Некогерентный предел

В [5] отмечается, что вследствие дис )фузии водорода в металл происходит разрыв некогерентных границ матрица-включение с образованием микротрещин, давление водорода в которых достигает 200-400 МПа, что сопоставимо с пределом текучести низкоуглеродистых конструкционных сталей. Под воздействием внутреннего давления происходит рост и слияние микротрещин с последующим разрушением металла. Растрескивание стали начинается при концентрации водорода 0,1-10 ppm и протекает при температуре от минус 100 до 100 С. В [4, 5] исследовано влияние парциального давления сероводорода на скорость коррозии и водородное расслоение стали. Последнее активно начинается при парциальном давлении серо- [c.12]

Голограмма имеет громадную информационную емкость. В пределе для бинарной информации (т. е. для информации, принимающей только два значения, например О или 1) и при использовании гелий-неонового лазера с /- = 0,6328 мкм она составляет Л =1,8- 10 бит/см (бит— единица бинарной информации), т. е. на одной фотопластинке можно получить множество голограмм различных предметов путем некогерентного последовательного наложения волновых фронтов и затем раздельного восстановления изображений. Одна из возможностей такой записи заключена в использовании при каждой экспозиции опорных пучков, падающих под различными углами. [c.26]

При спонтанном переходе различные частицы излучают неодновременно и независимо друг от друга. Поэтому фазы испускаемых ими фотонов не связаны между собой, т. е. спонтанное испускание некогерентно. Кроме того, направление распространения испускаемого фотона и его поляризация тоже носят случайный характер, а частота V изменяется в некоторых пределах. [c.269]

Рассмотрим процесс пластической деформации металлической матрицы, содержащей некогерентные дисперсные твердые частицы сферической формы. В общем случае еще до приложения внешней нагрузки в таком материале могут быть остаточные напряжения, обусловленные присутствием частиц [151, 158—161], но в большинстве дисперсно-упрочненных сплавов такие напряжения на порядок ниже предела текучести [146], [c.74]

С учетом статистического коэффициента Кокса [164, 165] и эффективного значения радиуса сферических частиц [141] окончательное выражение для дополнительного напряжения на пределе текучести, обусловленного наличием некогерентных частиц в сплаве, принимает вид [c.80]

Высокая спектральная плотность лазерного излучения характеризуется не только большим количеством энергии, передаваемой посредством пространственно узкого луча, но также очень узкой полосой частот, в пределах которой концентрируется излучение. В спектроскопии, основанной на анализе спектров флуоресценции, интенсивность последней зависит от спектральной плотности поглощенного излучения. В табл. 30 приведены характеристики излучения некоторых типов лазеров и обычных источников света. Маломощный Не—Ме-лазер имеет спектральную плотность излучения почти на четыре порядка выше, чем наиболее интенсивные некогерентные источники света. [c.217]

Прочность жаропрочных суперсплавов сильно зависит от размера зерна и толщины детали. Длительная прочность и сопротивление ползучести возрастают по мере увеличения отношения толщины детали к размеру зерна. Мелкозернистая структура с разветвленными границами зерен характеризуется большей поверхностной энергией и менее стабильна при высоких рабочих температурах. На границах зерен могут образовываться некогерентные с матрицей вьщеления, снижающие жаропрочность. Величина зерна суперсплавов должна соответствовать 3 баллу стандартной шкалы. Более мелкое зерно снижает сопротивление ползучести, а более крупное— вредно сказывается на временном сопротивлении и пределе текучести. [c.583]

Как уже отмечалось, асферические решетки и решетки о переменным шагом штрихов могут иметь значительно большую апертуру (до 1/10—-1/20), которая ограничивается ростом других типов аберраций — комы и кривизны поля. В п. 7.1.2 было показано, что эффективность эшелетта максимальна в положении блеска, т. е. при равенстве углов падения и дифракции по отношению к отражающей грани штриха. Нарезка вогнутых решеток обычно выполняется так, что угол наклона граней штрихов постоянен по отношению к хорде, стягивающей края решетки. При выполнении условия блеска для центра решетки оно нарушается для ее краев, поэтому эффективность дифракции от центра к краям заметно снижается (особенно для решеток о увеличенной апертурой) [24, 28, 77]. Для устранения этого дефекта и повышения полезной апертуры решетка по ширине разделяется на несколько участков, и в пределах каждого участка угол наклона граней при нарезке подстраивается под средний угол падения лучей. Такой прием широко используется, например, в УФ-области (Я < 250 нм), где среднюю эффективность сферической решетки в пределах апертуры около 1/16 удается увеличить в 1,1—1,7 раза [33]. Поскольку отражение от отдельных участков некогерентно, спектральное разрешение такой решетки определяется не полной шириной, а шириной отдельного участка. [c.269]

Во-вторых, спеклы можно усреднить. Осуш,ествляется это движением рассеивателей [8], использованием разных длин волн [6], изменением апертур на той же голограмме [12] и другими более сложными методами [10]. Каждый из этих методов имеет свои преимущества. Но все они снижают разрешение изображения ниже дифракционного предела, соответствующего полной апертуре голограммы. Во всех этих работах использовалось некогерентное сложение изображений исключение составляют работа, которую выполнил автор [3] и в которой улучшение изображения получено обычными методами, а также работа [10], в которой достигнуто улучшение изображения несколько более искусственным путем, поскольку при этом улучшение изображения достигалось за счет непрерывного изменения картин спеклов [8, 10]. [c.406]

Возвращаясь к случаю двух некогерентных источников, заметим, что невозможно точно определить, при каком расстоянии А В получается разделение начиная с очень маленького расстояния А В, сперва становится заметной эллиптичность центрального пятна (фото XI), затем эллиптичность усиливается и постепенно пятна разделяются (см. фото X). В действительности можно было бы пользоваться чувствительным способом восприятия эллиптичности центрального пятна для того, чтобы еще раньше обнаружить присутствие нескольких точечных объектов теоретического предела разрешения не существует, если мы располагаем заранее сведениями о природе объекта, иапример знаем, что имеем дело с двумя идентичными точками. [c.215]

В другом методе ослабления лазерного пучка пользуются тонкими проволочными сетками или экранами для отражения или рассеяния известной части энергии [166]. Обычно их рассчитывают на основе простой геометрической оптики, так что ослабление пропорционально доле площади, перекрываемой проволочками. Сетки можно поворачивать и тем самым плавно изменять ослабление приблизительно в 2 или 4 раза, а пара сеток, установленных под прямым углом друг к другу, позволяет менять ослабление в еще больших пределах. Характеристики таких сеток рассчитываются без учета дифракционных эффектов, а поэтому размеры проволоки и расстояние между ними должны во много раз превышать длину волны. Кроме того, в пучок должно вмещаться много проволок, иначе будут получены ошибочные результаты. Большое число таких сеток с разными угловыми ориентациями трудно установить в ряд (для сильного ослабления) при работе с хорошо коллимированными пучками, но для некогерентных пучков была продемонстрирована возможность большого ослабления [167]. Итак, хотя такие сетки способны выдерживать большие пиковые мощности, они наиболее пригодны для пучков со сравнительно большими сечениями. Сетки из параллельных проволочек создают также некоторые поляризационные эффекты, пропуская несколько больше излучение, поляризованное перпендикулярно проволокам, нежели излучение, поляризованное параллельно. [c.139]

Четыре первых механизма разупрочнения можно классифицировать как разновидности структурного механизма разупрочнения, поскольку все они предполагают изменение структуры, ее однородности в отношении распределения частиц второй фазы. Структурное разупрочнение наблюдается в сплавах с когерентными и некогерентными, упорядоченными и неупорядоченными частицами выделений. Действуют несколько различных механизмов структурного разупрочнения и развития повреждаемости. Устойчивые полосы скольжения, в пределах которых отсутствуют (и исчезают) дисперсные выделения, возникают в А1-, Ni-сплавах, углеродистых и легированных сталях. Конкретный механизм разупрочнения зависит от нескольких факторов структуры, морфологии, размера и распределения частиц дисперсной фазы, а также режима (в том числе температуры) испытаний. Одним из основных факторов, определяющих характер повреждаемости и разупрочнения, следует признать амплитуду напряжения (деформации). С этим связаны, казалось бы, противоречивые данные о склонности к разупрочнению некогерентных и неупорядоченных частиц дисперсной фазы. При достаточно большой продолжительности нагружения ( 10 -10 циклов) повреждаемость (многоцикловая усталость) возникает в сталях, содержаш их крупные 1 мкм некогерентные частицы карбидов (Fe, Сг)дС, как например, в Сг-стали в условиях контактной усталости [157]. [c.232]

Очевидно также, что импульсным методом мы получаем отклик прибора только на когерентное излучение. Однако, найдя отклик и аппаратную функцию для различных участков, в пределах которых когерентность сохраняется, мы легко можем вычислить аппаратную функцию и для некогерентного излучения. [c.36]

Если принять в расчет явление затухающей волны, то можно показать, что в случае распространяющейся волны когерентность должна существовать в пределах линейного размера, превышающего по крайней мере длину волны. В случае квазимонохроматического света взаимная интенсивность, наилучшим образом аппроксимирующая некогерентность, но соответствующая еще распространяющейся волне, дается выражением [5.11] [c.199]

Г. Некогерентный и когерентный пределы [c.302]

По предположению заранее известно, что рассматриваемый некогерентный объект является пространственно ограниченным, т. е. интенсивность объекта /о( ) не равна нулю только в пределах конечного интервала на оси Без потери общности мы можем выбрать начало координат так, чтобы выполнялось условие [c.324]

Несмотря на то что электронная волна может терять энергию или становится некогерентной относительно упруго рассеянного пучка, она сохраняет когерентность, или способность интерферировать сама с собой. Если процесс диффузного рассеяния соответствует изменению вектора рассеяния q, как показано на фиг. 12.4, то между точками h q, где h— вектор обратной решетки, будет иметь место л-волновая динамическая дифракция, причем взаимодействие будет зависеть от структурных амплитуд Ф(Ь1 — hj) и соответствующих ошибок, связанных с возбуждением. Расчет для области III следует проводить отдельно для каждого вектора в пределах зоны Бриллюэна (или основной элементарной ячейки обратной решетки). [c.276]

Набор событий 18 Наклон волнового фронта 409 Некогереитное поле 199 Некогерентный предел 302 Неоднородная среда 362—366 Неравенство Шварца 27, 197 [c.516]

Дефекты основного металла и сварных соединений приводят к образованию некогерентных границ зерен, коррозионно нестойких пленок, создают концентрацию макро- и микронапряжений, повышают термодинамическую неустойчивость дефектных участков поверхности и интенсифицируют их наво-дороживание и электрохимическое растворение. Поэтому для повышения надежности оборудования и коммуникаций, контактирующих с сероводородсодержащими средами, наряду с тщательным входным контролем соответствия материалов конструкций техническим условиям на их поставку и неразрушающим контролем монтажных сварных соединений, эффективными являются предпусковые гидроиспытания металлоконструкций давлением, создающим напряжения до 95% от минимального нормативного значения предела текучести металла [33, 34]. В ходе этих испытаний разрушаются участки основного металла и сварных соединений, содержащие потенциально опасные дефекты. Вокруг оставшихся неопасных дефектов образуются зоны остаточного сжатия, повышаюшего коррозионную стойкость сварных соединений. Кроме того, после гидравлических испытаний в 2-3 раза снижаются максимальные остаточные напряжения в зоне сварных соединений труб за счет пластического удлинения растянутых областей металла. Одновременно снижаются наиболее высокие монтажные напряжения в трубопроводах. Там, где по техническим причинам проведение гидроиспытаний не представляется возможным, для выявления недопустимых дефектов необходимо применять 100%-ный радиографический контроль сварных соединений и его 100%-ное дублирование ультразвуковым методом [25, 35]. [c.67]

Недавно Уилкинсон и др. [221] изморили когерентное и некогерентное рассеяние нейтронов на электронах ванадия, свинца и ниобия выше и ниже Т0ЧК11 перехода. Ни в одном из этих случаев не было обнаружено изменения когерентного рассеяния или диффузного фона. Этот результат показывает, что при переходе в сверхпроводящее состояние не нронсходпт зал1етных изменении электронного распределения. Исследование рассеяния Нейтронов на ядрах в свинце и ниобии показало, что при переходе не происходит резко выраженного изменения колебаний атомной решетки ). Эти же авторы показали, что полное сечение для тепловых нейтронов у олова в нормальном и сверхпроводяш,ем состояниях одинаково в пределах 1 %. [c.672]

Механические свойства гетерогенных систем подробно исследованы в работах [19, 95,138—147]. Улучщение прочностных характеристик, прежде всего предела текучести, этих систем по сравнению с гомогенными материалами обусловлено наличием структурных неоднородностей, создающих дополнительное сопротивление движению дислокаций. Согласно работе [145], эти неоднородности можно классифицировать следующим образом 1) локальные изменения, вызванные флуктуациями состава и приводящие к образованию метастабильных групп-кластеров, которые могут длительно существовать при низких температурах в силу замедленных процессов диффузии 2) мета-стабильные зоны типа зон Гинье — Престона (предвыделения) 3) выделения второй фазы, имеющие когерентную или некогерентную связь с матрицей, а также включения второй фазы 4) смесь двух фаз, представляющая собой поликристалл, состав отдельных зон которого может быть различным (следуя Гуарду [139], часто применяется термин конгломератная структура ). [c.71]

Требуемая энергия зондирования может быть сосредоточена в одном импульсе или в группе из п когерентных импульсов (т. е. пмпульсных вырезок из единого синусоидального колебания при этом напряжение сигнала на выходе возрастает в п раз в сравнении с одним импульсом). Возможно также увеличить энергию сигнала за счёт некогерентного интегрирования импульсов на видеочастоте в этом случае не потребуется поддержания определённых фазовых соотно1пений между импульсами на высокой и промежуточной частотах, но напряжение на интеграторе будет возрастать только как У"п. В теории Р, доказывается, что существует оптимальный приём, при к-ром достигается наибольшее возможное при данной энергетике превышение сигнала над шумом на выходе согласованного фильтра фильтра электрического, импульсная характеристика к-рого является зеркальным отражением на оси времени), Когерентный приём позволяет приблизить энергетику РЛС к теоретик, пределу. [c.220]

В случае когерентных частиц избыточной фазы дислокации под действием приложенных напряжений либо перерезают, либо огибают эти частицы, что зависит от их размера, прочности и расстояния между ними. В случае некогерентных частиц возможно только огибание их дислокациями. На (рис. 81, б) показано сначала выгибание, а затем (при больших напряжениях) и огибание частиц дислокациями. При возрастании напряжении дислокации образуют замкнутые дислокационные петли вокруг частиц (рис. 81, б). Оставив вокруг частиц петли, дислокации продолжают скользить в прежнем направлении (эти петли или кольца, естественно, препятствуют движению новых дислокаций). Предел текучести при дисперсном упрочнении зависит от размера частиц d и их объемной доли /. Уравнение прочности в эл ом случае идгеет вид [c.116]

Наиболее наглядный подход к расчету АК реального ИФП осуществляется в приближении элементарных интерферометров, которое предложено Ш. Дюфуром [11] и использовано во многих работах см., например, [35, 36, 42] . Согласно этому методу разобьем поверхность реального ИФП на большое число маленьких зеркал, каждое из которых будет составлять вместе с поверхностью противоположного зеркала элементарный интерферометр. Размер каждого элементарного интерферометра надо выбрать настолько малым, чтобы в пределах взятой площади ASk элементарного интерферометра его можно было бы считать идеальным ИФП. С другой стороны, при расчетах для пространственно некогерентного света мы будем складывать комплексные амплитуды световых лучей, прошедших через один и тот же элементарный интерферометр, и поэтому площади элементарных интерферометров должны быть больше размеров области пространственной когерентности. При обычно используемых газоразрядных источниках этот размер может быть оценен с помощью теоремы Ван-Циттера — Церниюе [5]. Площадь области пространственной когерейтности на фронте [c.9]

Как уже отмечалось выше, фаза отдельного элемента спекл-структу-ры в пределах зтого элемента практически остается постоянной и меняется случайным образом при переходе от одного такого элемента к другому. Поэтому область пространственной когерентности такого поля равна размеру индивидуального элемента спеклч труктуры [163] и определяется выражением (7.13). Следовательно, если два идентичных диффузно когерентных поля сдвинуты друг относительно друга на величину, превышающую размер индивидуального спекла, то эта световые поля будут пространственно некогерентными, и низкочастотная интерференционная картина не возникнет. Для рассматриваемого случая полное нарушение корреляции между двумя спеклч труктурами будет наступать при выполнении соотношения [c.142]

Из (7.108) видно, что вне области G средняя интенсивность света в два раза выше, чем в пределах области С, при условии to(x, ) с = )U, уфс -Это объясняется тем, что световые поля, соотретствующие первой и второй зкспозициям вне области G, являются пространственно когерентными и интерферируют, тогда как в пределах области G вследствие нарушения микрорельефа зти поля оказываются пространственно некогерентными и, следовательно, складываются по интенсивности. В силу такого различия освещенности область С может быть выявлена и в зтом случае, однако с меньшей уверенностью, так как изображение G в зтом случае формируется на ярком фоне. Более того, амплитудный козффициент отражения может значительно изменяться на поверхности объекта и может быть в области С больше, чем на других участках поверхности, что еще больше затруднит ее выявление. Это означает, что пространственная ( 1лырация в темной полосе обладает очевидными преимуществами при решении рассматриваемой задачи. [c.185]

Теперь становится понятнее поведение кривой, пред-ставляюгцей множитель контраста, когда отверстие конденсора изменяется в пределах, соответствующих когерентному и некогерентному освещению (эти предельные случаи даны штриховыми линиями в верхней части фиг. 63). [c.145]

Отсюда естественно возникает мысль, что новое фильтрование простран-ственных частот, осуществленное в фотографическом изображении, может его улучшить. Действительно, законы фильтрования — оптический v )] и эмульсии [deiyJ, v )] — оба являются законами пропускания низких частот , и различные частоты постепенно ослабляются вплоть до той, при которой пропускание равно нулю (например, при предельной оптической частоте). Но мы видели, что контраст подробностей в изображениях в сильной степени зависит от хода закона фильтрования — даже стигматический прибор с круглым зрачком дает для изображения маленькой темной линии контраст 8/(1,2Л/а ) в случае некогерентного освещения и приблизительно вдвое больше при когерентном освещении. Однако полная ширина полосы пропускания частот при некогерентном освещении равна 4а Д и только 2а % при когерентном освещении пучком, параллельным оси. Следовательно, изменяя множитель контраста в пределах полосы пропускания, можно заметно влиять на контраст участков изображения. Предыдущие соображения наводят на мысль, что преобразованием этого закона, исходя из случая некогерентного освещения, можно, в частности, вчетверо увеличить контраст изображения маленькой темной линии. [c.253]

В простейшем варианте пучок непрерывного лазера пропускается через кристалл ВаТЮз, в котором он испытывает сильное ослабление в результате светоиндуцированного рассеяния ( 2.2). Достижение нужной степени ослабления осуществляется управлением усиления за проход при изменении угла падения пучка на кристалл. Пучок легко ослабляется в десятки раз. Допустимые пределы интенсивности 1 I 100 Вт/см . Нижний предел определяется темновой проводимостью ( 2.1), верхний — тепловым разрушением сегнетоэлектрической фазы (для ВаТЮз точка Кюри равна Т 120 °С). Свет, выводимый из пучка, не поглощается, а только изменяет направление своего распространения. Необходимые потери связаны лишь с записью решеток. Естественно, что некогерентный свет в указанном процессе не участвует. При необходимости эффективного использования всего излучения (в том числе и выводимого из падающего пучка) выгоднее использовать двухпучковые схемы, а также все схемы саКюнакачиваю-щихся лазеров на четырехволновом смешении. В эксперименте пучок Аг -лазера (488 нм, 12 мВт) фокусировался на кристалле ВаТЮз. прозрачность которого через 120 мс выходила на стационарное значение 2 % в схеме с рассеянным светом и 5 % в схеме с ФРК-лазером с полулинейным резонатором (отметим более эффективное ослабление пучка в отсутствие лазерной генерации). Описанный нелинейный ограничитель мощности лазерных пучков обладает рядом достоинств [14] работа во всем видимом и ближнем ИК диапазонах, возможность одновременного ослабления нескольких пучков с различными углами падения и/или длинами волн (в том числе с малыми длинами когерентности), многократное использование одного кристалла путем стирания наведенных решеток и др. [c.238]

Принимая во внимание большой интерес к новым успехам в оптике и желая поскорее ознакомить с ними широкие круги спе циалистов за пределами лекционной аудитории, а также по воз можности стимулировать дальнейший прогресс в этой области автор представил значительную часть первоначальных записей лекций в том виде, как они были опубликованы в двух изда ниях Мичиганского университета (май 1964 г., март 1965 г.) под названием Введение в оптику когерентного и некогерентного электромагнитного излучения . Автор приносит извинения за тС леграфный стиль изложения и недоработки, которые встречаются в книге, а также за многие возможные пробелы в списках литературы, приведенных в соответствующих главах книги. [c.13]

Эти очень общие рассуждения определены, конечно, лишь с точностью до множителя порядка единицы. Чтобы получить более точные сведения об изменениях, происходящих в голограмме вследствие отклонения от абсолютной когерентности, рассмотрим простой случай освещения через физическую апертуру диаметром d и исследуем ее влияние на систему полос, созданных точечным предметом, расположенным на оси на расстоянии 2о от апертуры. Каждая точка освещающей апертуры создает систему полос, концентрических с осью, связывающей эту точку с точкой предмета. Эти системы полос взаимно некогерентны, следовательно, их интенсивности должны суммироваться. На краю голограммы угловое расстояние между двумя полосами равно V osinYm- Если две системы полос смещены друг относительно друга на половину этого расстояния, то они будут полностью дополнять друг друга и интерференционные полосы пропадут. Этот случай соответствует расстоянию между двумя точками источника Х/2 sin уш, которое как раз равно пределу Аббе с1а- [c.256]

Первые исследования HP в отпаянных ЛПМ были проведены с АЭ ГЛ-201 при прямой схеме возбуждения и ЧПИ 8 кГц, когда длительность импульсов излучения составляла примерно 40 не. Увеличение М телескопического HP изменялось в пределах 5 < М 300. В диапазоне 60 М 300 выходное излучение имело четырехпучковую структуру два некогерентных пучка сверхсветимости и два резонатор-ных пучка при 5 М < 60 структура была пятипучковой появлялся третий резонаторный пучок (рис. 4.6, а). Резонаторные пучки отчетливо наблюдались при фокусировке излучения зеркалом с радиусом кривизны R — 15 м. Распределение интенсивности выходного излучения в дальней зоне (плоскость фокусировки) имеет явно выраженный ступенчатый характер (рис. 4.6, б). По такому распределению нетрудно [c.116]

Л разрешения предполагалось, что две точки предмета Si и S2 представляют собой некогерентные точечные источники, и в плоскости создаваемого оптической системой изображения происходит простое наложение дифракционных картин от каждого из них. Несамосветящийся объект должен быть освещен каким-либо источником света. Если этот источник точечный, то световые колебания в точках Si и S2 освещаемого им предмета когерентны. Любой реальный источник имеет конечные размеры, поэтому в общем случае световые колебания в близких точках Si и S2 освещаемого предмета будут частично когерентны. Степень пространственной когерентности 712 световых колебаний в точках Si и S2 зависит от расстояния Z между ними и от угловых размеров источника света (см. 5.5). Когда применяется оптическая осветительная система (конденсор), отображающая светящуюся поверхность источника на плоскость объекта (рис. 7.32), роль углового размера источника играет выходная апертура 2uo осветителя в пределах центрального максимума дифракционной картины от его оправы световые колебания частично когерентны, ибо каждая точка источника отображается конденсором в виде кружка конечных размеров. Радиус этого круж-ка, т. е. размер области когерентности, порядка К/ио- Если апертура осветителя мала по сравне-нию с числовой апертурой объектива микроскопа, то расстояние Zmin между точками Si и S2, лежащими на пределе разрешения, много меньше ширины дифракционного кружка от оправы конденсора и световые колебания в Si и S2 можно считать полностью когерентными. [c.372]

В другом предельном случае корреляция атомных положений не выходит за пределы расстояний, необходимых для образования заметной рассеянной амплитуды. Относительные фазы волн, рассеянных строго скоррелированными группами атомов, будут изменяться случайным образом при переходе от одной группы атомов в кристалле к другой. Тогда интенсивности многократного рассеяния складываются некогерентно. Этот случай был отнесен к многократному упругому рассеянию . Очевидно, что на практике может осуществляться некоторый промежуточный случай или комбинация промежуточных положений, так что точное описание рассеяния может оказаться очень сложным. [c.100]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...