Метод Линника

Метод Линника. Перед точечным источником 5 (рис. 4.15) расположен полупрозрачный экран с небольшим отверстием в центре экрана. Полупрозрачная пластинка пропускает фронт падающей на нее волны, несколько ослабляя ее, без искажения. Отверстие 5 , согласно принципу Гюйгенса, играет роль вторичного излучения с центром в нем. Оба фронта волны от источников S и 5i, встречаясь, дают картину интерференции. В отличие от всех предыдущих случаев в последней схеме, предложенной в 1935 г. советским ученым В. П, Линником, когерентные источники не лежат на пря- [c.84]

Идея предложенных В. П. Линником микроинтерферометров заключается в сочетании интерферометра Майкельсона с измерительным микроскопом, что позволяет получать увеличенное в нужное число раз изображение интерференционной картины в поле зрения микроскопа и измерять координатным методом вырисовывающиеся таким образом неровности с помощью обычного винтового окулярного микрометра. При таких измерениях не нужно даже предварительно определять цену деления круговой шкалы барабана окулярного микрометра она получается сама собой при сравнении размеров неровностей профиля, выраженных в делениях шкалы, с шириной интерференционной полосы, выраженной в тех же делениях, поскольку, как указывалось выше, расстояние в одну полосу соответствует размеру неровности профиля поверхности, равному половине длины волны света, т, е. обычно Х/2 0,275 мкм. [c.90]

Для измерения глубины коррозии используют различные приборы. Наиболее точные измерения получают при применении оптических приборов. Глубина коррозионного поражения может быть определена с помощью обычного микроскопа методом фокусирования оптической схемы сначала на плоскость, совпадающую с верхним очагом поражения, а затем — на плоскость дна очага. По разности отсчетов на микроскопическом винте судят о глубине коррозии.. Для определения глубины коррозии может применяться также двойной микроскоп Линника или оптико-механические профилографы, например профилограф типа ИЗП-18. Преимуществами профилографа являются возможность измерения очага коррозии и получение в увеличенном масштабе фотографической записи микрогеометрии поверхности образца. По профилограмме можно судить не только о глубине, но и форме образующихся коррозионных поражений. [c.22]

Контроль чистоты поверхности. Для лабораторного контроля чистоты поверхности древесины наиболее пригоден метод оптического сечения плоским луком при помощи прибора акад. Линника. Заслуживает также внимания способ сравнения с эталонами, без увеличения или с малым увеличением при косом освещении — способ, применяемый для контроля особо ответственных изделий. Вообще же в производственной практике контроль качества механически обработанной древесины осуществляется преимущественно путём субъективной оценки мастера. [c.671]

Метод позволяет оценивать качество поверхности зубьев зубчатых колес без разборки узла и определять качество поверхности с помощью стандартных оптических приборов (микроинтерферометр, двойной микроскоп Линника и др.). [c.224]

За критерий оценки состояния поверхности, согласно этому методу, принято изменение глубины штрихов, полученных при шлифовке. Количественная характеристика профиля поверхности осуществляется с помощью оптического метода, основанного на применении микроинтерферометра системы проф. Линника. Этот метод оценки скорости коррозии в настоящее время получил признание. [c.67]

Метод интерференционного контраста. Небольшие изменения микрорельефа поверхности можно обнаружить с помощью интерференционного микроскопа или, микроинтерферометра. Последний прибор позволяет, кроме того, количественно оценивать изучаемый рельеф, что особенно важно для исследования структурного механизма пластической деформации. Используют методы двухлучевой и многолучевой интерферометрии. В первом случае (интерферометр Линника) свет от источника Ь расщепляется полупрозрачной пластинкой Т на два пучка (рис. 1.7). Один пучок, отраженный от [c.27]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

На рис. 106, б изображена схема измерительной установки. Измерения производят, присоединяя к металлической подложке 7 и датчику 6, установленному на поверхности диэлектрика 8, измеритель емкости 5 типа НИЕ-1, питающийся от сети переменного тока. Метод может применяться не только к немагнитным, но и к магнитным материалам. Толщину покрытия определяют с помощью предварительно построенной градуировочной кривой для данного покрытия. Градуировочные кривые строят по данным емкости и толщины пленок, измеренных двойным микроскопом В. П. Линника. [c.167]

В 1929 г. русский ученый академик В. П. Линник предложил прибор для оценки шероховатости поверхности, основанный на методе [c.62]

Оптический метод, измерение основных параметров внутренней резьбы. Оптический метод может быть использован для измерений среднего диаметра, шага и угла профиля резьб с номинальным диаметром от 18 мм и выше. Применение данного метода связано с использованием резьбового микроскопа ИЗК-59, оптическая схема которого основана на схеме двойного микроскопа акад. В. П. Линника. [c.413]

Микроскоп Линника с помощью дополнительного неподвижного перекрестия. Методом светового сечения, а также с помощью сканирующего электронного микроскопа и др. [c.784]

Интерференционный метод проверки прямолинейности осуществляется с помощью специальных приборов — интерферометров. Отечественная промышленность выпускает для проверки прямолинейности плоских и цилиндрических поверхностей длиной до 5 л интерферометр Линника ИЗК-40. [c.102]

Качество обработанных поверхностей определяется обычно по эталонам, однако этот (глазомерный) метод оценки неточен. Для количественного определения чистоты поверхности сконструированы специальные приборы профилометры.и профилографы. Широкое применение для определения чистоты поверхности имеет двойной микроскоп МИС-11 акад. В. П. Линника. [c.79]

Двойной микроскоп Линника МИС-11. В 1929 г. советский ученый академик В. П, Линник предложил прибор для оценки шероховатости поверхности, основанный на методе светового сечения (рис. 11, а). В приборе луч света направляется на поверхность под определенным углом. С противоположной стороны под таким же углом производится наблюдение. Если луч света попадает на гладкую поверхность, то мы увидим узкую ровную световую полоску. В том случае, когда на поверхности имеются какие-нибудь неровности, наблюдатель увидит изломанную световую полоску (рис. 11, б). [c.29]

Б. М. Левина и модуля 201 пригодны для оценки шероховатости в пределах Яг = 20 - г 0,02 мкм. Их применяют при лабораторных исследованиях. Оценку шероховатости поверхности оптическими методами производят с помош,ью двойного микроскопа (рис. 9, а) В. П. Линника. В нем луч света направляется на поверхность под [c.28]

В основе работы двойного микроскопа МИС-11 системы акад. В. П. Линника лежит метод светового сечения . Сущность [c.364]

В гл. П1 описан микроинтерферометр Линника МИИ-4, который представляет собой сочетание интерферометра Майкельсона с микроскопом. Метод фазового контраста и интерференционные методы дополняют друг друга, и в каждом отдельном случае специалисту, применяющему микроскоп, необходимо выбрать наиболее подходящий для данного случая метод. [c.31]

Двойной микроскоп акад. Линника В. П. — оптический прибор, действие которого основано на использовании метода светового сечения . [c.37]

Для отражения на светочувствительной или специальной диаграммной бумаге микропрофиля поверхности в увеличенном масштабе применяются профилографы. Заводом Калибр выпускается профилограф-профилометр Калибр-ВЭИ , позволяющий оценивать шероховатость 6—14-го классов. Прибор снабжен устройством для записи профилограмм и позволяет определять высоту микронеровностей по Яа, как и в профилометре КВ-7М. Колебания алмазной иглы прибора преобразуются индуктивным методом в изменения напряжения электрического тока. К оптическим приборам для измерения шероховатости поверхности 3—9-го классов в лабораторных условиях относится двойной микроскоп МИС-11 конструкции акад. В. П. Линника. Для оценки шероховатости 10—14-го классов применяются интерференционные микроскопы МИИ-1 и МИИ-5 и др. Действие приборов основано на интерференции света. Для определения высоты микронеровностей в труднодоступных местах применяют метод слепков, заключающийся в том, что на исследуемую поверхность наносят пластические материалы (пластмассу, желатин, воск и др.) и по полученному отпечатку судят о степени шероховатости поверхности. Шероховатость поверхности и точность зависят от способов механической обработки, а при одном и том же способе — от режимов обработки (скорость резания и подачи), свойств и структуры обрабатываемого материала, вибрации инструмента и детали в процессе обработки, жесткости системы СПИД и др. Помимо шеро- [c.41]

Определение чистоты обработки поверхности методом сравнения с эталоном не является достаточно точным, так как не дает возможности установить истинную величину неровностей. В настояш,ее время требуется точное определение чистоты обработанной поверхности деталей машин. Для этого применяют различные по конструкции и принципу действия приборы (двойной микроскоп Линника, профилометр Киселева и др.). [c.101]

Изготовление высококачественных объективов с большой апертурой является сложной технологической задачей. Существующая технология сборки объективов (метод Линника—Радченко) предъявляет высокие требования к точности изготовления оптических и механических деталей. основным причинам неудовлетворительного качества изображения, даваемого оптической системой, при изготовлении следует отнести деформацию, возникающую в результате пережатия линз в оправе, натяжения при склейке, а также децентрировку. [c.394]

Метод профилографирования заключается в оценке износа по профилограммам, снятым на определенном участке до и после изнашивания. Его рекомендуется использовать при стандартных испытаниях покрытий на изнашивание при фреттинг-коррозии [167]. Находят расстояние между средними линиями профиля и на основании полученных данных вычисляют интенсивность изнашивания с погрешностью не более 1-10 . Применяются профилограф-профило-метр модели 253 или оптические приборы двойной микроскоп, микроинтерферометр Линника и т. д. Износ методом профилографирования определяется обычно на образцах и деталях несложной формы с достаточно хорошо обработанной поверхностью. [c.98]

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Двойной микроскоп мод. МИС-П (фиг. 61), конструкция которого разра ботана в 1929 г., выпускается серийно отечественной промышленностью. В ос нову конструкции прибора положен метод светового сечения , предложенный акад. В. П. Линником. Принципиальная схема [c.154]

В первом методе, предложенном в 1933 г. акад, Линником, использовалась видимая лучистая энергия, в частности, явление интерференции света, в то время как второй осуществлялся с помЪщью щупа, контактирующего с исследуемой поверхностью. [c.6]

Измерения производились на образцах, аттестованных фотографическим методом на микроинтерферометре Линника и двойно м микроско пе типа МИС-11. Для экспериментов были выбраны рабочие образцы чистоты поверхности 5—12-го классов, изготовленные разными заводами из сырой и закаленной стали, а также из бронзы — точением, торцевым фрезерованием, шлифованием и полированием. Образцы отличались относительно высокой однородностью. [c.114]

В собранной установке был применен метод стробоскопирования с управлением от генератора электрических колебаний. В качестве источника света использовался строботрон типа СТН-1. Интерференционная картина наблюдалась в микроиитерферометре Линника, имею щего следующие характеристики диаметр видимого поля зрения — 1,7 мм, линейное увеличение объектива 7 (апертура — 0,18), увеличение окуляра — 15 . [c.144]

Лишь благодаря поддержке академика В. П. Линника Юрию Дени-сюку удалось опубликовать статьи, которые сыграли важную роль в жизни молодого ученого. Они позволили впоследствии доказать, что приоритет в открытии нового явления принадлежит нашему государству. Со временем решение об окончательном свертывании работы Дени-сюка было отменено. Ему оставили часть оборудования, и он мог продолжать свою научную работу. Пожалуй, решающую роль здесь сыграло появление статьи Лейта и Упатниекса, которые, используя свой внеосевой метод записи голограмм и новый источник излучения - разработанный к тому времени газовый лазер - получили высококачественное изображение ряда предметов. Фотографии этих изображений, хорошо показывающие эффект парапакса, взволновали научный мир. [c.60]

Для измерения высоты микронеровностей и отнесения обработанной поверхности к тому или иному классу чистоты применяются специальные приборы двойной, микроскоп Линника, микропрофилометры, микроинтерферометры и др.), а также эталоны шероховатости (для оценки поверхности методом сравнения). Измерение шероховатости поверхности должно производиться в направле- [c.71]

Метод светового сечения заключается в следующем (фиг. 209) пучок лучей направляется в виде световой полоски под некоторым углом на исследуемую поверхность через узкую щель и объектив. Так как исследуемая поверхность имеет определенную шероховатость, то световая полоска будет иметь вид искривленной линии по форме самой поверхности. Полученное изображение рассма-тривается через микроскоп, наклоненный также под углом к исследуемой поверхности. На принципе светового сечения основан двойной микроскоп акад, В. П. Линника, служащий для измерения высоты неровностей наружных поверхностей в пределах от 5 до 60 мк. Увеличение прибора — от 90 до 270 раз Поле зрения от 0,3 до 1 мм. [c.154]

У профилографа алмазная игла связана с зеркалом. На зеркало падает тонкий луч света. При колебаниях иглы, перемещаемой по исследуемой поверхности, отраженный луч света через систему зеркал направляется на вращающийся барабан со светочувствительной бумагой, на которой записывается профилограмма, отображающая неровности с увеличением по вертикали в 500—13800 раз и по горизонтали в 25—1000 раз. Профилографы типа Аммона и Левина пригодны для оценки чистоты в пределах 3—10-го классов. Они применяются главным образом в лабораторных исследованиях, так как использование их в производственных условиях затруднительно. Оценку класса чистоты поверхности оптическими методами производят с помощью микроскопа (фиг. 4) и микроинтерферометра акад. В. П. Линника. Первый используется для замера неровностей в пределах 3—8-го классов чистоты, второй — для контроля поверхностей 10—14-го классов. [c.24]

A. А. Попова [25] и Н. Г. Ченцова 45. Развитие и распространение в СССР метод получил благодаря работам Лаборатории оптического метода Ленинградского государственного университета [14] вопросы измерения были разработаны Л. Э. Михайловской-Прокофь-евой [30] и акад. В. П. Линником. Развитие метода исследования на моделях из материала высокой оптической активности II в объёмных моделях дано в работах Н. И. Пригоровского [28], [48], [c.320]

Для контроля шероховатости обработанной поверхности деталей в местах, трудно доступных не только измерению их с помощью приборов, но и сравнению с образцами чистоты, пользуются методом слепков. Сущность данного метода состоит в том, что с измеряемой поверхности снимают отпечаток. Полученную на отпечатке микрогерметрию данного участка поверхности обычно измеряют на микроскопе Линника МИС-11 (фиг. 98). [c.212]

К числу приборов ДЛЯ определения шероховатости без механического ошупывания иглой, основанных на оптических методах измерения, следует отнести двойной микроскоп Линника. Он дает возможность измерять Я ах в пределах от 1,6 до 40 мк. [c.20]

В некоторых случаях люминесцентный метод дефектоскопии позволяет не только обнаруживать наличие или отсутствие микро-трещпн в деталях, но и оценить их глубину. Последняя определяется но ширине образующейся люлпшесцирующей полосы, по времени проявления , а иногда и по интенсивности свечения. Опытным путем устанавливается связь между этими величинами и глубиной трещины, которую измеряют, например, на интерфереицпонпом микроскопе Линника. На основании полученных данных составляются таблицы, которыми в дальнейшем при известных условиях и пользуются. [c.561]

Наиболее распространенными и имеющими практическое значение методами оценки чистоты, т. е. микрогеометрии поверхности являются а) оптические методы измерения профиля поверхности на двойном микроскопе, микроинтерферометре и микропрофилометре акад. В. П. Линника б) методы ощупывания профиля поверхности иглой с записью профилограммы на профилографах Б. М. Левина, К. Л. Аммона и др. , в) метод ощупывания профиля поверхности иглой с непосредственным получением числовой величины, характеризующей микропрофиль в Нек, на профилометрах В. М. Киселева и др. г) метод сравнения поверхности контролируемой детали с образцами чистоты поверхности д) метод исследования естественных профилограмм е) метод слепков. [c.137]

Двойной МИК р о скоп МИС-11 конструкции акад. В. П. Линника предназначен для измерения шероховатости поверхностей 3—9-го классов чистоты. В этом приборе микронеровности освещаются световой полосой, направляемой из осветительного тубуса под некоторым углом к контролируемой поверхности. Линия пересечения световой полосы и микронеровностей наблюдается в увеличенном виде в визуальном тубусе. Микронеровности измеряются с помощью окулярного микрометра или фотографируются с помощью фотонасадки МФН-1. Сменными объективами достигается увеличение в 87, 157, 270 и 517 раз. На приборе определяется шероховатость поверхности по показателю R . Недостаток метода — небольшое линейное поле зрения (от 2 до 0,33 мм), необходимость измерений и подсчетов результатов измерений. Метод применяется при лабораторных исследованиях и выборочном контроле. [c.175]

Более тонкое и точное измерение шероховатости поверхностей в пределах от 9 до 14-го классов можно осуществлять с помощью спектрального разложения лучей света или микроинтерферен-ционных методов, разработанных В. П. Линником. Смысл этого метода заключается в сравнении двух потоков волн светового пучка пучка света, отраженного от плоского зеркала 1 (рис. 9), не имеющего неровностей, и пучка света, отраженного от исследуемой поверхности 6. Фронт потока волны первого пучка отражения остается плоским, а поток волны второго пучка представляет точную [c.23]

Шероховатость обработанной поверхности измерялась методом обмера высоты микронеровностей Яг на двойном М1икроско-пе акад. В. П. Линника мод. МИС-11. [c.10]

Методы определения толщины пленок, например, при помощи микроскопа или двойного микрогкопа Линника, а также методы, основанные на измерении емкости конденсатора, которым является лакокрасочная пленка, нанесенная на металлическую пластинку, методы, основанные на измерении диэлектрической проницаемости пленок, и др. не нашли еще практического применения, хотя и заслуживают большого внимания. [c.207]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...