ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Более тонкое и точное измерение шероховатости поверхностей в пределах от 9 до 14-го классов можно осуществлять с помощью спектрального разложения лучей света или микроинтерферен-ционных методов, разработанных В. П. Линником. Смысл этого метода заключается в сравнении двух потоков волн светового пучка: пучка света, отраженного от плоского зеркала 1 (рис. 9), не имеющего неровностей, и пучка света, отраженного от исследуемой поверхности 6. Фронт потока волны первого пучка отражения остается плоским, а поток волны второго пучка представляет точную [Выходные данные]