Интерферометры Линника

При испытании поверхностей большого размера (до нескольких метров) пробное стекло, конечно, не применимо. В. П. Линник построил интерферометр, в котором свет падает очень наклонно на большую поверхность, благодаря чему сильно уменьшается сечение отраженного пучка и становится возможным осуществлять интерференционные наблюдения. Интерферометр Линника позволяет контролировать с точностью до 1 мкм прямолинейность поверхностей длиной до 5 м. [c.147]

Толщину пленки измеряли на профилографе по величине уступа, получающегося в результате экранирования части поверхности подложки во время напыления. Точность измерения составляла 50 А. Эти результаты измерений толщин сопоставляли с измерениями на интерферометре Линника И-10 примерно с той же ошибкой. С удовлетворительной точностью такими способами можно было измерять толщины пленок выше 500 А. Толщины пленок в интервале О—500 А рассчитывали по толщинам более толстых пленок, являющихся стандартом и полученных путем помещения подложки при напылении на более близком расстоянии от источника испарения металла. Предполагалось, что источник испарения точечный, так как испарение происходило из сферической капли диаметром 3—6 мм, а напыляемый образец находился на расстоянии не ближе 50 мм,. и толщина осаждаемых пленок обратно пропорциональна квадрату расстояния от источника. [c.16]

Интерферометры Линника 342, 343 Инфразвуки 347 Иод 384 [c.712]

Метод интерференционного контраста. Небольшие изменения микрорельефа поверхности можно обнаружить с помощью интерференционного микроскопа или, микроинтерферометра. Последний прибор позволяет, кроме того, количественно оценивать изучаемый рельеф, что особенно важно для исследования структурного механизма пластической деформации. Используют методы двухлучевой и многолучевой интерферометрии. В первом случае (интерферометр Линника) свет от источника Ь расщепляется полупрозрачной пластинкой Т на два пучка (рис. 1.7). Один пучок, отраженный от [c.27]

Интерференционный метод проверки прямолинейности осуществляется с помощью специальных приборов — интерферометров. Отечественная промышленность выпускает для проверки прямолинейности плоских и цилиндрических поверхностей длиной до 5 л интерферометр Линника ИЗК-40. [c.102]

Фиг. 79. Интерферограмма (а) и профилограмма (б) стальной поверхности, обработанной шлифованием по 10-му классу чистоты, полученные на интерферометре Линника и на профилографе Левина.

Рис. 9. Схема интерферометра Линника

Понятно, что в этом случае необходимы источники света очень высокой степени монохроматичности. В. П. Линник сконструировал микроинтерферометр , представляющий собой маленький интерферометр Майкельсона, надевающийся на обычный микроскоп. Этот прибор позволяет наблюдать и измерять мельчайшие неровности поверхности и может служить для исследования качества поверхности. [c.136]

На рис. 9 показана схема двухлучевого микроинтерферометра Линника. В ее основу положен принцип действия интерферометра Майкельсона. Свет от источника 1 (лампа накаливания) проходит через конденсор 2 и диафрагму <3, зеркалом 4 делится на два когерентных пучка, которые фокусируются объективами 5 и 5 на эталонное зеркало в и контролируемую поверхность 7 соответственно. После отражения от эталона и изделия пучок проходит через те же элементы схемы и фокусируется линзой 8 в плоскости диафрагмы 9, в которой с помощью окуляра /О наблюдают интерференционную картину взаимодействия эталонного и рабочего пучков света. [c.67]

Идея предложенных В. П. Линником микроинтерферометров заключается в сочетании интерферометра Майкельсона с измерительным микроскопом, что позволяет получать увеличенное в нужное число раз изображение интерференционной картины в поле зрения микроскопа и измерять координатным методом вырисовывающиеся таким образом неровности с помощью обычного винтового окулярного микрометра. При таких измерениях не нужно даже предварительно определять цену деления круговой шкалы барабана окулярного микрометра она получается сама собой при сравнении размеров неровностей профиля, выраженных в делениях шкалы, с шириной интерференционной полосы, выраженной в тех же делениях, поскольку, как указывалось выше, расстояние в одну полосу соответствует размеру неровности профиля поверхности, равному половине длины волны света, т, е. обычно Х/2 0,275 мкм. [c.90]

Линника интерферометры — Технические характеристики 342 [c.717]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

Микр о интерферометр акад. В. П. Линника ИЗК-46. [c.153]

Принцип работы микроинтерферометра Линника. Микроинтерферометр Линника представляет собой сочетание интерферометра и микроскопа. Он предназначен для измерения высоты [c.164]

В гл. П1 описан микроинтерферометр Линника МИИ-4, который представляет собой сочетание интерферометра Майкельсона с микроскопом. Метод фазового контраста и интерференционные методы дополняют друг друга, и в каждом отдельном случае специалисту, применяющему микроскоп, необходимо выбрать наиболее подходящий для данного случая метод. [c.31]

В интерферометре Линника (в микроскопах МИИ1, МИИ4) разделение светового пучка на две равные части осуществляется разделительной пластиной 4 или призмой, после чего пучки направляются микрообъективами 5 и 2. Пластинка 3 является комнен- [c.24]

В основу интерференционных микроскопов положен принцип интерференции света, т. е. использование длины световой волны. Для аттестации рабочих образцов и фотографирования высот неровностей у деталей с ответственными поверхностями успешно применяют интерферометр Линника МИИ-4. На этом приборе (рис. 77) можно измерять шероховатость поверхности 10—14-го классов (самых высоких). Измеряемая деталь устанавливается на предметный столик 1, который может перемещаться во взаимно перпендикулярных направлениях. Источником света является лампа осветителя 2. В поле зрения окуляра 3 одновре.менно наблюдают шероховатость исследуемой поверхности и интерфе- [c.119]

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Подобное устройство является основой многих видов интерферометров, как, например, двухлучевого интерференционного микроскопа Цейсса — Линника, интерферометра Тваймена — Грина и т. д. Конструкция этих интерферометров должна быть тщательно выполнена, она требует высокой жесткости и точной сборки. Дайсон [31] недавно улучшил микроскоп, использовав плоскопараллельную пластинку и посеребренную плосковыпук- [c.367]

Повышение разрешающей силы может быть достигнуто путем использования интерферометров. В 1920 г, Майкельсон применил интерферометр на 2,5-метровом рефлекторе обсерватории Маунт Вилсон и успешно измерил угловые диаметры некоторых звезд. С 1965 г. в Пулкове работает интерферометр с базой 6 м акад. В. П. Линника. Он используется для изучения тесных двойных звезд. В Австралии в обсерватории Наррабри под руководством Брауна [449] построен интерферометр интенсивностей с базой 188 ж, в котором собранные двумя мозаичными зеркалами диаметром по 6,5 ж пучки пе интерферируют между собой, а попадают каждый на свой фотоумножитель, Электронная вычислительная машина выполняет корреляционный анализ фототоков при изменении длины базы и вычисляет угловой диаметр явезды. [c.484]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...