Увеличение прибора

Исключая угол а, находим коэффициент увеличения прибора [c.508]

Угол поворота зеркальца а = Д//а. Разность отсчетов по шкале до и после нагружения в силу малости а равна h = L-2a. Исключая угол а, находим коэффициент увеличения прибора [c.545]

Отсчеты делают по верхнему концу стрелки на дуговой равномерной шкале. Увеличение прибора — около 500—600. Цена деления шкалы устанавливается тарировкой и указывается в паспорте прибора. [c.170]

Отсчет показаний прибора в процессе нагружения образца производится по шкале 18, цена делений которой равна 1 мм. Соотношение плеч коленчатого рычага и указательной стрелки обеспечивает коэффициент увеличения прибора [c.56]

На нем можно измерять неровности ступенчатой формы в пределах от 0,005 до 1 мкм на поверхностях деталей при до-. статочно высоком коэффициенте отражения. Увеличение прибора 50,поле зрения 3 мм и апертура 0,1. [c.99]

Л4 — масштаб по оси X Му — масштаб по оси У, равный увеличению прибора). Значение Л4 вычисляется по формуле [c.83]

Общее увеличение прибора с окулярным винтовым микрометром [c.91]

Увеличение прибора при фотографировании в крат...... 6,6 20 [c.91]

Увеличение прибора в крат. .................................30 [c.94]

Приборы теневого сечения ПТС-1 обычно применяются для контроля грубо обработанных поверхностей (с 1 по 3-й класс чистоты) по параметру Общее увеличение прибора 30 , поле зрения 8 мм габаритные размеры 220 X 190 X 100 мм, вес 2 кг. [c.121]

Вертикальное увеличение прибора 400 , 1000 , 2000 4000 10 000 , 20 000 , 40 000 100 000 200 000 — — [c.129]

Неточность совмещения изображения профиля со штриховой линией экрана (или окулярной сетки) при измерении угла наклона образующей профиля резьбы зависит также от кратности увеличения прибора, от угла подъема и шага резьбы, качества ее поверхности и т. д. Для повышения точности результата каждую половину угла профиля резьбы измеряют несколько раз и за величину угла наклона образующей профиля принимают среднее арифметическое из результатов измерений. [c.529]

Общее увеличение прибора [c.721]

Вертикальное увеличение приборов составляет 500. Поле зрения у мод. [c.156]

Горизонтальное увеличение прибора (9 ступеней) (8 ступеней) [c.349]

Объектив Общее увеличение прибора X [c.112]

Увеличение прибора, имеющего спектральные призмы [c.36]

Положительная линза или система линз, служащая для отклонения к оси пучков лучей, идущих от источника света Система линз для получения плавного изменения увеличения Система линз для получения ряда дискретных значений увеличения прибора Линза, система линз или система линз и зеркал, служащие для получения действительного изображения предмета или проекции его Линза или система линз, служащие для рассматривания изображения [c.221]

Наряду с этим увеличение прибора ограничивается четкостью изображения, которая нарушается в связи с тем, что источник света имеет некоторую протяженность. Так, свет, помещенный в фокальной плоскости конденсора, может быть представлен в виде нити 551 (фиг. 152). Тогда часть лучей, выходящих из конденсора, бз дет направлена под углом (р к главной оптической оси (эти лучи пойдут параллельно побочной оптической оси), причем этот угол будет большим для лучей, исходящих из крайних точек источника света. [c.128]

Пластины эти связаны с измерительными щупами, которые под действием пружин соприкасаются с поверхностью проверяемого отверстия. Измерительная головка устанавливается в проверяемом отверстии с одной стороны, а с противоположной— вставляется отсчетная труба, с помощью которой производится отсчет по шкале. Общее увеличение прибора 25Х. Цена деления 0,01 мм. [c.277]

ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ. Для прямого анализа расположения атомов вокруг линии дислокации необходимо очень высокое разрешение. В настоящее время такое разрешение дает только ионный микроскоп (ионный проектор), принцип действия которого состоит в следующем. С поверхности образца, представляющего собой иглу с очень малым радиусом закругления острия (менее 10 см), находящуюся под действием поля высокого напряжения, срываются электроны. За счет эффекта поляризации на игле осаждаются молекулы нейтральнм о газа. После соприкосновения с ио-верхностью металла молекулы газа диффундируют к острию иглы. Когда такая молекула попадает в область местного усиления поля высокого напряжения, происходит ее ионизация и ион летит под действием ускоряющего высокого напряжения к флуоресцирующему экрану прибора. Этот метод, имеющий наибольшее разрешение из всех известных в настоящее время прямых методов исследования структуры материалов, позволяет различать отдельные атомы в кристаллах. Увеличение прибора определяется соотношением между радиусом кривизны острия и расстоянием от объекта до экрана и может достигать нескольких миллионов. [c.94]

Угловая разрешающая способность глаза (т. е. минимальный угол между деталями изображения, которые он различает) равна Г при расстоянии до объекта I = 250 мм и соблюдении указанных выше условий. Линейное разрешение в плоскости ОК е = loL Л1 яй 250-0,0003 0,08 мм. Частотноконтрастная характеристика (ЧКХ) глаза имеет максимум при угловом размере объекта а 1° и спад в областях как низких, так и высоких пространственных частот. Использование увеличивающей ошики (лува, микроскоп) повышает разрешение в число раз, равное увеличению прибора. Применение микроскопов обеспечивает разрешение e ss 1. .. 5 мкм. [c.51]

Неровности на поверхности изделия вызывают местное изменение шага растра, что приводит к искривлению муаровых полос, пропорциональному высоте неровностей. Это искривление измеряется с помощью окулярного микрометра. Увеличение прибора ОРИМ-1 50—300, поле зрения 2,5— 0,4 мм, диапазон измерения высот неровностей 0,4—40 мкм. [c.73]

Каждое приращение показаний приборс в представляет собой величину абсолютной деформации колонки на участке ее расчетной длины, увеличенную в К раз, где К — коэффициент увеличения прибора. [c.86]

Отсчетное устройство прибора следующее. Лампа 21 посредством коллектора 20 освещает прозрачный штрих, нанесенный на пластине 19, установленной в фокальной плоскости окуляра 18. Пластина 19 может перемещаться при вращении винта с отсчетным барабаном. Призма 17 отражает пучок лучей на выходную грань спектральной призмы 16, которая одновременно является зеркалом, направляющим изображение светящегося штриха отсчет-ного устройства в глаз наблюдателя. Увеличение прибора 510, Фокусное расстояние объектива 10 мм, апертура 0,5, увеличение (с дополнительной линзой) 34. Увеличение окуляра 15. Длина рабочего участка в плоскости объекта 0,25 мм. [c.102]

Диапазон измеряемых неровностей по их высоте для различных щуповых приборов различен. Для оптико-механических профилографов (Левина и Аммона) он зависит от ширины применяемой в приборе фотобумаги или фотопленки и вертикального увеличения прибора. Для профилометра и пьезо-электрического профилографа лимитирующим фактором является частотная характеристика приборов. Оба последних электрических прибора работают с постоянной скоростью перемещения щупа. Частота колебаний иглы при перемещении ее по неровностям определяется расстоянием между 9 291 [c.291]

Штрихи образцовой и поверяемой шкал, устанавливаемых на столиках, соответственно над левым 4 и правым микроскопами (с увеличением около 10 и общим увеличением прибора около 120 ), рассматриваются наблюдателем в окуляры бинокулярной части прибора одновременно обоими глазами и в совмещенном поле зрения воспринимаются рельефно-стереоскопически. В ходе лучей каждого микроскопа помещены плоскопараллельные пластины и шкалы. Одна из наклоняющихся пластинок 7 левого микроскопа служит для исключения коррекции погрешностей образцовой шкалы. Соответствующий отсчет производится по шкале пластины, склеенной с плоской стороной цилиндрической линзы 10 и видимой в нижней части поля зрения 6 стереокомпаратора. Цена деления шкалы 0,1 мк. Вторая пластина 8, наклон которой также перемещает изображение штрихов образцовой шкалы, предназначена для совмещения изображения начального штриха с плоскостью средних стереоскопических марок, нанесенных на плоских пластинах 9. [c.392]

Рекомендуется при установке тензометра с ножевыми опорами приподнимать HenoABHKiFioe остриё, оставляя пб-движное слегка внедрённым, и движением корпуса перемещать стрелку прибора несколько раз в пределах всей шкалы. На увеличение прибора влияет его положение (например для тензометра Гугенбергера моисет быть при горизонтальном положении гт1 = 1030, вертикальном —= = 1020 и в подвешенном — = 1040). Зависимость масштаба т тензометра Гугенбергера от силы Р прижатия его к детали может быть следующая [c.248]

ХУГЕНБЕРГЕРА ТЕНЗОМЕТР — рычажный прибор для измерения линейных деформаций на образцах и в конструкциях. X. т. (рис.) прижимается двумя опорами-призмами к поверхности образца с помощью струбцины. Одна опора неподвижна вторая, вращаясь при деформации вокруг оси, передает через шарнирную систему движение стрелке, по отклонению к-рой на шкале прибора судят о величине деформации. Расстояние между опорами-призмами (база прибора) обычно равно 20.к.ч, па отд. моделях выполняется размером от 10 до 1000. ч.ч. Увеличение прибора — передаточное число системы -1000. [c.426]

Отношение 2H h и дает увеличение прибора. Обычно шкала помещается на таком расстоянии, что 2Iijh — d00, При атом перемещению [c.337]

Метод светового сечения заключается в следующем (фиг. 209) пучок лучей направляется в виде световой полоски под некоторым углом на исследуемую поверхность через узкую щель и объектив. Так как исследуемая поверхность имеет определенную шероховатость, то световая полоска будет иметь вид искривленной линии по форме самой поверхности. Полученное изображение рассма-тривается через микроскоп, наклоненный также под углом к исследуемой поверхности. На принципе светового сечения основан двойной микроскоп акад, В. П. Линника, служащий для измерения высоты неровностей наружных поверхностей в пределах от 5 до 60 мк. Увеличение прибора — от 90 до 270 раз Поле зрения от 0,3 до 1 мм. [c.154]

Пучок лучей от источника света 1 через конденсор 2 и щель 3 падает на качающееся зеркальце 5, жестко связанное с ощупывающей иглой 12. Отразившись от качающегося зеркальца, пучок лучей падает на неподвижное зеркало 6, от которого вновь попадает на зеркальце 5. Зеркальце 5 отражает пучок лучей в оптическую систему 7 и на два зеркала 8, расположенных под углом друг к другу. В этих зеркалах световой пучок меняет направление и падает через цилиндрическую линзу 9. фокус которой совмещен с поверхностью фотобарабана И, на движущуюся фотопленку 10. Колебания зеркальца 5, вызываемые перемещением иглы по исследуемой поверхности, повторяются в увеличенном виде световым зайчиком на движущейся фотопленке, в результате чего получается профилограмма. Увеличение прибора в вертикальном направлении находится в пределах 500—16 000 крат и в горизонтальном направлении от 25 до 500 крат. [c.159]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...