Линник

Из оптических приборов большее применение нашли двойной микроскоп и микроинтерферометр академика В. П. Линника. [c.90]

Метод Линника. Перед точечным источником 5 (рис. 4.15) расположен полупрозрачный экран с небольшим отверстием в центре экрана. Полупрозрачная пластинка пропускает фронт падающей на нее волны, несколько ослабляя ее, без искажения. Отверстие 5 , согласно принципу Гюйгенса, играет роль вторичного излучения с центром в нем. Оба фронта волны от источников S и 5i, встречаясь, дают картину интерференции. В отличие от всех предыдущих случаев в последней схеме, предложенной в 1935 г. советским ученым В. П, Линником, когерентные источники не лежат на пря- [c.84]

Последующие исследования показали, что рентгеновские лучи дифрагируют (Лауэ, 1912 г.) и интерферируют (Линник, 1930 г.), т. е. обладают свойствами волн. Были обнаружены два типа рентге- [c.157]

Понятно, что в этом случае необходимы источники света очень высокой степени монохроматичности. В. П. Линник сконструировал микроинтерферометр , представляющий собой маленький интерферометр Майкельсона, надевающийся на обычный микроскоп. Этот прибор позволяет наблюдать и измерять мельчайшие неровности поверхности и может служить для исследования качества поверхности. [c.136]

При испытании поверхностей большого размера (до нескольких метров) пробное стекло, конечно, не применимо. В. П. Линник построил интерферометр, в котором свет падает очень наклонно на большую поверхность, благодаря чему сильно уменьшается сечение отраженного пучка и становится возможным осуществлять интерференционные наблюдения. Интерферометр Линника позволяет контролировать с точностью до 1 мкм прямолинейность поверхностей длиной до 5 м. [c.147]

На рис. 9 показана схема двухлучевого микроинтерферометра Линника. В ее основу положен принцип действия интерферометра Майкельсона. Свет от источника 1 (лампа накаливания) проходит через конденсор 2 и диафрагму <3, зеркалом 4 делится на два когерентных пучка, которые фокусируются объективами 5 и 5 на эталонное зеркало в и контролируемую поверхность 7 соответственно. После отражения от эталона и изделия пучок проходит через те же элементы схемы и фокусируется линзой 8 в плоскости диафрагмы 9, в которой с помощью окуляра /О наблюдают интерференционную картину взаимодействия эталонного и рабочего пучков света. [c.67]

Техническая характеристика 140 Микроскопы Линника 72, 76 [c.483]

Идея предложенных В. П. Линником микроинтерферометров заключается в сочетании интерферометра Майкельсона с измерительным микроскопом, что позволяет получать увеличенное в нужное число раз изображение интерференционной картины в поле зрения микроскопа и измерять координатным методом вырисовывающиеся таким образом неровности с помощью обычного винтового окулярного микрометра. При таких измерениях не нужно даже предварительно определять цену деления круговой шкалы барабана окулярного микрометра она получается сама собой при сравнении размеров неровностей профиля, выраженных в делениях шкалы, с шириной интерференционной полосы, выраженной в тех же делениях, поскольку, как указывалось выше, расстояние в одну полосу соответствует размеру неровности профиля поверхности, равному половине длины волны света, т, е. обычно Х/2 0,275 мкм. [c.90]

Толщину пленки измеряли на профилографе по величине уступа, получающегося в результате экранирования части поверхности подложки во время напыления. Точность измерения составляла 50 А. Эти результаты измерений толщин сопоставляли с измерениями на интерферометре Линника И-10 примерно с той же ошибкой. С удовлетворительной точностью такими способами можно было измерять толщины пленок выше 500 А. Толщины пленок в интервале О—500 А рассчитывали по толщинам более толстых пленок, являющихся стандартом и полученных путем помещения подложки при напылении на более близком расстоянии от источника испарения металла. Предполагалось, что источник испарения точечный, так как испарение происходило из сферической капли диаметром 3—6 мм, а напыляемый образец находился на расстоянии не ближе 50 мм,. и толщина осаждаемых пленок обратно пропорциональна квадрату расстояния от источника. [c.16]

Для измерения глубины коррозии используют различные приборы. Наиболее точные измерения получают при применении оптических приборов. Глубина коррозионного поражения может быть определена с помощью обычного микроскопа методом фокусирования оптической схемы сначала на плоскость, совпадающую с верхним очагом поражения, а затем — на плоскость дна очага. По разности отсчетов на микроскопическом винте судят о глубине коррозии.. Для определения глубины коррозии может применяться также двойной микроскоп Линника или оптико-механические профилографы, например профилограф типа ИЗП-18. Преимуществами профилографа являются возможность измерения очага коррозии и получение в увеличенном масштабе фотографической записи микрогеометрии поверхности образца. По профилограмме можно судить не только о глубине, но и форме образующихся коррозионных поражений. [c.22]

Фиг. 94. Двойной микроскоп Линника.

Микроинтерферометр Линника ИЗК-46 основан на явлении интерференции света. В поле зрения прибора возникают темные и светлые полосы. Высота неровностей определяется путем измерения величины стрелы изгиба одной полосы полученный результат умножается на 0,275 мк (размер половины длины световой волны) и делится на измеренное расстояние между двумя полосами. [c.293]

Лучшими из приведенных в таблице приборов для массовых измерений в цеховых условиях в серийном производстве являются профилометр Киселева и двойной микроскоп МИС-11 Линника. Для массового производства можно рекомендовать сравнительные образцы и профилометр Киселева. [c.293]

Микроскопы двойные Линника 3 — 201 [c.157]

Линника для оценки прямолинейности образующих цилиндрических и плоских поверхностей (на длине от 0,2 до 1,7 м). [c.200]

Для определения чистоты поверхности (высоты неровностей) пользуются двойным микроскопом системы Линника. По результатам испытаний строят графики зависимости Н—V (фиг. 5). [c.282]

Радиус притупления (завала) лезвия определяется двойным микроскопом Линника, в окуляр которого вставляется специальный шаблон. [c.21]

Контроль чистоты поверхности. Для лабораторного контроля чистоты поверхности древесины наиболее пригоден метод оптического сечения плоским луком при помощи прибора акад. Линника. Заслуживает также внимания способ сравнения с эталонами, без увеличения или с малым увеличением при косом освещении — способ, применяемый для контроля особо ответственных изделий. Вообще же в производственной практике контроль качества механически обработанной древесины осуществляется преимущественно путём субъективной оценки мастера. [c.671]

Микроинтерферометр акад. Линника (ИЗК-46 MB тах О, I — I 10—la Лаборатория — [c.665]

Двойной микроскоп акад. Линника (МИС-И) MB "max а—70 3-в Лаборатория я ОТК - [c.665]

Двойной микроскоп В. П. Линника позволяет также фотографировать исследуемую поверхность с высотой неровностей от 0,9 [c.117]

При работе очень важно обеспечить однообразие качества обработки поверхностей трения и соприкосновение образцов по всей поверхности контактирования. Качество обработки образцов проверяется на двойном микроскопе Линника и доводится на чугунном притире. Для этого металлический образец закрепляется на наконечнике шпинделя, а вместо узла трения устанавливается чугунный притир. Пластмассовые образцы притираются ПО подготовленным к работе металлическим образцам в узле трения при нагрузке 100—125 кг. При этом используется то масло, которое подвергается исследованию. Притирку проводят до тех пор, пока не достигнут полного прилегания контактирующих поверхностей. После подготовки образцы два раза промываются в бензине и высушиваются на воздухе. [c.84]

Измерять грубые повреждения поверхности зубьев (питтинг, задиры) с помощью двойного микроскопа Линника. [c.220]

Полученные негативные оттиски весьма точно воспроизводят картину поверхности. Измерения с помощью микроинтерферометра Линника шероховатостей на оттиске и непосредственно на зубе показали весьма близкие результаты. [c.220]

При использовании микроинтерферометра Линника возможны измерения в монохроматическом (желтом, зеленом) и белом свете. Для определения влияния света на результат измерения были проведены замеры одной и той же шероховатости при разном освещении. Отклоне- [c.221]

Оригинал1)1 — чертежи, выполненные на любом материале и нрсдназначенные для изготовления по ним под ЛИННИКОВ (учащиеся на чертежной бумаге выполняют ор гина.лы). [c.9]

Необходимость энергетического подхода к проблеме трения и изнашивания отмечалась еще в конце 20-30-х годов в работах П.А. Ребиндера и Н.Н. Давиденкова [50, 51] Однако реальное развитие энергетический подход получил только в конце 80-х годов в работах Б.И. Кос-тецкого и Ю.И. Линника по исследованию энергетического баланса при [c.106]

В пневматическом способе используется истечение воздуха через стык (пневматический прибор акад. В. П. Линника), образованный при контакте щероховатой поверхности с соплом камеры [36]. [c.28]

Метод профилографирования заключается в оценке износа по профилограммам, снятым на определенном участке до и после изнашивания. Его рекомендуется использовать при стандартных испытаниях покрытий на изнашивание при фреттинг-коррозии [167]. Находят расстояние между средними линиями профиля и на основании полученных данных вычисляют интенсивность изнашивания с погрешностью не более 1-10 . Применяются профилограф-профило-метр модели 253 или оптические приборы двойной микроскоп, микроинтерферометр Линника и т. д. Износ методом профилографирования определяется обычно на образцах и деталях несложной формы с достаточно хорошо обработанной поверхностью. [c.98]

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Серийно изготовляемые промышленностью приборы (профило-метры модели 240, профилографы-пррфилометры модели 201 завода Калибр , микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-5, МИИ-9, МИИ-10, двойные микроскопы акад. Линника В. П. — МИС-11) позволяют непосредственно измерять шероховатость поверхности или производить ее запись (профилограммы). Подробное описание их дано в специальных работах [11, 19, 32]. [c.47]

Для дополнения картины изменений на поверхности трения следует знать вид и величину микронеровностен этой поверхности. Для этой цели можно использовать специальные приборы, например, двойной микроскоп Линника МИС-11 и микроинтерферометр МИИ-4 или МИИ-5. [c.55]

Для контроля матовых поверхностей с нерегулярно расположенными микронеровностями (например, штамповка) акад. Линник предложил микропрофи-лометр, вытягивающий нерегулярные неровности в одну прямую линию, на которой и производится измерение Н р. [c.293]

Профилометр типа Аббота не применяется для оценки грубых поверхностей (расстояние между неровностями более 0,3 мм об) из-за ог-раничениостичастотной характеристики усилителя. Двойной микроскоп Линника непригоден для оценки шлифованных и доведённых поверхностей, так как может измерять высоту неровностей не менее 1—2 Микроинтерферометр Линника способен оценивать лишь тонко обработанные поверхности от 8-го до 14-го класса (см. табл. 17). [c.23]

Двойной микроскоп Линника. Приборы акад. Линника, измеряющие Wmax (двойной микроскоп и микроинтерферометр), нашли достаточное применение. [c.24]

Микроинтерферометр Линника. Для оценки микрогеометрии поверхностей после отделочных операций служит микроинтерферометр Линника с тремя головками первая — для поверхностей высотой неровностей от нуля до 1 мк (хонинг, притирка, суперфиниш), вторая — от 1 до 8 (тонкое точение, шлифование) и модель ИЗК-46 от 0,1 до 6 мк. Увеличение в первой головке от 280 до 600 (в зависимости от увеличения окуляр-микро-метра), увеличение во второй головке — от 56 до 120. [c.24]

Для определения качества обрабатываемой поверхности следует иметь микроскоп Линника и профилометр Аббота. [c.373]

При изучении влияния на износ зубьев свойств масел глубина образующихся рисок при качественных маслах обычно не превышает 1 мк за 50 часов испытания. Для определения такого износа разрешающей способности мичроинтерферометра Линника (МИИ-4) вполне достаточно. В случае большего износа и более грубых изменений шероховатости возможно применение двойного микроскопа Линника. [c.221]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...