Растр

Растровый (телевизионный) способ формирования изображения предполагает последовательное перемещение луча по всему экрану дисплея независимо от выводимого изображения — получение на экране полного растра, подобного телевизионному. Фор- [c.59]

Растровый способ формирования символов аналогичен растровому способу формирования изображения на экране ЭЛТ, при этом требования к характеристикам буферного ЗУ менее жесткие. Это связано с ограниченным объемом выводимого текста (обычно не более 2000 символов) и тем, что в буферном ЗУ информация об изображении хранится в виде кодов символов. Строка символов на экране формируется из нескольких строк растра (7... 14). Каждый символ в свою очередь формируется из точек, образующих матрицу (например, 5X7 элементов). В формирователе символов имеется ПЗУ, в котором в соответствии с кодами символов хранится информация, позволяющая формировать точечное изображение символа. При движении луча по первой строке растра формирователь символов по коду символа извлекает из ПЗУ символов информацию, позволяющую получить изображение верхнего ряда матрицы каждого символа, имеющегося в строке текста. Затем формируется изображение второго ряда матриц тех же символов и т. д. Достаточно простое формирование символов и высокая заполняемость площади экрана полезной информацией сделали растровый способ формирования изображения основным для алфавитно-цифровых дисплеев. [c.61]

Существует метод муаровых полос, при использовании которого на исследуемую поверхность наносят каким-либо способом систему периодически повторяющихся линий, точек или иных элементов, расположенных в одной плоскости (такие структуры называют растрами). Растр, нанесенный на исследуемую поверхность детали или образца, деформируется вместе с поверхностью в процессе нагружения. При наложении деформированного и эталонного растров светлые промежутки одного растра перекрываются темными линиями другого, что приводит к изменениям интенсивности отраженного или проходящего через совмещенные растры света и образованию черных и белых [c.142]

Положения минимумов и максимумов освещенности муаровых полос однозначно связаны с деформациями растра. Поэтому нахождение на муаровой картине точек с одинаковой освещенностью и измерение расстояний между ними позволяет определить поле перемещений, а затем вычислить деформации и перемещения. Для повышения точности и надежности измерений приходится применять растры с частотой 1200 линий на 1 мм. Такой вариант носит название метода голографического муара. На рис. 85 показана интерференционная картина, по которой производится определение деформаций. [c.143]

ИМЕТ РАН, Растр-технология ТОО, Москва, Россия [c.95]

Голографические интерференционные микроскопы нашли применение для исследования самых разнообразных объектов — оптических волокон, оптических линзовых растров, искусственных кристаллов для оптики, пятен масла, биомедицинских объектов, а также для изучения процессов деления клеток, роста кристаллов и т. п. [c.86]

ЧИСЛО ЭЛЕМЕНТОВ ФУНКЦИИ ПРОПУСКАНИЯ NA - константа целою типа, равная числу отсчетов функции пропускания растра вдоль оси ОХ тт О К должна быть равна 2 ,Л/ = 3,4, 5.... [c.178]

Значения функций пропускания необходимо заносить построчно из матрицы, задающей дискретный закон пропускания растра. [c.178]

Далее проектант строит график и, задающие параметрические уравнения изменения координат растра но времени. Ось Т идет вертикально, сверху вниз. [c.196]

Перелив воды из нижних бассейнов осуществляется по вертикальным трубам диаметром 100 мм, верхний обрез которых располагается на уровне зеркала воды в бассейне, а нижний жестко заделывается в растру трубы, выведенной на уровне дна бассейна. Для опорожнения бассейна устраивают другую трубу, которую в обычное время перекрывают задвижкой. [c.408]

Экранный пульт проектирования может работать в трех режимах ЭВМ — непосредственная логическая связь с ЭВМ, АВТОНОМ — автономное функционирование, КОНТРОЛЬ — вспомогательный контрольный режим. Размеры рабочей площади экрана 384X256 мм формат точечного растра 192X128 точек. [c.75]

Лля исследования напряженного состояния на деталях плавных форм, в частности листовых, применяют метод полос муара. Он основан на оптическом совмещении мелкой сетки (растра) на деформированной детали с недсформированшам растром и получением в результате полос муара.- [c.478]

Фотоэлектрические приборы широко используют в сочетании с оптическими элементами, растрами, дифракционными решетками и интерферометрами (см. гл. 5). В качестве источника света может служить само раскаленное изделие, лампы накаливания, телевизионные трубки или лазеры. В качестве светоприемников применяют фоторезисторы, фотодиоды, фототранзисторы, фототиристоры, фотоэлектронные умножители, телевизионные трубки. Преимуш,е-ства фотоэлектрических приборов —высокая точность, ишрокие пределы измерений, дискретная (цифровая) форма выходного сигнала, возможность осуществления бесконтактного метода контроля н др. Однако эти приборы, как правило, сложны, дороги и требуют тш,ательной защиты от воздействия окружающей среды (пыли, конденсата и т. п.). [c.159]

Кадроскоп — электроннолучевая трубка, подобная передающей телевизионной трубке, мишень которой покрывается люминофором, что позволяет наблюдать растр на мишени н использовать трубку при настройке фокусирующей и отклоняющей систем [9J. [c.145]

В процессе прямой лазерной гравировки офсетных печатных форм на лазерных гравировальных автоматах разработки АО НИИПолигрифмавд используются лаисановые пленки с вакуумными покрытиями на основе Ti, TiN, нержавеющей стали и др. производства ТОО Растр-технология с характерными толщинами покрытия в пределах 0,1—0,3 мкм. Специфика технологического процесса требует высокой скорости движения плепки по отношению к пятну фокусировки излучения (до 10—12 м/с) при малых размерах самого пятна. В отличие от микроэлектронных применений мощности лазерного иа- [c.95]

Голографические мультипликаторы с пространственным разделением волнового фронта содержат растр голографических элементов, каждый из которых строит изображение предмета (с полем, равным единичному изображению— одному модулю). В них разделение волнов01ю фронта, распространяющегося от объекта, осуществляется входными зрачками этих элементов, причем в каждый зрачок попадает только часть волнового фронта. Каждый элемент такого растра представляет собой осевую голографическую линзу, концентрические кольца которой образуются в результате интерференции сферического и плоского волновых фронтов. [c.61]

Растр (оло1 рафических линз, таким образом, можно рассматривать как голограмму совокупности точечных источников света, которая может быть получена с помощью линзового растра или методом последовательного получения голограмм одного и того же точечного источника, образованного высококачественным микрообъективом. В пос-ле.тнем сцгучае удается избежать многократного наложения излечения от таких источников и обеспечить высокую идеггтичность свойств отдельных голографических лиги, составляющих растр. Достижение подобной идентичности обычных линзовых микрообъективов и создание на их основе высококачественного растра является одним из основных преимуществ растра голографических линз. [c.61]

Как утке отмечалось в разделах 3.2 и 4 I, в качестве метода экспериментального исследования напряженно-деформированного состояния рассматриваемых образцов моделей, ослабленных мягкими прослойками, использовали метод NtyapoBbix полос. При этом в соответствии с методикой, изложенной в работах /135, 141/, на плоские торцевые поверхности кольцевых образцов наносили рабочие растры с линиями, параллельными осям симметрии образца л и>< (см. рис 4 3). Испытания кольцевых образцов в контейнере проводились с фиксацией картин мларо-вых полос и V . перемещений в направлении осей х и v. Определение компонент тензора напряжений и десрормаций Од., и Ej , Уду проводили путем обработки полуденных картин муаровых полос по рекомендациям, приведенным в работах /136, 137/. [c.210]

Приемная оптическая система ОЭП преобразует излучение от объектов наблюдения, фонов, организованных оптических помех, которое проходит через слой пространства и посгупает в ее входной зрачок. Изображение, построенное огггической системой, модулируется подвижным или неподвижным растром. В результате модуляции на чувствительную площадку приемника излучения падает переменный во времени поток излучения. Приемник излучения преобразует электромагнитное излучение в электрический ток или изменение напряжения. [c.4]

Рассмотрим более подробно результат решения записанного выше интегрального уравнения Винера- пфа. Этим решением является функция h х, > ) или ее Фурье-образ - Я (Рд, Vy). Если И (х, >>) получена из уравнения (5) лрк введении фиктивного пвена, то, по существу, А (х, у) записывает функцию пропускания растра при построчном анализе изображения, причем при выбранном законе ai ализа это решение является единственным. [c.20]

Дискретный аналог функции Ф(х, у ) - матрица отсчетов Фц содержит множество значений сигнала при л обом положении растра в поле анализа, если движение растра плоскопар 1Ллельное или чисто вращательное. Выборка этих значений по закону х ( ), у () позволяет получить матрицу-столбец значений временного сигнала на выходе анализатора изображения. Однако в данном случае х (/), / (О - искомые функции. Поскольку [c.20]

Такой подсистемой может быть юдвижный и неподвижный растры, оправа приемника лучистой энергии мозаика фоторезисторов и т. п. В вырожденном случае - это неподвижная диафрагма и стоящий непосредственно за ней приемник лучист13й энергии. Методически удобно отнести к подсистеме анализатор изобр 1жения — развертывающее устройство, характеризуемое некоторым коэффициентом пропускания г и законом перемещения в поле анализа изображения, а также устройство, осуществляющее преобразование многомерного сигнала в одномерный без искажений во временной координата. Таким устройством может быть, например, безынерционный фотоприемник. В этом случае можно считать, что на вход анализатора изображения поступает сигнал в виде распределения освещенности, создаваемого либо оптической системой, либо слоем пространства. [c.60]

Если наложить нестрогое огранк ение на характер анализа изображения в проектируемом ОЭП, задача р(ализации модельного представления существенно упростится. Такое ограничение является существенным только для многоэлементных растров. [c.62]

Массив значений импульсного отклии з (растра) должен иметь размерность из восьми элементов любой из че ыргх центральных должен иметь значение 1, а остальные - 0. [c.147]

Пусть требуется щ>овести расчет свгчагга после анализатора изображения е растром в виде [c.178]

ПРИЗНАК 1=0, ПРИЗНАК 2=8, ЧИСЛО ЭЛЕМЕНТОВ ФУНКЦИИ ПРОПУСКАНИЯ NA = 0064, ЧИСЛО ЭЛЕМЕНТОВ ФУНКЦИИ ПЕРЕМЕЩЕНИЯ РАСТРА NRASTR = 128, МАССИВЫ ФУНКЦИЙ ПРОПУС КАНИЯ И ПЕРЕМЕЩЕНИЯ РАСТРА РАЗМЕРНОСТЬЮ NA И NRASTR (массивы набираются с новой строки, формат 8Е1 .3 и 16/4, соответственно) [c.179]

Если симметрия в описании указанных выше функций отсутствует, пользователь имеет возможность вводить аналитическое описание. В этом случае имеется- две возможности - ввод аналитического описания функции с помощью арифметического выражения, которое связывает все элементарные и аналитические функции, реализованные в алгоритмическом языке ФОРТРАН-4, или ввод новой фуькции с произвольно выбранным проектантом именем, но зависящей от переменных, указанных в формуляре. Во втором случае проектант может составить подпрограмму-функцию и записать ее в общую библиотеку ДУВЗ. С помощью этой подпрограммы вычисляются либо отсчеты вхс дных сигналов, либо передаточных функций, либо закона сканирования и функции пропускания растра. [c.193]

Л — лазер, М — модулятор, ОПЛ и ОБЛ — опорный н объектный лучи, 3 — затвор, ЛР — линзовый растр, УТ — управляемый транспарант, ГЗС — голографическая запоминающая среда, МФ — матрица фотэпрнемннков, ЭБУ — электронный блок управления, Д — дефлектор [c.36]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...