Характеристический спектр рентгеновского излучения

ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКИЙ СПЕКТР РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ [c.959]

Помимо диаграммных линий в характеристическом спектре рентгеновского излучения существуют слабые по интенсивности линии, называемые недиаграммными линиями, или сателлитами диаграммных линий. Коротковолновые сателлиты могут возникать при дополнительной ионизации излучающего атома, а также при переходах на внутренний уровень с оптических уровней атомов, которые были предварительно возбуждены. Сателлиты, проявляющиеся с длинноволновой стороны от диаграммной линии, могут возникать при перекрестных переходах электронов атомов, образующих химическое соединение. Например, длинноволновой сателлит /С-линии хлора проявляется в соединении КС1 и может быть объяснен переходом 2р электрона иона К на уровень Is нона С1 (1, 2]. [c.797]

При рентгеновском методе замера напряжений в металлах используется монохроматическое (характеристическое) рентгеновское излучение так называемой /С-серии. Для того чтобы получить такое излучение, необходимо приложить к трубке высокое напряжение, большее некоторой величины, характерной для взятого рабочего металла анода. Например, для исследования стальных конструкций в качестве рабочего металла анода используется кобальт. Если анодное напряжение в трубке не превышает 7710 в, спектр рентгеновского излучения кобальта будет сплошным, охватывающим длины волн от самых коротких, порядка 1,6 А, до длинных волн теплового излучения. При анодном напряжении, превышающем 7710 в, картина резко меняется. Интенсивность сплошного спектра уменьшается, и на его фоне появляются ярко выраженные излучения с определенными. [c.528]

При рентгеновском методе замера напряжений в металлах используется монохроматическое (характеристическое) рентгеновское излучение так называемой /С-серии. Для того чтобы получить такое излучение, необходимо приложить к трубке высокое напряжение, большее некоторой величины, характерной для взятого рабочего металла анода. Например, для исследования стальных конструкций в качестве рабочего металла анода используется кобальт. Если анодное напряжение в трубке не превышает 7710 В, спектр рентгеновского излучения кобальта будет сплошным, охватывающим длины волн от самых коротких, порядка 1,6 А, до длинных волн теплового излучения. При анодном напряжении, превышающем 7710 В, картина резко меняется. Интенсивность сплошного спектра уменьшается, и на его фоне появляются ярко выраженные излучения с определенными, строго фиксированными, длинами волн. Для кобальта таких излучений будет.три. Самое интенсивное из них имеет длину волны X, равную 1,7853 А. Соседнее с ним, более слабое,— 1,7892 А. Эти два излучения образуют так называемый дублет Kjj. Третье излучение является слабым и практического значения не имеет. При дальнейшем повышении напряжения характер спектра не меняется. Возрастает лишь интенсивность излучения. Указанные же длины волн сохраняются. [c.487]

Хотя изложение основ рентгеноструктурного анализа не является задачей этой книги, упомянем здесь об интерференционном методе исследования кристаллов, в котором используют дискретные рентгеновские спектры характеристические лучи) — резкие пики, появляющиеся на сплошном фоне рентгеновского излучения при больших ускоряющих потенциалах. Кристаллографическими исследованиями было установлено, что в любом кристалле можно обнаружить определенные плоскости, в которых атомы или ионы, составляющие его решетку, упакованы наиболее плотно. Такие плоскости отражают монохроматическое рентгеновское излучение, и, следовательно, может происходить интерференция волн, отраженных различными плоскостями. Очевидно, что усиление отраженной волны произойдет лишь под вполне определенным углом 0 (рис. 6.78). Если разность хода (А = АО + ОВ) равна целому числу длин волн, то [c.351]

Переход атома в невозбужденное состояние может сопровождаться испусканием не фотона, а электрона. Этот переход называют вторичным фотоэффектом или оже-эффектом, а соответствующие электроны — оже-электронами. Так как энергетический спектр этнх электронов определяется разностью энергий разных энергетических состояний атомов, он также является паспортом данного сорта атомов, как н характеристическое рентгеновское излучение. Вероятность испускания оже-электронов для атомов с Z<33 дах<е выше, чем вероятность излучательных переходов. [c.968]

Существуют рентгеновское излучение с линейчатым спектром — характеристическое, связанное с электронными пе- [c.109]

Аппаратура. Давно известно, что при облучении образца электронным пучком возникает рентгеновское излучение на фон сплошного спектра рентгеновских лучей накладываются линии, являю щ иеся характеристическими для элементов, входяш их в состав образца. Идентифицируя эти линии эмиссионного спектра, можно определить присутствующие элементы, а измерения интенсивности выбранных линий могут использоваться для очень точного количественного анализа при сравнении с таковыми для эталонных образцов. [c.391]

Практическое использование рентгеновского излучения часто требует более точного знания характеристического спектра для каждого элемента, чем то, которое следует из закона Мозли. В табл. 35-2—35.5 представлены длины волн и края поглощения для различных Элементов. [c.797]

Ускоренные электроны пучка возбуждают рентгеновское характеристическое излучение атомов вещ,ества. Возникаюш,ее излучение разлагается в спектр, а интенсивность линий спектра регистрируется с помощью счетчика фотонов. Качественный состав микрообъема определяется сопоставлением длин волн линий характеристического спектра, вычисленных по углу отражения этих линий от кристалла по закону Вульфа-Брэгга с табличными значениями длин волн. Концентрация элемента в анализируемом объеме определяется по интенсивности соответствующих линий, которая сводится к сравнению интенсивности линий от исследуемого образца с интенсивностью аналогичной линии от стандартного образца, в котором содержание анализируемого элемента известно. Изменение концентрации элемента вдоль выбранного направления вызывает пропорциональное изменение интенсивности излучения, которое записывается в виде концентрационных кривых на диаграмме автоматически. [c.230]

МОЗЛИ ЗАКОН — закон, связывающий частоту спектральных линий характеристического рентгеновского излучения с порядковым номером X испускающего это излучение элемента согласно М,. ч,, квадратный корень из частоты V соответствующе характеристич. пинии есть линейная функция от I (см. рис.). Линии каждой серии спектра при уведи- [c.279]

При взаимодействии фотонов Р. л. с электронами атомов вещества энергия излучения идет на образование а) когерентного излучения с неизменной длиной волны (опо используется при проведении всех рентгеноструктурных исследований) б) некогерентного излучения с измененной длиной волны и фотоэлектронов отдачи (Комптон-эффект) в) фотоэлектронов, обладающих конечной кинетической энергией и ионизованных атомов (внутренний фотоэффект) г) электронов Оже и дважды ионизованных атомов д) ионизованных атомов и коллективных (плазменных) колебаний электронов в результате процессов г) и д) могут возникать спутники — сателлиты основных линий рентгеновских характеристических спектров. [c.424]

В рентгеноструктурном анализе поликристаллов обычно используется К-серия характеристического рентгеновского излучения (см. типы рентгеновских спектров в статье Просвечивание металлов ). [c.130]

Рентгеновское излучение состоит из двух налагающихся друг на друга спектров сплошного и линейчатого (характеристического). Относительные интенсивности обоих [c.188]

Спектр характеристического рентгеновского излучения вольфрама изображен на рис. 3-2-29 (та бл. i3-i2-12). [c.47]

Рис. 3-2-29. Эмиссионный рентгеновский спектр вольфрамового антикатода в относительных единицах при рабочем напряжении на трубке 200 кв. На фоне спектра торможения, не зависящего от материала, видны линии характеристического К- и -излучения вольфрама.

Характеристическое рентгеновское излучение имеет линейчатый спектр (У.3.4.2°). Такое название оно получило потому, что частоты линий спектра в этом излучении являются характерными для каждого вещества, в котором тормозятся быстрые электроны. Характеристическое излучение возникает в результате того, что внешний быстрый электрон, тормозящийся в веществе, вырывает из атома вещества электрон, расположенный на одном из внутренних электронных слоев (У1.2.8.6°). На освободившееся место переходит другой электрон атома из более удаленного от ядра слоя. Это приводит к возникновению рентгеновского фотона (У.5.1.2°) с определенной частотой V, характерной для данного атома с зарядом ядра 1е (У1.2.1,Г). На [c.387]

Метод микрорентгеноспектрального анализа основан на том, что пучок электронов с большой энергией фокусируется системой электромагнитных линз до микронного диаметра и направляется на выбранный участок образца, поверхность которого наблюдается под оптическим микроскопом при увеличении 400— 600. Попадая на образец, электроны возбуждают в анализируемом участке рентгеновское излучение, которое разлагается системой кристаллов в спектр и регистрируется счетчиками. По длине волны и интенсивности.рентгеновского излучения производится качественный и количественный анализы. Чувствительность метода различна для различных элементов. Точность количественного анализа зависит от условий возбуждения излучения и химического состава объекта, так как зависимость интенсивности от концентрации нелинейная. Для точных количественных измерений нужны эталоны, использование которых дает точность до 5 % без эталонов точность 10—15%. В настоящее время применяются серийные отечественные установки МАР-2, французские, английские, японские микроанализаторы. Они позволяют производить анализ элементов от магния до урана при локальности 2—5 мкм. Проектируются установки, которые будут анализировать бор, азот и др. Почти все микроанализаторы снабжены сканирующим устройством, поэтому одновременно можно производить анализ элементов в точке и получать топографическую картину распределения элементов в нескольких характеристических излучениях, а также в отраженных и поглощенных электронах. Метод микрорентгеноспектрального анализа обладает широкими возможностями для анализа структуры и состава переходной зоны. Принципиальным преимуществом этого метода является возможность с наивысшей пока степенью локальности изучать переходную зону многокомпонентных систем. [c.35]

Локальность анализа зависит от диаметра электронного зонда, плотности вещества (или от атомного номера) и предельной чувствительности прибора. При рентгеновском микроанализе объем анализируемой зоны объекта имеет размер несколько больший, чем диаметр электронного зонда. Этот эффект обусловлен рассеянием электронов в объекте, рентгеновской флюоресценцией под воздействием характеристического излучения и флюоресценцией иод воздействием излучения с непрерывным спектром. Влияние эффекта расширения анализируемой зоны значительно уменьшается при исследовании тонких фольг. [c.496]

Таким образом, результат аналогичен позитронному излучению в том смысле, что (Z) - (Z—1) и испускается нейтрино (р + е- п) + V. Однако имеются два существенных различия. Излучение позитронов сопровождается непрерывным спектром нейтрино, в то время как захват электрона дает линейчатый спектр нейтрино. Эти нейтрино также были предметом интенсивного исследования, но никогда не были обнаружены непосредственно. Однако наблюдалась ожидаемая отдача остаточного ядра, сопровождающая излучение v при захвате электрона. Поскольку электронный захват удаляет внутренний атомный электрон, то за этим процессом следует излучение характеристических рентгеновских лучей [c.29]

При малых энергиях существенную роль начинает играть также релеевское рассеяние на связанных электронах атомов, и при определенных условиях может проявиться резонансное поглощение энергии внешних электрического и магнитного полей. Резонансные процессы поглощения и рассеяния оказываются существенными лишь в очень узких (резонансных) областях энергий, положение которых в энергетическом спектре индивидуально для различных элементов. Энергия рентгеновского характеристического излучения при этом невелика. [c.171]

Монохроматизация излучения. Рентгеновское характеристическое излучение всегда сопровождается излучением со сплошным спектром (см. рис. 12). [c.192]

Ширина линии характеристического спектра рентгеновского излучения равна сумме тирии верхнего и нижнего уровней атома. Полная ширина уровня определяется радиационными и безрадиациоиными (эффект Оже) переходами. Оже-переходы какого-либо определенного типа возможны только в том случае, если энергия перехода превышает энергию связи конвертируемого элект- [c.806]

Различают непрерывный и линейчатый спектры рентгеновского излучения. Непрерывный спектр связан с излучением быстрого электрона при его торможении в теле антикатода. При увеличении ускоряющего напряжения U и, следовательно, кинетической энергии электронов mv t2 = eU) коротковолновая граница этого тормозного излучения смещается (максимальная энергия и.злучаемых рентгеновских квантов Йш равна кинетический энергии eil бомбардирующих электронов) и, кроме того, появляются узкие максимумы (характеристическое излучение). Длины волн этих дискретных линий зависят от того, какой химический элемент использован в качестве материала антикатода. Электрон, бомбардирующий антикатод, обладает большой кинетической энергией и мижет выбить электрон с внутренней оболочки атома. В результате атом оказывается возбужденным и может совершить квантовый переход в основное состояние с испусканием кванта электромагнитной энергии. Благодаря бшыпий разности энергий основного состояния и состояния с возбуждением электрона внутренней оболочки для всех атомов с атомным номером Z порядка 10 или больше это излучение принадлежит рентгеновской области спектра. [c.9]

Отрыв электрона может произойти и другими способами (при захвате /С-электрона ядром, при отрыве электрона под действием ядерного излучения того же элемента и поглощения соответствующего кванта рентгеновского излучения). На освободившееся место может перейти электрон одной из оболочек L, М, А/ и т. д. Все эти переходы создаются /(-серии рентгеновского спектра, состоящие из линий Ка, Kfi, Ку Очевидно, что в /С-серии самой длинной является /Са-линия, т. е. Аналогичным образом при переходе электронов па освободившееся место в L-оболочке из А1-, Л/-оболочек возникают La-, Lp-лииип и т. д. М- и Л/-серии рентгеновского спектра наблюдаются только у тяжелых элементов. Таким образом, спектры характеристического рентгеновского излучения состоят из линий, составляющ[[х несколько серий. [c.161]

Пригодность рентгеновской пленки для дефектоскопии определяется ее сенситометрическими характеристиками, чувствительностью и коэффициентом контрастности. Чувствительность и коэффициент контрастности пленки зависят от материала и толщины усиливающих экранов, а также от толщины просвечиваемого материала, так как этим определяется спектр проходящего излучения. На основании экспериментальных данных были построены характеристические кривые для различных оте-честпепных и зарубежных рентгеновских пленок со следующими комбинациями экранов без экрана экран 1П4,5 экран 2П4,5 экран ФПФ (здесь цифры обозначают толщину свинцового экрана в миллиметрах, буква П обозначает пленку, а буква Ф — флюоресцирующий экран с нагрузкой светящегося слоя из вольфрамата кальция в 120 Mzj M ). Определение коэффициента контрастности проводилось по величине тангенса угла наклона наиболее прямолинейного участка характеристической кривой. [c.335]

Кроме белого рентгеновского излучения, которое возникает при любых малых скоростях движения электронов и на любых анодах, каждый химический элемент, применённый в качестве анода, испускает свой собственный характеристический рентгеновский спектр, накладывающийся на спектр торможения. Характеристический спектр в отличие от спектра торможения является не сплошным, а состоящим из нескольких серий волн с характерными для каждого данного элемента длинами волн и минимальными напряжениями возбуждения (в кв), при которых эти характеристические рентгеновы лучи возникают. На суммарной спектральной кривой длины волн характеристического спектра отличаются резкими максимумами интенсивности. [c.154]

Спектры характеристического рентгеновского излучения (спектры испускания) и спектры характеристической абсорбции (спектры поглощения) рентгеновых лучей составляют экспериментальную основу современного учения о строении атомов химических элементов, объединяемых периодической системой Менделеева [8, 4] [c.156]

АНАЛИЗ [активационный — метод определения химического состава вещества с помощью регистрации излучения радиоактивных изотопов, образующихся при облучении вещества ядерными частицами люминесцентный — химический анализ вещества по характеру его люминесценции рентгенорадиометрический— анализ химического состава, основанный на регистрации рентгеновского излучения, возникающего при взаимодействии излучения радиоизотопного источника с атомами вещества рентгеноснектральный — метод определения химического состава примесей вещества по характеристическому рентгеновскому спектру его атомов рентгеноструктурный— метод исследования структуры вещества, основанный на изучении дифракции рентгеновского излучения в этом веществе спектральный — физический метод качественного и количественного анализа веществ, основанный на изучении их спектров — испускания, поглощения, комбинационного рассеяния света, люминесценции АНТИФЕРРОМАГНЕТИЗМ— магнитоупорядоченное состояние кристаллического вещества с антипараллельной ориентацией спиновых магнитных моментов соседних атомов в кристаллической решетке АЭРОДИНАМИКА—раздел аэромеханики, изучающий законы движения газообразной среды и ее взаимодействие с движущимися в ней твердыми телами АЭРОМЕХАНИКА— раздел механики, изучающий равновесие и движение газообразных сред и механическое воздействие этих сред на погруженные в них твердые тела [c.225]

Источники рентгеновского излучения. Наиб, распространённый источник Р. и.— рентг. трубка, в к-рой электроны, вырывающиеся из катода в результате термоэлектронной или автоалектронной эмиссии, ускоряются электрич. полем и бомбардируют металлич. анод. Атомы анода, возбуждаемые электронным ударом, и электроны, теряющие кинетич. энергию при торможении в веществе, испускают Р. и. Излучение рентг. трубки наз. первичным и состоит из двух частей линейчатой (характеристическое Р. и.)и непрерывной (тормозное Р. и. см. Рентгеновские спектры). При действии первичного Р. и. на вещество последнее испускает флуоресцентное (вторичное) Р. и., состоящее только из линейчатой части. Бели мишень бомбардировать протонами, а-частицами или более тяжёлыми нонами с энергией неск. МэВ на нуклон, то мишень будет испускать Р. и. линейчатого спектра с очень слабым непрерывным излучением (контрастность характеристич. линий такого Р. и. очень высокая). Для ускорения ионов используют электро-статич. генераторы или циклотроны, [c.375]

Рассмотрим аппаратуру для измерения рассеяния рентгеновского излучения. Естественно, что приборы, работающие в мягкой и ультрамягкой областях, оказываются существенно более сложными из-за необходимости обеспечения вакуума в приборе, чем в жесткой рентгеновской области. Несмотря на это, необходимость измерения во многих случаях характеристик рассеяния на рабочей длине волны зеркала привела к появлению установок, обеспечивающих возможность измерений при длинах волн до 11,3 нм [12, 26, 82]. На рис. 6.7 приведена схема прибора для измерения индикатрисы рассеяния [26]. Установки, как видно из рисунка, имеют большие линейные размеры для получения пучка с угловой расходимостью в десятки угловых секунд, что необходимо для исследования суперполированных поверхностей, имеющих параметр о до единиц ангстрем и большие корреляционные длины. Измерения проводятся на контрастной характеристической линии, выделяемой из спектра материала анода рентгеновской трубки 1. Щели 2 я 3 обеспечивают требуемую угловую расходимость падающего на образец пучка рентгеновского излучения. С помощью устройства перемещения 4 образец может быть выведен из рентгеновского пучка и тогда, перемещая детектор 6 с узкой щелью 8, записывается контур падающего пучка. Затем, вводя образец 5 и устанавливая его под заданным углом, детектором 6 с помощью механизма перемещения 7 производится запись индикатрисы рассеянного излучения. Подробное рассмотрение процедуры обработки экспериментальных индикатрис рассеяния для вычисления среднеквадратичной шероховатости и корреляционной длины [c.239]

Характеристическое йзлучение имеет дискретный энергетический спектр, состоящий из энергетических линий согласно переходам электронов с наружной оболочки на соответствующие внутренние. Тормозное излучение имеет непрерывный характер, поскольку уменьшение кинетической энергии электрона и преобразование ее в рентгеновское излучение происходит при непрерывном испускании квантов различных энергий. [c.95]

Основное достоинство растровых электронных микроскопов состоит в том, что с их помошью можно очень быстро изучить большое число образцов, так как подготовка их весьма несложна, исследованию подвергаются практически обычные металлографические шлифы. Растровые электронные микроскопы, снабженные детектором возбуждаемого в образце рентгеновского излучения, используются для локального рентгеноспектрального количественного анализа микроучастков образца. Такие приборы иначе называют рентгеноспектральными м и к р о а н а л и 3 а т о р а м и или м и к р о з о н д я. м и. Характеристическое рентгеновское излучение, возбужденное в точке, на которую воздействует электронный зонд, попадает на кристалл-анализатор, разлагающий рентгеновское излучение в спектр. Из этого спектра можно выделить линии, характерные для заданного химического элемента. По интенсивности линий по отношению к эталонному образцу можно определить содержание данного элемента в исследуемом участке образца. Этот же сигнал, показывающий интенсивность линий характеристического спектра какого-либо элемента, можно направить в видеоблок и при сканировании электронного зонда по поверхности образца получить растровое изображение в рентгеновских лучах. При таком изображении яркость отдельных участков будет пропорциональна содержанию выбранного компонента сплава. 1Че-тод позволяет исследовать участок размером до 3— 5 мкм, чувствительность определения концентраций доходит до 0,1—0,5%. [c.54]

РЕНТГЕНОВСКИЕ ЛУЧИ — электромагнитное излучение, занимающее широкий диапазон длин волн от 800 A (8 10 в см) до 0,0001 А (10 2 м). В зависимости от механизма возникновения Р. л. при взаимодействии заряженных частиц или фотонов с атомами вещества рентгеновские спектры имеют непрерывный или линейчатый характер. Длины волн и интенсивность линейчатого характеристического спектра Р. л. однозначно определяются атомным номером Z элемента и электронной структурой атомов. Длины волн спектральных линий определяются соотношением hv = Ei — Ef, где Ei и Ef — энергии связи электронов на начальном и конечном уровнях электронного перехода (см. Атом, Моали закон, Спектры рентгеновские). Характеристич. спектр Р. л. занимает диапазон длин волн от 375 A (La — полоса Na, энергия возбуждения 55 эв) до 0,05 A ( T — линия Md, энергия возбуждения 200 кэв). [c.424]

При взаимодействии с поверхностью пучка первичных быстрых электронов (с энергией в сотни кэВ в случае ПЭМ и десятки кэБ для РЭМ) возникает несколько видов ихтучения вторичные электроны, рентгеновское (тормозное и характеристическое) и оптическое излучения. Анализ пучка вторичных электронов позволяет не только повысить разрешающую способность РЭМ, но и получить ценные сведения о локальных электрических и магнитных полях на поверхности. Детектирование электромагнитного излучения дает возможность одновременно с получением изображения участка поверхности судить о кристаллографической структуре (микродифракция), дефектах (катодолюминесценция) и его составе (оже-спектры). В современных РЭМ эта информация может быть получена с площадок в несколько квадратных нанометров. Если поверхность полностью разупорядочена, дополнительную информацию дает анализ фазового контраста изображения, т.е. сдвига фаз электронных пучков при их взаимодействии с поверхностью. Использование импульсной техники позволяет получать не только статическую картину участков поверхности, но и изучать динамические процессы на ней — диффузию тяжелых атомов, их сефе-гацию, фазовые переходы и др. Временное разрешение может быть доведено до нескольких пикосекунд. [c.123]

В качестве источников рентгеновского излучения обычно используют трубки с алюминиевым или магниевым анодами линии А (А1 и Mg) с энергией , = 1486,6 эВ и 1253 эВ, соответственно. Падающие на образец фотоны вызывают переходы связанных на внутренних К, I, М оболочках электронов в зону проводимости полупроводника (переход 1 на рис.4.12,а), выше уровня Ферми металла или фотоэмиссию, электронов в вакуум (переход 2 на рис.4.12,а). Этим переходам соответствуют характеристические спектры поглощения (рентгеновская абсорбционная спектроскопия). В РФЭС исследуются переходы второго типа — измеряется распределение эмит-тированных фотоэлектронов по кинетическим энергиям Екин- [c.136]

Оже-спектроскопия. Для анализа самых верхнж слоев кристалла большое распространение получила электронная оже-спектроскопия (-9(90, в которой возбуждение электронов на внутренних оболочках атомов обычно осуществляется пучком быстрых электронов, рентгеновских фотонов или ионов. В ее основе лежит открытый в 1925 г. французским ученым Оже эффект рождения вторичных электронов в результате электронных переходов между внутренними оболочками атомов. Как видно из рис.4.12,д, под воздействием внешней ионизации на внутренней оболочке (К — на рис.4.12,а) образуется вакансия. Она может быть заполнена электроном, находящимся на более высоком энергетическом уровне, например, на уровне Е. Выделившаяся при этом переходе энергия затрачивается либо на испускание кванта характеристического рентгеновского излучения Лу (рентгеновская флуоресценция) — переход 1 на рис.4.12,6, либо может быть передана другому внутреннему электрону. Например, при переходе Е -К — электрону на уровне Е (переход 2), что сопровождается эмиссией его в вакуум (оже-процесс). Рентгеновский спектр и энергетическое распределение эмитированных оже-электронов (оже-спектр) несут информацию о природе практически всех атомов периодической таблицы. Интенсивность эмитированных оже-электронов для легких атомов превышает выход флуоресценции. При переходе к более тяжелым атомам это соотношение меняется на обратное. Например, для К-оболочки элементов с атомным номером Z > 33 (мышьяк) выход флуоресценции преобладает над оже-процессами. [c.138]

Для исследования состава диффузионной прослойки был применен электроннозондовый рентгеноспектральный микроанализ, который основан на локальном возбуждении характеристического рентгеновского излучения. Узкий сфокусированный пучок электронов диаметром 1—5 мк, ускоряемый разностью потенциалов 10—30 кв, при падении на исследуемый образец возбуждает в нем рентгеновское излучение, которое затем разлагается в спектр при помощи специального спектрографа. Наличие спектральных линий того или иного элемента в спектре свидетельствует о присутствии этого элемента в исследуемом образце, интенсивность же является количественной характеристикой концентрации этого элемента в микрообъеме [2]. Микрорентгеноспектральный анализ прослойки производился на установке М5-46 фирмы САМЕСА. [c.161]

Рентгеновские спектры бывают двух видов сплошные и линейчатые. Сплошные спектры возникают при торможении быстрых электронов в веществе антикатода и являются обычным тормозным излучением электронов. Строение сплошного спектра не зависит от материала антикатода. Линейчатый спектр состоит из отдельных линий излучения. Он зависит от материала антикатода и гюлностью характеризуется им. Каждый элемент обладает своим, харак1ерным для него линейчатым спектром. Поэтому линейчатые рентгеновские спектры называются также характеристическими. [c.293]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...