Отражение от поверхности металл

Поляризация света при отражении и преломлении на границе раздела диэлектрик — металл. Так как для металлов п является комплексной величиной, то, согласно формулам Френеля, амплитуды как преломленной, так и отраженной волны окажутся комплексными. Это означает, что между компонентами отраженной (а также и преломленной) волны и падающей возникает разность фаз. Эта разность фаз для s- и р-компонент не является одинаковой, поэтому между S- и р-компонентами отраженной (а также преломленной) волны возникает определенная разность фаз, приведшая к эллиптической поляризации отраженной от поверхности металла волны. Как известно из раздела механики курса общей физики , сложение двух взаимно перпендикулярных колебаний с отличной от нуля разностью фаз между ними в общем случае приводит к так называемой эллиптической поляризации , В эллиптически поляризован- [c.63]

В общем случае коэффициент отражения от зеркальной поверхности диэлектрика описывается формулами Френеля. При анализе отражения от поверхности металлов необходимо учитывать комплексный характер этого коэффициента, обусловленный большой поглощательной способностью металлов. [c.50]

При эталонировании чувствительности не учитывается возможное влияние флуктуаций коэффициента прозрачности контактирующего слоя на реальную чувствительность контроля сварных соединений. Установлено, что чувствительность практически не зависит от толщины слоя контактирующей среды между наклонным преобразователем и поверхностью проката. Однако контактирование поверхности металла с жидкостью может привести к снижению чувствительности контроля при прозвучивании соединения отраженным лучом. Действительно, при каждом отражении от поверхности металла интенсивность УЗ-волны, а следовательно, и амплитуда эхо-сигнала от выявляемого дефекта сни- [c.228]

В полярископе V-образного типа (фиг. III. 48, а) поляризатор и-анализатор располагаются рядом расстояние между ними и моделью определяет угол между падающими и отраженными лучами [80]. Недостатком полярископов этого типа является то, что падающие и отраженные от поверхности металла лучи проходят по разным путям. Это может вызвать значительные погрешности в областях со значительным градиентом деформаций. [c.242]

Измерение эллиптической поляризации света, отраженного от поверхности металла при наклонном падении линейно поляризованного света, лежит в основе предложенного Друде экспериментального метода определения оптических характеристик них металла. Теория связывает м и х с эксцентриситетом и положением осей эллипса колебаний. По данным измерений этих величин можно рассчитать них. Наибольшая чувствительность метода (и одновременное упрощение расчетных формул) достигается при определенном угле падения (главном угле падения, играющем при отражении от поглощающих сред ту же роль, что и угол Брюстера при отражении от прозрачных сред). В большинстве случаев он лежит вблизи 70°. Для этого угла отраженный свет имеет круговую поляризацию, если соответствующим образом подобрать направление поляризации падающего света. [c.163]

Рис. 12. Схема хода лучей прн отражении от поверхности металла с прозрачной пленкой и возникновение явления интерференции

Отражение от поверхности металлов [c.65]

ОТРАЖЕНИЕ СВЕТА ОТ ПОВЕРХНОСТИ МЕТАЛЛА [c.60]

ОТРАЖЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ ОТ ПОВЕРХНОСТИ МЕТАЛЛА. КОМПЛЕКСНЫЙ ПОКАЗАТЕЛЬ ПРЕЛОМЛЕНИЯ [c.100]

Закончим изложение физических явлений, связанных с отражением электромагнитной волны, рассмотрением причин возникновения давления света. Расчет этого весьма общего явления впервые был проведен Максвеллом для случая отражения световой волны от поверхности металла. Экспериментальное подтверждение расчета П. Н. Лебедевым сыграло большую роль в утверждении электромагнитной теории снега. [c.107]

Идея метода Друде заключается в следующем. При отражении плоской волны от поверхности металла по- [c.27]

При вводе УЗК со стороны металла выявляемость дефектов улучшается с увеличением коэффициента отражения от поверхности ввода УЗК и уменьшением коэффициента отражения от внутренней границы металла. Значение можно увеличить применением преобразователя с полуволновым пьезоэлементом без демпфера, входной импеданс которого на резонансной частоте Zbx О- Радикальным способом повышения / является использование бесконтактных (например, ЭМА) преобразователей. Значение / ин уменьшается с увеличением отношения характеристических импедансов пластика 2пл и металла Zn,. Наиболее четко выявляются дефекты типа нарушения адгезии клея к металлу, когда Ь [c.305]

Особенности и специфика ультразвукового метода контроля рассмотрены выше. Следует подчеркнуть, что наиболее широкое распространение на практике получил эхо-метод. Он связан с анализом отраженного от поверхности несплошности ультразвукового сигнала, вводимого в металл. [c.70]

Микроскопический метод исследования с помощью светового потока. Направляя луч монохроматического света через специальную линзу микроскопа на отражающую плоскую поверхность металла под углом 45°, с помощью другой линзы можно наблюдать отраженное изображение. При неровной поверхности световые лучи отклоняются на величину, пропорциональную высоте неровностей поверхности. Таким образом, если с небольшой площади поверхности полностью удалить металлическое покрытие и направить на этот участок луч света, то отклонение луча даст абсолютную величину толщины покрытия. В случае прозрачных покрытий, т. е. неметаллических (таких, как чистые оксидные покрытия, образуемые анодным окислением алюминия), получают отражение от поверхности как покрытия, так и основного металла, без снятия покрытия. Данный метод не приводит к нарушению покрытия. [c.140]

В отличие от диэлектриков все металлы характеризуются наличием свободных электронов проводимости. Под действием падающего на металл излучения в металле индуцируются вынужденные колебания свободных электронов, которые создают сильную отраженную волну, исходящую от поверхности металла в окружающее пространство. [c.59]

Сравнивая оптические свойства диэлектриков и металлов, следует отметить, что свободные электроны в металлах приводят к практически полному отражению электромагнитных волн от поверхности металлов, чем и объясняется их характерный блеск. Напротив, электромагнитные волны оптической частоты легко проникают в диэлектрики, причем большинство диэлектриков оптически прозрачны (окраска и непрозрачность некоторых из них объясняются наличием поглощающих свет ионов и примесей или рассеянием света на неоднородностях структуры). [c.11]

Для металлов при нагревании характерно увеличение частоты рассеяния, а также уменьшение эффективной массы свободных носителей [4.11]. Концентрация носителей в металлах остается практически неизменной. На рис. 4.3 показано, как изменяется с температурой коэффициент отражения света с разными длинами волн от поверхности металлов (Ап, Си, [c.97]

Температура, определяемая с помощью зондирующего светового пучка, характеризует область, размеры которой в плоскости образца обычно совпадают с размерами светового пятна, а размер в глубину близок к толщине (/г) слоя, в котором формируется сигнал. Для некоторых методов (например, основанных на измерении коэффициента отражения или параметров поляризации света) значение /г совпадает с глубиной 3 проникновения света в материал. Для металлов, облучаемых светом видимого диапазона, 6 34-30 нм, т. е. порядка 54-50 постоянных кристаллической решетки. Для полупроводников и диэлектриков в области поглощения 3 0,014-10 мкм в области прозрачности 6 14-100 см (отражение от поверхности в этом случае формируется в слое толщиной порядка нескольких длин волн). В ряде методов (например, интерферометрическом, а также по положению края поглощения света в кристалле) определяется температура, усредненная по толщине прозрачного или полупрозрачного образца, имеющего форму плоскопараллельной пластины. [c.198]

Как известно, цвета побежалости есть явление оптическое, а не следствие окраски продуктов коррозии, образующих пленки. Цвета побежалости появляются в результате интерференции лучей света, отраженных от поверхности пленки и от поверхности металла (рис. 4). [c.13]

В этом случае (3.25) дает / =1, т. е. отражение от поверхности идеального проводника полное. Наложение отраженной волны на падающую приводит к образованию стоячей волны, в то время как в металле напряженность поля убывает в е раз на расстоянии /=Ящ/(2лх) от поверхности (см. задачу). [c.164]

При наклонном падении пучка, как и в случае диэлектрика, следует рассматривать две его составляющие, из которых одна поляризована в плоскости падения, а другая в плоскости, ей перпендикулярной. Коэффициенты отражения этих двух лучей мало отличаются один от другого, и зависимость их от угла падения тоже невелика. В некоторых случаях существенно то, что, отражаясь от поверхности металла, обе эти составляющие изменяют фазу своих колебаний и притом различно. Поэтому если на зеркало падает поляризованный свет, плоскость поляризации которого составляет, например, 45° с плоскостью падения, то отраженный луч будет поляризован эллиптически, т. е. он не может быть погашен призмой-анализатором или поляроидом. [c.84]

Ультразвуковой метод позволяет выявить внутренние дефекты в деталях и полуфабрикатах больших сечений. Метод основан на способности ультразвуковых колебаний отражаться от поверхности внутренних неоднородностей среды. Благодаря своей способности проникать в металл на большую глубину и высокому коэффициенту отражения от границы металл — воздух, ультразвуковые колебания нашли широкое применение [c.321]

Коэффициенты и определяются в зависимости от характера отражения от поверхности. Для случая керамического слоя и металлической поверхности (рис. 13, г) отражение от металла и поверхностного слоя керамики считаем диффузным, тогда коэ( ициенты [c.150]

Опыты Вавилова 348, 349 Освещенность 14 Отражение 4, 47, 60 —, аакон 47, 48, 168, 169 —, коэффициент 52, 53, 65, 102 Отражение от поверхности металла 60, 61, 63 [c.428]

Физ. проблема совр. Э. заключается в уточнении связи параметров поляризации со свойствами среды. Формулы Френеля получены из граничных условий на геом. плоскости, разделяющей однородные сплошные среды, и поэтому являются первым приближением. Микроскопич. расчёты показывают, что отражённая волна формируется в неск. приповерхностных молекулярных слоях и содержит информацию именно о них связь с параметрами вещества в объёме должна устанавливаться теоретически (см. Поверхность). Так. при отражении от поверхности металла необходимо иметь в виду, что здесь имеется два физически выделенных поверхностных слоя один обусловлен шириной потенциального барьера и областью пробега отражённых от него электронов, а другой—текстурой, возникшей при обработке поверхности. Второй может быть устранён спец. приёмами, напр, ионной бомбардировкой, электрополировкой и др. связь свойств первого со свойствами в толще определяется уже теоретич. соображениями. Из формул Френеля следует, что линейно поляризованный свет, отражаясь от поверхности прозрачной среды, остаётся линейно поляризованным, однако сам факт дискретности структуры среды влечёт за собой возникновение нек-рой, очень небольпюй (Л/а 0" ), эллиптичности, Теоретически и экспериментально [3] было показано, что на [c.609]

НЫЙ метод, позволяющий обнаружить и измерить чрезвычайно тонкие пленки. Он заключается в исследовании изменений, которые претерпевает луч поляризованного света при своем отражении от поверхности металла, имеющей пленку. Полученные Тронстадом результаты определения толщины пленок приведены в табл. 1. [c.13]

I ормулы Френеля (3.8) — (3.9) остаются в силе и для волн, отраженных от поверхности металла, если в них рассматривать соБфг как комплексную величину, определяемую законом преломления (3.4) [c.162]

Допустим, что электрон столкнулся с поверхностью металла и провзаимодействовал с атомом в момент времени После отражения от границы металла средняя диффузионная скорость Ух изменяется по закону лУО/ур 1 - 1о), где О = у г — коэффициент диффузии. Величина асимметрии убывает со временем по закону Среднее значение этой величины за время т равно приближенно (те/т) и при Те т оно мало. Но следует учесть еще эффект повторных отражений от поверхности металла. [c.260]

Идею метода Друде можно сформулировать следующим обра-зом при отражении электромагнитной волны от поверхности металла получается эллиптически поляризованная волна и поэ- [c.102]

Диффузное рассеяние. До сих пор мы при вычислении глубины проникновения предполагали, что отражение электронов от поверхности металла происходит зеркальным образом. Рассмотрим теперь другой предельный случай, когда электроны отражаются диффузно. Что происходит в этом случае, можно легко выяснить, если воспользоваться результатами работы [13] по аномальному скин-эффокту. Если бы мы переписали уравнение (4.10), определяющее ток j в координатном представлении, то, как мы уже говорили, оно имело бы следующий вид [c.904]

Толщины пленок можно определять, когда они создают интерференцию в видимой части спектра. Точность этого способа ограничивается разными факторами. Например, существует сдвиг по фазе в ре льтате отражения света от поверхности металла, ц может изменяться в зависи1мости от толщины пленки и др. Для уточнения оценок используются цветовые компараторы, производится измерения в проходящем свете через отделенную от металла пленку и др. С помощью метода интерференции было успешно проведено много работ по определению толщины пленок. В табл. 5 пред- [c.55]

Из приведенных рисунков и других материалов видно, что отраженное от поверхности излучение имеет почти во всех случаях направленный характер. Максимальная интенсивность отр9 женного излучения близка к направлению зеркально отраженного лучй. Наиболее диффузно отражают пористые и волокнистые тела. Для поверхностей диэлектриков направленность излучения получается менее выраженной, для металлических поверхностей кривые более вытян ( ты. При этом наблюдаются узкие пики в сторону зеркально о отраженного луча, т. е. отражение приближается к характеру зеркального. На характер отражения большое влияние оказывает состояние поверхности. Для гладких полированных поверхностей металлов о. ражение получается практиче- [c.92]

Диэлектрические мультислои широко применяются в электрооптических устройствах для уменьшения отражения от поверхности, получения полосовых фильтров или увеличения отражательной способности при определенных длинах волн [16, 17]. Создание таких сред при помощи испарения или напыления возможно на многих подложках (стекла, полимеры, металлы, композитные материалы) [18] (рис. 3.7). Простейший мультислой представляет собой стопу четвертьволновых пластинок, каждая из которых имеет оптическую толщину nd = Хо/4. В современных системах вместо одинаковых четвертьволновых пластинок используют слои со слабо изменяющейся толщиной, поскольку это позволяет обеспечить лучшее управление пропускатель-ной способностью в широком частотном диапазоне. При изготовле- [c.170]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...