Коэффициент отражения волны от пластинки

Коэффициент отражения волны от пластинки 51, 57 [c.340]

Весьма большое смещение звукового пучка может возникать при отражении его от пластинки, так как в этом случае фаза коэффициента отражения меняется с углом особенно быстро (см., например, рис. 14,5, где изображена фаза коэффициента отражения звуковой волны от алюминиевой пластинки в воздухе как функция угла падения). При этом по отношению к падающему пучку смещается также и прошедший пучок. [c.77]

Иногда плоская волна изменяется так, что фронты волны оказываются модулированными, либо поверхности равных фаз оказываются не плоскими, а волнистыми, либо амплитуда волны вдоль фазового фронта оказывается переменной. Так бывает, например, после прохождения плоской волны через дифракционную пластинку, образованную полосами с разной степенью прозрачности для звуковой волны (амплитудная модуляция), либо после отражения волны от волнистой поверхности (фазовая модуляция). Важный пример модуляции фронта световой волны — прохождение ее через ультразвуковой пучок ввиду изменения коэффициента преломления при сжатиях и растяжениях среды световая волна оказывается модулированной по фронту как по амплитуде, так и по фазе. Модуляция света на ультразвуке позволяет изучать визуально структуру звуковых пучков. [c.101]

При отражении от пластинок коэффициент отражения зависит от величины отношения толщины ее к длине волны. [c.91]

В хороших приборах поверхность пластинок делают плоской с точностью до 1/200 длины волны. Внутренние поверхности пластинок (между которыми заключается слой воздуха) серебрят или покрывают каким-либо другим металлом с целью обеспечить достаточно высокий коэффициент отражения лучей. Интерференционная картина получается в виде колец равного наклона (рис. 7.5), ибо на эталон направляют расходящийся пучок света от широкого источника (на рис. 7.4 представлен ход одного из лучей этого пучка). Порядок интерференции определяется расстоянием между пластинками (от 1 до 100 мм, в специальных эталонах — значительно больше, до 1 м). В соответствии с этим наблюдаемые порядки интерференции очень высоки. При = 5 мм /и 20 000. [c.139]

При рассмотрении интерференции в плоских пластинах до сих пор были приняты во внимание только два луча либо луч, отраженный от первой поверхности, и луч, отраженный от второй поверхности, либо луч, прошедший через пластинку без отражения, и луч, отраженный от второй поверхности, затем от первой и прошедший через пластинку. В действительности в пластинке лучи могут отражаться дважды, трижды, четырежды и т. д. — много раз, особенно, если пластинка достаточно велика и падение луча близко к нормальному. В обычной стеклянной пластинке уже после второго отражения поток энергии настолько слаб, что практически влиянием многократных отражений пренебрегают. Иная картина получается, если поверхности, ограничивающие плоскопараллельную пластинку, обладают высоким коэффициентом отражения. Тогда влияние многократных отражений делается заметным как в проходящем через пластинку свете, так и в отраженном. Причем следует подчеркнуть, что расстояние между полосами и разность хода между соседней парой лучей остаются прежними и только сильно меняется распределение энергии (интенсивность) в интерференционной картине. Если для двухлучевой интерференции это распределение соответствовало обычному закону при суперпозиции дву < волн, т. е. [c.29]

Структуры зон и коэффициенты отражения для ТЕ- и ТМ-волн не одинаковы. Для ТМ-волны, падающей под углом Брюстера вд, отраженная волна отсутствует независимо от числа пластинок N. [c.194]

Рис. 1.3. Коэффициент отражения света (длина волны Л = 633 нм) от пластинки плавленого кварца после зажигания ВЧ-разряда в плазмохимическом реакторе. Пластинка толщиной 1 мм и диаметром 10 см лежит на

Если для зондирования применяется монохроматическое излучение, то выбором длины волны определяется коэффициент поглощения света материалом пластинки. От произведения аН зависит, влияет ли на результат взаимодействия только одна поверхность пластинки (свет не достигает второй поверхности), или обе поверхности. В последнем случае от степени монохроматичности света и от разнотолщинности пластинки по сечению зондирующего пучка зависит, существенно ли влияние интерференции света на коэффициенты отражения и пропускания. Таким образом, получается несколько схем взаимодействия, переход между которыми осуществляется путем выбора источника [c.20]

Импульсные измерения. Сравним особенности разных методов при импульсных измерениях. При изменении оптической толщины пластинки относительная температурная чувствительность сигнала в методе ЛИТ 5 д = К (1К/(1в изменяется от нуля до максимума в пределах полупериода интерферограммы (при этом б д не превращается в бесконечность при Д —О, так как д,К/(1в также стремится к нулю). Для монокристалла 81 толщиной /г = 1 мм при облучении на длине волны Л = 1,15 мкм изменение коэффициента отражения на Д = = 10 4 соответствует, как показано выше, изменению температуры на 5в 8-10-5 К. [c.175]

Для прозрачных диэлектриков величина обычно мала. Например, для видимой области (зеленая длина волны) при п = 1,52 величина Я — 0,04, т. е. 4 % от падающего на поверхность света идет в отраженную волну. Необходимо отметить, что значение коэффициента отражения при нормальном падении не зависит от направления распространения луча, т. е. от того, из какой среды (первой или второй) свет падает на границу раздела. Таким образом, при прохождении волны через стеклянную пластинку теряется 8 % энергии, т. е. коэффициент пропускания такой пластинки 7 = 92 %. [c.63]

Интерферометры применяются как для абсолютных измерений длин волн с высокой точностью, так и для спектрального разложения с высокой разрешающей способностью. Если для абсолютных измерений прежде всего используется интерферометр Майкельсона, то для спектрального разложения доминирующим является интерферометр Фабри — Перо, он представляет собой открытый резонатор с двумя зеркалами, обладающими высокими коэффициентами отражения. Благодаря симметричной его конструкции относительно оптической оси этот интерферометр особенно удобен для исследования многих проблем НЛО и лазерной физики, в которых подобные резонаторы используются уже в самих источниках света. Кроме того, интерферометр многолучевого типа допускает относительно компактную конструкцию. Особенно часто употребляется интерферометр Фабри — Перо с плоскими пластинками, его аппаратная функция уже была рассмотрена в разд. BI.II. В первую очередь рассмотрим следующее условие регистрации пусть в направлении оси падает идеально параллельный световой пучок (угол падения 0 = 0). На выходе регистрируется прошедшая через интерферометр мощность излучения, зависящая от длины резонатора I. (Если интерферометр заполнен газом, то путем изменения давления можно изменять показатель преломления и оптическую длину пути в интерферометре.) Кроме того, можно регистрировать зависимость от 0, если направлять падающий свет под различными углами падения и затем измерять распределение интенсивности в фокальной плоскости [c.50]

Пример 9. Согласование импедансов в оптике. Пучок видимого света, проходящий через пластинку стекла, отражается дважды на границах воздух — стекло и стекло — воздух. Интенсивность отраженного пучка будет пропорциональна квадрату амплитуды отраженной волны (или квадрату коэффициента отражения, если амплитуда падающей волны принята за единицу). Поэтому при каждом отражении в соответствии с уравнением (42) п. 5.3 потери интенсивности равны (1/5) =1/25=4%. Соответственно при переходе через пластинку (две поверхности) эти потери составят 8%. [Мы пренебрегаем интерференцией отраженных от двух поверхностей волн. Для обычного белого света интерференционные эффекты равны нулю при усреднении по широкому диапазону частот (цветов). Обратите внимание на опыт 5.10. Такие потери (8%) недопустимы в оптических приборах, имеющих много границ стекло — воздух. Поэтому обычно поверхность линз покрывают неотражающим слоем. В соответствии с уравнением (49) импеданс покрывающего слоя должен быть геометрическим средним импедансов стекла и воздуха, т. е. он должен быть равен J/"l,50- 1,0л 1,22. Толщина слоя должна равняться где Jia — длина волны света в слое. Для волны [c.231]

Отражение звуковых пучков от твердых тел и от пластинок. При падении звуковой волны из жидкости на границу твердого тела полное внутреннее отражение имеет место при sin u /l i, где с — скорость звуковых воли в жидкости, а — скорость сдвиговых волн в твердом теле. Вблизи граничного угла полного внутреннего отражения будет иметь место, как и в оптике, заметное смещение пучка, которое можно снова подсчитать по формуле (14.25), пользуясь выражением (7.7) для коэффициента отражения и представив его в виде V = ехр г ф. [c.76]

Зависимость коэффициента отражения от толщины пластинки. В свете сказанного в п. 7 опыт со стоячими волнами (рис. 241) становится вполне понятным. Алюминиевая пластинка является узловой плоскостью электрического поля. Что касается отличия между сильным отражением электромагнитных волн от алюминиевого листа и очень слабым отражением от листа из эбонита или гетинакса, то оно не может быть просто сведено к отличию случая, когда К = 1 для границ воздух-металл, от случая К, определенного первой формулой (7.47) для границ воздух —эбонит или воздух [c.283]

Форма сейсмической записи состоит из наложения сигналов, отраженных от контактов акустически контрастных пластов. Перепад скоростей распространения волн в глине Угл и в песчанике Упс при условии линейной связи скорости и плотности р, определяет знак и величину коэффициентов отражения /Сотр на времени регистрации которое соответствует глубине кровли песчаника [c.8]

В научной литературе нередко для каждого экспериментального результата можно подобрать противоположный, опровергающий его результат. Возможно, дело здесь в том, что многие эксперименты, проведенные на пластинках конечных размеров, являются некорректными, так как в них пренебрегалось взаимодействием отраженных от границ образца волн с вершинами трещины и недостаточно точно измерялись скорость распространения трещины и коэффициенты интенсивности напряжений. [c.159]

Методы, основанные на комбинационном рассеянии света, эллипсометрии и тепловом расширении дифракционной решетки (естественной или искусственной), также значительно уступают интерференционной термометрии по чувствительности и помехозащищенности. По чувствительности ЛИТ полупроводников и диэлектриков на 2-ь4 порядка превосходит другие методы, основанные на регистрации отраженного, проходящего или рассеянного света. Выбор толщины пластинки и длины волны зондирующего света позволяет в пределах нескольких порядков изменять температурную чувствительность. Это свойство обусловлено двухступенчатым преобразованием изменений температуры в изменения интенсивности отраженного света. Такая схема позволяет управлять усилением преобразования, в отличие от многих методов, где преобразование является одноступенчатым, т. е. отражает только определенное свойство материала и не допускает усиления или ослабления коэффициента преобразования путем выбора условий считывания. [c.175]

На фиг. 403 даны графики отношения радиуса r окружности, обусловленной поперечной волной, и радиуса г окружности, обусловленной отражением, в зависимости от к/2к (2/г1— толщина колеблющейся пластинки) для двух различных материалов с коэффициентами поперечного сжатия 0= /2 и 0= /4. Только для Х/2/1 як0, т. е. для очень толстой пластинки, картина при отражении состоит лишь из одной окружно- сти. Эта окружность больше соответствующей окружности, обусловленной поперечной волной. Для тонких пластинок эта окружность распадается на две. [c.366]

При исследовании поглощения звука в газах основным источником ошибок является наличие потока газа, так называемого звукового ветра , вызываемого колебаниями кварцевой пластинки. Акустический ветер может совершенно исказить изучаемое явление и привести к определению заведомо ложных значений коэффициентов затухания. Освободиться полностью от искажающего действия акустического ветра чрезвычайно трудно. В случае жидкостей для уничтожения влияния потоков жидкости, вызываемых колебаниями кварцевой пластинки, применяют тонкие перегородки, которыми отделяют приёмники звукового давления от излучателя ультразвуковых волн [56]. В этих случаях приходится учитывать также возможность искажения измеряемых величин под действием волн, отражённых от приёмника звукового давления, которые после повторного отражения от стенок кюветы могут вновь упасть на приёмник. Отражённые волны, упавшие на приёмник, при- [c.82]

Связь амплитуды отражения с мощностью контрастного или переходного пласта вытекает непосредственно из формулы (2.20) коэффициента отражения от тонкого слоя в интервале О < < Х/4, где X - длина волны импульса w(t), коэффициент отражения, а следовательно и амплитуда, почти линейно растет с X. Из этой же формулы следует, что амплитуда отражения линейно зависит также и от коэффициента отражения /-q от кровли слоя. Так как величина определяется контрастом акустического импеданса, а последний зависит от типа порового флюида, на латеральные вариации амплитуды отражения от пласта коллектора влияют, кроме вариаций его мощности, ещё и вариации литологии и состава порозаполнителя. Какая из этих трёх причин преобладает, можно выяснить только построением соответствующих кроссплотов для конкретной площади работ. Пример эффективной технологии использования амплитуд для картирования вариаций полной и эффективной мощности коллекторов дан в работе (Малярова и др., 2004). [c.213]

Для сейсмической отраженной волны амплитуда и форма сигнала определяются не только контрастностью (коэффициентом отражения) первого отражающего пласта, но и в значительной степени слоистым характером отражающей границы, имеющей по вертикали размер, равный 0,5 Л так как отраженный сигнал формируется в этой толще как совокупность (интерференция) отраженных сигналов от каждой контрастной границы в данном интервале. В математических приложениях эта процедура реализуется путем сверки сигнала упругого импульса (например, типа Берлаге или Пузырева) с коэффициентами отражения или, так называемой, импульсной сейсмограммой. [c.106]

Прохождение ультразвука через плоский слой. Рассмотрим случай отражения волны от тонкого плоскопараллельного слоя (пластинки) толщиной h, по обе стороны от которого расположена одна и та же среда с параметрми Pi и С]. Формулу для коэффициента отражения по интенсивности можно получить решением волновых уравнений для обеих сред с учетом граничных условий типа (2.27) при X =Ow.x = h. Для нормального падения волны получим [c.49]

Из графика зависимости коэффициента отражения плоскопараллельной стеклянной пластинки от угла падения луча для различной ориентации плоскости поляризации падающего излучения (рис. 7) видно, что отражение для излучения, поляризованного в плоскости падепия, при угле фо (угле Брюстера) равно нулю. Хотя в реальном случае коэффициент отражения несколько отличается от нуля вследствие отражения от переходного слоя, образующегося при оптической обработке поверхности. Эту особенность отражения электромагнитных колебаний от границы раздела сред необходимо учитывать ири проектировании лазерных измерительных систем и их практическом применении. Так, в лазерном гироскопе за счет создания различной поляризации для волн, распространяющихся встречно, уменьшается их взаимная связь, что дает возможность [c.35]

Обозначим амил1ггудные коэффициенты отражения (отношение амплитуд отраженной и падающей волн) и пр0пуска1п1я (отношение амплитуд прошедшей п падаюшей воли) через р и т. Пусть амплитуда падаюи1,ей линейно-поляризованной световой волны будет (рис. 5.6). При каждом прохождении через границу раздела пластинка — воздух амплитуда волны уменьшается в т раз, а при каждом отражении от такой границы она уменьшается в р раз- [c.100]

Полную акустическую прозрачность пластинки, помещенной в среду с отличным от волнового сопротивления пластинки своим волновым сопротивлением Z pi, согласно [1], [3], [4] и [5], [6], обеспечивает возникновение резонанса в исследуемом слое при условии (7) или (8). При этом резко уменьшается количество энергии, требующееся от генератора колебаний, что без особого труда можно зарегистрировать известными методами. Коэффициент отражения по интенсивности ультразвуковой волны R, согласно выводам Ре-лея [1], зависит как от акустических сопротивлений сред, так и от их геометрических размеров [c.294]

В области непрямых переходов (400 нм < Л < 1200 нм), происходящих при поглощении световых квантов одновременно с поглощением или рождением фононов, отражение монотонно уменьшается вследствие уменьшения показателя преломления с длиной волны. В этой области х п, поэтому коэффициент отражения определяется только действительной частью комплексного показателя преломления (при этом для пластинок толщиной порядка долей миллиметра выполняется условие непрозрачности аН > 1). Спектры отражения и пропускания в области прозрачности кремния (Л 1 мкм) приведены в предыдущем параграфе (см. рис. 2.6 и 2.7). Для ряда полупроводниковых монокристаллов (81, Се, СаР, СаАз, 1п8Ь, 1пАз) спектры отражения экспериментально получены в диапазоне от ближней инфракрасной области до глубокого ультрафиолета (/гг/ = 1,5-ь25 эВ, Л = = 826,54-49,6 нм) [2.9. [c.45]

Следует отметить, что He-Ne лазер иногда (если не приняты меры по селекции линий) излучает на нескольких близких линиях, принадлежащих к переходам между разными подуровнями состояний 2s и 2р [6.19]. Например, одновременно наблюдаются линии 1,1526 и 1,1605 мкм, интенсивности которых относятся примерно как 5 1 6.20] линии 1,15 и 1,08 мкм с отношением интенсивностей 10 1 [6.5]. Сдвиг фазы при изменении температуры происходит с разной скоростью для разных длин волн. Каждая из линий излучения интерферирует в пластинке, фотоприемник регистрирует интенсивность I = = IiRi + I2R2, где /i и /2 — интенсивности двух лазерных линий, Ri и R2 — коэффициенты отражения от пластинки. В этом случае возникают биения интерферограммы, т. е. дополнительная модуляция сигнала (интерферограмма с биениями будет приведена в 6.5). Для устранения биений необходимо применять в оптической схеме узкополосный фильтр, пропускающий только основную линию излучения. В большинстве работ фильтры не использовались, поскольку глубина модуляции была незначительна. Большая глубина модуляции наблюдалась при термометрии кристалла GaAs на длине волны He-Ne лазера [c.133]

Интерферометр Фабри—Перо. Рассмотрим последовательные частичные отражения и прохождения света через две стеклянные пластины, внутренние поверхности которых строго параллельны друг другу (рис. 124), отполированы с большой точностью (от 720 до 7200 длины волны) и покрьггы силыю отражающими пленками. Пленки могут быть металлическими (серебро, золото, алюминий) или состоять из нескольких диэлектрических слоев, подобранных так, чтобы получился очень большой коэффициент отражения (см. 29). Внешние поверхности стеклянных пластин наклонены под небольшим углом (порядка 0 1°) к внутренним поверхностям, чтобы. отражения от них уводились в сторону и не смешивались с лучами, отраженными от внутренних рабочих поверхностей. Однако энергия, связанная с этими отражениями, незначительна и в последующем расчете не учитывается Кроме того, нет необходимости также учитывать поглощение света при прохождении света через стеклянную пластину. Ослабление амплитуды при отражении характеризуется коэффициентом отражения р [см. (18.5)]. Отношение амплитуды отраженной волны к амплитуде падающей равно (рис. 124). Для характеристики прохождения волны через пласти пользоваться коэффициентом пропускания т [см. (1 .9)] неудобно, поскольку он связывает амплитуду волны внутри стекла с амплитудой волны вне стекла, а в данном случае удобнее связать между собой амплитуды волн по разные стороны стеклянной пластины. Обозначим отношение модуля амплитуды прошедшей через пластину волны к модулю амплитуды падающей у[с [c.171]

Слш с высокой отражательной способностью. Физическая причина малой отражательной способности слоя в четверть длины волны с показателем преломления меньше показателя преломления материала, на который этот слой наложен, состоит в следующем. При отражении от обеих поверхностей слоя волна изменяет фазу на п и, следовательно, разность фаз между отраженными волнами образуется исключительно-за счет двойного прохода пластинки в четверть длины волны, т. е. составляет п. Благодаря этому отраженные волны ослабляют друг друга. Чтобы увеличить коэффициент отражения, необходимо обеспечить усиление волн, отраженных от различных поверхностей слоя. Это можно сделать слоем с оптической толщиной п четверть длины волны, если на одной из поверхностей происходит изменение фазы Е на л, а па другой отражение происходит без изменения фазы. Для этого показатель преломления слоя должен бьггь больше или меньше показателей преломления соседних сред (рис. 138). В волне, представляемой лучом 7, при отражении фаза Е изменяется на л, а в волне, представляемой лучом 2, отражение происходит без изменения фазы. Следовательно, полная разность фаз Между отраженными лучами равна 2л и они усиливают друг друга. Коэффициент отражения увеличивается. Например, если на поверхность стекла (Мз = 1,5) наложить слой 8Ю ( 2,= 2) оптической толщ1шой в четверть длины волны, то по формуле (29.28) получаем Л = 0,2. Это значительно больше, чем коэффициент отражения от поверхности стекла, равный 0,04. [c.187]

Существующие расхождения могут быть обусловлены искривленностью границ конструкции, сложностью точного моделирования в эксперименте падення плоской волны и т.д. Однако основную роль, по-видимому, играет погрешность в задании параметров сред, к значениям которых коэффициенты отражения и прозрачности весьма чувствительны. Иллюстрацией служит рис. 4.7, взятый нз работы [298], на котором представлена зависимость коэффициента прозрачности W пластинки нз плексигласа (с/ = 2650 м/с, i/ = 0,325 см, р = 1,19 г/см ), помещенной в воду, от угла скольжения х = тг/2 - в волны с частотой / = 193 кГц (здесь в — угол падення плоской волны). Треугольниками показана кривая, полученная экспериментально. Три остальные кривые найдены теоретически [c.106]

Имеется также ряд работ, где рассматривалось отражение от других видов границ раздела. Анализу искажения формы импульса в неоднородной упругой среде посвящена раСбота [332]. Отражение и прохождение экспоненциального импульса через пластинку при нормальном падении рассмотрено в работе [437]. Более сложный случай отражения звукового импульса от слоя (с поглощением), разделяющего два однородных полупространства, проанализирован с многочисленными примерами в работе [459]. На основе расчета (аналсогичного изложенному в п. 4.3) коэффициентов отражения и прохожден ия монохроматической плоской волны и соотношений (5.37), (5.38) в работе [514] рассчитаны отраженный и прошедший через систему поглоицающих упругих слоев звуковые сигналы для случая столообразного падающего импульса. [c.123]

Здесь мы рассмотрим два типа граничных задач. Цервый из них касается коэффициентов отражения некоторых нормаль- ных волн в пластинке или цилиндре от свободной поверхности, перпендикулярной оси z. Второй тпи задач относится к механизму потока упругой энергии в цилиндре от поверхности, перпендикулярной оси Z, иа которой приложен кратковременный импульс сжатия. Что касается первой задачи, то Земанек [34] нашел приближенное решение для механизма отражения на свободном конце цилиндра упругого сигнала, распространяющегося в виде наинизшей нормальной волны L (О, 1). Простой расчет показывает, что в общем случае комбинация из падающей и отраженной волн L (О, 1) не удовлетворяет условию отсутствия напря- [c.178]

Изучение нефтенасыщения геосреды по обменным волнам. Различие в значениях коэффициентов отражений Р- и 8-волн (или импедансов) на литологических границах и границах газонасыщенных пластов также является привлекательной стороной многоволнового подхода. В простейшем случае мы сталкиваемся с интенсивными отражениями продольных волн и относительно слабыми отражениями поперечных волн от границы газонасыщенного пласта. При этом угольный пласт, например, будет характеризоваться интенсивными отражениями как продольных, так и поперечных волн. Такое поведение коэффициентов отражений позволяет различать угольный и газонасыщенный пласты, что невозможно сделать, используя только продольные волны. Коэффициенты отражений поперечных волн часто позволяют выделять отражающие границы в неконсолидированной части разреза, где отражения на продольных волнах менее выдержаны. Это связано с большей разницей в акустических импедансах поперечных и продольных волн. [c.159]

В описанных выше интерферометрах измерение длины волны производилось путем перемещения отражающей пластинки. При таких измерениях требуется строго соблюдать параллельность отражателя излучающей поверхности излучателя (по этому вопросу см. соображения, развитые в гл. IV, 1, п. 2). Кроме того, образующиеся в интерферометре стоячие волны выражены тем резче, чем больше коэффициент отражения на границе среда-отражатель. Согласно данным табл. 1, коэффициент отражения на границе вода—металл равен приблизительно 86—89%, а на границе жидкость—воздух—около 99%. Поэтому Фокс и Хантер [2813, 3090] описали ультразвуковой интерферометр для жидкостей, в котором звуковые волны отражаются от границы жидкость— воздух. Если при помощи трех юстировочных винтов установить горизонтально расположенный излучатель строго по ватерпасу, то поверхность находящегося над излучателем столба жидкости оказывается абсолютно параллельной поверхности излучателя. Меняя высоту столба жидкости, можно изменять расстояние от излучателя до отражающей поверхности при этом, как и в описанных выше конструкциях, периодически меняется сопротивление прибора. Теория такого интерферометра со свободной поверхностью жидкости приведена в работе Хантера и Фокса [3091]. [c.159]

При изменении температуры пластинки происходит изменение сразу нескольких параметров кристалла, от которых зависят коэффициенты Д и Т. Зависимость, вносяш,ую основной вклад в температурное изменение регистрируемого сигнала, назовем управляюш,ей функцией. Далее будет показано, что среди многих управляющих функций наиболее эффективны ехр(—а/г) и со8 2пкН). Первая из этих функций лежит в основе широко распространенного метода термометрии полупроводников по температурному сдвигу края межзонных оптических переходов [1.40]. При выполнении условия 0,2 аН 2 этот сдвиг обеспечивает высокую температурную чувствительность при регистрации отраженного или проходящего излучения. При аН <С 0,1 и аН > 3 чувствительность мала. На гармонической управляющей функции основан не менее распространенный метод лазерной интерференционной термометрии полупроводников и диэлектриков [1.43]. Здесь чувствительность также имеет максимум при определенной длине волны и падает как в длинноволновой, так и в коротковолновой областях спектра. Обе эти управляющие функции позволяют реализовать усиление изменений при малом относительном изменении температуры в и управляющего параметра а в) или п в) относительное изменение регистрируемой интенсивности света оказывается не малым. Двухступенчатое преобразование изменений температуры в регистрируемый сигнал (в данном случае сигналом является изменение интенсивности света после взаимодействия с пластинкой) характерно для активной оптической термометрии и, по-видимому, не характерно для традиционных методов (это проявляется в том, что отсутствует возможность усиливать или ослаблять коэффициент преобразования К = Д2/Д0 путем выбора условий считывания сигнала). [c.21]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...