Спектр дифракционный

Сверх того, указанные нарушения влекут за собой появление добавочных максимумов, обычно не сильных (так называемых духов ). Появление духов нередко приводит к ошибкам при анализе спектра дифракционной решеткой, ибо максимум, соответствующий духу , можно принять за присутствие какой-то добавочной спектральной линии, в анализируемом спектре в действительности не имеющейся. [c.204]

Однако при последовательной записи в одном слое нескольких чисто фазовых голограмм, например трех частичных голограмм в различных диапазонах спектра, дифракционная эффективность каждого цветного изображения должна уменьшаться обратно пропорционально квадрату числа частичных голограмм (при сохранении остальных параметров — толщины слоя и др.). Этот недостаток не свойствен способу записи частичных голограмм в различных слоях. Кроме того, многослойные фотоматериалы имеют преимущество устранения взаимодействия сенсибилизаторов для разных участков спектра между собой за счет их разделения по различным слоям. [c.81]

Спектр, наблюдаемый в фокальной плоскости линзы О, будет таким же, как и спектр дифракционной решетки с периодом to и числом штрихов /V-]- 1 между двумя главными максимумами располагается N— 1 вторичных максимумов (рис. 56). [c.61]

Рис. 76. Пространственная фильтрация спектра дифракционной решетки.

Приятно В инфракрасной области, где разные длины волн нельзя различить визуально. Высшие порядки можно устранить путем предварительной фильтрации света, пропуская его через стигматическую систему с поперечной дисперсией — дисперсионную систему (например, призму), разлагающую в спектр в направлении, перпендикулярном тому, в котором разлагает свет в спектр дифракционная решетка. В дифракционных приборах с фотографической регистрацией величину лучше всего подбирать таким образом, чтобы она ограничивалась размерами фотопластинки. [c.333]

Спектр, даваемый призмой, менее удобен, чем нормальный спектр дифракционной решетки, так как его фиолетовая часть растянута значительно сильнее красной (рис. 16—18 и табл. 14 гл. П). Дисперсия в призматическом спектре меняется обратно пропорционально X, . Поэтому при исследовании распределения интенсивности в непрерывных спектрах следует всегда вносить поправку на зависимость дисперсии от длины волны. Чтобы получить спектр приближающимся к нормальному, необходимо все ординаты интенсивностей призменного спектра разделить на Р. [c.40]

При низшем порядке спектра дифракционной решетки практически можно считать линейную дисперсию величиной постоянной для всех длин волн, так как для малых углов ф из (9) следует [c.44]

В низшем порядке спектра дифракционной решетки работать удобно еще и потому, что здесь мы можем считать линейную дисперсию с большой степенью точности величиной постоянной, так как для малых углов ф [c.89]

Вопрос о дифракционной эффективности голографических решеток и о параметрах решеток должен быть рассмотрен отдельно. Здесь отметим, что только в коротковолновой области спектра дифракционная эффективность голографических решеток сравнима с этой характеристикой нарезных решеток. Эффективность решеток для заданной области спектра может быть повышена путем изменения величины экспозиции и режима обработки светочувствительного материала. В качестве примера на рис. 6.4.5 представлена зависимость дифракционной эффективности т] металлизированной решетки на фоторезисте с 1800 штр/мм от длины волны. Дифракционная эффективность металлизированных решеток достигает величины т] =0,7 4-0,8. [c.415]

Рис. 7.1.15. Распределение энергии в спектре дифракционной решетки

Распределение интенсивности в спектре дифракционной решетки обычно рассчитывают для автоколлимационной схемы (ф= ф = г). Тогда по формуле (7.1.30) можно вычислить длину волны, которой соответствует максимум энергии, отраженной от решетки. Кривая распределения энергии для различных порядков спектра дана на рис. 7.1.15. [c.441]

В спектре дифракционной решетки кроме истинных спектральных линий, соответствующих условию (41.3), присутствуют ложные линии или духи . Появление духов связано с ошибками винта делительной машины, перемещающего заготовку решетки при нарезке. Духи затрудняют работу со спектрами. Величина духов зависит от качества машины. Интенсивность духов Роуланда возрастает [c.297]

Спектр дифракционной решетки примерно равномерен в длинах волн, а у призмы более равномерен в волновых числах. Поэтому качественный анализ дифракционного спектра производится более просто. [c.386]

Выражения (VII.73) и (VI 1.74) позволяют правильно выбрать значения углов i и а. Распределение интенсивности в спектре дифракционной решетки представлено на рис. VII. 10, б, где максимум энергии соответствует четвертому порядку. [c.364]

Итак, в отличие от призмы, которая дает только один спектр, дифракционная решетка дает одновременно несколько спектров различных порядков. [c.365]

X — длина волны падающего света) наблюдается интерференционный максимум света. Линза не вносит разности хода. Как следует из уравнения (78.4), условие интерференционного максимума для каждой длины световой волны выполняется при своем значении угла дифракции ф. В результате при прохождении через дифракционную решетку пучок белого света разлагается в спектр. [c.268]

При наблюдении через дифракционную решетку красный край спектра виден на расстоянии 3,5 см от середины щели в экране. Расстояние от дифракционной решетки до экрана — 50 см, период решетки — 10 мм. Определите длину волны красного спета. [c.290]

В экспериментах по получению спектров обычно используют призму или дифракционную решетку. Хорошо известно, что, создав примерно 150 лет назад первые дифракционные решетки, Фраунгофер сразу же применил их для изучения спектров различных источников света в частности, он заметил линии поглощения в сплошном спектре Солнца линии Фраунгофера). Еще раньше был осуществлен классический опыт Ньютона, впервые разложившего призмой солнечный луч. И по сей день призмы и дифракционные решетки играют основную роль при создании спектральных приборов. Эти диспергирующие элементы обеспечивают разложение излучения по длинам волн. [c.67]

Выражение (6.54) показывает, что монохроматическая плоская волна, дифрагирующая на гармонической решетке, имеет лишь три главных максимума 6 = 0, 7г. Другими словами, наблюдаются лишь нулевой и два первых (т = 1) порядка дифракционного спектра. В (3.9 мы используем этот результат. [c.298]

Пользуясь им, можно определить тот порядок дифракционного спектра, в котором должна наблюдаться максимальная интенсивность излучения исследуемой волны /.q [c.300]

При сравнении различных диспергирующих элементов следует учитывать, что призма в отличие от дифракционной решетки дает всего один спектр, поэтому не требуется отделения спектров высших порядков. Это облегчает эксперимент и в некоторых случаях позволяет более эффективно исследовать малые световые потоки. Однако здесь возникает весьма сложный вопрос о светосиле спектральных приборов. Ее оценки требуют дополнительного исследования и обоснования. Эту важную характеристику спектрального прибора мы рассмотрим весьма кратко. [c.325]

Для управления делительной машиной, контроля и исправления ошибок в процессе нарезки решетки используют явление интерференции. Один из вариантов этого метода основан на том, что перемещение дифракционной решетки в процессе ее изготовления непрерывно измеряется автоматическим устройством, в котором датчиком линейного перемещения служит специальный интерферометр, состоящий из нарезаемой и эталонной ре-uieTOK, Далее действует сложная схема обратной связи, позволяющая регулировать перемещение нарезаемой решетки, на которую алмазным резцом наносят штрихи вполне определенного профиля (рис. 6.43). Применение интерференционного метода позволило практически исключить различные ошибки, служащие причиной возникновения ложных линий (духов) в спектре дифракционных решеток. [c.301]

Цель настоящей работы состояла в систематизации знаний об электродинамических свойствах периодических решеток различных классов, выявлении общих закономерностей резонансного и нерезонансного рассеяния, в углубленном изучении широкого спектра дифракционных явлений. Отказавшись от изложения самих мето дов построения строгих математических моделей дифракции волн на решетках, авторы все внимание уделили физике изучаемых процессов рассеяния волн, начиная с общих закономерностей взаимодействия волн на периодической системе рассеивателей и кончая детальными исследованиями частных ситуаций, имеющих основополагающее значение в фундаментальном или прикладном отношении. [c.3]

Среди фильтров, работающих на вышеописанном принципе, особое место принадлежит системам, которые обладают селективной спектральной кривой пропускания. К ним относятся и отрезающие интерференционные фильтры, обладающие очень высоким пропусканием на некотором участке спектра и большим отражением в прилегающей области спектра со стороны коротких или длинных волн. Такие системы используются для подавления мешающих порядков спектра дифракционной решетки и добавочных максимумов в самих ДУИФ и др. [c.120]

Спектр призмы в волновых числах более равномерен, чем спектр дифракционной решетки, и поэтому скрещивание эшелле с призмой с этой точки зрения предпочтительней. [c.373]

Желательно, чтобы в спектрографе спектр располагался равномерно по всей высоте фотопластинки. Это возможно, если дисперсия вспомогательного диспергирующего элемента, скрещенного с эшелле, с уменьшением длины волны изменяется пропорционально АвХср. Спектр призмы в волновых числах более равномерен, чем спектр дифракционной решетки, и поэтому скрещивание эшелле с призмой с этой точки зрения предпочтительней. [c.371]

Положение спектральных линий в спектрах дифракционной решетки определяется простыми соотношениями (46.4) или (46.8). В этом отношении дифракционные спектры выгодно отличаются, например, от спектров призматических, получаемых разложением света дисперсионными призмами. В призматических спектрах положение спектральной линии определяется сложной зависимостью покаэа х СЛя преломления материала призмы от длины волны. Спектр называется нормальным, если координата х, характеризующая положение спектральной линии в спектре, линейно меняется с длиной волны. При малых углах дифракции, когда изменением косинуса угла д можно пренебречь, дифракционная решетка дает нормальный спектр. [c.312]

Пространственный спектр дифракционной решетки формируется в полном соответствии с уже упомянутыми принципами фурье-преобразования. Функция пропускания прозрачной щели 1(х) представляет собой прямоугольный импульс единичной высоты и ширины Ь, Его фурье-спектр Р (и) известен (см. рис. 8.3 и формулу 8.4). Поскольку прибавления следующих щелей на равных расстояниях d могут рассматриваться как смещения исходной функции на б/, 2d, Зd и т. д., то результирующий спектр будет состоять из суммы спектров всех щелей, домноженных на соответствующие фазовые множители. По теореме о сдвиге, смещение функции на d приводит к домножению спектра на значение exp(2niud). Для N щелей результат такого суммирования спектров совпадает с выражением (9.3), если учесть, что наблюдаемое распределение интенсивности пропорционально квадрату фурье-спектра функции пропускания объекта. [c.153]

На практике обычно пользуются отражательными эшелонами, предложенными в 1933 г. Вильямсом (рнс. 6.33) и называемыми обыч1ю эшелонами Майкельсона — Вильямса. Эшелон Майкельсона — Вильямса состоит из ряда пластин из плавленого кварца. Специальная обработка пластин позволяет добиться оптического контакта. В результате все устройство как бы вырезано из одного куска плавленого кварца. Спектральные характеристики, в том числе и разрешающая способность эшелона Майкельсона — Вильямса, выше разрешающей способности эи1елоиа Майкельсона. Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В принципе эшелон Майкельсона — В1 пзямса можно было бы использовать также в ультрафиолетовой области. Однако это связано с очень высокой, практически неосуществимой точностью изготовления. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль [c.153]

При достаточно больнюм числе щелей максимумы для каждого из этих двух направлений будут довольно острыми, причем на них будет приходиться и существенная часть падающей световой энергии. В результате па экране получится дифракционная картина в виде четких симметрично расположенных световых пятен. При освещении белым светом произойдет разложеш е в непрерывный спектр по направлениям х и у. [c.156]

Сущность идеи Лауэ при постановке соответствующего эксперимента заключается в следующем кристалл К, расположенный на подставке, освещается рентгеновским излучением непрерывного спектра, исходящего из рентгеновской трубки (рис. 6.41). Излучение с длиной волны, удовлетворяющей условию (6.49), дифрагируя на кристаллической решетке, дает соответствующую дифракционную картину (так называемую лауэграмму). Анализ лауэ-граммы позволяет получить сведения о кристаллической структуре. [c.164]

Остановимся более подробно на выражении (7.30). В отличие от дисперсии, зависящей от числа П1Трихов иа единицу длины решетки, разрешающая сила проиорцнональна общему числу HJTpHXOR. Можно определить максимальную разрешающую силу дифракционной решетки. Для этого нужно найти максимально возможное значение порядка спектра. Так как d sin ф = тк и отсюда т d sin цч 1, то d/k. Следовательно, [c.195]

Заканчивая этот краткий обзор различных электромагнитных волн, следует отметить разницу между физической оптикой, изучению которой посвящена эта книга, и физиологической оптикой, не рассматриваемой здесь. В некоторых случаях различие между ними очевидно если ввести в дугу соль натрия и разложить ее излучение в спектр призмой или дифракционной решеткой, то мы увидим на экране ярко-желтый дублет. То, что длины волн этих линий равны 5890—5896 А, нетрудно установить измерениями, целиком относящимися к методам физической оптики. Но вопрос о том, почему эти линии кажутся нам желтыми, нельзя решить в рамках этой науки, и он относится к физиологической оптике. Конечно, проведение столь четкой границы между ними дЕ1леко не всегда возможно, и иногда трудно решить, имеем ли мы, например, дело с истинной интерференционной картиной или с кажущимися глазу полосами, возникновение которых связано с явлением контраста, и т. д. Некоторые интересные данные по физиологической оптике содержатся в лекциях Р.Фейнмана, который счел возможным сочетать изложение этих вопросов с основами физической и геометрической оптики. [c.14]

Можно изготовить такую решетку с профилированным штрихом, которая обеспечит зпачител1.ную интенсивность в 20-м или 30-м порядке, но тогда придется соответственно уменьшить число штрихов на единицу длины. Гак работают дифракционные решетки в инфракрасной области спектра эшелетт). Е1 последние годы созданы аналогичные решетки для видимой и ультрафиолетовой областей (эшель), которые с успехом используют в оригинальных спектральных приборах. [c.322]

Полученный результат справедлив лишь при достаточно широкой щели, когда можно пренебреч . дифракционными эффектами. Пусть ширина входной щели настолько мала, что объектив коллиматора окажется в пределах первого дифракционного максимума, иными слова.ми, ф == л/6, т. е. мы имеем дело с нормальной щелью. Тогда при дальнейшем сужении щели эффективно используемый световой поток будет резко падать. Зависимость освещенности в центре спектральной линии от ширины щели спектрографа (в единицах нормальной щели Ьо) показана на рис. 6.58. Из графика видно, что при регистрации линейчатых спектров выгодно выбирать щель, ширина которой в 2—3 раза больше ширины нормальной щели. [c.327]

Пусть объектом служит однолте )ная дифракционная решетка с постоянной d (рис. 6.7 )). Будем считать ее плоской, что приемлемо, гак как и микроскопе исс.]едуются тошсие препараты, а глубина резкости столь сильного объектива мала. Плоская волна проходит сквозь решетку, распространяясь вдоль оптической оси микроскопа перпендикулярно плоскости решетки. В главной фокальной плоскости объектива получается спектр — [c.342]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...