Микроинтерферометр Линника

На рис. 9 показана схема двухлучевого микроинтерферометра Линника. В ее основу положен принцип действия интерферометра Майкельсона. Свет от источника 1 (лампа накаливания) проходит через конденсор 2 и диафрагму <3, зеркалом 4 делится на два когерентных пучка, которые фокусируются объективами 5 и 5 на эталонное зеркало в и контролируемую поверхность 7 соответственно. После отражения от эталона и изделия пучок проходит через те же элементы схемы и фокусируется линзой 8 в плоскости диафрагмы 9, в которой с помощью окуляра /О наблюдают интерференционную картину взаимодействия эталонного и рабочего пучков света. [c.67]

Микроинтерферометр Линника ИЗК-46 основан на явлении интерференции света. В поле зрения прибора возникают темные и светлые полосы. Высота неровностей определяется путем измерения величины стрелы изгиба одной полосы полученный результат умножается на 0,275 мк (размер половины длины световой волны) и делится на измеренное расстояние между двумя полосами. [c.293]

Полученные негативные оттиски весьма точно воспроизводят картину поверхности. Измерения с помощью микроинтерферометра Линника шероховатостей на оттиске и непосредственно на зубе показали весьма близкие результаты. [c.220]

При использовании микроинтерферометра Линника возможны измерения в монохроматическом (желтом, зеленом) и белом свете. Для определения влияния света на результат измерения были проведены замеры одной и той же шероховатости при разном освещении. Отклоне- [c.221]

Количественную характеристику состояния глазурованной поверхности в отношении наличия шероховатостей (впадин и возвышенностей) можно получить путем исследования посеребренных образцов с помощью микроинтерферометра Линника. [c.160]

Основными приборами для оценки микрогеометрии по нашему стандарту являются профилометр, двойной микроскоп и микроинтерферометр Линника. [c.428]

Для оценки микрогеометрии очень чисто обработанных поверхностей служит микроинтерферометр Линника с двумя головками первая — для [c.429]

Шероховатость резьбовой поверхности определяли на двух витках резьбы образцов, вырезаемых из заготовок (5 образцов через 50—100 отверстий). На каждом витке замеряли высоту микронеровностей / 2 в 5 точках. Шероховатость измеряли с помощью двойного микроинтерферометра Линника мод. МИС-11. В качестве критерия затупления при определении стойкости по зависимости износ — время были приняты допустимые величины износа по задней поверхности, равные 0,6 мм при обработке сталей и 0,8 мм при обработке серого чугуна. [c.95]

Фиг. 207. Схема микроинтерферометра Линника ИЗК-46

Мик р о и н т е рф е р о м етры Линника. Имеющиеся модели микроинтерферометра Линника служат для измерения неровностей от 0,1 до 6 мк, и дают увеличение 400 — 500 . [c.453]

Характеристика 440 Микроинтерферометры Линника 453 Микрокаторы 427 [c.1077]

Технические характеристики 1 кн. 71 Микроинтерферометр Линника — Оптическая Схема 1 кн. 70 — Принцип действия 1 кн. 68, 70 — Работа 1 кн. 70 [c.319]

Принцип работы микроинтерферометра Линника. Микроинтерферометр Линника представляет собой сочетание интерферометра и микроскопа. Он предназначен для измерения высоты [c.164]

Аппаратура для оценки чистоты поверхности Микроинтерферометр Линника Двойной микроскоп Линника [c.1204]

В гл. П1 описан микроинтерферометр Линника МИИ-4, который представляет собой сочетание интерферометра Майкельсона с микроскопом. Метод фазового контраста и интерференционные методы дополняют друг друга, и в каждом отдельном случае специалисту, применяющему микроскоп, необходимо выбрать наиболее подходящий для данного случая метод. [c.31]

Рис. 8. Схема двухлучевого микроинтерферометра Линника

Микроинтерферометр Линника ИЗК-46 Исследование качества поверхностей (царапины, впадины, выступы) В зависимости от устройства микроскопа [c.238]

Микроинтерферометр Линника позволяет контролировать поверхности 10—14-го классов шероховатости. [c.238]

Из оптических приборов большее применение нашли двойной микроскоп и микроинтерферометр академика В. П. Линника. [c.90]

Понятно, что в этом случае необходимы источники света очень высокой степени монохроматичности. В. П. Линник сконструировал микроинтерферометр , представляющий собой маленький интерферометр Майкельсона, надевающийся на обычный микроскоп. Этот прибор позволяет наблюдать и измерять мельчайшие неровности поверхности и может служить для исследования качества поверхности. [c.136]

Идея предложенных В. П. Линником микроинтерферометров заключается в сочетании интерферометра Майкельсона с измерительным микроскопом, что позволяет получать увеличенное в нужное число раз изображение интерференционной картины в поле зрения микроскопа и измерять координатным методом вырисовывающиеся таким образом неровности с помощью обычного винтового окулярного микрометра. При таких измерениях не нужно даже предварительно определять цену деления круговой шкалы барабана окулярного микрометра она получается сама собой при сравнении размеров неровностей профиля, выраженных в делениях шкалы, с шириной интерференционной полосы, выраженной в тех же делениях, поскольку, как указывалось выше, расстояние в одну полосу соответствует размеру неровности профиля поверхности, равному половине длины волны света, т, е. обычно Х/2 0,275 мкм. [c.90]

Метод профилографирования заключается в оценке износа по профилограммам, снятым на определенном участке до и после изнашивания. Его рекомендуется использовать при стандартных испытаниях покрытий на изнашивание при фреттинг-коррозии [167]. Находят расстояние между средними линиями профиля и на основании полученных данных вычисляют интенсивность изнашивания с погрешностью не более 1-10 . Применяются профилограф-профило-метр модели 253 или оптические приборы двойной микроскоп, микроинтерферометр Линника и т. д. Износ методом профилографирования определяется обычно на образцах и деталях несложной формы с достаточно хорошо обработанной поверхностью. [c.98]

Профилометр типа Аббота не применяется для оценки грубых поверхностей (расстояние между неровностями более 0,3 мм об) из-за ог-раничениостичастотной характеристики усилителя. Двойной микроскоп Линника непригоден для оценки шлифованных и доведённых поверхностей, так как может измерять высоту неровностей не менее 1—2 Микроинтерферометр Линника способен оценивать лишь тонко обработанные поверхности от 8-го до 14-го класса (см. табл. 17). [c.23]

Микроинтерферометр Линника. Для оценки микрогеометрии поверхностей после отделочных операций служит микроинтерферометр Линника с тремя головками первая — для поверхностей высотой неровностей от нуля до 1 мк (хонинг, притирка, суперфиниш), вторая — от 1 до 8 (тонкое точение, шлифование) и модель ИЗК-46 от 0,1 до 6 мк. Увеличение в первой головке от 280 до 600 (в зависимости от увеличения окуляр-микро-метра), увеличение во второй головке — от 56 до 120. [c.24]

Микроинтерферометр Линника ИЗК-46 Исследование качества поверхностей (царапины. впадины, выступы) В зависимости от устройства микроскопа 0.025 мк Объектив ахромат > 150 X 200 X 350 Ввертывается в тубус микроскопа на место обь-ектнва [c.343]

Принцип интерференц. М. ирименим как к проходящему, так и к отражённому свету. На рис. 7 показана схема микроинтерферометра Линника, предназначенного для изучения непрозрачных объектов. Свет от источника 7, пройдя коллиматор 2, разделяется пластинкой 3 на два пучка равной интенсивности. Пучок сравнения фокусируется объективом 6 на эталонном зеркале 7, а идентичный объектин 8 фокусирует второй пучок на поверхности исследуемого объекта 9, После отрап е-ния от зеркала и образца пучки возвращаются обратно но тем же путям, соединяются на пластинке 3 и интерферируют в фокальной плоскости линзы 4, сопряжённой с плоскостью объекта. Изображение предмета н [c.146]

Тонкпй слой серебра весьма четко проявляет структуру лежащей под ним поверхности глазури очень наглядно выступают все дефекты поверхности мпкротрещины, посторонние включения, шероховатости, следы разрядов (для высоковольтных фарфоровых изоляторов) и пр. Структура посеребренной поверхности глазури изучается так же, как и структура металлических поверхностей, с помощью двойного микроскопа Линника, поляризационного микроскопа, микроинтерферометра Линника, а также путем измерения коэффициентов отражения на различных рефлексометрах. [c.159]

Измерения производились на образцах, аттестованных фотографическим методом на микроинтерферометре Линника и двойно м микроско пе типа МИС-11. Для экспериментов были выбраны рабочие образцы чистоты поверхности 5—12-го классов, изготовленные разными заводами из сырой и закаленной стали, а также из бронзы — точением, торцевым фрезерованием, шлифованием и полированием. Образцы отличались относительно высокой однородностью. [c.114]

В настоящее время наряду с щуповыми приборами имеются утвержденные типы оптических приборов (двойной микроскоп Линника МИС-11, микроинтерферометры Линника МИИ-1, МИИ-4 и т. д.), и поэтому вопрос об обеспечении единства измерений шероховатости является весьма актуальным. [c.133]

Качество полировки опор (для профилографов с перемещением иглы относительно опоры) Микроинтерферометр Линника МИИ-4 Технические характеристики согласно Гос-реестру Микроинтерферометр Линника МИИ-5. Технические характеристики согласноГосреестру [c.166]

Большую помощь для распознавания формы рассматриваемых объектов, особенно их глубины, оказывает стереоскопический эффект, используемый в бинокулярных микроскопах, позволяющий смотреть на изображение двумя глазами. Другой способ решения этой же задачи был предложен также В. П. Линниаком ои основан на явлении интерференции двух пучков. Наблюдатель видит в микроинтерферометре Линника Изображение рассматриваемого объекта и на нем линии, расположенные как на топографической карте с горизонталями. [c.85]

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Серийно изготовляемые промышленностью приборы (профило-метры модели 240, профилографы-пррфилометры модели 201 завода Калибр , микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-5, МИИ-9, МИИ-10, двойные микроскопы акад. Линника В. П. — МИС-11) позволяют непосредственно измерять шероховатость поверхности или производить ее запись (профилограммы). Подробное описание их дано в специальных работах [11, 19, 32]. [c.47]

Для дополнения картины изменений на поверхности трения следует знать вид и величину микронеровностен этой поверхности. Для этой цели можно использовать специальные приборы, например, двойной микроскоп Линника МИС-11 и микроинтерферометр МИИ-4 или МИИ-5. [c.55]

Двойной микроскоп Линника. Приборы акад. Линника, измеряющие Wmax (двойной микроскоп и микроинтерферометр), нашли достаточное применение. [c.24]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...