Пределы некогерентный и когерентный

Г. Некогерентный и когерентный пределы [c.302]

Четыре первых механизма разупрочнения можно классифицировать как разновидности структурного механизма разупрочнения, поскольку все они предполагают изменение структуры, ее однородности в отношении распределения частиц второй фазы. Структурное разупрочнение наблюдается в сплавах с когерентными и некогерентными, упорядоченными и неупорядоченными частицами выделений. Действуют несколько различных механизмов структурного разупрочнения и развития повреждаемости. Устойчивые полосы скольжения, в пределах которых отсутствуют (и исчезают) дисперсные выделения, возникают в А1-, Ni-сплавах, углеродистых и легированных сталях. Конкретный механизм разупрочнения зависит от нескольких факторов структуры, морфологии, размера и распределения частиц дисперсной фазы, а также режима (в том числе температуры) испытаний. Одним из основных факторов, определяющих характер повреждаемости и разупрочнения, следует признать амплитуду напряжения (деформации). С этим связаны, казалось бы, противоречивые данные о склонности к разупрочнению некогерентных и неупорядоченных частиц дисперсной фазы. При достаточно большой продолжительности нагружения ( 10 -10 циклов) повреждаемость (многоцикловая усталость) возникает в сталях, содержаш их крупные 1 мкм некогерентные частицы карбидов (Fe, Сг)дС, как например, в Сг-стали в условиях контактной усталости [157]. [c.232]

Очевидно также, что импульсным методом мы получаем отклик прибора только на когерентное излучение. Однако, найдя отклик и аппаратную функцию для различных участков, в пределах которых когерентность сохраняется, мы легко можем вычислить аппаратную функцию и для некогерентного излучения. [c.36]

Несмотря на то что электронная волна может терять энергию или становится некогерентной относительно упруго рассеянного пучка, она сохраняет когерентность, или способность интерферировать сама с собой. Если процесс диффузного рассеяния соответствует изменению вектора рассеяния q, как показано на фиг. 12.4, то между точками h q, где h— вектор обратной решетки, будет иметь место л-волновая динамическая дифракция, причем взаимодействие будет зависеть от структурных амплитуд Ф(Ь1 — hj) и соответствующих ошибок, связанных с возбуждением. Расчет для области III следует проводить отдельно для каждого вектора в пределах зоны Бриллюэна (или основной элементарной ячейки обратной решетки). [c.276]

В пределах выходной апертуры, и интенсивности излучения от этих площадок складываются. Это приводит к усреднению флуктуаций интенсивности. Чем меньше начальная когерентность источника, характеризуемая величиной ак, тем больше независимо излучающих когерентных площадок умещается на поверхности выходной апертуры и тем сильнее усредняются флуктуации интенсивности в точке приема. В частном случае плоской волны происходит полное усреднение флуктуаций при ак->0. В случае же некогерентного источника конечных угловых размеров происходит увеличение его когерентности с расстоянием по теореме Ван Цит-терта—Цернике [23], и, следовательно, полного усреднения флуктуаций интенсивности в этой ситуации не будет. В результате относительная дисперсия интенсивности в точке приема с уменьшением радиуса когерентности (ак->0) спадает не до нуля, как в случае плоской волны, а до некоторого уровня, зависящего от [c.127]

В отличие от задач рассеяния при распространении в пределах прямой видимости наблюдаемая волна всегда является суперпозицией падающей и рассеянной волн, поэтому необходимо рассматривать когерентное (среднее) поле и некогерентное (флуктуационное) поле. Примерами распространения в пределах прямой видимости являются распространение микроволнового и оптического излучения в атмосферной турбулентности и распространение акустических волн в биологической среде. [c.98]

Задачи рассеяния и распространения в пределах прямой видимости удобно рассматривать отдельно, так как поведение волн в этих двух случаях носит совершенно различный характер. В задаче рассеяния волна является почти полностью некогерентной, причем в отсутствие среды рассеянная волна вообще отсутствует. В задаче распространения в пределах прямой видимости исследуемая волиа содержит как когерентную, так и некогерентную составляющие, причем в отсутствие среды оиа переходит в падающую волну. [c.134]

Рис. П14.2. Схема переключателей в увеличенном масштабе для сети орбит по рис. ПИЛ. а — при движении электрона в пределах переключателя полностью сохраняется когерентность а, и и т.п. — комплексные амплитуды электронной волны около узлов С/, К, IV. Падающая волна может либо пройти через них, либо испытать на них брэгговское отражение, б — движение совершенно некогерентно символы 1, а, /3, 7, Л, В, С означают потоки частиц.

Фронтальная разрешающая способность ультразвуковых эхо-дефектоскопов обычно хуже, чем лучевая, и лимитирует возможности распознавания объекта (см. п. 2.4.3). Использование фокусировки позволяет уменьшить ее до 2Я, (1.6.4), т. е. сделать примерно равной лучевой. Однако фокусирующие преобразователи эффективны на небольшой глубине (в ближней зоне) и имеют большие размеры. Радикальное средство повышения фронтальной разрешающей способности — когерентная обработка информации, содержащейся в акустическом поле, возникшем в результате дифракции на дефектах. Рассмотренные в гл. 2 некогерентные методы контроля основаны на анализе амплитуды отраженного или прошедшего через дефектный участок акустического поля. Когерентные методы основаны на совместном анализе не только амплитуды, но и фазы поля в большом количестве близкорасположенных точек в пределах значительного участка поверхности ОК. Их называют также методом синтезированной апертуры. [c.269]

О действии центрального экранирования зрачка на дифракционное изображение светящейся точки в идеальной системе. Известно, что возникновение изображения в микроскопе принято строить на основе теории Аббе для несамосветящихся объектов. Последующие за Аббе и Рэлеем теоретические и экспериментальные работы Мандельштама показали, что изображения светящегося и несамосветящегося предмета при соответствующем освещении получаются почти идентичными. Меняя условия освещенности, Д. С. Рождественский [59] доказал, что можно изменять величину предела разрешения, получаемую в случае когерентного освещения несамосветящихся точек, почти до такой, какая соответствует светящимся точкам, излучающим некогерентный свет. Степень приближения к некогерентному освещению определяется, по Д. С. Рождественскому, ко ( ициентом некогерентности, равным отношению числовой апертуры конденсора к числовой апертуре объектива микроскопа. [c.148]

Как уже отмечалось выше, фаза отдельного элемента спекл-структу-ры в пределах зтого элемента практически остается постоянной и меняется случайным образом при переходе от одного такого элемента к другому. Поэтому область пространственной когерентности такого поля равна размеру индивидуального элемента спеклч труктуры [163] и определяется выражением (7.13). Следовательно, если два идентичных диффузно когерентных поля сдвинуты друг относительно друга на величину, превышающую размер индивидуального спекла, то эта световые поля будут пространственно некогерентными, и низкочастотная интерференционная картина не возникнет. Для рассматриваемого случая полное нарушение корреляции между двумя спеклч труктурами будет наступать при выполнении соотношения [c.142]

Из (7.108) видно, что вне области G средняя интенсивность света в два раза выше, чем в пределах области С, при условии to(x, ) с = )U, уфс -Это объясняется тем, что световые поля, соотретствующие первой и второй зкспозициям вне области G, являются пространственно когерентными и интерферируют, тогда как в пределах области G вследствие нарушения микрорельефа зти поля оказываются пространственно некогерентными и, следовательно, складываются по интенсивности. В силу такого различия освещенности область С может быть выявлена и в зтом случае, однако с меньшей уверенностью, так как изображение G в зтом случае формируется на ярком фоне. Более того, амплитудный козффициент отражения может значительно изменяться на поверхности объекта и может быть в области С больше, чем на других участках поверхности, что еще больше затруднит ее выявление. Это означает, что пространственная ( 1лырация в темной полосе обладает очевидными преимуществами при решении рассматриваемой задачи. [c.185]

Недавно Уилкинсон и др. [221] изморили когерентное и некогерентное рассеяние нейтронов на электронах ванадия, свинца и ниобия выше и ниже Т0ЧК11 перехода. Ни в одном из этих случаев не было обнаружено изменения когерентного рассеяния или диффузного фона. Этот результат показывает, что при переходе в сверхпроводящее состояние не нронсходпт зал1етных изменении электронного распределения. Исследование рассеяния Нейтронов на ядрах в свинце и ниобии показало, что при переходе не происходит резко выраженного изменения колебаний атомной решетки ). Эти же авторы показали, что полное сечение для тепловых нейтронов у олова в нормальном и сверхпроводяш,ем состояниях одинаково в пределах 1 %. [c.672]

Механические свойства гетерогенных систем подробно исследованы в работах [19, 95,138—147]. Улучщение прочностных характеристик, прежде всего предела текучести, этих систем по сравнению с гомогенными материалами обусловлено наличием структурных неоднородностей, создающих дополнительное сопротивление движению дислокаций. Согласно работе [145], эти неоднородности можно классифицировать следующим образом 1) локальные изменения, вызванные флуктуациями состава и приводящие к образованию метастабильных групп-кластеров, которые могут длительно существовать при низких температурах в силу замедленных процессов диффузии 2) мета-стабильные зоны типа зон Гинье — Престона (предвыделения) 3) выделения второй фазы, имеющие когерентную или некогерентную связь с матрицей, а также включения второй фазы 4) смесь двух фаз, представляющая собой поликристалл, состав отдельных зон которого может быть различным (следуя Гуарду [139], часто применяется термин конгломератная структура ). [c.71]

Требуемая энергия зондирования может быть сосредоточена в одном импульсе или в группе из п когерентных импульсов (т. е. пмпульсных вырезок из единого синусоидального колебания при этом напряжение сигнала на выходе возрастает в п раз в сравнении с одним импульсом). Возможно также увеличить энергию сигнала за счёт некогерентного интегрирования импульсов на видеочастоте в этом случае не потребуется поддержания определённых фазовых соотно1пений между импульсами на высокой и промежуточной частотах, но напряжение на интеграторе будет возрастать только как У"п. В теории Р, доказывается, что существует оптимальный приём, при к-ром достигается наибольшее возможное при данной энергетике превышение сигнала над шумом на выходе согласованного фильтра фильтра электрического, импульсная характеристика к-рого является зеркальным отражением на оси времени), Когерентный приём позволяет приблизить энергетику РЛС к теоретик, пределу. [c.220]

В случае когерентных частиц избыточной фазы дислокации под действием приложенных напряжений либо перерезают, либо огибают эти частицы, что зависит от их размера, прочности и расстояния между ними. В случае некогерентных частиц возможно только огибание их дислокациями. На (рис. 81, б) показано сначала выгибание, а затем (при больших напряжениях) и огибание частиц дислокациями. При возрастании напряжении дислокации образуют замкнутые дислокационные петли вокруг частиц (рис. 81, б). Оставив вокруг частиц петли, дислокации продолжают скользить в прежнем направлении (эти петли или кольца, естественно, препятствуют движению новых дислокаций). Предел текучести при дисперсном упрочнении зависит от размера частиц d и их объемной доли /. Уравнение прочности в эл ом случае идгеет вид [c.116]

Наиболее наглядный подход к расчету АК реального ИФП осуществляется в приближении элементарных интерферометров, которое предложено Ш. Дюфуром [11] и использовано во многих работах см., например, [35, 36, 42] . Согласно этому методу разобьем поверхность реального ИФП на большое число маленьких зеркал, каждое из которых будет составлять вместе с поверхностью противоположного зеркала элементарный интерферометр. Размер каждого элементарного интерферометра надо выбрать настолько малым, чтобы в пределах взятой площади ASk элементарного интерферометра его можно было бы считать идеальным ИФП. С другой стороны, при расчетах для пространственно некогерентного света мы будем складывать комплексные амплитуды световых лучей, прошедших через один и тот же элементарный интерферометр, и поэтому площади элементарных интерферометров должны быть больше размеров области пространственной когерентности. При обычно используемых газоразрядных источниках этот размер может быть оценен с помощью теоремы Ван-Циттера — Церниюе [5]. Площадь области пространственной когерейтности на фронте [c.9]

Теперь становится понятнее поведение кривой, пред-ставляюгцей множитель контраста, когда отверстие конденсора изменяется в пределах, соответствующих когерентному и некогерентному освещению (эти предельные случаи даны штриховыми линиями в верхней части фиг. 63). [c.145]

Отсюда естественно возникает мысль, что новое фильтрование простран-ственных частот, осуществленное в фотографическом изображении, может его улучшить. Действительно, законы фильтрования — оптический v )] и эмульсии [deiyJ, v )] — оба являются законами пропускания низких частот , и различные частоты постепенно ослабляются вплоть до той, при которой пропускание равно нулю (например, при предельной оптической частоте). Но мы видели, что контраст подробностей в изображениях в сильной степени зависит от хода закона фильтрования — даже стигматический прибор с круглым зрачком дает для изображения маленькой темной линии контраст 8/(1,2Л/а ) в случае некогерентного освещения и приблизительно вдвое больше при когерентном освещении. Однако полная ширина полосы пропускания частот при некогерентном освещении равна 4а Д и только 2а % при когерентном освещении пучком, параллельным оси. Следовательно, изменяя множитель контраста в пределах полосы пропускания, можно заметно влиять на контраст участков изображения. Предыдущие соображения наводят на мысль, что преобразованием этого закона, исходя из случая некогерентного освещения, можно, в частности, вчетверо увеличить контраст изображения маленькой темной линии. [c.253]

В простейшем варианте пучок непрерывного лазера пропускается через кристалл ВаТЮз, в котором он испытывает сильное ослабление в результате светоиндуцированного рассеяния ( 2.2). Достижение нужной степени ослабления осуществляется управлением усиления за проход при изменении угла падения пучка на кристалл. Пучок легко ослабляется в десятки раз. Допустимые пределы интенсивности 1 I 100 Вт/см . Нижний предел определяется темновой проводимостью ( 2.1), верхний — тепловым разрушением сегнетоэлектрической фазы (для ВаТЮз точка Кюри равна Т 120 °С). Свет, выводимый из пучка, не поглощается, а только изменяет направление своего распространения. Необходимые потери связаны лишь с записью решеток. Естественно, что некогерентный свет в указанном процессе не участвует. При необходимости эффективного использования всего излучения (в том числе и выводимого из падающего пучка) выгоднее использовать двухпучковые схемы, а также все схемы саКюнакачиваю-щихся лазеров на четырехволновом смешении. В эксперименте пучок Аг -лазера (488 нм, 12 мВт) фокусировался на кристалле ВаТЮз. прозрачность которого через 120 мс выходила на стационарное значение 2 % в схеме с рассеянным светом и 5 % в схеме с ФРК-лазером с полулинейным резонатором (отметим более эффективное ослабление пучка в отсутствие лазерной генерации). Описанный нелинейный ограничитель мощности лазерных пучков обладает рядом достоинств [14] работа во всем видимом и ближнем ИК диапазонах, возможность одновременного ослабления нескольких пучков с различными углами падения и/или длинами волн (в том числе с малыми длинами когерентности), многократное использование одного кристалла путем стирания наведенных решеток и др. [c.238]

Принимая во внимание большой интерес к новым успехам в оптике и желая поскорее ознакомить с ними широкие круги спе циалистов за пределами лекционной аудитории, а также по воз можности стимулировать дальнейший прогресс в этой области автор представил значительную часть первоначальных записей лекций в том виде, как они были опубликованы в двух изда ниях Мичиганского университета (май 1964 г., март 1965 г.) под названием Введение в оптику когерентного и некогерентного электромагнитного излучения . Автор приносит извинения за тС леграфный стиль изложения и недоработки, которые встречаются в книге, а также за многие возможные пробелы в списках литературы, приведенных в соответствующих главах книги. [c.13]

Эти очень общие рассуждения определены, конечно, лишь с точностью до множителя порядка единицы. Чтобы получить более точные сведения об изменениях, происходящих в голограмме вследствие отклонения от абсолютной когерентности, рассмотрим простой случай освещения через физическую апертуру диаметром d и исследуем ее влияние на систему полос, созданных точечным предметом, расположенным на оси на расстоянии 2о от апертуры. Каждая точка освещающей апертуры создает систему полос, концентрических с осью, связывающей эту точку с точкой предмета. Эти системы полос взаимно некогерентны, следовательно, их интенсивности должны суммироваться. На краю голограммы угловое расстояние между двумя полосами равно V osinYm- Если две системы полос смещены друг относительно друга на половину этого расстояния, то они будут полностью дополнять друг друга и интерференционные полосы пропадут. Этот случай соответствует расстоянию между двумя точками источника Х/2 sin уш, которое как раз равно пределу Аббе с1а- [c.256]

Л разрешения предполагалось, что две точки предмета Si и S2 представляют собой некогерентные точечные источники, и в плоскости создаваемого оптической системой изображения происходит простое наложение дифракционных картин от каждого из них. Несамосветящийся объект должен быть освещен каким-либо источником света. Если этот источник точечный, то световые колебания в точках Si и S2 освещаемого им предмета когерентны. Любой реальный источник имеет конечные размеры, поэтому в общем случае световые колебания в близких точках Si и S2 освещаемого предмета будут частично когерентны. Степень пространственной когерентности 712 световых колебаний в точках Si и S2 зависит от расстояния Z между ними и от угловых размеров источника света (см. 5.5). Когда применяется оптическая осветительная система (конденсор), отображающая светящуюся поверхность источника на плоскость объекта (рис. 7.32), роль углового размера источника играет выходная апертура 2uo осветителя в пределах центрального максимума дифракционной картины от его оправы световые колебания частично когерентны, ибо каждая точка источника отображается конденсором в виде кружка конечных размеров. Радиус этого круж-ка, т. е. размер области когерентности, порядка К/ио- Если апертура осветителя мала по сравне-нию с числовой апертурой объектива микроскопа, то расстояние Zmin между точками Si и S2, лежащими на пределе разрешения, много меньше ширины дифракционного кружка от оправы конденсора и световые колебания в Si и S2 можно считать полностью когерентными. [c.372]

Здесь мы рассматривали вопрос о формировании изображения некогерентного предмета. Если предмет является когерентным или частично когерентным, то, используя аналогичную методику, можно установить связь между функцией взаимной когерентности изображения и функцией взаимной когерентности предмета. Но в этом случае [307, 308] условие изопланатичности выполняется только для предметов, расположенных в пределах некоторой малой области плоскости предмета. Тогда говорят, что объект находится в изопланатической области. [c.207]

Прежде чем перейти к детальному анализу характеристик волн, полезно дать приближенное описание поведения волны в адаче распространения в пределах прямой видимости. Рассмо трим пример нормального падения плоской волны на полубес конечную среду, содержащую случайные частицы (рис. 6.1). Kai уже говорилось в разд. 4.4, интенсивность когерентной состав ляющей поля 1с есть квадрат амплитуды когерентного поля <и> интенсивность некогерентной составляющей /, представляет со бой средний квадрат амплитуды некогерентного ноля /, а пол ная интенсивность /< есть сумма h и / [c.134]

НИЦЫ, преобладает когерентная составляющая поля (2 = 21). При значениях у, близких к единице, когерентная интенсивность 1с И некогерентная интенсивность /, сравнимы по величине (2 = 22), а при уI с практически обращается в нуль, и полная интенсивность содержит только пекогерентную составляющую (2 = 2з). Для иллюстрации этого на рис. 6.1 показано поведение флуктуаций амплитуды. Следует заметить, что формулы (6.2) — (6.4) не учитывают эффектов обратного рассеяния, размеров частиц, характеристик приемника и т. д. и поэтому являются приближенными. Тем не менее они дают представление о некоторых общих характеристиках поля в задаче распространения в пределах прямой видимости. [c.136]

И радиоантеиным сканирующим системам. Позже с соответствующими оговорками мы проанализируем свойства оптических систем, линейных относительно комплексной амплитуды, т. е. систем, которые работают с когерентным излучением. Но пока что ограничимся рассмотрением некоторых идеальных оптических систем, для которых освещенность некогерентна, увеличение равно единице и распределение освещенности на изображении точечного источника не изменяется в пределах рабочего поля прибора. Степень практической применимости результатов, полученных при таких ограничениях, будет исследована позже. Перейдем теперь к сравнению характеристик временных и пространственных фильтров. [c.31]

Изучение сечений наиболее важных замедляющих материалов показывает, что в пределах экспериментальных погрешностей рассеяние нейтронов на бериллии, углероде и кислороде оказывается полностью когерентным. Следует ожидать, что для двух последних элементов преобладающие изотопы углерод-12 и кислород-16 имеют ядерный спин, равный нулю. Рассеяние нейтронов дейтерием в основном когерентное (а ог = 5,4 барн н Oj, — 7,6 барн), в то время как рассеяние водородом почти полностью некогерентное (Oj-op = 1,8 барн и Oj, = 81,5 барн). Приведенные выше значения относятся к ядрам с произвольно ориентированными спинами. Некогерентность рассеяния водородом является следствием сильной спиновой зависимости нейтрон-протон-ных сил. Интересно отметить, что этой зависимостью частично определяется наблюдающееся различие в когерентном рассеянии нейтронов молекулами ортоводорода с параллельными спинами ядер и параводорода с антипараллель-ными спинами ядер [81. [c.255]

И рассматривали только поток частиц. Обычно это оправдано на практике, так как фазовая когерентность нарушается при большой длине пути вследствие малоуглового рассеяния на дислокациях или по другим причинам. Подобная некогерентность, конечно, подразумевает, что амплитуда эффекта дГвА, обусловленного электронами, движущимися по большой круговой орбите, оказывается сильно уменьшенной. Однако в хороших образцах может иметь место фазовая когерентность для электронов на малой орбите вокруг линзы . Если такая когерентность возникает, то при сложении волн в каждом узле следует учитывать их фазы, а вероятности в этом случае определяются квадратами амплитуд. Если же фазовой когерентности нет даже при движении в пределах каждого пере-ключателя>>, то с самого начала надо иметь дело с квадратами амплитуд. Эти предельные случаи иллюстрируются рис. 7.14, аг и б, где приведены обозначения амплитуд и фаз в когерентном случае и потоков частиц (т.е. квадратов амплитуд) в некогерентном случае. Эти обозначения будут использованы ниже. [c.425]

Если учесть, что энергия сдвига в различных участках реальных поликристаллов может изменяться в весьма значительных пределах в зависимости от степени дефектности кристаллической структуры в различных участках зерен, то становится ясным, почему мартенситиые зародыши возникают на границах зерен, плоскостях скольжения и двойниках, т. е. участках, имеющих пониженное сопротивление сдвигу. Однако, в отличие от некогерентных выделений, при образовании мартенситных зародышей как зародышей когерентных преимущество остается за двойниками (особенно когерентными), плоскостями скольжения, границами блоков, субзерен и зерен с малыми углами разориентировки. [c.19]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...