Интерференция линий

Роль размера источника. Различные точки источника излучают некогерентно. Однако интерференционные картины, образуемые любой точкой источника при отражении поя одинаковым углом, идентичны друг другу и не зависят от точки поверх ности Пленки, в которой произошло отражение. Интерференционные полосы от излучения различных точек источника накладываются друг на друга без смазывания картины интерференции. Следовательно, конечность размеров источника не смазывает картину интерференции линий равного наклона и не является ограничивающим интерференцию фактором. [c.182]

Изотопические соотношения 44, 46 Изотопический эффект 44 Интенсивность излучения 111, 119 Интенсивность линии поглощения 43, 65, 163 Интерференция линий 92 [c.244]

Sa, = 0,40т 11 — линия интерференции з бьев. [c.28]

При нарезании колес с малым числом зубьев по методу обкатки может оказаться, что головки зубьев инструмента врезаются в ножки зубьев изготовляемого колеса (рис. 183, а). Такое явление сопровождается срезанием части эвольвентного профиля и ослаблением ножки зуба в сечении, где наблюдается наибольшее напряжение изгиба. Срезание части номинальной поверхности у основания зуба обрабатываемого колеса в результате интерференции (наложения) зубьев при станочном зацеплении получило название подрезания зуба. Подрезание возникает тогда, когда линия (или окружность) вершин инструмента (без учета закругленной части, оформляющей дно впадины и переходную кривую и не участвующей в образовании эвольвентного профиля) пересекает линию зацепления в точке Ах за пределами активной линии зацепления, т. е. за точкой М [c.274]

Интерференция в рабочем зацеплении отсутствует, если использовать конгруэнтную производящую пару. Производящая пара обеспечивает касание боковых поверхностей зубьев по линии, так как совпадают станочные мгновенные контактные линии. [c.357]

Интерференция волн (случай, когда колебания в слагаемых волнах происходят вдоль одной линии). Волны называются когерентными, если в произвольной точке их встречи разность фаз колебаний остается постоянной. Монохроматические волны одинакового периода и частоты всегда являются когерентными. [c.71]

Через интерферометр, состоящий из двух полупрозрачных (П и П ) и двух непрозрачных зеркал П и Я4) пропускается свет от источника сплошного спектра. Интерференционная картина, полученная в виде горизонтальных полос, с помощью линзы Лз проектируется на щель спектрографа. Спектрограф располагается так, чтобы щель его была направлена перпендикулярно к горизонтально расположенным полосам интерференции. В обе ветви интерферометров вводятся две одинаковые кюветы и Т . В одну из кювет (расположенную внутри вакуумной печи) вводится исследуемый материал, в данном случае пары натрия. Путем нагрева до нужной температуры можно получить пары натрия при необходимом давлении. Вторая кювета откачивается. Если кювета с металлом не нагрета, то из-за отсутствия паров натрия нулевая полоса (полоса, для которой разность хода двух интерферирующих лучей равна нулю) будет прямолинейной и пройдет через середину перпендикулярно расположенной щели спектрографа. Выше и ниже этой легко отличимой от других ахроматической полосы располагаются полосы первого, второго порядков и т. д. Так как расстояние между полосами тем больше, чем больше длина волны, а линии дисперсии интерферометра (линия дисперсии направлена вдоль оси у) и спектрографа (линия дисперсии направлена вдоль оси х) взаимно перпендикулярны, то в результате действия обоих приборов в пло- [c.266]

Интерференцией зубьев называется всякое неправильное касание профилей вне активного участка линии зацепления, т. е. явление, когда траектория кромки одного зуба в относительном движении пересекает профиль сопряженного зуба. При этом зуб одного колеса врезается в тело зуба другого колеса. Это имеет место [фи работе пары зубчатых колес и обычно называется внедрением профилей, как и при нарезании методом обката, когда происходит подрезание зубьев обрабатываемого колеса. [c.114]

Если наблюдать интерференцию при излучении высокой монохроматичности, например освещать пластину светом одной линии линейчатого спектра, ширина которой обычно не превышает = 0.01 А, то допустимая толщина пластины возрастет в 10 раз. В оптических экспериментах часто применяют яркую зеленую линию ртути, которую легко выделить из спектра ртути соответствующим фильтром. В этих условиях не представляет труда наблюдать интерференционную картину со стеклянными пластинами толщиной в несколько сантиметров, которые и используются в различных интерферометрах. [c.213]

В интерферометре Рождественского используются относительно невысокие порядки интерференции. Первоначальная юстировка проводится по нулевой полосе , соответствующей А = 0. Правда, в последующих измерениях дисперсии паров обычно вводят дополнительную разность хода и исследуют интерференционные кривые более высоких порядков. Этот прибор, предназначенный для точных измерений изменения показателя преломления газов или паров вблизи линии поглощения, рассчитан на исследование интерференционной картины в разных длинах волн. Поэтому обычно интерферометр освещают источником непрерывного спек- [c.224]

Опыт показывает, что при использовании в качестве источника света свечения разреженного газа длина когерентности для отдельных спектральных линий этого газа не превышает нескольких десятков сантиметров. Лазерные источники света (см. гл. ХЬ) позволяют наблюдать интерференцию при разности хода в несколько километров. Однако практический предел разности хода, при которой возможно наблюдение интерференции, ограничивается уже не длиной когерентности лазерных источников света, но трудностями создания стабильной интерференционной схемы подобных размеров и неоднородностью земной атмосферы. [c.93]

L (см. рис. 39.10), служащей осью узкого пустотного канала в однородном прозрачном веществе с показателем преломления п. Каждая точка линии OL, последовательно занимаемая движущимся электроном, является центром испускания света, но с запозданием, определяемым величиной X = а/и, где а — расстояние между двумя рассматриваемыми положениями электрона. Для того чтобы все волны, исходящие из этих последовательных положений, усиливались в результате взаимной интерференции, необходимо, чтобы разность фаз между ними была равна нулю при любом значении а. Из рис. 39.10 нетрудно увидеть, что это будет иметь место для направления, составляющего угол б с направлением движения электрона, причем 6 определяется из условия [c.763]

Возможно ли получение в белом свете интерференционной картины по схеме рис. 26.22 при любой толщине исландского шпата Вычислить разность хода для пластинки исландского шпата, вырезанной параллельно оси, при толщине 5 мм. При каких толщинах возможно наблюдение интерференции с ртутной линией, для которой к/АХ = 400 000 [c.893]

В этом случае волны от двух источников в любой точке пространства будут накладываться друг на друга, причем в некоторых местах, где фазы волн совпадают, произойдет удвоение амплитуд, а в некоторых, где фазы волн противоположны, амплитуда окажется равной нулю. Интерференцией называется явление наложения волн, в результате которого образуются устойчивые области усиления и ослабления амплитуды колебаний. Это показано на рис. 1, где сплошными линиями обозначены области, имеющие удвоенную амплитуду колебаний, штриховыми — области, где амплитуда колебаний равна нулю. В любой другой точке амплитуды будут иметь промежуточные значения. Такая картина распределения амплитуд колебаний называется интерференционной. [c.10]

Метод рентгеновского гониометра. Рентгенограмма вращения не всегда позволяет получить полную информацию об интерференционной картине. Дело в том, что в некоторых случаях при исследовании методом вращения вследствие симметрии кристалла в одно и то же место фотопленки попадает несколько интерференционных лучей. Этого недостатка лишен метод рентгеновского гониометра. В этом методе используют монохроматическое излучение, кристалл вращают вокруг выбранной оси, кассета с цилиндрической пленкой движется возвратно-поступательно вдоль оси вращающегося кристалла, поэтому отражения разделяются по их третьей координате. Снимают не всю дифракционную картину, а с помощью определенного приспособления вырезают одну какую-нибудь слоевую линию, чаще всего нулевую (рис. 1,48). При таком методе съемки каждый интерференционный рефлекс попадает в определенное место на пленке и наложения рефлексов не происходит. С помощью такой развертки, используя сферы отражения, определяют индексы интерференции и по ним устанавливают законы погасания (см. выше). Затем по таблицам определяют федоровскую пространственную группу симметрии, т. е. полный набор элементов симметрии, присущий данной пространственной решетке, знание которого в дальнейшем облегчает расчеты проекций электронной плотности. Далее определяют интенсивности каждого рефлекса, по ним — значения структурных амплитуд и строят проекции электронной плотности. [c.52]

С другой стороны, в точках, к которым обе волны придут со сдвигом фаз в нечетное число л, т. е. в противоположных фазах, обе волны ослабляют друг друга и амплитуда результирующей волны будет минимальной. Это будет иметь место в точках, для которых расстояние от обоих источников отличается на нечетное число полуволн. Следовательно, точки, в которых амплитуда результирующей волны падает до минимума, также лежат на гиперболах, расположенных между гиперболами максимумов (на рис. 456 изображены тонкими линиями). В результате получится интерференционная картина, содержащая ряд максимумов и минимумов, чередующихся между собой. Эта картина может быть получена на поверхности воды в результате интерференции двух круговых волн, возбуждаемых двумя шариками, укрепленными на одном вибраторе (рис. 457). [c.710]

Отсутствие интерференции между решеткой и потоком со сверхзвуковой осевой составляющей скорости и главным образом возможность склеивания сверхзвуковых течений по линиям слабых и сильных разрывов послужили основой для разработки различных способов решения обратной задачи — построения сверхзвуковой решетки, поворачивающей поток на заданный угол. Один из методов построения таких решеток, указанный С. И. Гинзбургом в 1950 г., основан на использовании в общем случае системы косых скачков на входе и последующих течений Прандтля — Майера 2). Примеры такого типа решеток представлены на рис. 10.57. Они носят лишь учебный характер. [c.78]

При некогерентном освещении световые колебания от разных участков щели совершаются с различными, случайно распределенными фазами. Интерференции волн от элементарных зон щели в таком случае не происходит. Освещенности, создаваемые элементарными зонами в фокальной плоскости, просто суммируются, а в распределении освещенности по контуру линии не наблюдается дополнительных интерференционных максимумов. Почти некогерентное освещение можно получить с помощью одной конденсорной линзы при четкой фокусировке на щель прибора, когда [c.21]

Расчет интерферограмм. Полагая в формуле (2.46) —ф2/2, легко получить выражение для разности частот компонент V и V спектральной линии, принадлежащих одному порядку интерференции т [c.80]

Промер интерферограммы производят на компараторе ИЗА-2 или на измерительном микроскопе МИР-12. Измеряют положения всех трех компонент линии в нескольких порядках интерференции. Расчет частотных интервалов производят по методу односторонних полос. Результаты усредняют по 4—5 порядкам. Находят среднюю ошибку измерений. [c.85]

Приближенное определение коэффициента интерференции /Ст, а также координаты центра давления на корпусе с учетом влияния сжимаемости, длины хвостового участка корпуса и сужения консоли можно осуществить непосредственно, рассмотрев область переноса нормальной силы в виде участка плоской поверхности (рис. 2.3.1,б,в). Течение здесь рассчитывается как поток около изолированной консоли полубесконечного размаха. В соответствии с данными линеаризованной теории перепад коэффициента давления, индуцированного таким крылом со сверхзвуковой передней кромкой на участке между линиями Маха, исходящими из начала и конца бортовой хорды, равен [15] [c.164]

Ранее мы полагали, что в точке встречи когерентных волн колебания и Еп направлены вдоль одной линии. Подобное предположение не должно создавать ложного представления у читателя о том, что якобы интерференция когерентных волн возможна только при одинаковой (вдоль одной линии) направленности колебаний. В случае суперпозиции двух когерентных вол н с напряженпостями и Ё.,, направленными друг относительно друга произвольно, для средней иитенсивиости имеем [c.73]

Пусть имеем два когерентных точечных источника 5i и Sj, расположенных друг от друга на расстоянии /. Рассмотрим интерференцию волн, исходящих от этих источииков, на экране Э, расположенном параллельно линии S1S2 и отстоящем от нее на расстоянии L, сильно превышающем I (т. е. L /). Световые пучки, исходящие от Si и S , дают интерференционную картину в области их перекрывания. [c.74]

Интерференция поляризованного света. До сих пор мы рассматривали взаимодействие двух световых лучей с колебаниями, происходящими во взаимно перпендикулярных направлениях, распространяющихся вдоль одной линии. Возникает естественный вопрос будет ли наблюдаться отличное от рассмотренного выи.1е явление, если оба луча являются взаимно когерентными и электрические векторы в них колеблются вдоль одной прямой Практически такой случай можно реализовать на установке (рнс. 9.21), где между двумя НИКОЛЯМИ Л/i и N-, расположена кристаллическая пластинка Я, вырезанная из одноосного кристалла параллелыю оптической оси. Параллельный пучок естестветюго спета, паправлеиный на николь Л/х, превращаясь в лине11н0- поляризованный, падает на пластинку П перпендикулярно ее поверхности. При нормальном падении пучка лучей на пластинку из одноосного кристалла, оптическая ось в которой параллельна преломляющей поверхности, возникающие [c.240]

II приемник, одинаково реагирующий на излучение любой длины ыолны, то наблюдать интерференцию световых волн невозможно, гак как в любой точке экрана, удаленной от оси симметрии на расстояние h = mDX(2l), окажется максимум освещенности в какой-то длине волны Возможность наблюдения интерференционной картины в видимой области невооруженным глазом объясняется тем, что глаз уже явJtяeт я своеобразным монохро-.датором. В среднем человек способен различить две спектральные линии с разностью длин волн Ал = ЮОА. [c.212]

Для управления делительной машиной, контроля и исправления ошибок в процессе нарезки решетки используют явление интерференции. Один из вариантов этого метода основан на том, что перемещение дифракционной решетки в процессе ее изготовления непрерывно измеряется автоматическим устройством, в котором датчиком линейного перемещения служит специальный интерферометр, состоящий из нарезаемой и эталонной ре-uieTOK, Далее действует сложная схема обратной связи, позволяющая регулировать перемещение нарезаемой решетки, на которую алмазным резцом наносят штрихи вполне определенного профиля (рис. 6.43). Применение интерференционного метода позволило практически исключить различные ошибки, служащие причиной возникновения ложных линий (духов) в спектре дифракционных решеток. [c.301]

При рассмотрении интерференции света (см. гл. Ь) указывалось, что во. чногих практически важных случаях (iianpn.Mep, при свечении плазмы низкого давления) уширение спектральной линии в основном определяется изменением наблюдаемой частоты, связанным с хаотическим движением излучающих атомов. Такое уширение линии, легко наблюдаемое на опыте, является [c.382]

В эксперименте интерферометр освещался светом неон-гелиевого лазера, излучающего одну частоту. Это позволило удалить подвижное зеркало М2 на несколько метров и продемонстрировать возможность наблюдения интерференции при столь большой разности хода, так как длина когерентности для лазерного излучения значительно больше Lkq,- 3 30 см, характерной для обычных источников света. Но очевидно, что если зеркало М2 будет передвигаться на расстояние, меньшее 1-ког ( о близко к нулю — световые пути внутри интерферометра примерно равны, Д/ изменяется в пределах нескольких сантиметров), то анало гичная интерференционная картина будет наблюдаться при освещении интерферометра светом обычного (нелазерного) источника, например спектральной линией, излучаемой газоразрядной плазмой, с шириной й/.дои В этом убеждают нас, в частности, классические опыты Майкельсона, который измерял видимость V интерференционных колец при постепенном увеличении разности хода, создаваемой перемещением зеркала М2. Но если при остановках зеркала М наблюдалась стационарная интерференционная картина, то при его движении в указанных пределах неизбежно должен возникать плавный переход от одной стационарной картины к другой, т.е. ее изменение во времени, и появится бегущая интерференционная картина. [c.396]

Можно продолжить перечисление технических трудностей, появляющихся при наблюдении сигнала биений, возникающего при освещении интерферометра уширенной спектральной линией, но они ничего не меняют в принципиальной постановке проблемы. Бесспорно, задав тем или иным способом корреляцию между двумя исследуемыми волнами, можно наблюдать их интерференцию. Если частота о>2 задается равномерным движением зеркала, от которого отражается часть исследуемого излучения, то будет происходить интерференция любой волны с частотой roi, лежащей в пределах контура спектральной линии, с другой волной частоты (02, отличающейся от частоты первой на разностную частоту 2л/. Тогда будет наблюдаться сигнал биений, который позволяет определять сколь угодно малую скорость движения зеркала, так как можно зарегистрировать очень малые изменения интерференционной картины. Та минимальная скорость v, которую еще можно измерить, определится условиями опыта. Е1о, конечно, это будут значения на много порядков меньше, чем те громадные скорости, о которых шла речь ранее. Приведенная выше оценка точности астрономических измерений лучевой скорости по эффекту Доплера (и 1 км/с) соответствует сравнению никак не скоррелированных источников света, которыми являются исследуемая звезда и какой-то земной источник света, излучающий ту же спектральную линию. [c.397]

Проведенное рассмотрение также сможет в какой-то степени подготовить читателя к пониманию открывшихся за последнее время возможностей реализации исключительно точных оптических измерений, которые проводмгся < Под крышей допле-ровской линии . Изложение таких современных методов оптической спектроскопии (интерференция агомнь х состояний, некоторые способы лазерной спектроскопии) в рамках этой книги, к сожалению, невозможно. [c.398]

Точки и — изображения излучающего центра 5, получаемые с помощью оптической системы интерферометра, не показанной на чертеже ). Эти точки могут быть как действительными, так и мнимыми изображениями точки 5. В частности, 5 может совпадать с одной из этих точек (схема Ллойда, см. ниже рие. 4.8). Апертура интерференции 2 и связанный с нею угол 2йу определякя допустимый размер источника света, ширина которого обозначена через 2Ь (см. рис, 4.5). Для расчета интерференционной картины в любом интерферометре достаточно знать взаимное расположение 5 и 5а и их положение относительно экрана ЕЕ. Если экран ЕЕ расположен перпендикулярно к линии 515а, то, как явствует из 13, интерференционные полосы будут представлять собой концент- [c.73]

Параллельные черные линии представляют собой результат интерференции световых пучков, отраженных от двух зеркал они пересекают дифракционное изображение звезды в объективе телескопа, прикрытом экраном О (см. рис. 9.13). При соответствующем раздвшке-нии зеркал 1 и интерференционные полосы исчезают, и остается дифракционное изображение звезды. [c.197]

В отношении ППС дольней зоны возможны хорошо описанные в литературе механизмы интерференции поля наведенных ЭМ волв проводимости в металле с полем лазерного излучения. Тем не менее возникновение самого поля лазерного Излучения на удалениях от линии гравировки В несколько раз превышающих размеры фокильною пятна связывается с рассеянием на фронте УВ, описанной выше. Ссы-падение же периодов этих ППС с периодами ближней зоны позволяет предполагать, что и в этих условиях действует автоколебательный процесс рассеяния. Но рассеянию подвергается более интёнсивыяк часть пучка излучения, а само рассеяние имеет более простую кольцевую геометрию. Таким образом ППС становятся более регулярными и теряют какую-либо корреляцию с трещинообразованием. [c.97]

Рис. 10.55, К определению критической густоты решетки пластин при обтекании ее потоком со сверхзвуковой осевой составляющей скорости, а) Густая решетка bit > (Ь/ )кр, i > 0), решетка критической густоты (b/t) = = (Ь/Окр, i > о, в) редкая решетка bit) < ( /0кр, i > 0, г) интерференция между волнами в течении за срезом редкой решетки ( = —10°, Mi = = 2,6). Штриховые линии — волны Маха, сипошные линии — скачки

Кроме интерференции, связанной с образованием вихрей, при больших сверхзвуковых скоростях имеет место дополнительный интерференционный эффект, вызванный взаимодействием с возникаюгцими скачками уплотнения (рис. 2.5.8). Как видно из рисунка, при некотором угле атаки щ горизонтальное оперение расположено в зоне между хвостовым скачком и веером расширения. Вследствие этого оно оказывается для потока, прошедшего через веер расширения, под нулевым углом атаки и не будет создавать подъемной силы. Практически эффективность оперения близка к нулю (т1оп = 0)-При большем угле атаки (а2> аО угол скачка возрастает и его плоскость может оказаться перед оперением. Так как линия тока за скачком почти совпадает с направлением набегающего потока, то оперение в значительной ме- [c.201]

Корпускулярная интерпретация опытов Винера. Электромагнитная природа света была впервые экспериментально подтверждена в классических опытах О. Винера (1890), который наблюдал интерференцию от двух монохроматических световых волн, распространяющихся навстречу друг другу. Такие движущиеся в противоположных направлениях взаимно когерентные волны возникают в результате отражения от зеркала световой волны, падающей на него по нормали. При отражении от металлического зеркала фаза колебаний вектора напряженности электрического поля волны изменяется на я, что обеспечивает соблюдение равенства нулю тангенциальной составляющей электрического поля на поверхности металла. Направляя ось Z по нормали к поверхности зеркала, а ось Л"-колли-неарно линии колебаний вектора напряженности S электрического поля волны (рис. 23), можно для падающей и отраженной волн написать [c.42]

Маха-Зендера является модификацией интерферометра Майкельсона, а его теория аналогична теории последнего. На экране, расположенном в направлении F , при сведении лучей 1 и 2 в одну точку происходит интерференция. Интенсивность интерференционной картины определяется формулой / = 2/ (1 + os 5), где 5-разность фаз между интерферирующими лучами. Линии одинаковой интенсивности в интерференционной картине определяются условием 6 = = onst. Наиболее просто наблюдать и анализировать интерференционные полосы в виде концентрических окружностей, образуемых в результате того, что из точки S на пластину А падает не пучок параллельных лучей, а пучок расходящихся лучей. Однако для последующих рассуждений характер интерференционной картины несуществен, важно лишь, что она возникает. В направлении Fj также появляется интерференционная картина, распределение интенсивностей в которой дополняет распределение интенсивностей в направлении Fj таким образом, чтобы соблюдался закон сохранения энергии. [c.410]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...