Оптические осветительные системы

Перед оптической осветительной системой ставится задача наиболее полным образом использовать световой поток, попадающий в систему, и создать равномерную освещенность предмета. [c.305]

ОПТИЧЕСКИЕ ОСВЕТИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ [c.179]

С помощью оптической осветительной системы решают задачи наиболее полного использования светового потока, попавшего в систему, и создания равномерной освещенности предмета. [c.179]

Осветительная система микроскопа состоит из источника света 1 — ртутной лампы сверхвысокого давления типа ДРШ-100-2, коллектора 2, проектирующего светящуюся плазму лампы в плоскость апертурной диафрагмы 3. Последующий путь светового потока зеркало 4, осветительная линза 5 и светоделительное зеркало 6. Последнее обладает соотношением коэффициентов отражения и пропускания Г = 1 2 и установлено под углом 45° к оптическим осям светового потока осветителя и микроскопа при этом исследуемый образец 7 освещается и изучается в прямом светлом поле. [c.138]

В крышке камеры имеется смотровое плоскопараллельное стекло 29 диаметром 50 и толщиной 1,5 мм. Для фотографирования микроструктуры используется микрофотонасадка типа МФН-8 для съемки на фотопластинки размером 9 X 12 см или МФН-12 для съемки на кинопленку шириной 35 мм. Оптическая система микроскопа разделена на две части. Вне рабочей камеры установки находятся тубус, осветительная система и окуляр, жестко соединенные с вертикальным валом 30, проходящим через систему подвижного [c.164]

Принцип действия и устройство металлографического микроскопа. Для изучения микроструктуры металлов используют металлографические микроскопы (рис. 1.4). Подготовленный соответствующим образом шлиф 1 помещают перпендикулярно оптической оси микроскопа в плоскости, совпадающей с передней главной фокальной плоскостью объектива 2. Шлиф освещается проходящим через объектив почти параллельным оптической оси пучком света, который формируется посредством осветительной системы, состоящей из источника (лампы) 3, коллекторной линзы 4, апертурной 5 и полевой 7 диафрагм, вспомогательных линз 6, 8 и полупрозрачной пластинки 9. Световые лучи, отражающиеся от участков поверхности шлифа, приблизительно нормальных оптической оси микроскопа, попадают в объектив. а те лучи, которые отражаются от неровностей поверхности, не попадают в его поле. На конечном, изображении поверхности [c.22]

Осветительные системы, состоящие из нескольких источников и общей оптической системы. Простейшая схема этой группы представлена на рис. VI.25. В фокальной плоскости линзы L (или зеркалу М) размещено несколько источников S,, Sj, S . . . Линза L образует их изображения на бесконечности эти изобра- [c.464]

Составные осветительные системы. Под составной осветительной системой мы будем понимать совокупность одинаковых, рядом расположенных осветителей, состоящих каждый из источника света и оптической системы, причем каждый осветитель освещает только свою площадку на общем экране. [c.467]

Осветительные системы со множеством источников света, расположенных на щите, принципиально не могут создавать равномерного освещения, по крайней мере без дополнительных приспособлений. Наиболее действенный способ добиться равномерности заключается в использовании одной дополнительной детали в оптической системе осветителя, а именно рассеивателя, назначение которого состоит в том, чтобы иа некотором (по возможности небольшом) протяжении перемешивать световые потоки, освещающие экран. [c.472]

Хотя конструкции различных типов микроскопов значительно отличаются друг от друга, тем не менее каждый микроскоп имеет следующие основные узлы и устройства. Оптические узлы осветительная система, объектив и окуляр механические узлы штатив или корпус для крепления оптических деталей, предметный столик и механизмы для фокусировки микроскопа. [c.20]

Оптическая схема микроскопа показана на фиг. 53. Источник света 1 проектируется в плоскость апертурной диафрагмы 2, полевая диафрагма 3 — в плоскость объекта 4. После поляризатора (поляризационной призмы) 6 лучи попадают на полупрозрачную отражательную пластинку 7, направляющую свет в объектив 5, который работает и как часть осветительной системы, и как объектив, дающий изображение объекта. Отражательная пластинка 7 может быть заменена призмой 8, которая несколько увеличивает освещенность объекта и создает эффект косого освещения, выявляющего рельеф поверхности образца. Отраженные от объекта лучи после объектива идут в анализатор 9 (поляризационный фильтр) и изображение объекта наблюдается через окуляр 10. [c.107]

Светосила оптического прибора при малой задней апертуре (проекционные приборы, осветительные системы, прожекторы и т. д.) [c.128]

Устранение несовпадения оптических осей осветительной системы и микроскопа. Правильность положения тубуса нижнего освещения проверяют по боковой поверхности плитки размером 2 мм (см. фиг. 67) при нулевом положении колонки и диафрагме, открытой на пять-семь делений. Плитку устанавливают так, чтобы длинное ребро ее было направлено параллельно сначала продольному, а затем — [c.193]

Устранение несовпадения оптических осей осветительной системы и микроскопа. Положение тубуса нижнего освещения проверяют по плитке размером 2 мм, притертой к плитке большего размера, установленной на стол микроскопа, как показано на фиг. 67. Методика проверки сохраняется такой же, как для инструментальных микроскопов малой и большой моделей. Правильность положения трубки 3 можно проверить по форме светового пятна, проектирующегося на папиросную бумажку, помещенную на выдвинутую скалку. При неправильном освещении плитки, когда ее длинное ребро параллельно оси перемещения каретки, производят юстировку тубуса поворотом трубки 3 с линзой (фиг. 123) вокруг оси в пределах зазора между винтами 7 и отверстиями предварительно слегка отвертывают винты 7 и стопорный винт 8. Если этого недостаточно для устранения дефекта освещения, нужно слегка повернуть весь тубус 9, предварительно ослабив винт 13 (фиг. 122,6), крепящий тубус к колонке 14. Устранение этого дефекта в небольших пределах возможно перемещением оправы 10 (фиг. 123) в пределах зазора между винтами 11 и отверстиями в оправе 10, предварительно немного отвернув винты 11. При перемещении оправы наблюдают в окуляр поверхность плитки. Закрепив винты, повторяют проверку. [c.260]

Изучение препарата при рассмотренном способе освещения называется методом светлого поля в проходящем свете. При реализации данного метода необходимо обеспечить достаточно строгую соосность оптических осей объектива и осветительной системы. Этот метод применяют для исследования прозрачных препаратов с элементами, по разному поглощающими свет. [c.36]

Осветительная система микроскопа состоит из лампы 1, которая может центрироваться относительно оптической оси (на схеме оптическая ось микроскопа показана сплошной черной линией), коллекторной линзы 2, проектирующей источник света на плоскость апертурной диафрагмы 5, и набора светофильтров 4. [c.8]

Подавляющее большинство оптических приборов, предназначенных для световых измерений, сочленено посредством осветительной системы с постоянным источником света, т. е. снабжено, как говорят, осветителем. Осветитель предназначен прежде всего для конструирования световых полей (полей зрения) оптического прибора. [c.33]

Источник спета устанавливается на оптической оси спектрографа на значительном расстоянии, с тем чтобы с помош ью соответствующим образом подобранной осветительной системы можно было равномерно осветить щель спектрографа и полностью заполнить светом коллиматорный объектив (см. 4 гл. 2). [c.389]

На фиг. 17 показана измерительная машина с пределами измерений О—1000 мм. Вдоль станины I может перемещаться задняя бабка 2, несущая неподвижный измерительный наконечник и жестко связанная с осветительной системой 3. На передней бабке 4 помещаются отсчетный микроскоп 5 и оптиметрическая трубка 6, несущая чувствительный измерительный наконечник. На станине укреплена стеклянная шкала с делениями через 0,1 мм на длине 100 мм. На одной оси со шкалой помещено десять стеклянных пластинок с двойными штрихами. Штриховые пластинки занумерованы справа налево от О до 9. Расстояние от оси симметрии штрихов первой пластины до нулевого штриха шкалы равно 100 мм. Расстояния между штрихами соседних пластинок также равны 100 мм. Проверяемое изделие укладывается на люнеты (на фигуре не показаны) или на стол, устроенный по типу стола горизонтального оптиметра. Ось измерения располагается не на одной оси со шкалой машины однако оптическая схема машины рассчитана таким образом, что перекосы проверяемого изделия относительно оси шкалы вызывают лишь ошибки второго порядка. [c.16]

Оптиметр ОВЭ-1 (рис. 67, а) состоит из измерительной головки 2 с осветительной системой 1. Все оптические части прибора размещены внутри корпуса на передней части которого установлен экран, защищенный от внешнего света блендой 3. Головка закреплена винтом 5 в кронштейне 4 стойки С-II. Положение стола 6 с ребристой поверхностью регулируют маховичками 7 и фиксируют винтами 8. Упор 9, закрепленный в державке [c.95]

Металлографический микроскоп состоит из оптической системы осветительной системы с фотографической аппаратурой и механической системы. [c.58]

Оптическая система спектрографа построена по автоколлимационной вертикально-симметричной схеме. Излучение источника проецируется с помощью осветительной системы, состоящей из конденсоров 1, 2, 3, на входную щель 4, отклоняется поворотным зеркалом 5 и попадает на сферический зеркальный объектив 7. После объектива излучение параллельным пучком направляется [c.407]

Л разрешения предполагалось, что две точки предмета Si и S2 представляют собой некогерентные точечные источники, и в плоскости создаваемого оптической системой изображения происходит простое наложение дифракционных картин от каждого из них. Несамосветящийся объект должен быть освещен каким-либо источником света. Если этот источник точечный, то световые колебания в точках Si и S2 освещаемого им предмета когерентны. Любой реальный источник имеет конечные размеры, поэтому в общем случае световые колебания в близких точках Si и S2 освещаемого предмета будут частично когерентны. Степень пространственной когерентности 712 световых колебаний в точках Si и S2 зависит от расстояния Z между ними и от угловых размеров источника света (см. 5.5). Когда применяется оптическая осветительная система (конденсор), отображающая светящуюся поверхность источника на плоскость объекта (рис. 7.32), роль углового размера источника играет выходная апертура 2uo осветителя в пределах центрального максимума дифракционной картины от его оправы световые колебания частично когерентны, ибо каждая точка источника отображается конденсором в виде кружка конечных размеров. Радиус этого круж-ка, т. е. размер области когерентности, порядка К/ио- Если апертура осветителя мала по сравне-нию с числовой апертурой объектива микроскопа, то расстояние Zmin между точками Si и S2, лежащими на пределе разрешения, много меньше ширины дифракционного кружка от оправы конденсора и световые колебания в Si и S2 можно считать полностью когерентными. [c.372]

В настояп1ей монографии введена новая глава (гл. VI), рас-сматриваюп1ая осветительные системы. Как показала практика последних десятилетий, эти системы получили большое развитие и к ним предъявляется ряд трудно осуп1ествимых требований, в результате чего расчет их по трудности не уступает расчету наиболее сложных оптических систем. [c.4]

Осветительные системы, состоящие нз большого числа источников и общей оптической системы. В этой группе источники располагаются на щите излучаемые от иих световые потоки отражаются от параболических отражателей (это позволяет использовать до 40% излучаемой энергии с помощью контротражателей можно еще увеличить коэффициент использования) и направляются на кварцевую линзу Li (рис. VI.26), на которой образуются изображения всех источников. Эта линза находится в передней [c.465]

Оптическая схема (фиг. 27) при наблюдении препаратов в ультрафиолетовых лучах состоит из двух частей системы освещения и проектирования и системы, преобразующей ультрафиолетовое изображение в видимое. Источник света 1 проектируется в плоскость апертурной диафрагмы 2, полевая диафрагма 3 проектируется конденсором 4 в плоскость препарата 5. Для выделения длины волны света, необходимой для исследования, в осветительное системе устанавливаются различные светофильтры. Объектив 6 и дополнительная система 7 проектируют изображение препарата на люминесцирующий экран 8, который превращает невидимое изображение в видимое. Это видимое изображение рассматривается с помощью вспомогательного микроскопа, состоящего из объектива [c.62]

Конструкция микроскопа показана на фиг. 34. В основании 1 установлена стойка 2, на которой винтом 3 закреплен корпус 4 с оптической головкой 5. Снизу головки на салазках вставлен эпиобъектив 6. Центрирующийся патрон 7 с лампой помещен в патрубке 8 осветительной системы. В передвижной колодке 9 смонтированы сменные диафрагмы для светлого и темного поля. Рукоятка 10 служит для выключения полупрозрачной пластинки при переходе к освещению по методу темного поля. [c.76]

Конструкция микроскопа представлена на фиг. 59. Основание 1 служит одновременно столиком. В основании размещена осветительная система для проходящего света лампа и поворотное плоское зеркало, обратная сторона которого имеет белую поверхность диффузного отражения. На стойке 2, закрепленной в столе, установлен подвижный кронштейн с оптической головкой 3. Снизу в оптическую головку ввинчен объектив, внутри находятся галилеевские системы, которые переключаются с помощью рукоятки 4. На оптической головке установлены тубусы с окулярами 5. Тубусы разворачиваются на угол, достаточный для их установки в соответствии с расстоянием между глазами наблюдателя. Фокусировка микроскопа производится перемещением оптической головки с помощью кремальеры рукоятки 6. Для удобства работы к основанию микроскопа присоединены подлокотники. [c.118]

В крышке камеры имеется смотровое плоско-параллельное стекло диаметром 50 и толщиной 1,5 мм. Для фотографирования микроструктуры используется микрофотопасадка (типа МФН-8 для съемки на фотопластинки размером 9x12 см или МФН-12 для съемки на фотопленку шириной 35 мм). Оптическая система микроскопа разделена на две части. Вне рабочей камеры установки находятся тубус, осветительная система и окуляр, жестко соединенные с вертикальным валом 34, проходящим через систему подвижного вакуумного уплотнения. На нижнем конце этого вала внутри рабочей камеры укреплен стальной сектор 35, на котором смонтированы соосный с тубусом объектив 36, а также механизм подвески алмазного индентора. [c.20]

В общем виде проверка совпадения оптических осей осветительной системы и микроскоЦа с о кулярной сеткой (или шкалой), рабо- [c.158]

Осветительная система устройства фотозаписи действует следующим образом. От электрической лампочки накаливания 1 через коллектор 11 свет направляется на диафрагму 10, далее через линзу 9 и после отражения от зеркал 8 и 2 свет попадает на сферическое зеркало 6. Сферическое зеркало лучом, отраженным от зеркал 5 и 7, строит изображение диафрагмы 10 в плоскости пластинки 4. Так как одна и та же диафрагма не может быть использована при записи и наводке, то в момент включения механизма развертки времени большая наводочная диафрагма автоматически заменяется маленькой, изображение которой чертит на пластинке тонкую линию графика. Зеркала 2 п 3 могут менять наклон для первоначальной юстировки оптической системы. С целью вертикального смещения пишущей точки на пластинке зеркало 7 может поворачиваться от специальной рукоятки. [c.174]

В самом деле, можно легко показать, что в любом из визуальных наблюдательных п измерительных устройств, таких, например, как спектроскоп, интерферометр, поляриметр, рефрактометр, микроскоп и т. п., в качестве одного из существенных узлов прибора используется зрительная труба. Осветительные системы ко всем указанным выше приборам с оптотехнической точки зрения также практически одни и те же. Наконец, переход от визуальных наблюдений к фотографическим сводится по существу к замене оптической системы глаза оптической системой фотоаппарата. При фотоэлектрических измерениях на место фотопластинки устанавливается фотоэлемент или тепловой приемник света. [c.11]

На рис. 138 приведена полная оптическая схема интерферометра типа Н а гена с осветительной системой. Она состоит пз двух толстых стеклянных илоскоиараллельных нластпн / и II, которые установ.чены между объективами и 06 входного и выходного коллиматоров в параллельных пли сходящихся пучках. Последнее зависит от характера использованного источника света При наличии источника с достаточно широкой, равномерно излучающей поверхностью он может быть установлен в фокальной [c.176]

Типичным представителем описываемого класса рефрактометров является рефрактометр Пульфриха типа ИРФ-23, широко используемый в аналитической практике. Оптическая схема прибора изображена на рис. 352. Свет от источника б , который дает лине11чатый спектр, с помощью осветительной системы О направляется вдоль горизонтальной грани измерительной призмы Р. На поверхности этой призмы установлена цилиндрическая кювета, наполненная исследуемо жидкостью. Исследуемая жидкость выполняет роль среды I, а измерительная призма — роль среды II (рис. 351). Гран ца светотени рассматривается через зрительную [c.465]

Оптическая трехиризменная система, обычно используемая в стилоскопах, была приведена ранее на рис. 96. Внешний вид стилоскопа СЛ-3 с осветительной частью к нему приведен на рис. 451. Дисперсионная система в этом приборе старого типа состоит из трех 60° призм и одной призмы полного внутреннего отражения. [c.601]

Задание. 1. Ознакомиться с оптической схемой и конструкцией спектрографа ИСП-30, а также правилами юстировки осветительной системы по техническому описанию. Ознакомиться с работой на приборах спектропроектора ДСП-1 и измерительном микроскопе МИР-12. 2. Отъюстировать осветительнук систему и приступить к фотографированию спектров. Последовательно сфотографировать спектры железа и меди и сразу же после фотографирования каждого спектра впечатать миллиметровую шкалу. 3. Осуществить градуировку шкалы после обработки фотопластинки провести отождествление спектральных линий железа по длинам волн, пользуясь спектропроектором и атласом спектра железа, и определить положение этих линийг относительно миллиметровой шкалы. 4. Построить градуировочную кривую iV = f(Л), где N — отсчет по шкале на фотопластинке X — длина волны. 5. Определить длины волн некоторых спектральных линий меди, пользуясь градуировочной кривой V = f( ,). Сопоставить и уточнить найденные длины волн па таблицам спектральных линий. [c.521]

Рпс. 14. Оптическая линейка а — общий вид б — схема i — лампа, г — сетка Оифиляра 3 — объектив энрана 4 — проекционный окуляр Л — микровинт в — микрообъектив 7 — полевая диафрагма 8 — зеркально-линзовые объективы 9 — опора линейки 10 — корпус линейки 11 — ро.-шки 12, 13, 18, 19 — элементы осветительной системы 14 — щуп 15 — измерительная каретка 16 — визирный штрих 17 — изображение визирного штриха [c.530]

Для выделения узких областей спектра в осветителе имеется монохроматор с диспергирующей призмой Аббе. При наблюдении полос равной толщины источник света осветительной системой проектируется в плоскость диафрагмы (входной зрачок) коллиматора. При наблюдении полос равного наклона до диафрагмы на расстоянии, большем фокусного расстояния объектива коллиматора, устанавливается матовое стекло. Зеркало 3i не имеет смещения вдоль оптической оси, но может наклоняться. В его ветви расположен столик для образцов, снабженный механизмами иодъ- [c.175]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...