Теневой луч

Считается, что точка, задерживая световой луч, отбрасывает теневой луч. Следовательно, построение тени, падающей от точки на какую-либо поверхность, сводится к построению точки пересечения с этой поверхностью прямой (теневого луча), проведенной через данную точку и источник света А или, что то же, параллельную лучу /. [c.395]

Следует по возможности избегать конструктивных форм деталей, требующих применения стержней и отт.емных частей на моделях (рис, 22,4, г )- Возможность свободного удаления модели из формы (без применения отъемных частей и стержней) проверяют следующим образом. Воображаемый поток лучей, перпендикулярных плоскости разъема формы, не должен давать теневых участков (рис. 22.4, г). Если невозможно обойтись без стержней, следует предусматривать технологические отверстия для надежного их крепления (рис. 22,4, d), а если возможно, то унификацию стержней. [c.464]

Основное отличие шлирен-систем от прямых теневых заключается в том, что в них с целью увеличения чувствительности к малым и монотонным изменениям плотности в среде при помощи объектива осуществляют фокусировку всех лучей, проходящих через исследуемую среду, в одной точке — главном фокусе приемного объектива. В этой же точке помещают нож Фуко. Оптический нож при этом устанавливают таким образом, чтобы он полностью или в большей части перекрывал изображение источника света, получаемое в фокальной плоскости приемного объектива (рис. 11.3). [c.219]

Определив по полученному значению угла отклонения луча Ву плотность р в расчетной точке теневой картины, по соотношениям (11.2) можно определить в ней значения р п Т. Пример теневой картины течения газа в сопле приведен на рис. 11.4. [c.221]

Тень от линии. Принято считать, что прямая линия, задержи-Еаи совокупность световых лучей (которая всегда,— как при солнечном, так и при факельном освещении,— является плоскостью), отбрасывает теневую плоскость. Обычно эту плоскость называют лучевой. Отсюда следует, что построение тени, падающей от прямой на какую-либо поверхность, сводится к построению линии пересечения с этой поверхностью лучевой плоскости, проведенной через данную прямую и источник света м, освещающий данную прямую. [c.396]

Тень от плоской фигуры (непрозрачной пластинки). Плоская фигура, если только ее плоскость не проходит через (иначе не параллельна лучу /), задерживая определенную часть лучей светового потока, отбрасывает теневой столб, поверхность которого (лучевая поверхность) отделяет освещенную часть пространства от неосвещенного. Сечение этой поверхности какой-либо другой и образует очертание падающей на нее тени. Если плоская фигура — п-угольник, то цилиндрическая лучевая поверхность обращается в л-гранную призматическую лучевую поверхность. При этом л-угольник служит для нее направляющей, а образующая параллельна световому лучу. [c.396]

Сторона плоской фигуры, обращенная к теневому столбу, находится в тени, т. е у плоских фигур следует различать освещенную и неосвещенную стороны Иначе говоря, плоская фигура всегда имеет собственную тень за исключением случая параллельности плоской фигуры световому лучу. [c.396]

Очевидно, при этом часть световых лучей пройдет мимо Ф, часть им задержится, а часть коснется его. Совокупность лучей, касательных к телу, образует замкнутую призматическую или цилиндрическую лучевую поверхность, отделяющую освещенную часть пространства от теневого столба. Сечение этой поверхности какой-либо другой и образует очертание падающей на последнюю тени от данного тела. [c.397]

Поверхность тела, обращенная к теневому столбу, находится в тени. Линия, отделяющая освещенную поверхность тела от неосвещенной, представляет собой совокупность точек, в которых световые лучи прикасаются к телу. Построение проекции собственной тени и сводится к построению проекций линии прикосновения лучевой поверхности, обертывающей тело по заданному направлению светового потока. [c.397]

Зеркально-теневой метод основан на измерении амплитуды донного сигнала. На рис. 2.4, а отраженный луч условно смещен в сторону. По технике выполнения (фиксируют эхо-сигнал) его относят к методам отражения, а по физической сущности контроля (измеряют ослабление сигнала, дважды прошедшего изделие в зоне дефекта) он близок к теневому методу. [c.97]

На рис. 2.11, а, б показано влияние непараллельности поверхностей и поворота изделия на отклонение лучей. Поверхность на локальном участке расположена неперпендикулярно к оси ранее отъюстированных преобразователей, хотя поверхности изделия параллельны. Контроль выполняют иммерсионным способом. Смещение центрального луча относительно оси приемника вычисляют по формуле т = X (sin Р)Св/са- При толщине изделия 50 мм и отношении скоростей звука в изделии и иммерсионной жидкости Сд/Сд 4 угол р = 2° обусловит смещение т = 7 мм. Это приведет к ослаблению сквозного сигнала на 8. .. 12 дБ. Приблизительно такое же ослабление вызовет непараллельность поверхностей (рис. 2.11, б) при р = 3°. Для уменьшения ослабления сигнала по этим причинам следует использовать преобразователи с широкой диаграммой направленности при этом, однако, исключается возможность применения теневого метода для контроля изделий сложной формы. [c.117]

Временной теневой метод основан на измерении времени пробега импульса через объект. Путь ультразвукового луча SDR, огибающего дефект (рис. 2.13), больше прямого пути SOR. По запаздыванию прихода сквозного сигнала на приемник с помощью низкочастотных волн удается определить наличие крупных дефектов в материалах с большим рассеянием ультразвука, например аустенитной стали с крупнозернистой структурой, чугуне и ряде неметаллов. Контроль подобных материалов другими акустическими методами оказывается вообще невозможным. [c.119]

При контроле по схеме Ь (см. рис. 2.14) ультразвук один раз проходит сквозь дефект, поэтому чувствительность этого варианта меньше. Для расчета амплитуды можно применить номограммы, полученные для теневого метода с учетом замены излучателя его зеркальным изображением. При контроле по схеме г чувствительность обычно выше, чем по схеме в, по следующей причине. Угол наклона преобразователей для продольных волн делают небольшим (5. .. 10°), чтобы не возникали поперечные волны. Небольшой угол делает необходимым близкое расположение преобразователей. В результате лучи обычно 2 раза пересекают область де- [c.121]

Помехи, действующие при контроле теневым методом, проявляются также и при контроле зеркально-теневым методом. Непа-раллельность поверхностей изделия вызывает большее ослабление донного сигнала, чем сквозного, поскольку отраженный луч сильнее смеш,ается от акустической оси. Еш е сильнее эти помехи сказываются на качестве контроля по второму донному сигналу. Влияние помех уменьшается при использовании преобразователя с широкой диаграммой направленности. [c.122]

Па рис. 7.1 показана типичная схема теневого дефектоскопа с визуальным, изображением поля прошедшего излучения. Источник 1 УЗ-волн обычно достаточно большой, чтобы интерференционными явлениями в ближней зоне можно было пренебречь и считать с достаточной точностью поле излучения плоской однородной волной. С этой же целью его, наоборот, можно сделать малым, чтобы работать в дальней зоне, но в этом случае амплитуда поля суш,ественно снизится. УЗ-волны проходят через объект контроля 2. При наличии в объекте контроля дефекта однородность поля нарушается и позади дефекта образуется звуковая тень. Для повышения контрастности и четкости изображения прошедшие лучи обычно фокусируют ультразвуковой линзой 3. В фокальной плоскости линзы возникает акустический рельеф, т. е. определенное распределение интенсивности или амплитуды в плоскости поперечного сечения звукового пучка, соответствуюш,ее наблюдаемому дефекту. Чтобы сделать звуковой рельеф видимым, применяют различные устройства, называемые акустико-оптическими преоб-разователя.ми 4. [c.392]

На контролируемую поверхность направляют пучок света, на пути которого вблизи поверхности (чтобы избежать существенного рассеяния лучей, вызванного конечными размерами источника света) располагают экран с прямолинейными краями. Границу тени при отражении светового пучка от поверхности, представляющую собой теневую картину профиля обследуемого участка поверхности, рассматривают через микроскоп. [c.113]

Схема прибора теневой проекции ПТС-1 представлена на рис. 31, а. Пучок лучей от источника света 5 освещает щель Щ, которая проектируется объективом О на поверхность РР испытуемого образца. На эту поверхность под углом 60 к ней и к оптической оси визуального микроскопа накладывают лезвием [c.113]

В отличие от метода светового сечения данный метод назван методом теневого сечения. Причем соотношение между измеряемыми величинами и высотой неровностей для обоих методов одинакова, т. е. определяются углом падения лучей и увеличением наблюдательной системы микроскопа. [c.121]

Следует ограничивать на поверхности литых деталей количество выступающих частей, особенно тех, которые на модели выполняются отъемными. Для контроля выполнения этого требования должны отсутствовать теневые участки при воображаемом освещении детали параллельными лучами в направлении, перпендикулярном к плоскости разъема формы (фиг. 66). [c.173]

Наиболее надежными методами, достаточно удобными в эксплуатации и получившими широкое применение, являются просвечивание рентгеновскими и гамма-лучами ультразвуковые методы — теневой, импульсный и резонансный магнитный метод люминесцентный метод индукционные методы термо- и трибоэлектрический методы. [c.332]

Общим критерием этого требования может служить отсутствие в модели теневых участков при освещении ее параллельными лучами в направлении перпендикулярном к поверхности разъема формы (фиг. 36). [c.76]

Формовку желательно производить без отъемных частей модели и с наименьшим количеством стержней, особенно если формовка машинная. Соблюдение этого принципа конструирования можно проверять теневым рельефом лучи, направленные со стороны разъема формы или [c.759]

Оптические методы, основанные на изменении показателя преломления при прохождении лучей через прозрачные, оптически неоднородные среды, можно классифи-Ц ровать следующим образом теневые методы, фиксирующие линейное смещение луча, угловое отклонение луча, метод свилей или шлирен-метод Теплела и интерференционный метод, фиксирующий разность хода лучен по времени. [c.276]

Уменьшим шар до размеров точки (точка А). Тогда световой цилиндр превратится в световой луч, а теневой цилиндр — в теневой луч. Поскольку один луч служит продолжением другого, то в совокупности они образуют прямую линию (луч). Она пересекается с плоскостью Т в точке А , являющейся тенью от точки А на плоскость Т. Следовательно, для построения тепк от точки нужно провести через последнюю луч и найти точку его пересечения с данной поверхностью (см. главу третью, 15 и 21 рис. 208 напоминает рис. 89). [c.147]

Рефлекс — высветление собственной тени за счет освещения теневой стороны предмета отраженными лучами от окружающих освещенных предметов или поверхностей данного предмета. [c.172]

Общее количество света, падающего на экран 2, останется прежним (так как заранее предполагается, что углы отклонения небольщие и лучи не выходят за пределы экрана), но равномерная освещенность экрана на границах изображения клина нару-щится. Если градиент показателя преломления изменяется и, следовательно, д п1ду не равно нулю, то отклонение лучей, пронизывающих разные точки неоднородности, будет различным. Это приводит к тому, что некоторые участки изображения неоднородности оказываются более светлыми, а другие — менее светлыми. В общем случае для пространственной (в координатах х, у, 2) неоднородности изменение освещенности Д в теневой картине можно записать формулой [c.218]

Рис. 5.7. Разлет плазмы, образующейся при фокусироиании излучения рубинового ОКГ на поверхность преграды в воздухе а—временная развертка самосвечения вдоль луча, излучения ОКГ, б — теневой снимок, 1 — преграда, 2 — фронт ударной волны (стрелкой показано направление излучения

Полученные данные показывают также, что галогениды натрия по-разному реагируют на освещаемость солнечными лучами. По мере увеличения их молекулярной массы электродный потенциал становится более отрицательным как освещенной, так и теневой стороны образца. [c.59]

Принципиальная схема метода теневсго сечения представлена на рис. 88. Лрибор теневого сечения представляет собой систему двух микроскопов — проектирующего 1 и наблюдательного //, установленных под углом 90° по отношению один к другому. Предметные точки объективов обоих микроскопов совмещены одна с другой и с опорной плоскостью прибора на высоте 0,1 мм над опорной плоскостью установлен нож 3. На испытуемой поверхности PiPi необходимо иметь уступ высотой й, равной толщине покрытия I, нанесенного на деталь 2. Пучок лучей, выходящий из проектирующего объектива микроскопа /, встречает на своем пути нож 3, который срезает часть пучка. Часть пучка лучей, не срезанная ножом, падает под углом 45° на испытуемую поверхность Р1Р2 в пространстве между кромкой ножа LL и ее проекцией на эту поверхность. [c.94]

Такое погружение само по себе не является новым как уже отмечалось, в теневых дефектоскопах колебания вводятся в металл в основном именно таким образом, однако для импульсного эхо-метода погружение представляет особые выгоды прежде всего потому, что отпадают проблемы акустического контакта и износоустойчивости искательных головок контакт получается постоянным и весьма надежным, в результате чего теряет свое значение донный сигнал как основной индикатор надежности акустического контакта и появляется возможность ввода УЗК в изделие под любым углом к поверхности. Вследствие этого можно снизить требования к чистоте обработки поверхности изделия, так как колебания вводятся достаточно эффективно в изделие с грубой поверхностью (например, в необработанную поковку). При достаточной мощности зондирующего импульса можно поэтому использовать УЗК значительно более высоких частот, порядка 20—25 мгц, что, в свою очередь, приводит к повышению чувствительности и разрешающей способности метода. При иммерсионном варианте значительно облегчается запись показаний дефектоскопа, а применение в осциллоскопическом индикаторе электроннолучевой трубки с большой длительностью послесвечения и развертки типа В (модуляция электронного луча по яркости) позволяет видеть на экране изображение контуров контролируемого изделия ij дефектов в прозвучиваемом сечении. [c.348]

Теневой метод. Отличительной особенностью схемы (рис. 2), применяемой при данном методе, является использование в качестве приемника излучения фотоэлемента с боковым фотоэффектом, В схеме использован не узкий луч, а широкий. Излучение О КГ направляется на оптическую систему, которая расфокусирует луч таким образом, чтобы оп занимал всю поверхность [c.29]

Интересна возможность одноврем. получения изображений мн. параллельных слоёв объекта (тела) на ряде фотоплёнок, расгюложенных одна над другой. Такой метод регистрации наз. симультанным. Симультанная Т. открывает возможность отображать в объёмной регистрирующей среде полное трёхмерное теневое изображение объекта, просвечиваемог о рентг. лучами. [c.123]

Очевидно, что в случае решеток из сильно изогнутых профилей количественная газогидравлическая аналогия должна существенно нарушаться. Автором была произведена попытка применения дайной аналогии для изучения сверхзвукового обтекания решетки. Для наблюдения получающихся скачков решетка была собрана на листе стекла, через который поток воды освешался источником параллельных лучей. Фотографировалось теневое изображение течения на матовом стекле, расположенном над поверхностью воды. Одна из получеН[ ых фотографий приведена на рис. 104. Сравнение этих фотографий с фотографиями течений газа через те же решетки показало ряд существенных отличий, объясняющихся в основном влиянием трения [c.271]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...