Спектроскопия рентгеновская

Благодаря методу Лауэ решаются две задачи огромной важности. Во-первых, открывается возможность определения длины волны рентгеновских лучей, если известна структура той кристаллической решетки, которая служит в качестве дифракционной. Таким образом создалась спектроскопия рентгеновских лучей, послужившая для установления важнейших особенностей строения атома (ср. 118). Во-вторых, наблюдая дифракцию рентгеновских лучей известной длины волны на кристаллической структуре неизвестного строения, мы получаем возможность найти эту структуру, т. е. взаимное расстояние и положение ионов, атомов и молекул, составляющих кристалл. Таким путем был создан структурный анализ кристаллических образований, легший в основу важнейших заключений молекулярной физики. [c.231]

ОСНОВНЫЕ ОПРЕДЕЛЕНИЯ И ОБОЗНАЧЕНИЯ В СПЕКТРОСКОПИИ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ [c.796]

РЕНТГЕНОВСКИЕ СПЕКТРЫ — см. Спектроскопия рентгеновская. [c.426]

В настоящее время после установления методов рентгеновской спектроскопии понятие жесткости рентгеновского излучения может быть заменено более определенным понятием длины волны. В соответствии с этим характеристическое излучение данного вещества мы определяем как излучение, имеющее определенную длину волны. . [c.413]

Наиболее точный метод измерения энергии связи электронов во внутренних оболочках атомов (погрешность 0,1 эВ) основан на рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии газообразных веществ. Кроме того, искомые энергии определяют методами фотопоглощения, рентгеновской эмиссии, оже-спектроскопии и т. д. 19]. [c.420]

Рентгеновская фотоэлектронная эмиссия (РФЭ) возникает под действием рентгеновского излучения и связана с переходом фотоэлектронов с глубоких атомных уровней в вакуум. Характерной особенностью фотоэлектронных спектров РФЭ является наличие узких линий, соответствующих фотоэлектронам, которые вышли из тела без рассеяния энергии (табл. 25.18 и рис. 25.28— 25.30). При использовании длинноволнового рентгеновского излучения (/iv=l кэВ) энергия эмитированных электронов составляет несколько сот электрон-вольт. Длина свободного пробега таких электронов равна 0,5— 2 нм (рис. 25.27), так что линейчатая часть спектров РФЭ отражает свойства приповерхностного слоя толщиной до пяти монослоев. Эта особенность спектров РФЭ позволяет использовать их для анализа состава поверхности в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФС). Энергии для химических элементов в соединениях различаются на несколько электрон-вольт. Так, для углерода энергия фотоэлектронной 1 s-линии меняется от 281 (Hf , Ti ) до 292 эВ (СОг)-Этот эффект, обычно называемый химическим сдвигом, дает возможность получать с помощью РФС информацию не только о оставе поверхности, но и о химических [c.579]

В рентгеновской спектроскопии приняты следующие [c.959]

ВТОРИЧНЫЕ СПЕКТРЫ И ЭФФЕКТЫ ХИМИЧЕСКОЙ СВЯЗИ В РЕНТГЕНОВСКОЙ СПЕКТРОСКОПИИ [c.968]

Рентгеновскую флуоресцентную спектроскопию широко используют для определения содержания различных элементов в анализируемых материалах на глубину, соответствующую 10 —3-10 атомным слоям. Для этих [c.968]

В рентгеновской спектроскопии основные диаграммные линии нередко сопровождаются сателлитными линиями — слабыми линиями как с коротковолновой сто- [c.968]

Физико-химические свойства 3 — 305 Рентгеновская дефектоскопия 3—153 Рентгеновская спектроскопия 3—156 Рентгеновские аппараты 3—160 [c.243]

Р. с. нашли применение в рентгеноспектралъном анализе, в рентг. спектроскопии, рентгеновском структурном анализе, а также при исследовании распределения по уровням энергии электронов в атомах твёрдого тела. [c.363]

По диапазонам длин волн (в порядке убывания) или частот (в порядке возрастав..я) выделяют радиоспектроскопию, микроволновую спектроскопию, суб-миллиметровую спектроскопию, инфракрасную спектроскопию, оптическую спектроскопию (включающую ближнюю ИК-, видимую и частично УФ-области спектра и выделенную гл. обр. по прозрачности оптнч. материалов — стекла, кварца и др.), ультрафиолетовую спектроскопию, рентгеновскую спектроскопию. По характеру взаимодействия излучения с веществом С. подразделяют на линейную (обычную) С. и нелинейную спектроскопию, к-рая возникла благодаря применению лазеров для возбуждения спектров. Применение перестраиваемых лазеров на растворах красителей и полупроводниковых диодных лазеров, а также использование электронных цифровых методов регистрации спектров позволили достичь очень высокого спектрального разрешения и высокой точности спектральных измерений. [c.625]

ХЕМОСОРБЦИЯ — адсорбция газов, паров, вещества из растворов твёрдыми телами с образованием на их поверхности хим. соединения. X. зависит от чистоты и хим. состояния поверхности адсорбента и возможна при наличии хим. активности поверхности, т. е. от присутствия атомов с ненасыщ. валентными связями. Изучение строения хсмосорбированных слоев разл. физ. методами (дифракция медленных электронов, оже-спектроскопия, рентгеновский структурный анализ и др.) позволяет решить разл. вопросы структурного анализа, исследовать хим. связь и т. д. X, применяется в разл. промышл. процессах (напр., в очистке газов), [c.404]

Лит. см. в ст. Дифракция рентгеновских лучей, Рентгеновский структурушй анализ. Спектральный рентгено ский анализ, Спектроскопия рентгеновска.ч. И. В. Боровский. [c.426]

Спектроскопия рентгеновская 381 —388 Статистика Бозе— ЭйнштеЛиа 423, 425 Стенки Блоха 533, 534 Стоксовский сдвиг 373 [c.612]

А. ф. изучает строение атома как квант, системы, состоящей пз ядра и эл-нов, уровни энергии атома и их хар-ки, излучательные и безызлуча-тельные квантовые переходы в атоме, возбуждение атома и атомные столкновения, а также электрич. и магн. св-ва атомов п их поведение во внешн. полях. В А. ф. применяются разнообразные эксперим. методы, из к-рых особое значение имеют спектральные (методы оптич. спектроскопии, рентгеновской спектроскопии, радиоспектроскопии). [c.40]

Наиболее убедительные доказательства существования эндоэдральной структуфы были получены с помощью ЭПР-, фотоэлектронной, мессбауэров-ской спектроскопии и рентгеновской спектроскопии поглощения, причем ЭПР-спектроскопия позволяет получить информацию об элеюронной структуре и химическом состоянии атомов в некоторых металлофуллеренах. Эта [c.59]

Электронные уровни энергии — это уровни, связанные с движением электронов относительно ядер. Нужно различать уровни энергии электронов внутренних оболочек с энергиями связи от десятков до десятков тысяч электрон-вольт, переходы между которыми дают рентгеновские спектры и изучаются методами рентгеновской спектроскопии, и уровни энергии внещних электронов в атомах и молекулах с энергиями связи порядка немногих электрон-вольт. Переходы между уровнями энергии внешних (валентных) электронов дают оптические спектры в видимой и ультрафиолетовой областях, которые и являются основным источником сведений об этих уровнях. [c.227]

Состав поверхностных слоев на металлах в настоящее время прецизионно исследуется с использованием методов Оже-спектроскопии и рентгенофотоэлектронной спектроскопии (РФЭС). В основе этих методов лежит возбуждение электронов внутренних оболочек атомов приповерхностной области твердого тела посредством облучения его электронами высоких энергий, а также жесткими ультрафиолетовыми или рентгеновскими квантами [40]. [c.33]

Для изучения процессов разрушения разных веществ современная наука пользуется инфракрасной спектроскопией, электронным парамагнитным резо-HaiH OiM, масс-спектрометрией, хромотографией, ядер-ным магнитным резонансом, рентгеновской дифракцией в малых и больших углах, дифракцией видимого света, электронной микроскопией, оптической и электронно-микроскопи ческой фрактографией и другими методами. [c.43]

В рентгеновской спектроскопии и рентгеноструктур--ном анализе применялась единица длины икс-единица (обозначение икс-ед. ). Вначале икс-единица была введена как 10 А (10 м), вследствие чего она отождествлялась с миллиангстремом. Икс-единица опре- [c.123]

Как следует из табл. 4, чувствительность (относительная) РСМД весьма невелика и гораздо ниже, чем чувствительность, достигнутая в методах оптической спектроскопии и рентгеновского флюоресцентного анализа. Однако по абсолютной чувствительности рентгеноспектральный микроанал1гз превосходит все другие методы. Так, анализ с чувствительностью 0,1 — 0,01 % элемента в микрообъеме массой 10 I —10 г означает возможность определения содержания вещества до 10 I"—10 1 г. Если же массу анализируемого элемента, равную lO i г, равномерно распределить ио объему, который анализируется при точечном оптическом спектральном анализе (0,5 мм ), то концентрация элемента составит всего 10" %. Следовательно, метод РСМА с высокой эффективностью может быть применен для анализа очень малых количеств примеси, если они распределены неравномерно в виде микровключений в основном материале. [c.496]

А. Это так называемая граница или скачок поглощения серии К- Подобные же скачки поглощения имеются у всех химических элементов, но они часто лежат вне области длины волн, имеющих практическое приме- нение при просвечи- вании. Природа скач- 00 ков поглощения и ха рактерист и ческого излучения кроется во 20 взаимодействии рентгеновых лучей с электронными оболочками К, Ь, М и т. д. атомов химических элементов и составляет область рентгеновской спектроскопии [17]. [c.156]

СПЕКТРОСКОПИЯ (раздел физики, в котором изучают спектры оптические абсорбпионпая изучает спектры поглощения видимого, инфракрасного и ультрафиолетового света акустическая — совокупность методов измерения фазовой скорости и коэффициента поглощения звуковых волн различных частот, распространяемых в веществе вакуумная — спектроскопия коротковолнового ультрафиолетового и мягкого рентгеновского излучения, в которой применяют вакуумные спектральные приборы лазерная изучает полученные с помощью лазерного излучения спектры испускания, поглощения и рассеяния света мессбауэровская — метод изучения электрических и магнитных полей, создаваемых на атомных ядрах их окружением микроволновая — радиоспектроскопия электромагнитных волн сантиметрового и миллиметрового диапазонов длин волн нелинейная — методы исследования строения вещества, основанные на нелинейных оптических явлениях оптико-акустическая — метод анализа вещества, основанный на изучении спектров поглощения света, возникающих [c.278]

Для простых молекул В. у,, как и др. геом. параметры молекулы, можно рассчитать метода.чи квантовой химии. Экспериментально их определяют из значений моментов инерции молекул, полученных путём анализа их вращат. спектров (с.ч. Инфракрасная спектроскопия, Молекулярные спектры. Микроволновая спектроскопия). В. у, сложных молекул определяют методами дифракционного структурного анализа (см. Рентгеновский структурный анализ, Нейтронография, Электронография). в. Г. Дашевский, [c.239]

ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЁЙ - возникновение отклонённых (дифрагированных) лучей в результате интерференции упруго рассеянных электронами вещества вторичных воли, Д. р. л, обусловлена пространственно упорядоченным расположением атомов рассеивателя и большой величиной параметра пространственной дисперсии (1 — длина волны рентгеновского н.= лучения, d — характерное межатомное расстояние в веществе). Она является осн. методом исследования атомной структуры веществ (см. Рентгеновский структурный анализ. Рентгенография материалов. Рентгеновская топография. Рентгеновская спектроскопия) [1 — 6]. [c.671]

Первые эксперим. исследования спектров М. и. и ах сателлитов были выполнены в 1920—40-х гг., интенсивные исследования начаты в 60—70-х гг. внеатмосферным изучением короны Солнца методами рентгеновской спектроскопии. Точность измерения Я в спектрах лаб. и астрофиз. источников сравнима с точностью георетич. расчётов, ДЯ/Я составляет 10" —10" для диапазона Я = 1—10A. На рис. 1—3 приведены рентг. спектры для разл. источников М. и. Экспериментально, как правило, измеряются разности между длинами волн линий данной и резонансной, к-рая обычно согласуется с расчётной. Появились первые эксперим. измерения (1986) абс. длин волны переходов в (Н] и Не] ионах. Эти результаты являются наиб, точными и подтверждают надёжность теоретич. расчётов. В табл. 2 приведены значения длин волн Я для резонансных переходов 2 Р) — Н5а [Не] ионах, полученные в вакуумной искре и теоретически рассчитанные. [c.161]

Смотреть страницы где упоминается термин Спектроскопия рентгеновская : [c.350] [c.178] [c.269] [c.32] [c.682] [c.201] [c.31] [c.40] [c.174] [c.424] [c.64] [c.711] [c.939] [c.968] [c.281] [c.124] [c.296] [c.103] [c.161] [c.351]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...