Ширина интерференционной полосы

ШИРИНА ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОЛОС [c.74]

Расстояние между соседними максимумами (или минимумами) называется шириной интерференционной полосы и определяется как [c.75]

Отсюда угловая ширина интерференционной полосы будет [c.110]

Ширина интерференционной полосы. Исходя из (5,32), можно также определить ширину интерференционной полосы [c.116]

График этой функции представлен на рис. 5.18. Легко заметить, что эффект определяется соотношением между шириной интерференционной полосы ( она в свою очередь зависит от апертуры интерференции 2w) и расстоянием 2d, на которое разнесены два исходных некогерентных источника света Si и S2 Функция видимости может принимать значения, близкие к единице (если 2d dh). Вместе с тем интерференционные по- [c.199]

ДИМ, что все поле зрения окрашено в один цвет — ширина интерференционной полосы больше тех угловых размеров, при которых ведется наблюдение интерференционной картины. Тонкой юстировкой относительного положения пластин можно добиться появления интерференционных полос и сосчитать их число в поле зрения. [c.223]

Для конкретности рассуждений рассмотрим схему опыта Юнга, показанную на рис. 6.48. Пусть источником света служит однородный длинный излучатель (самосветящаяся щель) шириной 2а, расположенный симметрично относительно Р и 2 на расстоянии Di. Обозначим через D2 расстояние между экранами А и В, PiP 2 тогда ширина интерференционной полосы для моно- [c.307]

Считая, что разрешение двух близких интерференционных колец наступает при 6т == к/п, где г. — ширина интерференционной полосы (см. рис. 5.55), получим в удовлетворительном приближении для разрешающей силы интерферометра Фабри—Перо [см. (5.68)] [c.323]

Идея предложенных В. П. Линником микроинтерферометров заключается в сочетании интерферометра Майкельсона с измерительным микроскопом, что позволяет получать увеличенное в нужное число раз изображение интерференционной картины в поле зрения микроскопа и измерять координатным методом вырисовывающиеся таким образом неровности с помощью обычного винтового окулярного микрометра. При таких измерениях не нужно даже предварительно определять цену деления круговой шкалы барабана окулярного микрометра она получается сама собой при сравнении размеров неровностей профиля, выраженных в делениях шкалы, с шириной интерференционной полосы, выраженной в тех же делениях, поскольку, как указывалось выше, расстояние в одну полосу соответствует размеру неровности профиля поверхности, равному половине длины волны света, т, е. обычно Х/2 0,275 мкм. [c.90]

Пример 9. При измерении глубины Я канавки на поверхности по рис. 22, б (изгиба интерференционной полосы) сделаны отсчеты по барабану винтового окулярного микрометра л 1 = 61 н лга = 79 (в делениях круговой шкалы), а при измерении ширины интерференционной полосы отсчеты Хд = 72 и 4 = 96. Требуется определить Я. Имеем А = 79— 61 = 18 дел., В = 96— 72 = 24 дел. и по формуле (94) находим [c.93]

Предметный столик поворачивается вокруг вертикальной оси и стопорится винтом 9. Для перемещения столика в горизонтальной плоскости в пределах 10 мм служат микрометрические винты 10. Цена деления шкал этих винтов 0,005 мм. Столик можно наклонять в пределах 7° относительно горизонтальной оси для изменения ширины интерференционных полос вращением барабана 8. [c.102]

Сигналы, сдвинутые на 90°, получают несколькими способами. Один из них заключается в том, что используют два фотодатчика, размещенных в различных участках интерференционной полосы, расстояние между которыми равно одной четвертой ее ширины. Для удобства практической реализации указанного способа увеличивают ширину интерференционных полос путем наклона опорного зеркала или введения в одно из плеч интерферометра оптического клина, а перед фотодатчиками помещают отверстия диафрагм. Несмотря на простоту реализации этого способа получения фазового сдвига, он обладает рядом недостатков, основными из которых являются использование лишь незначительной части суммарного светового потока, проходящего через небольшие отверстия диафрагм, и сильная зависимость величины фазового сдвига от пространственных искажений интерференционной картины, возникающих в реальных условиях из-за разъюстировки интерферометра, конвекционных воздушных потоков и т. д. и приводящих к изменению пространственного положения полос и их ширины. [c.242]

Если обращенная волна сдвинута по частоте на б/ ( 4.2), то интерференционная картина становится бегущей со скоростью и = Л/ (б /), где Л — период интерферограммы в плоскости регистрации. При этом измерения возможны, если картина регистрируется за время Дг < (б Л/Л) б/, где б Л -ширина интерференционной полосы. [c.226]

Для определения относительной ширины интерференционной полосы обратимся к рис. 10. Обозначим через л ширину полосы, которая составляет некоторую часть расстояния между максимумами л". Для точки половиной интенсивности можно считать б = 6 , + Дб, (20) [c.26]

Т. е. для относительной ширины интерференционной полосы клинообразного многолучевого интерферометра справедливо выражение (24) для плоскопараллельного интерферометра. Другие параметры — эффективное число интерферирующих лучей Ne, коэффициент пропускания 0 и контрастность К — выражаются так же, как и для случая плоскопараллельного интерферометра соответственно формулами (25), (30) и (32) Таким образом, для клинообразного многолучевого интерферометра можно использовать основные расчетные зависимости многолучевой интерференции в плоскопараллельных пластинках. [c.33]

Относительная ширина интерференционной полосы [c.37]

Найдем относительную ширину интерференционной полосы. Из выражения (72) для / = получим [c.39]

Экспериментальные данные показывают, что выигрыш в интенсивности достигает нескольких десятков раз, а относительная ширина интерференционной полосы уменьшается, последнее объясняется увеличением среднего значения коэффициентов отражения [921. [c.75]

На параметры интерференционной картины оказывают существенное влияние качество зеркальных поверхностей, величина коэффициента отражения р, постоянство оптической длины хода луча h между зеркалами. На практике удобной мерой для оценки допустимого отклонения плоскости какого-либо участка зеркальной поверхности от идеальной является равенство относительной ширины интерференционной полосы уширению интерференционного контура из-за дефектов изготовления поверхности [38]. [c.86]

Рис. 51. Зависимость суммарной величины относительной ширины интерференционной полосы от коэффициента отражения зеркал

Из условия максимума ширины интерференционной полосы следует, что [c.188]

Ширину линии падающего света можно определить, измерив ширину интерференционных полос и сравнив эти значения с расстоянием между соседними полосами той же самой длины волны. Если ширина интерференционной полосы равна Дх, а расстояние между полосами Хо,.то соответствуюш,ая ширина линии падающего света дается выражением [c.388]

Ширина интерференционной полосы Ь(е) [c.14]

Углы пересечения ш учитывают ширину интерференционных полос е [c.25]

При уменьшении угла клина а (рис. II.40, б) расстояние между интерференционными полосами, т. е. ширина полосы , будет увеличиваться и полосы будут отодвигаться от ребра клина. При увеличении угла клина а ширина интерференционной полосы уменьшается и они сдвигаются к ребру клина (рис. II.40, в). В месте прохождения каждой полосы толщина клина остается [c.362]

Ширина интерференционной полосы зависит от угла ф. Действительно, при переходе к соседнему максимуму разность хода лучей мсиястся на поэтому, обозначив соответствующее изменение угла падения через Ai, получим [c.110]

В самом общем случае суперпозиции двух произвольных электромагнитных полей Ej и Е2 (см. 5.1) было установлено, что равенство нулю среднего значения интерференционного члена исключает возможность возникновения интерференции и в этом случае интенсивности (освещенности) просто складываются. Лишь в тех областях пространства, где О, происходит интерференция. Но в 5.3 рассчитывалось наложение независимых интерференционных картин, осуществляемое с помощью простого оптического устройства. Видимость суммарной картины в некоторых случаях приближалась к единице. Это получалось тогда, когда при почти одинаковой ширине интерференционных полос максимумы одной их системы совпадали с максимумами другой. Очевидно, что этот метод пригоден и для случая Е хЕз, к изучению которого мы сейчас и перейдем. [c.203]

Найдем ширину интерференционной полосы как фу1псцию расстояния между отраж,анзп1ими слоями. Дифференцируя (3.62) и заменяя бесконечно малое приращение конечным, имеем [c.246]

Два отверстия Pj и Р2 в непрозрачном экране А также делят на два пучка световой поток, исходящий из щели S (см. рис. 6.48). Эти два пучка затем соединяются в точке Р, и в результате пространственной когерентности такой системы на экране В возникает интерференционная картина. Если для обеих установок апертура 2м интерференции одинакова, то для определения видимости интерференционной картины на экране В, получившейся при взаимодействии пучков света от отверстий Р] и Р2, можно воспользоваться формулой (5.35) для щелевого некогерентного источника света. Так как V = sinxA , где параметр X определялся отношением ширины щели 2а к ширине интерференционной полосы Л/ = kDi/d, то х = 2nadi /.Di) и видимость интерференционной картины [c.309]

Ширину интерференционных полос изменяют путем децентрирования объектива 10, а их поворот в поле зрения — поворотом того же объектива вокруг его оси. При наличии неровностей на испытуемой поверхности интерференционные полосы, как было сказано выше, соответственно искривляются. Отношение величины искривления А к ширине В интерференционной полосы оценивают визуально или с помощью винтового окулярного микрометра, а затем определяют размер Н неровности поверхности по формуле [c.92]

Фокусировку объектива 6 осуществляют (при отсутствии интерференции) с помощью накатанной микрометрической головци 23, управляющей вертикальным перемещением всей оптической системы, включающей объектив 6. Цена деления шкалы барабан головки 23 равна 3 мкм. После этого поворотом головки 22 вклю чают горизонтальную ветвь прибора и получают изображениг измеряемой поверхности и систему интерференционных полос на ней в поле зрения винтового окулярного микрометра, надетсг.э на тубус 26. Изменение ширины интерференционных полос осуществляют поворотом головки 21 вокруг ее оси, а поворот интерференционных полос — поворотом головки 21 вокруг оси механизма 20. [c.93]

Пример 10. При измерении иммерсионно-репликовым методом глубины Н канавки по реплике сделаны отсчеты по барабану jtj = 542 и = 662, а при измерении ширины интерференционной полосы — отсчеты = 542 и Жд = 635 (в делениях круговой шкалы барабана MOB). При измерениях применяли кинопленку с показателем преломления Пр = 1,486 и иммерсионную жидкость — масло с показателем преломления = 1,450. [c.96]

Для исследования и установления этой зависимости был выполнен комплекс экспериментальных работ, в процессе которых моделировался процесс износа большого числа активированных образцов из различных конструкционных материалов, активированных на типовых режимах. В процессе моделирования при истирании образцы истирались на доводочной плите, а впоследствии на машине трения типа МЭИМ-2, разработанной и изготовленной НИИМАШ (г. Минск) совместно с МВТУ им. Баумана. В процессе истирания контролировалась относительная скорость счета и величина снятого слоя (износ). Измерения износа осуществлялись интерферометром типа ИКПВ, действие которого основано на принципе двухлучевой интерференции света, возникающей без участия измеряемого объекта и действующей как масштабный механизм высокой чувствительности. Шкала прибора градуировалась путем изменения ширины интерференционных полос на цену деления в 1 мкм. Таким образом, первоначально в табличной форме получали требуемую заиисимость. [c.259]

Работу ЛДИС можно также объяснить, исходя из модели, на которую впервые указано в [223]. Согласно этой модели в исследуемой области потока при пересечении двух пучков образуется система интерференционных полос, действительных или мнимых. Рассеивающие частицы, пересекающие область локализации интерференционной картины, модулируют в рассеянном свете изображение интерференционных полос в плоскости фотоприемника. Как известно, ширина интерференционной полосы определяется формулой [c.288]

Относительная ширина ннтер-ференционнон полосы. Относительная ширина интерференционной полосы представляет собой важную характеристику интерферометра, во многом определяющую точность регистрации смещения интерференционной полосы Рис. 10. К выводу выражения для (ИЛИ изменение освещенности в относительной ширины ннтерфорсн- ноле интерференции). Примем за циониои полосы ширину интерференционной поло- [c.26]

Относительная ширина интерференционной полосы ц представляет собой отношение dxibx, поэтому с учетом выражений (46) и (47) имеем [c.33]

В окрестностях максимумов интерференции при их совпадении для рассматриваемого интерферометра так же, как для интерферометра с равными расстояниями между зеркалами, относительная ширина интерференционной полосы определяется выражением (86), коэффициент пропускания интерферометра определяется произведением коэ4)фициснтов пропускания обоих интерферометров [см. выражение (68)1. Спект зальная величина области дисперсии определяется параметрами интерферометра с меньшей толщиной 1см. выражение (65)1, контрастность интерферометра различна в зависимости от характера наблюдаемой картины. В окрестностях совпадения максимумов обоих интерферометров контрастность интерференционной картины определяется параметрами второго интерферометра 1см. выражение (70)] вдали от мест совпадения максимумов, контрастность определяется произведением контрастностей интерферометров [см. выражение (71)]. [c.40]

Если увеличение Г оптической системы 3 и 6 не равно единице, то при соблюдении условия hi/hi -= Г схема, [юказанная на рис. 15, приобретает некоторые новые свойства. В таком интерферометре [85, 86] в отличие от лвухпластинчатото интерферометра можко выделить из области дисперсн(г гонкого интерферометра дискретный ряд из — 1) полос пропускания и сузить относительную ширину интерференционной полосы. [c.41]

Существенное значение при измерениях имеет обеспечение минимальной величины относительной ширины интерференционной полосы. Если излучение лазера содержит несколько мод, то относительная ширина контура интерференции будет суммарной величиной, определяемой общим вкладом от канедой моды в отдельности. Поэтому желательно работать в одномодовом режиме, так как это дает минимальную относительную ширину полосы, и одновременно получить достаточно высокую выходную мощность, что достигается при использовании режима генерации одной угловой и нескольких аксиальных мод. Эти противоречивые требования удовлетворяются при условии, что периодичность мод и максимумов пропускания интерферометра, а также отношение длин резонатора и интерферометра являются кратными величинами. [c.177]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...