Реальные структуры

Конкретная реализация того или иного подхода зависит от метода исследования. Для рассматриваемых систем, видимо, наибольшую ценность в настоящее время представляют полуэмпирические методы, основанные на теории подобия. Приложение общей теории подобия к сквозным дисперсным потокам во всем диапазоне концентраций, а гидродинамической теории теплообмена— к потокам газовзвеси, предпринятое в [Л. 98] и развиваемое в данном издании, нуждается в дальнейшей доработке. Не меиее актуально развитие аналитических методов. Однако их применение ограничено недостаточностью знаний о проточных дисперсных системах. В области теплопереноса аналитические решения, как правило, не учитывают реальную структуру системы, взаимовлияние компонентов и поэтому имеют пока вспомогательное значение (гл. 6, 10). [c.27]

Растекание струи по фронту решетки. О реальной структуре потока при боковом входе в аппарат без распределительных устройств можно судить по профилям скорости в различных сечениях (рис. 7.14). Она полностью соответствует рассмотренной схеме (см. рис. 3.6). В частности, даже на расстоянии Я/Я > 3 полного выравнивания поли скоростей еще не происходит. [c.177]

То, что будет излагаться ниже, относится к определению структуры идеальных кристаллов, т. е. кристаллов без дефектов. Реальные кристаллы — это кристаллы с наличием самых разнообразных дефектов (вакансии и междоузельные атомы, дивакансии, дислокации, дефекты упаковки, включения второй фазы и др.). Изучение структуры реальных кристаллов, естественно, представляет более трудную задачу, и в настоящее время во многих лабораториях занимаются исследованием реальной структуры. Эти лаборатории оснащены целым арсеналом современного оборудования, включающего дифракционную, электронно-микроскопиче-скую и другую аппаратуру. [c.36]

Материал тела представляет собой сплошную среду. Допущение о сплошности позволяет отвлечься от реальной структуры данного материала (кристаллическая, зернистая) и рассматривать его как аморфный, непрерывно заполняющий любой элемент объема тела. [c.8]

Предлагаемые методы расчета адгезионных характеристик системы двух полубесконечных металлов, разделенных зазором, в большинстве случаев не противоречат один другому, взаимосвязаны и дополняют друг друга. Но они справедливы только для плоских границ, когда взаимодействие предполагается по всей зоне контакта, что не соответствует реальной структуре межфазной границы и заведомо приводит к завышенным значениям энергии и силы взаимодействия двух поверхностей, превышающей предел прочности металлов. При более корректном описании адгезии необходимо учитывать неровности и дислокационную структуру поверхностных слоев. [c.5]

Наиболее известный метод приготовления металлических образцов — электрополировка — не пригоден для изучения покрытий по следующим причинам значительная анизотропия и структурная неоднородность покрытий приводят к избирательному травлению, предотвратить которое практически не удается многие покрытия не являются электропроводными поры и микротрещины, обычно имеющиеся в покрытиях, будут растравливаться, увеличиваясь в размерах и искажая реальную структуру покрытие и основной металл обладают отличающимися химическими свойствами, поэтому травление комбинированного образца (основной металл с покрытием) будет преимущественно развиваться на одном из участков или на границе раздела. [c.177]

В реальных структурах изломов сигнал с поверхности получается несинусоидальным и сопровождается наложением шумов аппаратуры. В этом случае появляются кратные гармоники. Форма получаемого сигнала связана с профилем поверхности сложной зависимостью с эмпирическими коэффициентами, зависящими от типа прибора и вида разрушенного материала. Поэтому присутствие кратных гармоник лучше определять экспериментально. [c.208]

Следует отметить, что в многообразных рекомендациях по повышению помехоустойчивости при УЗК аустенитных сварных швов нет единого мнения о причинах образования помех. На наш взгляд, этот недостаток обусловлен прежде всего тем, что исследователи уделяли мало внимания главному вопросу — изучению реальной структуры аустенитных швов. [c.347]

Олово относится к металлам, на которых в результате пластичности образуется довольно плотный деформированный слой. Поэтому очень редко сразу можно выявить реальную структуру. В большинстве случаев сначала пользуются обычными способами (чередованием полирования и травления) для устранения этого слоя. Для металлографического микроскопического исследования, особенно для цветного травления, эти операции обязательны. [c.229]

СТИН. Прямоугольный импульс напряжений создавался ударом летящей плоской пластинки в качестве ускорителя пластинки использовалась газовая пушка. Скорость частиц на противоположной стороне образца измерялась оптическим интерферометром. Экспериментальные данные сравнивались с результатами расчетов на ЭВМ, в которых учитывалась реальная структура композита и принимались во внимание нелинейные эффекты. [c.385]

В начале XX в. Г. Ми ) развил точку зрения, аналогичную позиции Лармора. Он, как и ряд других физиков, представлял себе единую картину мира как картину одной формы движения. В этом смысле электромагнитная картина ничем не отличается от механической. И та, и другая не отражают реальной структуры материального мира. [c.857]

Том 1 содержит восемь основных разделов. В разд. 1 дается характеристика особенностей объектов (элементов и систем) энергетики, существенных с точки зрения исследований и обеспечения их надежности. Рассматриваются реальная структура и иерархия управления развивающимися системами электро-, газо-, нефте-, тепло- и водоснабжения. Б рамках ГОСТ 27.002-89 и разработанной терминологии по надежности СЭ [70] приводятся определения и трактовка понятия надежности СЭ, классифицируются различные состояния, процессы и события, характеризующие надежность. Специальное внимание при 12 [c.12]

Рис. 10, Реальная структура микрошероховатости внутренних поверхностей стальных труб. Увеличение 250.

Таким образом, одно из сложнейших геометрических представлений о конструкции, а именно о ее структуре, формализуется с помощью рассмотренных методов и может быть изображено в цифровой форме в виде матриц смежности или массивов ненулевых значений, изоморфных реальной структуре. [c.82]

В решетках с суживающимися межлопаточными каналами при небольших сверхзвуковых скоростях (Mi S 1,25ч-1,3) можно было ожидать конденсационной нестационарности, обусловленной тепловыделением в косом срезе. Однако в таких решетках нестационар-ность рассматриваемого типа не возникает. Этот экспериментальный факт не отвечает результатам расчетов [66, 124], выполненных без учета реальной структуры сверхзвукового потока в косом срезе и за решеткой, где вихревые кромочные следы принимаются твердыми границами. [c.97]

Влияние вязкости несущей фазы, а также двухфазного пограничного слоя на границах канала можно оценить, сопоставляя результаты расчетов и опытов. Расхождение оказывается значительным, в особенности в концевых зонах, где двухфазный поток приобретает пространственную структуру под воздействием вторичных течений, возникающих у концов сопловой и рабочей решеток (или закручивающего аппарата). Значительное влияние дисперсности на характеристики закрученного потока также объясняет расхождение результатов расчета и опытов, так как реальная структура дискретной фазы всегда полидисперсная. [c.176]

Рассмотрим процесс теплообмена для указанных выше видов соединений на клеях, представив для них (в соответствии с реальной структурой клеевых систем) схемы составляющих термических сопротивлений (рис. 1-1). [c.14]

Свойства сплавов. Различают структурно-нечувствительные свойства, зависящие только от состава и типа кристаллич. решётки, и структурно-чувствительные, к-рые, кроме того, зависят от реальной структуры С. (т. е. концентрации разл. дефектов). Механич, свойства (пластичность, упругость) гораздо сильнее зависят от реальной структуры, чем электронные (электрич., магн., оптич. и др. свойства, определяемые электронной системой). Как правило, структурно-нечувствительные свойства гомогенных С. аддитивны, а структурно-чувствительные отклоняются от аддитивности. [c.650]

Очевидно, что ЛУп становится бесконечно малым лишь при —vO, т. е. при переходе к квазиоднородным средам. С физической точки зрения гетерогенная элементарная ячейка должна быть достаточно большой, чтобы быть достаточно представительной в пределах ДУп за время Ат (At — время, превышающее среднюю продолжительность пульсаций компонентов потока в AVn) должна возникнуть возможность учета макродискретности, реальной структуры дисперсной системы. В дальнейшем протекание различных процессов будет рассматриваться в пределах подобной ячейки. Ранее принятое в [Л. 75, 78] допущение р = onst (постоянство модели расположения частиц) приемлемо для стабилизированных и стационарных дисперсных потоков лишь в первом приближении. В более общем случае dfi/dx, d jdy, d jdz, d ldx не равны нулю. [c.28]

Однако выражения (2.10), (2.11) могут бьггь использованы только для качественной оценки явления вследствие того, что реальная структура пористых металлов существенно отличается от использованной капиллярной модели. Это приводит к тому, что режим достижения скорости звука на выходе из матрицы наступает постепенно и определяется не единичным давлением на выходе, а диапазоном давлений [ 8]. [c.24]

Наука о фракталах насчитывает. менее 20 лет. К настоящему моменту разработано и изучено 2 основных механизма формирования фрактальных кластеров DLA и ССА- модели. Компьютерное моделирование должно носить при этом плоскостной характер, хотя очевидно, что реальная структура в пеке формируется в объеме. Однако ряд классических работ по изучению природы фракталов утверждают, что при переходе от объемного к плоскостному моделированию фрактальные системы не меняются качественно. Происходи измеяение лшпь величшш их фрактальной размерности. [c.169]

Визуальное наблюдение за реальными структурами показало, что направление закручивания спиралей может быть как по, так и против часовой стрелки. Бьш поставлен компыотерный эксперимент, в котором в круговую область на некотором удалении друг от друга были помещены два центра форм1фовавия кр таллитов с одинаковыми размерами, но разными наорав- [c.190]

Каждой кристаллической структуре соответствуют две решетки — кристалли1ческая и обратная, связанные между собой соотношениями (2. 12). Можно сказать, что дифракционная картина представляет собой такую же карту обратной решетки кристалла, как и микроскопическое изображение,— карту реальной структуры кристалла. При повороте кристалла поворачивается и кристаллическая (прямая) решетка, и обратная. [c.58]

Рассмотренные до сих нор теории пластичности основывались на гипотезах формального характера реальная структура поли-кристаллического материала и хорошо известная картина пластического деформирования кристаллических зерен при этом совершенно не принимались во внимание. Такой подход имеет свои преимуп] ества и недостатки. С одной стороны, обилие законы пластичности, сформулированные для нроизвольного тела безотносительно к его физической природе, позволяют охватить единообразным способом широкий круг явлений — пластичность металлов, предельное равновесие грунтов, хрупкое разрушение горных пород и бетона и так далее. Такая общность чрезвычайно подкупает действительно, экспериментатор с удивлением обнаруживает, что макроскопическое поведение тел самой разнообразной физической природы оказывается поразительным образом сходным. Оказывается, что это поведение егце более поразительным образом может быть приблизительно хорошо описано при помощи уравнений, полученных из некоторых априорных гипотез достаточно формального характера. Но при более детальном изучении опытных данных оказывается, что при внешнем глобальном сходстве обнаруживаются и различия в поведении разных материалов. Эти различия связаны с тем, что микромеханизмы не только неунругой, но даже упругой деформации не одинаковы. Поэтому естественно стремление к тому, чтобы положить в основу теории пластичности некоторые физические представления о протекании пластической деформации. Нужно признать, что мы еш е далеки от возможности построения макроскопической теории, основанной на анализе и описании процессов, происходящих на микроуровне. Теория скольжения Батдорфа и Будянского, которая будет схематически изложена ниже, отнюдь не может быть названа физической теорией. Однако положенные в ее основу гипотезы в определенной мере отражают процессы, происходящие внутри отдельных кристаллических зерен, хотя и не воспроизводят их точным и полным образом. Пластическая деформация единичного кристалла происходит за счет сдвига в определенной кристаллографической плоскости в определенном нанравлении. Совокупность плоскости скольжения и направления скольжения в этой плоскости называется системой скольжения. Система скольжения задается парой ортогональных еди- [c.558]

Возрастание теплоемкости при подходе к точке фазового перехода кристалл—кристалл обусловлено отклонением реальной структуры кристалла от идеальной кристаллической решетки. Обозначим разность значений Ср на экспериментальной кривой в области фазового перехода и на прямой линии, описывающей изменение с-р на удалении от точки перехода и проэкстраполированной на область фазового перехода через Аср. [c.237]

При высокочастотном нагреве часто приходится иметь дело с неоднородными веществами, состоящими из нескольких компонентов с различными диэлектрическими свойствами. Для характеристики таких гетерогенных материалов удобно пользоваться усредненными параметрами, которые должны учитывать реальную структуру материала и свойства его отдельных компонентов. Формулы, дающие связь между средним значением комплексной диэлектри- [c.153]

Феноменологическое исследование механических свойств композиционных материалов может быть проведено двумя путями. Первый основан на рассмотрении армирующего материала как конструкции и учитывает реальную структуру композиции. В этом случае задача состоит в установлении зависимостей между усредненными напряжениями и деформациями. Второй путь основан на рассмотрении армированных материалов как квазноднородных сред и использовании традиционных для механики твердых деформируемых тел средств и методов их описания. Краткая схема аналитического расчета упругих констант композиционного материала методом разложения тензоров жесткости и податливости в ряд по объемным коэффициентам армирования приведена в монографии [60, 83]. Установлено, что при малом содержании арматуры можно ограничиться решением задачи для отдельного волокна, находящегося в бесконечной по объему матрице. Однако такой подход заведомо приводит к грубым погрешностям при расчете упругих характеристик пространственно армированных материалов, объем которых заполнен арматурой на 40—70 %. К тому же следует учесть, что пространственное расположение волокон в этих материалах приводит к росту трудностей при решении задачи теории упругости по определению напряженно-деформированного состояния в многосвязанной области матрица—волокно. Коэффициент армирования при этом входит в расчетные выражения нелинейно, что приводит к очередным трудностям реализации метода разложения упругих констант материала по концентрациям его компонентов. [c.55]

Однако и расчет по методу регуляризации не исключает погрешностей, обусловленных отклонением реальной структуры материала от идеализированной ее модели. Для оценки указанного отклонения применяют статистические методы, основанные на различных приближениях теории случайных функций. Целью этих методов является представление эффективных значений упругих констант композиционного материала с учетом усредненных их значений и корреляционной добавки к ним. Разработке подходов к. решению этой задачи, позволяющей использовать корреляционное и сингулярное приближения теории случайных функций, в настоящее время посвящено много работ. Указанные методы теории случайных функций достаточно работоспособны только при малой относительной разнице модулей упругости компонентов материала. При этом результаты существенно зависят от точности определения корреляцион- [c.56]

Соединение слоев при плоском напряженном состоянии. Второй подход расчета упругих характеристик трех-мерноармированных композиционных материалов основан на совместном деформировании слоев в условиях плоской задачи [4]. При этом, как и в первом случае, реальная структура материала сводится к двум слоям, параллельным плоскости 1/, где /, / = 1, 2, 3. Естественно, что данный подход позволяет получать более простые расчетные зависимости для упругих констант, чем первый [см. формулы (5.3)—(5.5)]. [c.123]

Степень приближенности расчета упругих констант трехмерноармирован-ного материала, согласно модели, рассмотренной в 5,2, основана на условном выделении малых объемов материала с однородным полем напряжений. Эти объемы характеризуют реальную структуру материала только при взаимно ортогональном расположении волокон и связаны размерами с интегральными характеристиками материала — объемными коэффициентами армирования р.1,2, з- При этом связь указанных коэффициентов с шаговыми параметрами ссх.г.з через геометрию структуры материала позволяет учесть при расчете характеристик такие параметры, как плотность укладки армирующих волокон вдоль каждой оси координат. В этом основное [c.138]

Расчетное значение модуля упругости в направлении 3, в отличие от модуля упругости в плоскости 12, в большей степени зависит от выбора исходной модели (рис. 5.5, б). Из сравнения кривых I н 2 следует, что для слоистой модели значения модуля могут существенно различаться. Эта особенность объясняется различным выбором плоскости слоя. Для кривой / плоскость слоя 13 параллельна волокнам направления 3, тогда как для кривой 2 плоскость слоя 12 ортогональна им. Вследствие этого завышение значения модуля получалось при условиях Фойгта, а заниженное при условиях Рейсса. Их сравнение показывает, что вилка Хилла в рассматриваемом случае велика. Указанное обстоятельство, приводящее к значительному расхождению расчетных значений трансверсального модуля упругости, следует учитывать при моделировании реальной структуры материала слоистой среды. [c.139]

Одной из наиболее полных моделей, описывающих возникновение ячеистой структуры в монокристаллах с ОЦК-решеткой с учетом кристаллографии скольжения и температуры деформации, является модель Такеучи [296, 297]. Согласно этой модели границы ячеистой структуры формируются из дислокационных стопоров — результата упругого взаимодействия дислокаций разного знака. Однако в работе [259] высказано предположение, что механизм образования стенок ячеек не совпадает с описанным Такеучи. Реальная структура, согласно [259], отличается тем, что начальной основой стенок, располагающихся кристаллографически регулярно вдоль направлений вторичного и первичного сдвигов, служат не плоские скопления дислокаций соответствующих систем, а вытянутые вдоль этих направлений сгущения краевых дислокаций взаимно противоположных систем первичных вдоль направления вторичного сдвига и наоборот. [c.124]

Травитель 7 [0,5—2 мл HNO3 98—99,5 мл спирта]. 0,5-, 1- и 2%-ные спиртовые растворы азотной кислоты очень часто применяют как реактив для травления границ зерен. Этот сильно окисляющий раствор способствует образованию уже упомянутой пленки после травления, наличие которой узнают по отлива-ющему перламутром блеску. Если эту пленку снимают полировкой и повторяют травление, то, как правило, выступает реальная структура. Продолжительность травления составляет несколько секунд. [c.286]

Металлографии циркония и его сплавов посвяш,ена работа Робертсона [22]. Несмотря на повышенную твердость, этот металл при шлифовании, а также полировании очень склонен к смазыванию . Поэтому каждую отдельную ступень обработки (шлифование, полирование) нужно проводить дольше, чем обычно, чтобы полностью устранить деформированный слой. Эти меры, особенно для материала, подвергнутого неполному отжигу, нужно соблюдать чрезвычайно точно, так как часто при травлении выявляется не реальная структура, а слой после обработки. Этот слой может быть толш иной до 0,5 мм и даже больше. В качестве реактивов хорошо применять смеси 20 мл плавиковой и 10 мл азотной кислот в 60 мл глицерина или воде, продолжительность травления составляет 3—5 с. Другие реактивы, такие как раствор 10 мл НС1 в 30 мл спирта и 25 мл надхлорной кислоты в 450 мл спирта и 70 мл HjO, применяют при электролитических способах травления. Робертсон [22], кроме фотографий структур чистого циркония, приводит также фотографии структур сплавов циркония с ниобием, танталом, кремнием, бором и железом. [c.297]

Отметим, что близкие результаты, указывающие на значительные упругие деформации в приграничных областях, были получены недавно в работе [119], где наблюдали и измеряли методом просвечивающей электронной микроскопии кривизну кристаллической решетки вблизи границ зерен, а также переменную разори-ентацию вдоль индивидуальных границ в Ni, подвергнутом ИПД. В этой работе, используя изгибные контуры экстинкции, исследовали структурную кривизну решетки, которая является кривизной кристаллографических плоскостей, параллельных волновому вектору, в отличие от обычной изгибной кривизны, относящейся к плоскостям, перпендикулярным волновому вектору. Вследствие этого структурная кривизна отражает реальную структуру объемных образцов, поскольку плоскости, параллельные волновому вектору, практически не меняют свою кривизну при возможном изгибе фольги при ее приготовлении. [c.65]

Согласно А. Н. Фрумкину, точная теория водородного перенапряжения должна исходить из реальной структуры двойного слоя на границе электрод—раствор. Учет этой структуры предполагает, прежде всего, установление различия между полным падением потенциала на межфазной границе и той его величиной, какая приходится на гельмгольцев-скую часть двойного слоя. Как это следует из рис. 4, падение потенциала в плотной гельмгольцевской части двойного слоя равно фг=ф— j)i. Поскольку Н-ионы вступают в электрохимическую реакцию, будучи. на расстоянии ионного радиуса от поверхности электрода, изменение энергии активации этого лроцесса определяется не полным падением потенциала, т. е. величиной фр, а значением, равным (ф— l3i) F. В соответствии с этим, для энергии активации разряда справедливым станет выражение [c.77]

Как следует из анализа моделей кризиса теплоотдачи, критическая тепловая нагрузка является функцией распределения истинного паросо-держания, массовой скорости и температуры по сечению канала. В этом смысле кризис - явление локальное. Однако если оперировать только с осредненными параметрами, без учета реальной структуры потока, то многие экспериментальные факты не поддаются объяснению. Кроме того, сложившаяся в зоне кризиса ситуация зависит от предыстории потока. С этой точки зрения правомерен глобальный подход. [c.73]

Однако использование приведенного соотношения для определения коэффициента теплопроводности пористого тела требует наличия данных по фазовшу составу порисгого тела, их теплопроводности л др. iKpoMe того, закон аддитивности не учитывает достаточно полно реальную структуру пористого тела и действительные процессы распространения тепла. Поэтому существующие прибли-жеиные методы теоретического расчета применяются лишь для качественной оценки экспериментальных результатов, получаемых по теплопроводности пористых тел. [c.12]

КРИСТАЛЛОФИЗИКА — область кристаллографии, изучающая связь фия. свойств кристаллов и др. анизотропных материалов (жидких кристаллов, поликрис-таллич. агрегатов) с их симметрией, атомной и реальной структурой и условиями получения, а также иамеие-ния свойств под влиянием внеш. воздействий. К. использует симметрию кристаллов как метод изучения закономерностей изменения свойств объектов, общие закономерности, установленные физикой твёрдого тела и связывающие атомное строение и электронную структуру со свойствами кристаллов. [c.514]

В К, изучается и влияние реальной структуры па фп з. свойства кристаллов. К дефектам структуры чувствительны мн. свойства кристаллов электропроводность, механич., оптич. и др. свойства. Важнейшие задачи К.— установление зависимостей иаменеш1Я физ. свойств кристаллов от их состава, строения и реальной структуры, а также поиск способов управления свойствами материалов и создание новых структур (текстур и композитных материалов) с оптим. сочетанием ряда Boii TB для практич. применения. [c.515]

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР — прибор для измерения интенсивности и направления рентг. пучков, дифрагированных на исследуемом образце (см. Дифракция рентгеновских лучей). Р. д. применяется для решения разл. задач рентгеновского структурного анализа, рентгенографии материалов, исследования реальной структуры монокристаллов. Он позволяет измерять интенсивность дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до десятых долей % и угол дифракции с точностью от неск. минут до долей секунды. [c.364]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...