. По интенсивности линий по отношению к эталонному образцу можно определить содержание данного элемента в исследуемом участке образца. Этот же сигнал, показывающий интенсивность линий характеристического спектра какого-либо элемента, можно направить в видеоблок и при сканировании электронного зонда по поверхности образца получить растровое изображение в рентгеновских лучах. При таком изображении яркость отдельных участков будет пропорциональна содержанию выбранного компонента сплава. 1Че-тод позволяет исследовать участок размером до 3— 5 мкм, чувствительность определения концентраций доходит до 0,1—0,5%. [c.54]

РЕНТГЕНОВСКИЕ ЛУЧИ — электромагнитное излучение, занимающее широкий диапазон длин волн от 800 A (8 10 в см) до 0,0001 А (10 2 м). В зависимости от механизма возникновения Р. л. при взаимодействии заряженных частиц или фотонов с атомами вещества рентгеновские спектры имеют непрерывный или линейчатый характер. Длины волн и интенсивность линейчатого характеристического спектра Р. л. однозначно определяются атомным номером Z элемента и электронной структурой атомов. Длины волн спектральных линий определяются соотношением hv = Ei — Ef, где Ei и Ef — энергии связи электронов на начальном и конечном уровнях электронного перехода (см. Атом, Моали закон, Спектры рентгеновские). Характеристич. спектр Р. л. занимает диапазон длин волн от 375 A (La — полоса Na, энергия возбуждения 55 эв) до 0,05 A ( T — линия Md, энергия возбуждения 200 кэв). [c.424]

Для исследования состава диффузионной прослойки был применен электроннозондовый рентгеноспектральный микроанализ, который основан на локальном возбуждении характеристического рентгеновского излучения. Узкий сфокусированный пучок электронов диаметром 1—5 мк, ускоряемый разностью потенциалов 10—30 кв, при падении на исследуемый образец возбуждает в нем рентгеновское излучение, которое затем разлагается в спектр при помощи специального спектрографа. Наличие спектральных линий того или иного элемента в спектре свидетельствует о присутствии этого элемента в исследуемом образце, интенсивность же является количественной характеристикой концентрации этого элемента в микрообъеме [2]. Микрорентгеноспектральный анализ прослойки производился на установке М5-46 фирмы САМЕСА. [c.161]

Работу такого фильтра можно проанализировать с помощью эквивалентной схемы, показанной на фиг. 155, б. Она состоит из двух длинных линий с характеристическими сопротивлениями Zo = pVwt и длиной IJ2 (длина измеряется от конца продольного стержня до нейтральной оси крестовины), между которыми помещена антирезонансная цепочка, элементы которой определяются формулами (5.77). В этом случае уравнение распространения звука можно записать в виде (5.27), если учитывать распространение волн в обоих направлениях [c.477]

То, что линия СО есть линия скольжения а при заданном направлении нагрузки Р, следует из правила 2, применимому к характеристическому элементу вблизи верхней границы полосы.) Угол б раствора центрированного веера и нагрузка Р легко определяются из условий равновесия. Действительно, учитывая, что идоль линии скольжения АСВ касательное напряжение постоянно и р и11К) к, а нормальное равно гидростатическому давлению ст. [c.179]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...