Линии равного наклона

Рис. 7.5. Интерференционная картина (линии равного наклона), наблюдаемая в эталоне Фабри — Перо.

Линии равного наклона. Если на пластинку падает пучок непараллельных лучей, то в отраженном пучке будут присутствовать лучи различных направлений распространения с соответствующими различными углами преломления. Те из них, для которых удовлетворяется условие (29.5), дают при интерференции максимум интенсивности. Следовательно, если с помощью линзы в ее фокальной плоскости образовать интерференционную картину, то интерференционная линия определенной интенсивности соответствует определенному углу 0пр в (29.4) или, что то же самое, определенному углу падения или отражения. Другими словами, эта линия соответствует определенному углу наклона образующих ее лучей к поверхности пластины. Поэтому такие интерференционные линии называются линиями равного наклона. Они локализованы на бесконечности. [c.181]

Если пучок света, падающий на пленку, аксиально-симметричен, то линии равного наклона являются окружностями. На рис. 133 показана схема реализации линий интерференции равного наклона на экране с помощью линзы. [c.181]

Линии равного наклона, которые в случае аксиальной симметрии падающею та пластин излучения являются окружностями, можно наблюдать глазом (рис. 134). Если при смещении [c.181]

Схема образования интерференционных линий равного наклона на экране [c.182]

Роль размера источника. Различные точки источника излучают некогерентно. Однако интерференционные картины, образуемые любой точкой источника при отражении поя одинаковым углом, идентичны друг другу и не зависят от точки поверх ности Пленки, в которой произошло отражение. Интерференционные полосы от излучения различных точек источника накладываются друг на друга без смазывания картины интерференции. Следовательно, конечность размеров источника не смазывает картину интерференции линий равного наклона и не является ограничивающим интерференцию фактором. [c.182]

Линии равного наклона локализуются на бесконечности, а линии равной толщины—на поверхности пластины. [c.186]

Линии равного наклона 181 [c.349]

Швы клееных соединений на видах и разрезах изображают утолщенной линией, равной примерно 2 . Обозначаются они по ГОСТ 2.313—68 буквой К, которая наносится на наклонном участке линии-выноски (черт. 280). Для швов, выполненных по периметру, линию-выноску заканчивают окружностью диаметром 3...4 мм (черт. 281). [c.130]

С помощью линий наибольшего наклона решается метрическая задача на определение величин двугранных углов между заданной плоскостью и плоскостями проекций. Эти двугранные углы равны линейным углам, составляемым линиями наибольшего наклона с соответствующими плоскостями проекций, точнее, со своими проекциями на эти плоскости. [c.108]

Таким образом, для определения С следует по экспериментальным значениям удельного объема рассчитать комплекс (г—1)н и нанести его на график в зависимости от 1/н (рис. 1.20). Необходимая экстраполяция в область малых плотностей может быть легко осуществлена, так как из (1.24) следует, что при 1/н = 0 (z— )v = B, причем значение В уже определено. Тангенс угла наклона этой линии, равный С, можно определить графически. [c.31]

Рассмотреть частный случай, когда а) т = т б) начальное положение совпадает с положением равновесия в) проекции начальной скорости второй точки на горизонталь и на линию наибольшего наклона плоскости равны, [c.444]

В дополнение к предыдущему упражнению определить величину н направление наименьшей добавочной силы, которая может сдвинуть тело. [Сила лежит в вертикальной плоскости, содержащей линию наибольшего наклона к горизонту, и направлена перпендикулярно к той образующей конуса трения, которая составляет наименьший угол с вертикалью величина силы равна р sin (tp — а).] [c.22]

Когда g ii,//S , f = О, это уравнение представляет собой горизонтальную прямую когда gii. f/gi, f = оо--вертикальную прямую для всех других значений gn, f/gi, f уравнение изображается в виде кривой до тех пор, пока [г не становится бесконечным (равные молекулярные веса). В этом случае уравнение представляет собой линию с наклоном gii.f/gi.f- [c.32]

Сеть изоклин исходного приближения наносится в виде гладкой сети линий, соединяющих точки контура профиля с равным наклоном скорости, причем в критических точках имеется любой угол [c.47]

Аналогия строится в конечных областях, на контуре которых располагается пленка. Если решается уравнение Пуассона, то контур области представляет собой контур отверстия в верхней стенке коробки, в которой затем создается избыточное давление р воздуха. Прогиб мембраны обычно измеряется механически с помощью микрометрического винта, укрепленного в координатнике, причем момент касания щупа определяется по замыканию электрической цепи через щуп и жидкую пленку. Остроумный способ определения линий равных углов наклона пленки основан на фотографировании вдоль оси z отражения в пленке сети координат, расположенной в перпендикулярной плоскости X, у. Наиболее точный из известных способов измерений заключается в определении направления тонкого светового луча, отраженного от пленки. [c.265]

Темная линия, соединяющая точки с одинаковым углом наклона направлений главных напряжений, называется изоклиной (линией равных углов). Угол наклона а направления главного напряжения Tj к некоторому заданному направлению, например, к оси Ох, называется параметром изоклины. [c.533]

Дробную часть порядка интерференции в каждом отдельном случае можно найти экспериментально — либо по диаметрам колец при интерференции равного наклона, либо по смещениям полос при интерференции равной толщины. Сложнее определить целый порядок. Его можно получить, сосчитав число интерференционных полос при изменении разности хода в интерферометре путем передвижения одного из его зеркал. Передвигать зеркало при изменении разности хода следует так, чтобы оно оставалось строго параллельным своему первоначальному положению — в противном случае может нарушиться юстировка прибора. А это приведет к появлению дополнительной разности хода и, следовательно, к ухудшению видимости интерференционной картины. Избежать нарушения параллельности можно, если весьма точно изготовить механические детали прибора. Однако трудности получения направляющих с высокой степенью прямолинейности для больших раздвижений интерферометра заставляют, даже при наличии фотоэлектронных счетчиков интерференционных полос, отказаться от этого метода при большом числе полос. Метод непосредственного определения числа полос применим лишь для малых разностей хода. Вот почему Майкельсон, пользуясь этим методом при сравнениях с длиной волны красной линии кадмия, мог использовать только длину самого маленького — 0,39 мм — из специально изготовленных им эталонов. К большим же разностям хода Майкельсон переходил, сравнивая длину этого эталона с эталоном удвоенной длины и используя при этом явление интерференции в белом свете. Постепенно удваивая длину эталона, экспериментатор доходил до 10-сантиметрового эталона, длину которого уже сравнивал с длиной прототипа метра. [c.50]

Действительная и мнимая части этой функции представляют собой сопряженные гармонические функции, сеть изоляций которых ортогональна в области течения. Линии nV = onst называются азо-тахами (линиями равных скоростей), а линии а = onst — изоклинами (линиями равных наклонов скорости). Сеть изотах и изоклин для рассмотренного примера изображена на рис. 16. В критических точках функции nV п а имеют особенности типа источника интенсивностью 2i (в области течения около гладкого контура интенсивность источника составляет половину этой величины). Если. заданы положения обеих критических точек, то функция а(х, у) [c.46]

Так как эти точки очевидно однй и те же для всех цветов, рассматриваемая полоса будет черной. Вращая одновременно как анализатор, так и поляризатор (или вращая образец), можно изменять а, и черная полоса будет изменять свое положение и очертание. Наблюдая ряд таких черных полос для различных углов а, мы можем получить направления главных напряжений по всему образцу. Эти черные полосы являются линиями, уже названными в 2.28 линиями равного наклона, или изоклиническими линиями пластинки. [c.213]

Конечность разнеров источника не сназывает картины интерференции в случие линий равного наклона и не является ограничивающим интерференцию фактором. [c.186]

Можно обратиться и к обратному явлению. А именно, рассмотреть возможность наблюдения полос равного наклона в схеме для наблюдения полос равной толщины. Для этого в какую-либо точку интерференционного поля можно поместить наблюдательный прибор, ограничив размеры его входного зрачка в соответствии с (4.37). В этом случае вблизи фокальной плоскости объектива будет наблюдаться интерференционная картина линий равного наклона, так как произойдет изменение разности хода для лучей, идущих от различных точек источника в пределвыделенного углового размера. Это [c.48]

Допустим теперь, что пластинка толстая и строго плоскопараллельная. Пусть она освещается параллельным 3 пучком света. Формально это соответствует случаю точечного бесконечно удаленного источника 5 (рис. 133а и 1336). Отраженные лучи будут также параллельными, т. е. точка наблюдения Р удалится в бесконечность. При постоянной толщине пластинки й оптическая разность хода между отраженными лучами 2йпсо г] + К12 зависит только от угла наклона падающих лучей. Угол г ) может принимать всевозможные значения, если источник света протяженный и имеет конечные угловые размеры. Практически это можно осуществить, поместив протяженный источник света в фокальной плоскости линзы, которая как бы удаляет источник света в бесконечность. Интерференционную картину следует наблюдать на бесконечно (т. е. достаточно) удаленном экране или в фокальной плоскости линзы, поставленной на пути отраженных лучей. Каждая интерференционная полоса на бесконечно удаленном экране характеризуется постоянством косинуса угла я1). Поэтому интерференционные полосы при описанном способе наблюдения называют полосами или линиями равного наклона ). Они локализованы в бесконечности. [c.232]

Часто в косоугольной диметрии коэффициент искажения по оси Oiyi принимают равным 0,5, а углы наклона этой оси к горизонтальной линии равными 45°, 40°, 60°. Такие проекции называют кабинетными. [c.314]

Диаметр АВ, как параллельный П,-, проецируется на последнюю в натуральную длину, поэтому большая ось эллипса U равна диаметру d окружности I. Диаметр D, расположенный на линии наибольшего наклона, проецируется в малую ось iDi эллипса, равную d созф, где ф — угол наклона плоскости окружности к П . [c.71]

Приводимые на рис. 5.61 интерферограммы лазерной линии 6328А иллюстрируют возможность использования интерферометра Фабри—Перо для исследования модового состава излучения лазера. Если газовый лазер генерирует на двух модах (рис. 5.61,6), то на интерферограмме видны четкие двойные кольца равного наклона. Измеряя радиусы этих колец, можно определить сдвиг частот между двумя генерируемыми модами. [c.250]

Для определения высоты пирамиды по рис. 117 изобразим отдельно её основание GKL и вершину V (рис. 120, б). В плоскости основания построим горизонталь h(h h2) и фронталь f(f f2). Из вершины V(V V2) проведем нормаль п(п1 Из) к плоскости основания (ni hi, П2 J- f2) и построим точку 0(0]02) = п ri(GKL), для чего провели горизонтально проецируюшую плоскость ф(ф ) через прямую п, и прямую (3 - 4) (3i - 4], З2 - 4г) = ф fl(GKL) 0 = (3-4)Пп. Строим Д ViOiO, в котором [О]О ] = Az [V1 О ] = [VO] - высота пирамиды у - угол наклона высоты (нормали) к горизонтальной плоскости проекций а - угол, равный углу наклона основания (грани) (GKL) к горизонтальной плоскости проекций. Прямая (3 - 4) является линией наибольшего наклона (линией ската) плоскости (GKL) к горизонтальной плоскости проекций. Фронтальная проекция П2 нормали по направлению совпадает с фронтальной проекцией линии наибольшего наклона плоскости (GKL) к фронтальной плоскости проекций. По аналогии с линией (3 - 4) можно построить её горизонтальную проекцию. В треугольнике V2O2O [О2О ] = Ау [V2O ] = [V0] X - угол наклона нормали п к фронтальной плоскости проекций (3 - угол, равный углу наклона плоскости (GKL) к фронтальной плоскости проекций. [c.134]

Таким образом, на экране получаются темные полосы двоякого происхождения. Прежде всего, имеется одна или несколько темных полос, в которых направление главных осей совпадает с плоскостями поляризации. Такие линии носят название изоклин (линия постоянного наклона главных напряжений). Вторая система темных полос соответствует значениям (<у - tx)/2, равным О, тг, 2тг, [c.558]

Построить торец бруска АВСВ. При этом линию А В надо провести вертикально, параллельно оси Z, а линию АВ наклонно, в данном случае параллельно оси у. После этого по намеченным осям нужно отложить размеры торца бруска по оси z — 20 мм, а по оси у — 30 мм (размеры указаны на фиг. 388, а). Через вершины начерченного параллограмма АВСВ проводят вправо вверх наклонные линии параллельно оси X (фиг. 388, б) и по ним откладывают длину бруска, равную 70 мм. [c.159]

Однородная тяжелая нить АС длиной I прикреплена одним концом к данной точке А и свешивается таким образом, что, начиная от некоторой точки В, идет далее по линии наибольшего наклона данной плоскости п. В точке Л имеется стенка, наклоненная под углом а к вертикали, и нить касается ее. Угол наклона плоскости л равен р. Определить длину куска ВС нити,,лежа1п его на этой плоскости, в предположении, что трение ничтожно и им можно пренебречь. (Приравнять значения натяжений в точке Б, относящихся к кускам АВ и ВС. Первое определяется обычной формулой для натяжения цепной линии [формулой (65)] второе — это надо доказать — равно произведению веса куска ВС на sin р.) [c.239]

Таким образом, линии равных прогибов мембраны 2 = onst изображают линии токов, а углы i наклона ее поверхности пропорциональны скорости жидкости. В частном случае р = 0 (ненагру-женная мембрана ) ее отклонение удовлетворяет уравнению Лапласа [c.264]

Пользуясь интерферометром Майкельсона, Перар, наблюдая кривые видимости, обнаружил зависимость эффективной длины волны не только от расположения отдельных составляющих в линии, но и от того, при какой разности хода получается интерференционная картина. По диаметрам колец равного наклона при каждой разности хода была вычислена дробная часть порядка интер- [c.41]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...