Интенсивное! ь интерференционной картины

Очевидно, что в тех точках голограммы, где Дф = 2л/ (/ = 1,2, 3,4,...), интенсивность интерференционной картины будет максимальной. Для этих точек имеем [c.212]

Вычисление интенсивности. Интерференционная картина, возникшая в результате взаимодействия двух волн, определяться амплитудами слагающихся между ними. [c.241]

Увеличение размеров источника позволяет увеличить общую интенсивность интерференционной картины, сохраняя прежнюю отчетливость и резкость максимумов и минимумов. Конечно, если пластинка РР имеет значительную толщину, то систему колец [c.130]

Следовательно, распределение интенсивности интерференционной картины по оси Z [c.43]

При этом можно получить следующее распределение интенсивности интерференционной картины [c.77]

Регистрируемая в плоскости голограммы интенсивность интерференционной картины, образуемой объектной и опорной волнами, равна [c.181]

Максимальные значения интенсивности интерференционной картины получим, когда аргумент косинуса равен [c.33]

Таким образом, для данного порядка интерференции разрешающая сила многолучевого интерферометра пропорциональна N -Коэффициент пропускания интерферометра. При увеличении коэффициента отражения р и уменьшении коэффициента пропускания т зеркальных слоев интенсивность интерференционной картины быстро падает. Для получения интерференционных полос [c.28]

Если i (и) du — интенсивность света, испущенного с участка источника длиной du в точке и источника, то вклад от этого участка в полную интенсивность интерференционной картины в точке у на основании (27.5) выражается формулой [c.163]

Следовательно, интенсивность интерференционной картины равна [c.172]

Какие максимумы интенсивности дифракционной картины от прямоугольной сетки в эксперименте Аббе — Портера надо закрыть, чтобы в изображении сохранились лишь горизонтальные линии В каких максимумах интенсивности интерференционной картины содержится информация о более мелких деталях объекте [c.247]

В результате чего происходит усреднение интенсивности интерференционной картины по времени. [c.321]

В настоящее время проблему автоматического счета интерференционных полос во встречных направлениях можпо считать решенной благодаря построению счетчика по счетно-триггерной схеме, которая производит автоматически операции сложения и вычитания. Это осуществляется измерением интенсивности интерференционной картины в двух точках, смещенных друг относительно друга примерно на четверть ширины полосы. [c.696]

Распределение интенсивности интерференционной картины будет определяться лишь действием интерферометра. Интерференционная картина в этой части поля будет наблюдаться и без анализатора. Если рассматривать картину, получаемую после анализатора, то его вращение никак не будет сказываться на интерференционной картине. [c.247]

Дальнейшая судьба первоначального периодического рельефа на поверхности поглощающего материала в поле достаточно интенсивного лазерного излучения в значительной степени зависит от фазового сдвига Если он таков, что максимумы интенсивности интерференционной картины (и соответственно максимумы сопровождающей ее температурной решетки) приходятся на углубления рельефа решетки, то с течением времени развивающийся в этих местах расплав и последующий вынос вещества углубляют первоначальный рельеф и приводят к усилению дифрагированной компоненты и соответственно к лавинному развитию неустойчивости поверхности. Напротив, если величина такова, что максимумы интенсивности интерференционной картины приходятся на возвышения рельефа, то расплавление и испарение вещества решетки выравнивают первоначальный рельеф. [c.159]

Минимум интенсивности интерференционной картины найдем из [c.443]

Ближайшая к отражателю пучность отстоит от него на расстояние, равное половине расстояния между любыми соседними пучностями или узлами, т. е. на расстояние четверти длины ультразвуковой волны. Следовательно, в плоскости отражателя расположен узел смещений стоячей волны. Но в этой плоскости интерферируют две волны (падающая на отражатель и отраженная им), имеющие разность хода, равную нулю. Согласно теории интерференции в точках, где разность хода между волнами равна нулю, расположен максимум интенсивности интерференционной картины, а у вас в опыте получается узел, т. е. минимум. Такой результат можно объяснить только тем, что при отражении звука от акустически более плотной среды фаза волны меняется на л или, как говорят, происходит потеря полуволны. Сопоставьте результат этого наблюдения с тем, что вы обнаружили, делая опыты по интерференции ультразвуковых волн, в бумажном листе и в пластинках. Сделайте соответствующие выводы. [c.91]

Обозначив через / акс и мин интенсивности светлых и темных полос, введем параметр, определяющий видимость (или контрастность) интерференционной картины [c.76]

Поскольку толщина слоя переменная, то получится совокупность интерференционных полос, параллельных ребру двугранного угла между зеркалом 3i и изображением зеркала 3 в пластинке П. Легко убедиться, что в рассмотренном нами случае идеального точечного источника, излучающего монохроматический свет, интерференционная картина независимо от толщины воздушного клина будет четкой. В действительности, если исходить из выражения интенсивности, видно, что она равна нулю каждый раз, когда толщина [c.91]

Как видно из этого выражения, распределение интенсивности в интерференционной картине определяется кроме амплитуд интерферирующих волн также и разностью их- фаз. Следовательно, для регистрации как фазовой, так и амплитудной информации необходимо кроме волны, идущей от предмета (ее будем называть предметной или сигнальной волной), иметь еще одну когерентную с ней волну (которую принято называть опорной волной). [c.205]

Маха-Зендера является модификацией интерферометра Майкельсона, а его теория аналогична теории последнего. На экране, расположенном в направлении F , при сведении лучей 1 и 2 в одну точку происходит интерференция. Интенсивность интерференционной картины определяется формулой / = 2/ (1 + os 5), где 5-разность фаз между интерферирующими лучами. Линии одинаковой интенсивности в интерференционной картине определяются условием 6 = = onst. Наиболее просто наблюдать и анализировать интерференционные полосы в виде концентрических окружностей, образуемых в результате того, что из точки S на пластину А падает не пучок параллельных лучей, а пучок расходящихся лучей. Однако для последующих рассуждений характер интерференционной картины несуществен, важно лишь, что она возникает. В направлении Fj также появляется интерференционная картина, распределение интенсивностей в которой дополняет распределение интенсивностей в направлении Fj таким образом, чтобы соблюдался закон сохранения энергии. [c.410]

При т—>-0 видность интерференционных полос, полученных R установке с двумя отверстиями, по существу является мерой пространственной когерентности. Если протяженный источник состоит из ряда некоррелированных пространственно разделенных осцилляторов, то каждый осциллятор, освещающий оба отверстия, создает свою интерференционную картину на экране Э. Значение интенсивности интерференционной картины — максимальное, минимальное или промежуточное в рассматриваемой точке М, зависит от соотношения между фазами светового поля, приходящего в точки Si и S2 от данного осциллятора. Соотношение между фазами в свою очередь зависит от расположения осциллятора внутри источника и от угла, под которым виден из источника отрезок S1S2. Может оказаться, что некоторые осцилляторы дадут на экране Э интерференционные полосы, максимумы которых будут совпадать с минимумами полос, образованных другими осцилляторами. Тогда результирующая [c.8]

Предположим, что голограмма экспопируется и проявляется таким образом, чтобы ее амплитудное пропускание было пропорционально интенсивности интерференционной картины. В дальнейшем рассмотрим отбеленную (фазовую) голограмму. Рассчитаем разность фаз волн Лф —фг—фр, исходящих из точек Я и S в произвольной точке голограммы Q(x, у, о). В параксиальном приближении Аф будет определяться из выражения [13] [c.98]

В соответствии с (4.2.1) интенсивность интерференционной картины меняется в пространстве по косинусаидальному закону os (2яА Я,). [c.98]

Однако амплитуда каладого последующего луча в р раз меньше амплитуды предыдущего (р — коэффициент отражения зеркальных слоев для интенсивности). Каждый из лучей вносит свой вклад в результирующую интенсивность интерференционной картины, однако доля этой интенсивности для каждого луча различна. [c.14]

Эффективное число интерферирующих лучей. Как было показано в гл. 1, п. 2, интенсивность инт рферируюш их лучей убывает при увеличении числа их отражений. Следовательно, интерференционный эффект складывается из взаимодействия бесконечного числа лучей неравной интенсивности. Однако характер интерференционной картины в основном определяется числом лучей, эффективно участвующих в ее образовании, т. е. изменяющих интегральную интенсивность интерференционной картины на (5—Ю)%. [c.27]

Есж интерпретировать волну с конечным временем и длиной когерентности как гармоническую волну определенной частоты и конечной продолжительности, то две интерферирующие волны с разностью хода представляются, аналогично, отрезками синусоид, сдвинутых (в пространстве и времши) друг относительно друга (рис. 101). Интерференционный вклад, пропорх ональный сое б, возникает лишь за счет участков волн ВС (рис. 101, й), а в остальное время, соответствующее участкам АВ и СВ, интерференционный член отсутствует и наблюдается лишь сложение интенсивностей соответствующих волн. Таким образом, благодаря сдвигу синусоид интенсивность интерференционной картины ослабляется и суммарная интенсивность приближается к сумме интенсивностей двух интерфст рирующих волн. Когда разность хода становится столь большой, что отрезки синусоид на экран приходят в разное время и не перекрываются (рис. 101, б), интерференционная картина полностью пропадает. [c.153]

Если рассчитывать полную интенсивность интерференционной картины волнового поля от двух источников, то она, вообще говоря, не равна сумме полных интенсивностей интерферен-ционньгх картин от двух изолированных источникоа Но это не означает нарушения закона сохранения энергии. Различие в энергии полей полностью объясняется изменением мощности излучателей. Например, если полная интенсивность увеличивается в результате интерференции, то мощность взаимодействующих между собой через поле излучателей должна увеличиться. Если по своим внутренним свойствам излучатели не в состоянии увеличить мощность излучения, то полная интенсивность интерференционной картины соответствующим образом уменьшается. [c.170]

Однако можно добиться того, чтобы модуляция интенсивноста резко возросла и была пропорциональна величине модуляции фазьь Для этого свет, идущий мимо предмета, пропускают через пластину, которая изменяет его фазу на л/2, т. е. его комплексная амплитуда становится равной е " =/. Амплитуда проходящего через предмет света по-прежнему ее . Интенсивность интерференционной картины в плоскости изображения [c.245]

В устройствах, описанных выше (исключая опыт Меслина), интерференционные полосы перпендикулярны к плоскости, в которой находятся первичный точечный источник 5 и вторичные источники 51 и 5а, и, следовательно, если 5 смещать перпендикулярно к этой плоскости, то полосы будут просто смещаться вдоль своих направлений. Таким образом, использование линейного источника (или на практике достаточно узкой щели), расно.иоженного в этом направленш1, не приведет к ухудшению четкости интерференционных полос, по крайней мере в тех случаях, когда их кривизна незначительна. Аналогично отверстия в опыте Юпга можно заменить узкими щелями, параллельными щели источника. Таким путем можно увеличить интенсивность интерференционной картины, хотя здесь и возникает дополнительная трудность, связанная с ориентацией источника. [c.250]

Для простоты разность начальных фаз можно принять равной пулю. Такое допущение, пе изменяя общей картины распределения интенсивности, приводит лишь к некоторому смещению интерференционной картины относительно источтшов 5 и S. . При aj — ai — О имеем [c.72]

При достаточном удалении источника от поверхности пластинки углы падения лучей на пластинку можно считать равными. В этом случае разность хода между иитерферирующими лучами будет определяться толщнно пластинки h в точке Р. Отсюда следует, что всем точкам поверхносги пласт1п1кн одинаковой толщины соответствует одна и та же интерференционная картина. Следовательно, максимумы (или минимумы) одинаковой интенсивности соответствуют точкам поверхности, в которых толщина пластинки имеет одно и то же значение, откуда и происходит название полосы или же линии равной толщины . [c.89]

Следовательно, результирующая интенсивность, создаваемая лучами, соответствующими определенной толщине /, является функцией i. В результате этого, если при данной для некоторой точки протяженного источника наблюдается минимум, для других точек источника это будет не так, другими словами, различия в разности хода, а следовательно, и в разности фаз для разных точек протяженного источника приведут к ухудшению видимости интерференционной картины. Значительные изменения разностей хода (и разностей фаз) для разных точек источника могут привести к существенным изменениям интенсивности света. В этом случае контрастность полос практически становится равной нулю. Если же изменения разностей хода (разностей фаз) так малы, что это приведет к незначительным изменениям интенсивностей, то будет наблюдаться четкая интерференционная картина, следовательно, в данном случае лучи, исходящие от разных точек источника, будут когерентны. Такая когерентЕюсть (когерентность лучей, исходящих от пространственно разделенных участков протяженного источника) называется пространственной. [c.91]

Как следует из рис. 5.9, с увеличеиь ем R (при приближении его к единице) интенсивность лшиимумов интерференцгюнпой картины в ирои едшем свете падает, максимумы же становятся более резкими. Следовательно, интерференционная картина при R 1 представляет собой совокупность узких светлых полос па практически темпом фоне. [c.102]

Интерференционная картина в интерферометре Жамена, Условие возникновения максимума интенсивности имеет вид [c.110]

Резкость интерференционной картины. Резкость интерференционной картины будет зависеть от коэффициента отражения нанесенной на пластины пленки. На рис. 5.22 показана зависимость резкости полос интерференции для разных значений R от углового расстояния относительно центра интерференционной картины. Значение R = 0,04 соответствует поверхности чистого стекла, в то время как R = 0,99 соответствует поверхности с многослойным покрытнбм. Следует обратить внимание па то, что при рассмотрении интерференции многих лучей мы полагали R + Т = I, т. е. пренебрегали поглощением внутри пластинки. Однако при нанесении на поверхность пластины полупрозрачного металлического слоя происходит поглощение, в результате чего интенсивность изменится. Поэтому пользуются выражением R + Т + А I, где А — коэффициент суммарного поглощения света отражающими слоями. [c.115]

В самом общем случае суперпозиции двух произвольных электромагнитных полей Ej и Е2 (см. 5.1) было установлено, что равенство нулю среднего значения интерференционного члена исключает возможность возникновения интерференции и в этом случае интенсивности (освещенности) просто складываются. Лишь в тех областях пространства, где О, происходит интерференция. Но в 5.3 рассчитывалось наложение независимых интерференционных картин, осуществляемое с помощью простого оптического устройства. Видимость суммарной картины в некоторых случаях приближалась к единице. Это получалось тогда, когда при почти одинаковой ширине интерференционных полос максимумы одной их системы совпадали с максимумами другой. Очевидно, что этот метод пригоден и для случая Е хЕз, к изучению которого мы сейчас и перейдем. [c.203]

Обычно в опытах подобного рода изучают не интенсивность или oKpa i y света, выходящего из системы, а наблюдают изменение интерференционной картины. Для этого необходимо осветить кристаллическую пластинку, помещенную между двумя Николями, непараллельным пучком света и спроецировать линзой картину на экран. В проходящем свете наблюдаются интерференционные полосы, соответствующие постоянной разности фаз. Их форма существенно зависит от взаимной ориентации поляризаторов и оси кристаллической пластинки. [c.208]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...