Полосы интерференции

Через интерферометр, состоящий из двух полупрозрачных (П и П ) и двух непрозрачных зеркал П и Я4) пропускается свет от источника сплошного спектра. Интерференционная картина, полученная в виде горизонтальных полос, с помощью линзы Лз проектируется на щель спектрографа. Спектрограф располагается так, чтобы щель его была направлена перпендикулярно к горизонтально расположенным полосам интерференции. В обе ветви интерферометров вводятся две одинаковые кюветы и Т . В одну из кювет (расположенную внутри вакуумной печи) вводится исследуемый материал, в данном случае пары натрия. Путем нагрева до нужной температуры можно получить пары натрия при необходимом давлении. Вторая кювета откачивается. Если кювета с металлом не нагрета, то из-за отсутствия паров натрия нулевая полоса (полоса, для которой разность хода двух интерферирующих лучей равна нулю) будет прямолинейной и пройдет через середину перпендикулярно расположенной щели спектрографа. Выше и ниже этой легко отличимой от других ахроматической полосы располагаются полосы первого, второго порядков и т. д. Так как расстояние между полосами тем больше, чем больше длина волны, а линии дисперсии интерферометра (линия дисперсии направлена вдоль оси у) и спектрографа (линия дисперсии направлена вдоль оси х) взаимно перпендикулярны, то в результате действия обоих приборов в пло- [c.266]

Ширина полосы зависит от расстояния О до экрана, увеличиваясь безгранично по мере удаления экрана. Поэтому рационально ввести понятие об угловой ширине полос интерференции, понимая под [c.75]

Так как расстояние А К весьма значительно (несколько метров), то на экране получаются очень широкие полосы интерференции. Действительно (см. (15.5)), [c.79]

ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПОЛОС ИНТЕРФЕРЕНЦИИ 25. Цвета тонких пластинок [c.120]

ГЛ. VI. ЛОКАЛИЗ. ЦИЯ полос ИНТЕРФЕРЕНЦИИ [c.121]

ГЛ. VI. ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПОЛОС ИНТЕРФЕРЕНЦИИ [c.123]

Рис. 6.5. К вопросу о локализации полос интерференции.

Рис. 7.6. Зависимость интенсивности в полосах интерференции от разности хода при разных значениях Я (/(=1).

Рис, 21.6. Разложение полос интерференции при скрещенных приборах [c.84]

Рис. 25.13. Остаточные полосы интерференции у конца усталостной трещины. Увеличено в 36 раз.

При этом наблюдают полосы интерференции, искривленные в соответствии с профилем исследуемой поверхности, Кривизну полос измеряют, например, с помощью окулярного мн- [c.67]

Расстояния между полосами интерференции получаются неравными. [c.102]

VII. Новое объяснение полос интерференции [c.637]

Основным достоинством изложенной методики является возможность определения коэффициентов концентрации напряжений при сложной геометрии внутреннего канала. На рис. 2. 25, а показана картина полос интерференции для модели с четырьмя вырезами (светлый фон, цифрами обозначен порядок полос т). [c.49]

Рн—Рв и одновременно наружным Рн и внутренним рв давлениями. Следовательно, при применении поляризационно-оптического метода в этих случаях полосы интерференции, дающие наибольшие касательные напряжения, одинаковы. [c.54]

На рис. 2.52 показаны картины полос интерференции для кольца, полученного расточкой до внутреннего диаметра 2 iii = 75 мм из модели, изображенной на рис. 2.68 при разных углах охвата опоры у = 0 (а) б) 90 (в) и 120° (г). Кольцо замораживали [c.78]

Этот метод исследования напряжений (разделы метода фотоупругость, фотопластичность, фотовязкость, динамическая фотоупругость и др.) позволяет определять поля деформаций и напряжений при действии известным образом расположенных нагрузок. Модели выполняют подобными по форме и нагрузке исследуемой детали или конструкции и просвечиваются в полярископе. Разности главных напряжений и их направления в плоскости наблюдения определяют измерением порядка полос интерференции или по точкам при просвечивании плоской модели или среза замороженной объемной модели. По напряжениям в модели, используя формулы по- [c.337]

Резкость интерференционной картины. Резкость интерференционной картины будет зависеть от коэффициента отражения нанесенной на пластины пленки. На рис. 5.22 показана зависимость резкости полос интерференции для разных значений R от углового расстояния относительно центра интерференционной картины. Значение R = 0,04 соответствует поверхности чистого стекла, в то время как R = 0,99 соответствует поверхности с многослойным покрытнбм. Следует обратить внимание па то, что при рассмотрении интерференции многих лучей мы полагали R + Т = I, т. е. пренебрегали поглощением внутри пластинки. Однако при нанесении на поверхность пластины полупрозрачного металлического слоя происходит поглощение, в результате чего интенсивность изменится. Поэтому пользуются выражением R + Т + А I, где А — коэффициент суммарного поглощения света отражающими слоями. [c.115]

Для воды X = 0,438 Физо нашел из своих измерений смещение полос интерференции, соответствующее х = 0,46, а более точное измерениеМайкельсона и Морлея, повторивших опыт Физо в 1886 г., дало X = 0,434 0,020, тогда как теория Герца дает х = 1, т. е. резко противоречит опыту. [c.446]

На рис. 3.3.10 показаны картины распределения полос интерференции в оптических моделях сварных соединений четырех труб. Нагружение с помощью системы блоков производилось в условиях, соответствующих характеру работы сварного соединения в конструкции. Коэффициент концентрации напряжений (теоретический) подсчитывался как отношение порядковых номеров полос в зоне концентратора (мрментная зона) и в зоне номиналь- [c.172]

Рассмотрим теперь интерференционный эксперимент Юнга. Несколько атомов света проходят через отверстия и дифрагируют вдоль луча соседних частей своих фазовых волн. В пространстве за перегородкой способность этих атомов к фотоэлектрическому действию будет изменяться от точки к точке в зависимости от состояния интерференции двух фазовых волн, прошедщих через два отверстия. Мы увидим, таким образом, полосы интерференции, каким бы ни было малым число дифрагирующих квантов и какой бы незначительной ни была интенсивность падающего света. Световые кванты пересекают все темные и светлые полосы непрерывно изменяется лишь их способность к взаимодействию с материей. Такое истолкование, которое, по-видимому, устраняет возражения и против предположения о световых квантах, и против предположения о распространении энергии через темные интерференционные полосы, может быть обобщено на все интерференционные и дифракционные явления. [c.637]

В оптических исследованиях, особенно в том случае, когда имеем дело с монохрбматическим светом, разность хода удобно измерять числом длин волн используемого монохроматического света т. В этом случае величина m будет соответствовать порядковому номеру полосы интерференции, а формулы для напряжений будут иметь вид [c.68]

На рис. 2.16, а показана картина полос интерференции для плоской модели меридионального сечения массивной шины при осадке на 8%. Напряжения по сечению шины распределены неравномерно. На нижнем крае по концам поверхности скрепления шины со ступицей возникает концентрация напряжений (/Нтах>4,0). Несколько меньшая концентрация напряжений возникает по концам поверхности контакта шины с опорой (верхний край). Высокие наибольшие касательные напряжения Ттах возникают в середине массива шины, где т 1ах=4,5. При качении шины эти напряжения изменяются циклически, что приводит к периодическому деформированию шины и выделению теплоты. В этом одна из основны.х причин усталостного и теплового разрушения массивных шин. Зона разрушения, наблюдаемая в натурных шинах (зона А на рис 2.16, б), со1Впадает с зоной действия наибольших касательных напряжений. [c.41]

Полезные данные о распределении напряжений в массивных шинах могут быть получены также при испытании плоских моделей шин, имеюших форму их поперечного сечения. Рассмотрим в качестве примера результаты испытания плоской модели шины из полиуретана СКУ-ПФЛ, имеющей следующие размеры наружный диаметр 0=80, внутренний — с =54 и толщину /=10 мм. Отношение наружного диаметра к внутреннему 0 й= 1,47 было взято таким же, как у натурной массивной шины с наружным диаметром 100 мм. Полиуретановое кольцо было отлито в соответствующей форме, а затем надето с небольшим натягом на ступицу из дюралюминия, чтобы исключить влияние остаточных напрялгений. Порядок полос начальной картины был менее 0,5. Модель нагружали радиальным усилием с помощью приспособления, аналогичного приспособлению, по казанному на рис. 2.14. Были сфотографированы картины полос интерференции при равных нагрузках Р=200 300 400 500 600 700 и 800 Н, показанные на рис. 2.17. Напряжения локализуются в небольшой зоне К01нтакта шины с опорой раз- [c.41]

На рис. 2.34, а показана картина полос интерференции на рис. 2.34, б картины муаровых полос перемещений и и V в двух взаимно перпендикулярных направлениях, полученные с сетками 40 линий на 1 мм для поперечного среза. На рис. 2.35 приведены графики напряжений и перемещений в меридиональном сечении модели, проходящем через вершины вырезов, построенные по картинам изохром и муаровых полос для срезов. Эти результаты показывают, что наибольшие напряжения и перемещения возникают в середине модели, а также позволяют судить о влиянии на напряженное состояние формы торцовой части полости со звездооб- [c.59]

На рис. 2.50 приведены характерные картины полос интерференции для модели, О1перт0 й на плоскую опору (у = 0), при различных углах поворота модели, а таклсе для у = 60° а = 45°. При каждом положении модели получали две-четыре точки для построения зависимости наибольшего напряжения в вершине выреза от угла поворота а. Таким образом, при изменении угла а в пределах от 0 до 45° были найдены напряжения в вершинах вырезов для всего возможного диапазона изменеиия а (от 0 до 180°). Наибольшие порядки полос в вершинах определяли на увеличенных фотографиях ка рт1ин полос в зонах, примыкающих к вершине. Порядки полос на контуре давали непосредственно значения нормальных напряжений по касательной к контуру. В вершинах вырезов возникает существенная концентрация напряжений, причем она зависиг от угла а. Напряжения при разных положениях модели различны в нижнем и верхнем положениях вырезов напряжения растягивающие, 3 в боковых положениях — сжимающие. При некоторых по- [c.75]

Для определения константы Со, которая отраж.ает влияние всех параметров, существенных для метода стесненной усадки (оо, Д1 и бо), используют тарировочн ый образец, напряжения в котором вызваны стесненной усадкой и для которого имеется теоретическое рещение. В некоторой точке такого образца рассчитывают разность безразмерных главных напряжений 01—02 и измеряют порядок полос интерференции т, после чего вычисляют константу Со по формуле [c.97]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...