Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Увеличение прибора

Исключая угол а, находим коэффициент увеличения прибора  [c.508]

Угол поворота зеркальца а = Д//а. Разность отсчетов по шкале до и после нагружения в силу малости а равна h = L-2a. Исключая угол а, находим коэффициент увеличения прибора  [c.545]

Отсчеты делают по верхнему концу стрелки на дуговой равномерной шкале. Увеличение прибора — около 500—600. Цена деления шкалы устанавливается тарировкой и указывается в паспорте прибора.  [c.170]

Отсчет показаний прибора в процессе нагружения образца производится по шкале 18, цена делений которой равна 1 мм. Соотношение плеч коленчатого рычага и указательной стрелки обеспечивает коэффициент увеличения прибора  [c.56]


На нем можно измерять неровности ступенчатой формы в пределах от 0,005 до 1 мкм на поверхностях деталей при до-. статочно высоком коэффициенте отражения. Увеличение прибора 50,поле зрения 3 мм и апертура 0,1.  [c.99]

Л4 — масштаб по оси X Му — масштаб по оси У, равный увеличению прибора). Значение Л4 вычисляется по формуле  [c.83]

Общее увеличение прибора с окулярным винтовым микрометром  [c.91]

Увеличение прибора при фотографировании в крат...... 6,6 20  [c.91]

Увеличение прибора в крат. .................................30  [c.94]

Приборы теневого сечения ПТС-1 обычно применяются для контроля грубо обработанных поверхностей (с 1 по 3-й класс чистоты) по параметру Общее увеличение прибора 30 , поле зрения 8 мм габаритные размеры 220 X 190 X 100 мм, вес 2 кг.  [c.121]

Вертикальное увеличение прибора 400 , 1000 , 2000 4000 10 000 , 20 000 , 40 000 100 000 200 000 — —  [c.129]

Неточность совмещения изображения профиля со штриховой линией экрана (или окулярной сетки) при измерении угла наклона образующей профиля резьбы зависит также от кратности увеличения прибора, от угла подъема и шага резьбы, качества ее поверхности и т. д. Для повышения точности результата каждую половину угла профиля резьбы измеряют несколько раз и за величину угла наклона образующей профиля принимают среднее арифметическое из результатов измерений.  [c.529]

Общее увеличение прибора  [c.721]

Вертикальное увеличение приборов составляет 500. Поле зрения у мод.  [c.156]

Горизонтальное увеличение прибора (9 ступеней) (8 ступеней)  [c.349]

Объектив Общее увеличение прибора X  [c.112]

Увеличение прибора, имеющего спектральные призмы  [c.36]

Положительная линза или система линз, служащая для отклонения к оси пучков лучей, идущих от источника света Система линз для получения плавного изменения увеличения Система линз для получения ряда дискретных значений увеличения прибора Линза, система линз или система линз и зеркал, служащие для получения действительного изображения предмета или проекции его Линза или система линз, служащие для рассматривания изображения  [c.221]

Наряду с этим увеличение прибора ограничивается четкостью изображения, которая нарушается в связи с тем, что источник света имеет некоторую протяженность. Так, свет, помещенный в фокальной плоскости конденсора, может быть представлен в виде нити 551 (фиг. 152). Тогда часть лучей, выходящих из конденсора, бз дет направлена под углом (р к главной оптической оси (эти лучи пойдут параллельно побочной оптической оси), причем этот угол будет большим для лучей, исходящих из крайних точек источника света.  [c.128]


Пластины эти связаны с измерительными щупами, которые под действием пружин соприкасаются с поверхностью проверяемого отверстия. Измерительная головка устанавливается в проверяемом отверстии с одной стороны, а с противоположной— вставляется отсчетная труба, с помощью которой производится отсчет по шкале. Общее увеличение прибора 25Х. Цена деления 0,01 мм.  [c.277]

ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ. Для прямого анализа расположения атомов вокруг линии дислокации необходимо очень высокое разрешение. В настоящее время такое разрешение дает только ионный микроскоп (ионный проектор), принцип действия которого состоит в следующем. С поверхности образца, представляющего собой иглу с очень малым радиусом закругления острия (менее 10 см), находящуюся под действием поля высокого напряжения, срываются электроны. За счет эффекта поляризации на игле осаждаются молекулы нейтральнм о газа. После соприкосновения с ио-верхностью металла молекулы газа диффундируют к острию иглы. Когда такая молекула попадает в область местного усиления поля высокого напряжения, происходит ее ионизация и ион летит под действием ускоряющего высокого напряжения к флуоресцирующему экрану прибора. Этот метод, имеющий наибольшее разрешение из всех известных в настоящее время прямых методов исследования структуры материалов, позволяет различать отдельные атомы в кристаллах. Увеличение прибора определяется соотношением между радиусом кривизны острия и расстоянием от объекта до экрана и может достигать нескольких миллионов.  [c.94]

Угловая разрешающая способность глаза (т. е. минимальный угол между деталями изображения, которые он различает) равна Г при расстоянии до объекта I = 250 мм и соблюдении указанных выше условий. Линейное разрешение в плоскости ОК е = loL Л1 яй 250-0,0003 0,08 мм. Частотноконтрастная характеристика (ЧКХ) глаза имеет максимум при угловом размере объекта а 1° и спад в областях как низких, так и высоких пространственных частот. Использование увеличивающей ошики (лува, микроскоп) повышает разрешение в число раз, равное увеличению прибора. Применение микроскопов обеспечивает разрешение e ss 1. .. 5 мкм.  [c.51]

Неровности на поверхности изделия вызывают местное изменение шага растра, что приводит к искривлению муаровых полос, пропорциональному высоте неровностей. Это искривление измеряется с помощью окулярного микрометра. Увеличение прибора ОРИМ-1 50—300, поле зрения 2,5— 0,4 мм, диапазон измерения высот неровностей 0,4—40 мкм.  [c.73]

Каждое приращение показаний приборс в представляет собой величину абсолютной деформации колонки на участке ее расчетной длины, увеличенную в К раз, где К — коэффициент увеличения прибора.  [c.86]

Отсчетное устройство прибора следующее. Лампа 21 посредством коллектора 20 освещает прозрачный штрих, нанесенный на пластине 19, установленной в фокальной плоскости окуляра 18. Пластина 19 может перемещаться при вращении винта с отсчетным барабаном. Призма 17 отражает пучок лучей на выходную грань спектральной призмы 16, которая одновременно является зеркалом, направляющим изображение светящегося штриха отсчет-ного устройства в глаз наблюдателя. Увеличение прибора 510, Фокусное расстояние объектива 10 мм, апертура 0,5, увеличение (с дополнительной линзой) 34. Увеличение окуляра 15. Длина рабочего участка в плоскости объекта 0,25 мм.  [c.102]

Диапазон измеряемых неровностей по их высоте для различных щуповых приборов различен. Для оптико-механических профилографов (Левина и Аммона) он зависит от ширины применяемой в приборе фотобумаги или фотопленки и вертикального увеличения прибора. Для профилометра и пьезо-электрического профилографа лимитирующим фактором является частотная характеристика приборов. Оба последних электрических прибора работают с постоянной скоростью перемещения щупа. Частота колебаний иглы при перемещении ее по неровностям определяется расстоянием между 9 291  [c.291]

Штрихи образцовой и поверяемой шкал, устанавливаемых на столиках, соответственно над левым 4 и правым микроскопами (с увеличением около 10 и общим увеличением прибора около 120 ), рассматриваются наблюдателем в окуляры бинокулярной части прибора одновременно обоими глазами и в совмещенном поле зрения воспринимаются рельефно-стереоскопически. В ходе лучей каждого микроскопа помещены плоскопараллельные пластины и шкалы. Одна из наклоняющихся пластинок 7 левого микроскопа служит для исключения коррекции погрешностей образцовой шкалы. Соответствующий отсчет производится по шкале пластины, склеенной с плоской стороной цилиндрической линзы 10 и видимой в нижней части поля зрения 6 стереокомпаратора. Цена деления шкалы 0,1 мк. Вторая пластина 8, наклон которой также перемещает изображение штрихов образцовой шкалы, предназначена для совмещения изображения начального штриха с плоскостью средних стереоскопических марок, нанесенных на плоских пластинах 9.  [c.392]


Рекомендуется при установке тензометра с ножевыми опорами приподнимать HenoABHKiFioe остриё, оставляя пб-движное слегка внедрённым, и движением корпуса перемещать стрелку прибора несколько раз в пределах всей шкалы. На увеличение прибора влияет его положение (например для тензометра Гугенбергера моисет быть при горизонтальном положении гт1 = 1030, вертикальном —= = 1020 и в подвешенном — = 1040). Зависимость масштаба т тензометра Гугенбергера от силы Р прижатия его к детали может быть следующая  [c.248]

ХУГЕНБЕРГЕРА ТЕНЗОМЕТР — рычажный прибор для измерения линейных деформаций на образцах и в конструкциях. X. т. (рис.) прижимается двумя опорами-призмами к поверхности образца с помощью струбцины. Одна опора неподвижна вторая, вращаясь при деформации вокруг оси, передает через шарнирную систему движение стрелке, по отклонению к-рой на шкале прибора судят о величине деформации. Расстояние между опорами-призмами (база прибора) обычно равно 20.к.ч, па отд. моделях выполняется размером от 10 до 1000. ч.ч. Увеличение прибора — передаточное число системы -1000.  [c.426]

Отношение 2H h и дает увеличение прибора. Обычно шкала помещается на таком расстоянии, что 2Iijh — d00, При атом перемещению  [c.337]

Метод светового сечения заключается в следующем (фиг. 209) пучок лучей направляется в виде световой полоски под некоторым углом на исследуемую поверхность через узкую щель и объектив. Так как исследуемая поверхность имеет определенную шероховатость, то световая полоска будет иметь вид искривленной линии по форме самой поверхности. Полученное изображение рассма-тривается через микроскоп, наклоненный также под углом к исследуемой поверхности. На принципе светового сечения основан двойной микроскоп акад, В. П. Линника, служащий для измерения высоты неровностей наружных поверхностей в пределах от 5 до 60 мк. Увеличение прибора — от 90 до 270 раз Поле зрения от 0,3 до 1 мм.  [c.154]

Пучок лучей от источника света 1 через конденсор 2 и щель 3 падает на качающееся зеркальце 5, жестко связанное с ощупывающей иглой 12. Отразившись от качающегося зеркальца, пучок лучей падает на неподвижное зеркало 6, от которого вновь попадает на зеркальце 5. Зеркальце 5 отражает пучок лучей в оптическую систему 7 и на два зеркала 8, расположенных под углом друг к другу. В этих зеркалах световой пучок меняет направление и падает через цилиндрическую линзу 9. фокус которой совмещен с поверхностью фотобарабана И, на движущуюся фотопленку 10. Колебания зеркальца 5, вызываемые перемещением иглы по исследуемой поверхности, повторяются в увеличенном виде световым зайчиком на движущейся фотопленке, в результате чего получается профилограмма. Увеличение прибора в вертикальном направлении находится в пределах 500—16 000 крат и в горизонтальном направлении от 25 до 500 крат.  [c.159]


Смотреть страницы где упоминается термин Увеличение прибора : [c.508]    [c.511]    [c.59]    [c.549]    [c.469]    [c.94]    [c.108]    [c.155]    [c.242]    [c.111]    [c.223]    [c.275]    [c.291]    [c.72]    [c.346]    [c.58]    [c.281]   
Оптика (1986) -- [ c.363 ]



ПОИСК



Видимое увеличение оптических приборов

Методы увеличения дисперсии призменных спектральных приборов

Ошибка увеличения (или фокусного расстояния) в приборах, обладающих комой

Самопроизвольные пульсации излучения возникновение при увеличении наработки прибора

Увеличение

Увеличение поперечное прибора

Увеличение прибора, имеющего спектральные призмы

Увеличение спектрального прибор

Устранение неправильности увеличения прибора

Формула видимого увеличения луп практической разрешающей способности прибора



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте