Кристаллы-анализаторы

В области спектра с X < 20 А излучение разлагают в спектр с помощью кристаллов-анализаторов (табл.), [c.351]

Peo. Схема рентгеновского спектрометра с плоским кристаллом К — кристалл-анализатор (остальные обозначения см. на рис. 1). [c.352]

Кривизна поверхностей 1 170, 171 Кривые качания 1 269 — усталости 2 306, 311 Кристаллы-анализаторы 1 301 Кристаллическая структура i 188 [c.456]

Из (7.41) может быть получено выражение для дифракционной эффективности. Если за кристаллом анализатор поляризации отсутствует, то [c.145]

Выпускают рентгеновские спектрографы (многоканальные) с несколькими кристалл-анализаторами и счетчиками, настроенными для количественного определения различных элементов в одном образце (квантометры). Очень полезные данные о составе поверхностного слоя можно получить сканированием электронного пучка на поверхности образца. Изображения, полученные в характеристических рентгеновских лучах, дают качественное представление о химическом составе поверхностного слоя, позволяя при этом установить связь между концентрацией и видимой микроструктурой поверхности. [c.84]

Анализаторами Р. л. служат а) природные или искусственные неорганические и органические кристаллы, т. к. вследствие периодич. расположения атомов в пих они являются естественными пространственными дифракционными решетками для Р. л. б) оптические дифракционные решетки с числом штрихов от 600 до 1200 на мм. Кристаллы — анализаторы используются в виде плоских пластин или пластин, изогнутых по цилиндрич. поверхиости дифракционные решетки также применяются плоские или нанесенные па сферич. поверхность. [c.425]

Рентгеновский флюоресцентный анализ. Относится к тому же виду исследования, как и применение электронного микроанализатора (рис. 1.424). При этом вместо электронов возбуждения применяют рентгеновское излучение. Первичное рентгеновское излучение рентгеновской трубки возбуждает способность элементов к флюоресценции. Флюоресцентное излучение направляется в виде параллельного пучка и разлагается кристаллом анализатора. Интенсивность отдельных компонентов излучения определяется счетчиком гониометра. [c.160]

На следуюш ем этапе производили настройку кристалла-анализатора на линию К . Последуюш ая корректировка положения кристалла-анализатора производилась при совмеш ении микрозонда с неметаллическими включениями, содержаш имися на поверхности анализируемого шлифа. Предварительно отыскивали такие включения, в которых содержание указанных [c.31]

Оба луча, возникающие в кристалле при двойном лучепреломлении, полностью поляризованы в двух взаимно перпендикулярных плоскостях. Это явление легко продемонстрировать на опыте пусть свет по выходе из кристалла падает на какой-либо анализатор (поляроид, призма Николя). Повернув его на некоторый угол, мы гасим один луч и пропускаем второй, а повернув анализатор еще на Tt/2, полностью пропускаем первый луч и гасим второй. Анализ таких экспериментов показывает, что колебания вектора Е в обыкновенном луче перпендикулярны плоскости главного сечения, а в необыкновенном луче вектор Е колеблется в плоскости главного сечения (рис. 3.1). [c.115]

Такие пластинки изготовляют обычно из кварца, а иногда и из тонких слоев слюды, которая, несмотря на то является двуосным кристаллом, может быть использована в этих целях. Свойства пластинки Х/4 легко проверить, поместив ее между двумя скрещенными поляризаторами. Если при вращении анализатора интенсивность прошедшего света не меняется, то толщина подобрана правильно — на выходе из пластинки Получается циркулярно поляризованный свет. Добавив еще одну такую пластинку, можно снова перевести круговую поляризацию в линейную, в чем легко убедиться вращением анализатора. В по-добных опытах, конечно, должно быть выдержано упомянутое выше условие, т. е. вектор Е в волне, падающей на пластинку, должен составлять угол л/4 с ее плоскостью главного сечения. Это достигается относительным вращением поляризатора и пластинки вокруг направления луча. Здесь следует указать, что если направление колебаний вектора Е в падающей волке совпадает с оптической осью пластинки 1/4 (или с направлением, перпендикулярным этой оси), то через пластинку пройдет лишь одна волна. В таком случае из пластинки выйдет линейно поляризованная волна. [c.117]

Оба луча, возникающие в кристалле при двойном лучепреломлении, полностью поляризованы в двух взаимно перпендикулярных плоскостях. Это легко демонстрируется при помощи поляризационных устройств (например, призма Николя или поляроид). Пусть свет после выхода из кристалла падает на какое-либо поляризационное устройство (в этом случае его называют анализатором). Поворачивая анализатор на некоторый угол, гасим первый луч и пропускаем полностью второй, а поворачивая анализатор на угол я/2, полностью пропускаем первый луч и гасим второй. Анализ таких экспериментов показывает, что колебания электрического вектора Е в обыкновенном луче перпендикулярны к главной плоскости, а в необыкновенном луче вектор Е колеблется в главной плоскости (см. рис. 17.1). В остальном свойства обоих лучей при выходе из кристалла ничем не отличаются друг от друга. [c.32]

Гамма-спектры снятых слоев стекломассы измеряли с помощью сцинтилляционного спектрометра, состоящего из кристалла Nal (Т1) размером 80 X 80 мм, фотоумножителя типа ФЭУ-56 и многоканального амплитудного анализатора NTA-512. [c.210]

На РЭМ, оснащённом рентг. спектрометрами, производя- локальный количеств, анализ регистрируют число импульсов, возбуждаемых рентг. квантами от участка, на к-ром остановлен электронный зонд. Кристаллич. спектрометр с помощью набора кристаллов-анализаторов с разд. межплоскостными расстояниями (см. Брэгга—Вульфа условие) дискриминирует с высоким спектр, разрешением характеристич. спектр по длинам волн, перекрывая диапазон элементов от Be до U. Полупроводниковый спектрометр дискриминирует рентг. кванты по их энергиям и регистрирует одновременно все элементы от В (или С) до U. Его спектральное разрешение ниже, чем у кристаллич. спектрометра, но выше чувствительность. Имеются и др. преимущества быстрая выдача информации, простая конструкция, высокие эксплуатационные характеристики. [c.577]

Все элементы, начиная с натрия и расположенные после него в периодической системе Менделеева, могут анализироваться без особых затруднений, тогда как для более легких элементов требуется вакуумный спектрометр. Работа с легкими элементами наталкивается на значительные трудности, потому что их Z-серии рентгеновских лучей имеют слишком большие длины волн, которые, кроме всего прочего, с трудом возбуждаются. В настоящее время разра отана техника определения элементов этого конца периодической таблицы [28]. Произведенная совсем недавно замена кристалла-анализатора специальной дифракционной решеткой расширила пределы анализа с помощью микрозонда вплоть до лития в этом случае можно определять без особого труда содержание углерода, азота и кислорода (Фрэнкс, неопубликованные данные), [c.394]

Основное достоинство растровых электронных микроскопов состоит в том, что с их помошью можно очень быстро изучить большое число образцов, так как подготовка их весьма несложна, исследованию подвергаются практически обычные металлографические шлифы. Растровые электронные микроскопы, снабженные детектором возбуждаемого в образце рентгеновского излучения, используются для локального рентгеноспектрального количественного анализа микроучастков образца. Такие приборы иначе называют рентгеноспектральными м и к р о а н а л и 3 а т о р а м и или м и к р о з о н д я. м и. Характеристическое рентгеновское излучение, возбужденное в точке, на которую воздействует электронный зонд, попадает на кристалл-анализатор, разлагающий рентгеновское излучение в спектр. Из этого спектра можно выделить линии, характерные для заданного химического элемента. По интенсивности линий по отношению к эталонному образцу можно определить содержание данного элемента в исследуемом участке образца. Этот же сигнал, показывающий интенсивность линий характеристического спектра какого-либо элемента, можно направить в видеоблок и при сканировании электронного зонда по поверхности образца получить растровое изображение в рентгеновских лучах. При таком изображении яркость отдельных участков будет пропорциональна содержанию выбранного компонента сплава. 1Че-тод позволяет исследовать участок размером до 3— 5 мкм, чувствительность определения концентраций доходит до 0,1—0,5%. [c.54]

МИКРОЗОНД (электронный) — прибор для количественного и качественного анализов металлов в микрообъемах. Работа М. основана на принципе микро-рентгеноснектральпого анализа. Поток электронов, эмиттируемых вольфрамовой нитью, фокусируется с помощью специальных устройств в узкий электронный пучок. В исследуемом образце в месте встречи с пучком возбуждается характеристическое излучение ото всех элементов, входящих в состав материала образца. Разлагая излучение в спектр с помощью кристалла — анализатора, производят качественное и количественное определение химического состава. [c.80]

Рис, 1, Геометрия фокусирующей рентгеновской слектральной аппаратуры а) метод Кошуа, б) метод Дю-Монда, в) метод Иоганна, г) метод Ио1 анссона И — источник и.злучения, в — щель, К — кристалл-анализатор, О — центр окружности, НС к-рой изопЕут кристалл, Р — фокус для лучей одной длины волны, / — фокальная окружность, О — ее центр, V — детектор. Штриховка кристалла показывает направление отражающих атомных плоскостей . [c.6]

Рис. 2. Геометрия рентгеновского спектрометра с плоским кристаллом по Соллеру. 8 — источник излучения, К — кристалл-анализатор, О — детектор, Сг и С, — многонластин-чатые коллиматоры.

Рис. 5.8. Разрез трехосного кристаллического спектрометра Брокхауза, показанного на рис, 5.9. I — заглушка канала реактора 2 — наружи ая поверхность реактора 3 — вспомогательная заглушка 4 — враш,аюш,ееся защитное ограждение 5 — кристалл-монохроматор (J — контрольный счетчик 7 — образец —счетчик, наполненный ВРз Р — кристалл-анализатор.

РЕНТГЕНОВСКИЕ СПЕКТРЫ, спектры испускания и поглощения рентг. излучения, т. е. эл.-магн. излучения в области длин волн от 10 до 10 A. Для исследования Р. с. применяют спектрометры с диспергирующим элементом (кристаллом-анализатором или дифракц. решёткой) либо без дифракц, аппаратуру, состоящую из детектора (сцинтилляционного, газового пропорционального или полупроводникового счётчика) и амплитудного анализатора импульсов (см. Спектральная аппаратура рентгеновская). [c.638]

Оптич. схемы рентг. спектрометров г а — фокусирующий спектрометр с кристаллом-анализатором К, б — фокусирующий спектрометр с дифракц. решёткой О, в — спектрометр с плоским кристаллом К и коллиматором Соллера (С1 и Се) 8 — источник излучения и. 82 — щели f — фокальная окружность, О — её центр О—центр окружности, по к-рей изогнут кристалл или центр вогнутой поверхности решётки В — детектор Р — фотокатод М — ВЭУ. [c.703]

Модель "Спектроскан - LF" позволяет определять химические элементы в диапазоне от кальция до урана, а также два элемента из диапазона магний - кальций. Внещняя конструкция прибора - такая же, как базовой модели. Спектрометр содержит три спектрометрических канала - один сканирующий и два фиксированных. Сканирующий канал "Спектроскана - LF", как и базового варианта, обеспечивает последовательное измерение интенсивности аналитических линий, выделяемых кристаллом - анализатором, а фиксированные каналы используются для определения легких элементов. Эти каналы выполнены с использованием пропорциональных счетчиков и селективных рентгеновских фильтров. Подбор и установка фильтров производится при изготовлении спектрометра, и дальнейшей настройки каналов для измерения определяемых элементов не требуется. Действие фильтров основано на использовании скачков поглощения излучения в веществе фильтра. Благодаря этому определение, например, серы, возможно в присутствии фосфора и хлора, содержания которых значительно превосходят содержание серы. Программное обеспечение спектрометра позволяет управлять режимами работы рентгеновской трубки и детекторов рентгеновского излучения, производить последовательное измерение во всех трех каналах и расчет концентраций определяемых элементов. [c.149]

Поляризация излучения является третьей основной характеристикой монохроматич( ской волны. Наиболее простой случай. нинейной поляризации имеет место в УКВ-области, и его можно искусственно создать и в оптическом диапазоне. Существует множество различных типов оптических поляризаторов — устройств, на выходе которых получа( тся линейно поляризованный спет (кристаллы исландского игиата или кварца, призма Николя и различные другие приспособле шя). ( помощью таких уст ройств можно не только поляризовать излучение, но и проверить, характеризуется ли неизвестная радиация линейной поляриза-иией.Методика подобных исследований ясна из рис. 1.12, где показаны две взаимные ориентации поляризатора и анализатора, при которых свет проходит целиком или нацело задерживается. Метод исследования эллиптически поляризованного света [c.36]

Опыты с кварцем. Классическим объектом для демонстрации вращения плоскости поляризации служит одноосный кристалл. Схема опыта представлена на рис. 4.9. Поляризатор и анализатор установлены так, что они не пропускают излучения (скрещены). После введения пластинки кнарца толщиной d поле просветляется. Свет распространяется вдоль оптической оси [c.153]

Описать картину, которая должна наблюдаться в параллельных лучах при помещении между скрещенными Николями пластинки, вьирезанной из одноосного кристалла параллельно оптической оси. Что произойдет, если вращать пластинку если вращать анализатор [c.893]

Имеются кристаллы, которые поглощают либо обыкновенный, либо необыкновенный луч. Тогда на выходе из них образуется только один луч с соответствующей линейной поляризацией. Например, в кристалле турмалина уже на пути около 1 мм практически полностью поглощается обыкновенный луч, а в герапатите один из лучей поглощается полностью уже при толщине 0,1 мм. Такие кристаллы используются в качестве поляризаторов или анализаторов света. [c.35]

Просмотр шлифов в поляризованном свете — это важнейшее вспомогательное средство при исследовании включений и различии оптически изотропных кристаллов от оптически анизотропных. Изотропность определяется строением кристалла. Все вещества, кристаллизующиеся в кубической системе, и аморфные материалы являются оптически изотропными. Все вещества, кристаллизующиеся в других системах, относятся к оптически анизотропным материалам. Изотропные вещества, т. е. большинство металлов, дают одинарное лучепреломление и не изменяют плоскости поляризации плоскополяризованного света, так что наблюдаемое поле при рассмотрении со скрещенными николями (+Л/) остается темным и освещенность незначительно изменяется при повороте объектного столика. Оптически анизотропные кристаллы, например бериллия, кадмия, магния, титана, цинка, а также пластинчатого и коагулированного графита, напротив, дают двойное лучепреломление. Они соответственно их кристаллографической ориентации разлагают плоскополяризованный свет на две взаимно перпендикулярные поляризованные компоненты. Яркость света увеличивается в зависимости от положения оси кристалла к плоскости колебания анализатора при скрещенных николях. Интер металл иды цветных металлов, кроме йнтерметал-лидов, образующихся на основе алюминия, кремния, свинца и AlSb, оптически различаются благодаря тому, что во время поворота объектного столика на 360 они четыре раза попеременно попадают в светлое и темное поле, при этом в отдельных случаях наблюдается окрашивание. [c.13]

Для получения полной поляризации преломленного света можно применять 8—10 стеклянных пластинок (стопу) с последовательным преломлением. В качестве поляризаторов и анализаторов часто применяют поляроиды в виде прозрачной пластинки с тонким слоем (порядка 0,1 мм) дихроичных кристаллов (герапатит и др.) или в виде тонких нластин дихроичных кристаллов. Они менее прозрачны, чем поляризационные иризмы из исландского шиата, и не [c.227]

Для получения полной поляризации преломленного света можно применять 8—10 стеклянных пластинок (стопу) с последовательным преломлением. В качестве поляризаторов и анализаторов часто применяют поляроиды в виде прозрачной пластинки с тонким слоем (порядка 0,1 мм) дихроичных кристаллов (герапатит и др.) или в виде тонких пластин дихроичных кристаллов. Они менее прозрачны, чем поляризационные призмы из исландского шпата, и не обеспечивают полной поляризации крайних лучей спектра (фиолетовых и красных). Однако ввиду возможности их изготовления с относительно большой поверхностью и их невысокой стоимости они успешно применяются в технике. [c.317]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...