Дифракция от угла

На угловой части апертуры производная г ф) + s (ф) терпит разрыв. Поэтому для вычисления вклада и дифракции от угла можно использовать формулу (5.2.38), которая дает [c.392]

Пусть ударная волна с постоянной интенсивностью и прямолинейным фронтом падает на вершину угла. Как и в акустическом случае, произойдет дифракция от угла, а в дальнейшем будет иметь место отражение по закону косой волны от бесконечной твердой стенки. Поэтому естественно считать, что за отраженной волной в областях, где не сказывается дифракция вершины угла, параметры газа постоянны, а участки отраженной волны прямолинейны. Эти участки, исходящие из точек на стенках, до которых дошла, падающая волна в данный момент, будут соединены криволинейной частью отраженной ударной волны, которая является результатом дифракции от вершины (рис. 116). Рассмотрим симметричный случай, когда обе стенки образуют одинаковый угол р с падающей волной. Очевидно, [c.466]

Производя соответствующие вычисления для интенсивности, в зависимости от углов дифракции ф и ф имеем [c.142]

Как и в случае фраунгоферовой дифракции от одной щели, распределение интенсивности для дифракционной решетки в зависимости от угла дифракции можно также изобразить графически и аналитически. Все колебания, идущие от разных ш,елей в направлении гр =-- О, имеют одинаковые амплитуды и фазы колебания. Следовательно, все векторы амплитуд будут направлены вдоль одной линии и результирующая амплитуда будет [c.145]

Прп колебаниях полуплоскости (параллельно линии своего края) возникает дополнительная сила трения, связанная с краевыми эффектами. Задача о движении вязкой жидкости при колебаниях полуплоскости (а также п более общая задача о колебаниях клина с произвольным углом раствора) может быть решена с помощью класса решений уравнения Д/ + k f — О, используемого в теории дифракции от клина. Мы отметим здесь лишь следующий результат возникающее от краевого эффекта увеличение силы трения на полуплоскость может быть описано как результат увеличения площади при смещении края полуплоскости на расстояние 6/2 с б из (24,4) (Л. Д. Ландау, 1947). [c.123]

Дифракционная картина, описываемая формулой (43.4), характеризуется монотонным уменьшением интенсивности при увеличении угла дифракции от нулевого значения, т. е. отсутствием осцилляций и линий нулевой интенсивности (окружности при круглом отверстии и прямых линий при квадратном), а также быстрым спаданием интенсивности в крыльях . Все эти качества очень полезны в оптических приборах, и иногда специально вводят на периферийных участках плоскости ЕЕ искусственное ослабление волны (так называемая аподизация). [c.187]

Если при исследованиях рентгеновских лучей в качестве дифракционной решетки использовать искусственную плоскую решетку с относительно грубым периодом и направить на нее рентгеновские лучи под углом, близким к 90°, то возможно наблюдение дифракции от плоской решетки, т. е. с максимумами, соответствующими всем длинам волн (ср. 47). [c.412]

В работе [91 рассмотренная методика уточнена с учетом того, что изделие является не жидкой, а твердой средой и что ограниченные размеры области обусловливают дифракционные явления. Изменение амплитуды, связанное с затуханием в призме, не учтено. Решение получено в виде степенного ряда, первый член которого соответствует объемным продольным или поперечным волнам в зависимости от угла падения. Второй член ряда определяет волны дифракции от краев области возбуждения (краев призмы с минимальными размерами, т. е. D ). Сумма членов определяет диаграмму направленности в виде основного и многочисленных боковых лепестков. [c.87]

Как уже отмечалось, асферические решетки и решетки о переменным шагом штрихов могут иметь значительно большую апертуру (до 1/10—-1/20), которая ограничивается ростом других типов аберраций — комы и кривизны поля. В п. 7.1.2 было показано, что эффективность эшелетта максимальна в положении блеска, т. е. при равенстве углов падения и дифракции по отношению к отражающей грани штриха. Нарезка вогнутых решеток обычно выполняется так, что угол наклона граней штрихов постоянен по отношению к хорде, стягивающей края решетки. При выполнении условия блеска для центра решетки оно нарушается для ее краев, поэтому эффективность дифракции от центра к краям заметно снижается (особенно для решеток о увеличенной апертурой) [24, 28, 77]. Для устранения этого дефекта и повышения полезной апертуры решетка по ширине разделяется на несколько участков, и в пределах каждого участка угол наклона граней при нарезке подстраивается под средний угол падения лучей. Такой прием широко используется, например, в УФ-области (Я < 250 нм), где среднюю эффективность сферической решетки в пределах апертуры около 1/16 удается увеличить в 1,1—1,7 раза [33]. Поскольку отражение от отдельных участков некогерентно, спектральное разрешение такой решетки определяется не полной шириной, а шириной отдельного участка. [c.269]

Коэффициенты Оп, связанные с основным случаем дифракции (1.7), зависят от угла падения ф и длины волны к. Таким же образом получаем [c.21]

Соотношения взаимности и другие соотношения, полученные в гл. 1, дают дополнительную возможность достаточно простым способом проконтролировать как правильность программы вычислений, так и эффективность построенного алгоритма решения задачи дифракции в целом [205]. Знание законов взаимности позволило бы, в частности, избежать ошибок, которые есть в [206] результаты численного решения задачи существенно не удовлетворяют условию независимости амплитуды нулевого спектра от угла падения. [c.36]

Для гармоник, излучающихся со стороны пологой грани, форма зависимости коэффициента отражения от угла падения близка к полученной в классической геометрооптической теории дифракции (рис. 126—129). В этом случае при п > 2 основополагающим является только один простой зеркальный резонанс. С увеличением номера порядка коэффициент отражения в максимуме практически не изменяется, зависимость вблизи максимума все более приобретает игольчатый характер, а расстояние между максимумами при обеих поляризациях уменьшается. Аналогично интенсивности распределяются при исследовании всех других решеток с освещенной пологой гранью. Однако в некоторых случаях зависимости при Н-поляризации менее плавные, чем при -поляризации. Нерегулярности наблюдаются вблизи аномалий Вуда. [c.188]

Прямое исследование структуры жидкостей может быть выполнено с помощью дифракции рентгеновских лучей, нейтронов и электронов. Дифракция рентгеновских лучей — наиболее часто применяемый способ. Коротковолновый, монохроматический и строго параллельный пучок рентгеновских лучей направляют на тщательно очищенную поверхность жидкого расплава, находящегося в широком тигле, подогреваемом снизу небольшой печью. Измеряют интенсивность рассеянного излучения в зависимости от угла рассеяния 0. Получаемые результаты обычно представляют в виде графика зависимости / от sin 0Д, где X — длина волны падающего луча. [c.15]

Дифрагированные от угла волны описаны в ряде работ. О. И. Рогоза (1961) прослеживала преломленно-дифрагированные волны от различных углов (от прямого до острого) в случае цемептнога блока в воде и волновую картину направленности дифракции от угла. [c.9]

Согласно волновому принципу Гюйгенса, положение волнового фронта в некоторый момент времени позволяет определить волновой фронт, а следовательно, и направление лучей в любые последующие моменты времени. Исходя из такого построения, можно прийти к выводу о том, что свет при прохождещш через отверстия на непрозрачном экране распространяется также и в области геометрической тени непрозра<нюго экрана, т. е. имеет место отклонение света от направления прямолинейного распространения. Такое явление огибания светом препятствия носит название дифракции света. Задачу дифракции можно считать решенной, если определить распространение интенсивности в зависимости от углов между прежним направлением (направлением прямолинейного распространения) и направлениями дифрагированных лучей (угол между прежним направлением луча и дифрагированным лучом будем называть углом дифракции). Принцип Гюйгенса не в сосгоя- [c.118]

Задача дифракции, как и в других случаях, заключается в нахождении распределения интенсивгюсти света в зависимости от угла [c.136]

Фраунгоферова дифракция от одной щели. Рассмотрим дифракцию плоской монохроматической световой волны от щели ширигюй Ь (рис. 6.17). Для простоты будем считать, что световая волна длиной X падает нормально к плоскости щели. Параллельный пучок света, пройдя через щель на непрозрачном экране 5j, дифрагирует под разными углами в правую и левую сторону от первоначального направления падения лучей. Линза Л собирает параллельные пучки дифрагированных лучей в соответствующих точках экрана [c.136]

Так как интеисивность есть величина прямо пропорциональная квадрату амплитуды, то распределение пптенсивности на экране наблюдения в зависимости от угла дифракции шмеет вид [c.139]

Распределение амплитуды (сплошная кр[1вая) и интенсивности (пунктирная кривая) на экране в зависимости от угла дифракции согласно формулам (6.17а) и (6.176) представлено на рис. 6.19. Условно принято, что ( = Как видно из рисунка, интенсивность вторичных максимумов быстро убывает. Расчеты показывают, что интенсивности главного и следующих максимумов относятся как 1 0,047 0,008 0,005 н т. д., т. е. основная часть световой энергии сосредоточена в центральном максимуме (в области между первым левым и правым минимумами, определяемыми условиями sin ср == — Х/Ь и sin ф Ч Х/Ь). Примерно 5% энергии приходится на первые, 2% иа вторые максимумы. [c.139]

Картина дифракции от прямоугольного отверстия представлена иа рис. 6.22. В правом нижнем углу рисунка изображено соответствующее прямоугольное отверстие. Характерные особенности дифракционной картины от Н1,ели сохраняются и в этом случае. В 1 астности основная световая энергия ири.хо-дится иа центральный максимум, а иитенсив1юсти максимумов вдоль обоих взаимно перпендикулярных наиравлетп от1юсятся как [c.142]

При анализе полученных результатов исследуем сначала интерференцию N пучков, т.е. посмотрим, как меняется множитель (sin Vfi/sin6) в зависимости от угла дифракции ф. [c.293]

По оценкам Ферми, последняя величина отличается от I F] не настолько мало, чтобы это различие нельзя было измерить. При этом если длина дебройлевской волны нейтронов сравнима с размерами области распределения электронов (т. е. с размерами атома), то из-за дифракции величина интерференционного члена должна зависеть от угла, под которым рассеивается [c.654]

По оценкам Ферми, последняя величина отличается от не настолько мало, чтобы это различие нельзя было измерить. При этом если длина дебройлевской волны нейтронов сравнима с размерами области распределения электронов (т. е. с размерами атома), то из-за дифракции величина интерференционного члена должна зависеть от угла, под которым рассеивается нейтрон. Очевидно, что аналогичного эффекта на ядре возникнуть не может из-за его малых размеров по сравнению с дебройлевской волной. [c.265]

В случае полубезграничной трещины с острым краем амплитуда дифрагированных волн слабо зависит от угла падения и частоты ультразвука. При падающей поперечной волне амплитуда дифрагированных поперечных волн остается практически постоянной в диапазоне углов 15 60° (см. рис. 1.19, 1.22, 1.23). Некоторое повышение амплитуды дифрагированной продольной волны с увеличением угла падения на край объясняется приближением угла падения к третьему критическому углу (а = 56,5°) в этом случае к дифрагированным волнам, образованным по первому типу, добавляются волны дифракции, полученные по третьему типу. Отметим, что амплитуда дифрагированных волн не зависит от частоты. [c.39]

При использовании бистатической акустической системы с разнесенными излучающими и приемными преобразователями амплитуда дифрагированного сигнала резко повышается, в зависимости от увеличения угла дифракции 0 (угла между акустическими осями преобразователей) и может превысить амплитуду зеркально отраженного сигнала. Объясняется это тем, что при увеличении 0 путь, пробегаемый волной обегания — соскальзывания, резко сокращается и, следовательно, затухание ее также уменьшается. В то же время уменьшение коэффициента отражения для зеркально отраженного сигнала приводит к его уменьшению в зависимости от 0. [c.44]

Ложные сигналы рассматриваемого типа возникают в результате отражения и дифракции от выпуклости сварного 1.шва ML (риг. 5.43, б) [58]. При углах ввода 35. .. 55° ложные сигналы обусловлены зеркальным отражением от поверхности ъ некоторой точке /- i или При больших углах ввода зеркального отражения не наблюдается, однако остаются более слабые сигналы, возникаю-HtHe в результате дифракции на ребрах М и L. Дифракция порождает также поверхностные и головные волны, распространяющиеся вдоль дуги AIL, причем при меньших углах ввода образуются поверхностные, а при больших — головные волны. Эти волны многократно проходят вдоль дуги ML, частично трансформируясь каждый раз в объемные волны. В результате после дифракционного эхо-сигнала наблюдают ряд ослабевающих импульсов 15]. [c.282]

Пределы измерения углов дифракции от —90 до -f 164°, точность измерения углов дифракции 0,005° размеры истинного фокуса рентгеновских трубок 1X12 мм (трубка БСВ-12) 0,04X8 мм (трубка БСВ-14) потребляемая мощность источников питания 2 кВт, максимальное напряжение на рентгеновской трубке 50 кВ, максимальный ток рентгеновской трубки 60 мА стабилизация высокого напряжения и анодного тока при одновременной работе двух трубок при колебаниях сетевого напряжения в пределах 7% от номинала поддерживается с точностью 0,1% суммарная ошибка измерения интенсивности за 10 ч работы не более 0,5%. В комплект установки входят высоковольтный источник питания ВИП-2-50-60 стойка с защитным кожухом рентгеновской трубки и механизмом юстировки гониометрическое устройство ГУР-5 с приставками для вращения образцов в собственной плоскости для исследования преимущественных ориентировок кристаллов (текстур) в поликристаллах, для получения полного набора интегральных интенсивностей от монокристаллов, для съемки неподвижных образцов измерительно-регистри-рующее устройство ЭВУ-1-4 устройство для вывода информации с цифропечатающим устройством и перфоратором, блок автоматического управления трубки рентгеновские БСВ-12 и БСВ- 4, блоки детектирования сцинтилляци-онные БДС-6, блоки детектирования пропорциональные БДП-2. [c.10]

Зависимость тензора П, р. от векторов к н Н — следствие пространственной дисперсии, параметр к-рой а/к Га/Х 1 чрезвычайно велик (в оптич. диапазоне а/к й 10 ). Пространственная дисперсия вызывается двумя причинами трёхмерно-периодвч. расположением атомов в решётке, что ведёт к резкому пространственному перераспределению рассеянной интенсивности — дифракции на неё накладываются монотонная и плавная зависимости П. р. от угла рассеяния, обусловленные внутр. строением атомов и тепловыми калебаяиямя атомов кристалла. Количественно влияние темп-ры на П. р. учитывается введением Дебая — Уоллера фактора. [c.74]

Характеристич. Р. и. рентг. трубки не поляризовано,, тормозное — частично поляризовано, причём вблизи квантовой границы его спектра коэф. поляризации приближается к 1()0%. При дифракции характеристич. Р. и. в кристалле возникает поляризация, зависящая от угла Брэгга 6 и приближающаяся к 100% при д = = 45 , т. е. когда угол между падающим и дифрагированным лучами равен 90°. [c.376]

Вследствие дифракции фотоэлектронов адсорбиров. молекулы на атомах адсорбента-монокристалла интенсивность рентгеноэлектронного спектра зависит от углов между потоком фотоэлектронов и разл. направлениями в монокристалле. Эта зависимость позволяет определить способ координации адсорбиров. молекулы. [c.381]

Дифрактометрию целесообразно применять тогда, когда необходимы точные количественные измерения интегральной интенсивности или распределения интенсивности в зависимости от угла дифракции, а также анализ интенсивности диффузного фона. Наиболее часто дифрактометрия используется при количественном фазовом анализе, прецизионном измерении периодов решетки и определении величины напряжений, при анализе формы и ширины интерференционного максимума, анализе текстур. [c.121]

Как уже отмечалось, светосила дифракционной решетки определяется ее геометрической апертурой и эффективностью отражения, которая в свою очередь зависит от углов падения и дифракции, формы профиля штрихов, материала отражающего покрытия. Существенным фактором, снижающим эффективность, является рассеяние из-за неточностей в положении щтри-хов и шероховатости отражающих граней. Рассмотрим светосилу и эффективность реальных дифракционных рещеток, работающих в классической схеме освещения, т. е. при совпадении плоскости падения пучка с плоскостью дисперсии. [c.268]

Аномалии в точках скольжения представляют собой недифференцируемые особенности в частотных зависимостях амплитуд (рис. 11) или в зависимостях от угла падения. Появление этих особенностей легко понять, поскольку поля и амплитуды гармоник зависят от постоянной распространения вдоль оси Oz. Кроме аномалий на рэлеевских длинах волн частотные зависимости полей дифракции на простой ленточной решетке имеют другие существенные особенности. Это прежде всего стремление с увеличением и всех амплитуд рассеянного поля к своим предельным значениям, не зависящим от вида поляризации. Установим эти пределы [c.40]

Для того чтобы с помощью синтезированных фильтров можно было обрабатывать изображения большой площади, они должны записываться с достаточно большой пространственной частотой. Для увеличения пространственной частоты фильтра в [192] был предложен метод голографического копирования. На рис. 7.15 приведена схема копирования фильтра для увеличения его пространственной несущей. Изображение, восстановленное с помощью линзы с синтезированного на ЦВМ фильтра — голограммы Г, освещенной плоской волной когерентного света, используется в качестве нового изображения для получения нового фильтра по классической схеме Ван дер Люгта [214]. При этом для формирования нового фильтра используется только изображение, восстановленное в +1 порядке дифракции, остальные дифракционныр порядки экранируются посредством диафрагмы Д. В качестве опорного источника можно использовать либо плоскую монохроматическую волну S, как показано на рис. 7.15, либо точечный источник со сферическим волновым фронтом, расположенный в одно11 плоскости с изображением, восстановленным с синтезированно11 голограммы-фильтра. При этом расстояние между источником и + 1 дифракционным порядком должно быть не меньше размера входного транспаранта в установке фильтрации. Это условие обеспечивает получение нового фильтра с большей пространственной частотой. Для случая плоской опорной волны, падающей в плоскость фильтра Ф, пространственная частота на фильтре зависит от угла падения Т опорной волны на фильтр. Чем больше угол, тем выше пространственная частота. Этот метод повышения пространственной несущей нашел применение для синтеза фильтров в различных задачах фильтрации [63, 112]. [c.154]

Здесь = sin 0/Х/ - пространственная частота. Тогда на выходе спекло-граммы возникает поле, которое с учётом зависимости угла дифракции от соотношения длины волны света X/ = 2тг/А , и пе жода решетки d m = = 1/lnm можно записать в виде [c.77]

Первая ступень получения голограммы — это фотографическая запись интерференционной картины, образованной объектной волной в зоне дифракции Френеля и опорной волной. Вторая ступень — восстановление записанного на голограмме изображения объекта путем освещения голограммы репликой опорной волны. Восстановленное таким образом изображение обладает трехмерными свойствами исходного объекта, а его качество зависит от угла между опорной волной и волной, продифрагировавшей на объекте. Габор работал с осевыми голограммами ), для которых этот угол равен нулю (т, е. опорная и дифрагирующая волны являются соосными). При восстановлении голограмма Габора формирует два сопряженных изображения объекта и когерентный фоновый шум, которые локализуются вблизи оптической оси. Это обстоятельство приводит к существенному ухудшению качества восстановленного изображения из-за интерференции между интересующим нас сфокусированным изображением объекта и фоновым шумом, а также между этим шумом и расфокусированным сопряженным изображением объекта. Лейт и Упатниекс в своих экспериментах ввели внеосевую опорную волну, представляющую собой несущую волну, модулированную информацией об объекте. Эти голограммы также создают при восстановлении два сопряженных изображения и фоновый шум однако два восстановленных изображения, каждое из которых может быть сфокусировано отдельно в своей плоскости, оказываются пространственно разделенными по углу друг от друга и от осевого фонового шума. Благодаря этому получаются восстановленные изображения хорошего качества, причем никакой интерференции с другими распределениями света, порождаемыми голографическим процессом, не происходит. [c.154]

Рис. 5.6. Зависимость брэгговского угла падения для меж-модовой дифракции 6 от угла падения записывающих пучков 0, наблюдаемая в LiNbOa Fe [5,4].

В работах [9.133, 9.134] был предложен иной способ преодоления нежелательной высокой угловой селективности объемных фильтров Вандер-Люгта в плоскости падения. Для этого на стадии восстановления второе из обрабатываемых изображений освещается полихроматической плоской волной. Благодаря известной зависимости брэгговского угла дифракции от длины волны каждая спектральная компонента считывающей волны дифрагирует на какой-то своей пространственной частоте записанной голограммы. При этом каждая из них приведет к восстановлению достаточно малого фрагмента выходного изображения, ограниченного угловой селективностью объемной голограммы и расположенного в строго определенном месте выходной плоскости. Все вместе они и образуют искомое выходное изображение, являющееся результатом свертки и корреляции входных картин. Отметим, что последнее при этом окажется окрашенным, а его масштаб—измененным в соответствии с длиной волны, на которой произошло восстановление данного его фрагмента. [c.258]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...