Определяющий контраст

Это произведение носит название определяющего контраста-, с его помощью удобно определять, в каких столбцах содержатся одинаковые элементы, т. е. какие коэффициенты смешаны. [c.125]

Умножив по очереди определяющий контраст на Х, Хо, х , найдем [c.125]

Угол падения света. Одним из существенных факторов, определяющих контраст интерферограммы, является угол падения света на поверхность пластинки. Зависимость контраста от угла падения приведена в гл. 2. Экспериментально полученные интерферограммы характеризуются контрастом Vr Ri 0,2 (угол падения 70°, монокристалл InP толщиной 0,3 мм, Л = 1,15 мкм) [6.13], Vr Ri 0,6 (угол 70°, монокристалл Si толщиной примерно 0,5 мм, Л = 1,52 мкм) [6.14], Vr Ri 0,67 (угол 19°, стекло толщиной 1,25 мм, Л = 633 нм) [6.11]. [c.146]

У = г, а также введена характерная длина L, определяемая контрастом показателей преломления П и 2 чем больше контраст, тем слабее фаза V / зависит от расстройки ю - м. [c.130]

Наблюдаемость фона и, в частности, элементов с малым отражением ("озеро") в окружении интенсивного фона определится отношением суммарной мощности на участке фона к мощности в провале функции рельефа Ршй- Энергетические соотношения для фона можно назвать динамическим диапазоном по фону , определяющим контраст элементов фона на выходе РСА [c.109]

Теперь для того чтобы перейти к итоговому выражению для пространственного разрешения в плоскости контролируемого сечения, необходимо учесть пространственно-частотные характеристики вычислительного томографа, определяющие переход от входного контраста цепочки стержней [c.425]

Освещенность и яркость. Основными факторами, определяющими работоспособность зрения, являются угловой размер объекта наблюдения, определяемый его линейными размерами и расстоянием до глаз наблюдателя яркость фона, на котором рассматривается объект контраст объекта с фоном, определяемый различием в уровнях яркости время наблюдения. Увеличение каждого из этих параметров до определенных пределов повышает работоспособность и снижает утомляемость зрения [41]. В нормах искусственного освещения более правильно регламентировать не освещенность, а яркость [17]. Однако трудность расчета и контроля яркости рабочих поверхностей вынуждает нормировать освещенность. Освещенность (в лк) является поверхностной плотностью светового потока и равна [c.164]

Вторым параметром ЭОП, характеризующим сохранение чёткости изображения, является разрешающая способность R. Предел разрешения ЭОП оценивается наибольшим числом чередующихся светлых и тёмных полос (линий) штрихового тест-объекта на I мм изображения, видимых раздельно. Единица измерения предела разрешения—пара линий/мм. Качество изображения, создающегося на экране ЭОП, оценивается также сохранением контраста, определяемого как отношение разности яркостей наиб, светлых и наиб, тёмных участков изображения к сумме яркостей. При сохранении контраста возможно раздельное видение элементов изображения с незначительно различающимися яркостями, [c.563]

Дифракционный предел МР-микроскопии, определяемый длиной волны, составляет единицы—десятки нанометров. Конечно, это намного ниже возможностей электронной микроскопии. Однако в электронной микроскопии для получения необходимого контраста образцы фиксируют, высушивают, напыляют на их поверхность тонкую металлическую пленку или вводят в их состав контрастирующие вещества. В результате этих операций увеличивается вероятность появления артефактов. В противоположность этому МР-микроскопия, занимая по пространственному разрешению промежуточное положение между оптической и электронной, позволяет изучать сравнительно толстые живые образцы тканей и организмы. [c.4]

Аналогично можно провести анализ влияния остальных упомянутых факторов, определяющих стабильность контраста. Поэтому ограничимся далее лишь выводами. [c.222]

Третьим требованием, определяемым первыми двумя, является высокое значение максимального контраста голографического изображения, т. е. отношения сигнал/шум, измеряемого при низкой пространственной частоте. [c.57]

Указанные критерии чувствительности, однако, недостаточно полно характеризуют светочувствительные пластинки или пленки применительно к условиям их использования для голографического кинематографа. Это объясняется тем, что из условий достижения более высокого контраста голографического изображения в ряде случаев целесообразно выбирать значения экспозиции существенно меньшие, чем те, при которых достигается максимальная дифракционная эффективность. Поэтому более удобно для целей голографического кинематографа пользоваться значениями чувствительности, определяемой по объектно слагающей экспозиции, т. е. по экспозиции, обусловленной только объектным пучком. Такая чувствительность может быть определена по характеристическим дифракционным кривым голографических фотоматериалов, представляющим кривые зависимости дифракционной эффективности от объектной слагающей экспозиции при неизменных значениях опорной слагающей экспозиции. [c.58]

Один из важных факторов, определяющих качество изображения,— шум голограммы, обусловленный рассеянием света в фотослое по разным причинам. Шум в виде вуали снижает контраст изображения и воспринимается как неприятная дымка в объеме изображаемого пространства. Правильно выбранный спектральный состав света может несколько уменьшить этот эффект, так как изображение строится только узкой полосой спектра восстанавливающего источника, а шум не имеет свойств спектральной селективности. С этой точки зрения также более удобен линейчатый спектр и полезно применить оранжевый светофильтр, устраняющий зеленую и синюю части спектра. При изготовлении цветных голограмм предъявляются гораздо более жесткие требования к допустимому уровню шума, потому что для восстановления цветного изображения используют источник света с широким спектром. Можно ставить узкополосные фильтры, формирующие линейчатый спектр, соответствующий спектральным линиям записи. [c.106]

Контраст результирующего изображения в голографическом кинематографе можно количественно оценить критерием, определяемым следующим соотношением [c.244]

Таким образом, степень частичной когерентности для множества атомов источника изменяется точно так же, как и для отдельного атома, и легко показать, что нормализованная степень частичной когерентности, определяемая равенством (7.4), будет одинакова в обоих случаях. Эту степень частичной когерентности можно определить, измеряя экспериментально контраст (а также сдвиг) полос в зависимости от разности хода. [c.279]

С учетом формулы (234) выражение (230), определяющее минимальную величину концентрации, регистрируемую при данной точности измерения контраста, можно записать в виде [c.199]

Яркость и контраст изображения являются важными параметрами, определяющими удобство работы с дисплеем. Первый из них зависит от величины тока луча в ЭЛТ, эффективности люминофора и частоты регенерации. Второй определяется отношением яркости подсвеченной точки к яркости остальных (темных) точек экрана (рис. П9.1). Свечение темных точек определяется отраженным светом и свечением люминофора от попадания на него случайных элект- [c.548]

При записи сигнала на магнитной ленте наблюдается контраст намагниченности, определяемый выражением (1.1). Будем считать, [c.223]

Операционная система 343 Определяющая температура 17 Определяющий контраст 125 Оптическая система телескопов рефлек> торная 192, 193 ------ рефракторная 192, 193 [c.356]

В. В окрестности этой точки проведем факторный эксперимент типа 2 " с определяющим контрастом J = D1D2D3D4. Результаты этого эксперимента приведены в табл. 4. В ней же указаны найденные коэффициенты регрессии и точки движения в направлении скорейшего возрастания [c.447]

После погружения эмульсии в проявитель П. начинается через нек-рый промежуток времени, называемый периодом индукции. За это время проявитель успевает продиффундировать вглубь эмульсионного слоя. Дальше идет почернение эмульсии, начинающееся с наиболее ярко освещенных участков изображения и постепенно распространяющееся на менее освещенные. Почернение идет сначала быстро, затем медленнее, приблизительно по логарифмич. кривой. При этом оптич. плотность и почернение постепенно нарастают по определенному простому закону за данный промежуток времени П. интенсивность всех почернений увеличивается в одинаковое число раз характеристич. кривая (см. Сенситометрия, фиг. 1) превращается в новую кривую, прямолинейная часть к-рой наклонена под ббльшим углом к оси абсцисс. Вместе с временем П. растет у, т. е. tg 9 угол наклона характеристической прямой), определяющий контраст фотографического изображения. Поэтому у часто называют фактором проявления. Различные проявители обладают различными факторами П. Этим, а та1сже возрастанием контраста с временем П., обыкновенно пользуются для исправления недостатков негатива. Так напр., для повышения контрастности в случае общей передержки П. ведется концентрированным медленно действующим проявителем с избытком бромистого калия в случае общ й недодержки—также концентрированным, но быстро действующим проявителем. Для ослабления контрастности в случае недодержки в тенях проявляют быстрым разбавленным проявителем, в случае передержки в светах—медленным разбавленным проЯ1зителем. [c.208]

Качество изображения дефекта, определяющее его выявляемость, называется видимостью V = klktnia, где к и femin — фактический и минимальный в данных условиях контрасты. [c.51]

Перед каждым актом микротомирования при положении II (см. рис. 2, а) образца (5) на его торец наносят 0,02—0,03 мл дважды перегнанной воды. После микротомирования каплю с частицами снятого слоя переносят на предметное стекло и после испарения воды определяют показатель преломления частиц под микроскопом иммерсионным методом или с помощью фазового контраста [10]. Откладывая определяемое таким образом значение показателя преломления против координаты средней точки слоя, получают график зависимости оптической плотности п диффузионной среды от расстояния X до контактной поверхности, который удовлетворительно коррелирует с результатами исследования другими методами физико-химического анализа. [c.214]

Разительный контраст между закладываемыми свойствами под-элементов (идеальная пластичность, теория течения) и широким спектром отражаемых эффектов убедительно свидетельствует о действительно важной, определяющей роли, играемой микропласти-ческими деформациями и связанными с ними микронапряжениями в наблЕодаемых эффектах, которые можно объединить общим понятием деформационной анизотропии. Представляется поэтому убедительным, что указанные деформации и напряжения играют роль носителей памяти материала к предыстории его деформирования. Выявление активной роли микронеоднородности заставляет по-новому взглянуть на многие проблемы механики деформируемой среды. Условность границы между упругим и неупругим поведением материала становится совершенно очевидной находят объяснение зависимость между допуском на неупругую деформацию и формой и размерами поверхности текучести, некоторые аномальности (невыпук-лость, отклонение от ассоциированного закона течения), на первый взгляд противоречащие постулату Друккера, и т. п. [c.140]

Электронный контраст изображения, определяющийся отношением интенсивностей электронного пучка, прошедшего через Молекулы напыляемого металле различные участки пленки, соответствующие разным элементам стуктуры, как видно из схемы, после оттенения значительно повышается. [c.103]

В ряде случаев удовлетворительные результаты можно получить, используя приближени(е фильтра (7.4.22) в виде Ti vx, vy) = 5(vj , Vy) . Этот фильтр получают путем фотографирования пространственно-ча-стотного спектра сигнала и последующего контактного копирования полученного негатива при обеспечении результирующего коэффициента контраста всего фотопроцесса, равного двум. Фильтр вида Ti vx, Vy) = 5(vx, Vy) I является согласованным в том смысле, что его модуляционная характеристика пропорциональна спектру сигнала, благодаря чему фильтр пропускает лишь те частоты, которые имеются в сигнале, и ослабляет все остальные. Причем этот фильтр ослабляет и пространственные частоты спектра сигнала с весом, определяемым S(v, v ) . Естественно, что такая фильтрация искажает форму сигнала на выходе. Чтобы форма выходного сигнала не искажалась, следует использовать фильтр вида [c.252]

На рис. 82 приведен график зависимости контраста интерферограммы, соответствующей продольному сдвигу, от величины отношения продольного сдвига поля G к продольному размеру индивидуального спекла е. В зксперименте величина продольного смещения сохранялась постоянной, а продольный размер спеклов изменялся по мере изменения размеров восстановленного изображения и рассчитьтался по формуле (7.66). Теоретический график видности, определяемой в соответствии со степенью продольной когерентности спеклчюля (см. (7.68)), представлен функцией вида [c.158]

В6СТН0, контраст полос будет уменьшаться и в результате будет наблюдаться первое исчезновение полос в дальней-шем полосы могут опять появиться со слабым контрастом и снова исчезнуть и т. д. вплоть до последнего исчезновения, определяемого при очень широком источнике,— тогда говорят, что отверстия Т и Гг излучают некогерентные колебания. [c.128]

В гл. 8 изучается влияние малых геометрических аберраций на контраст оптического изображения и определение допусков. Затем в гл. 9 мы рассмотрим случай средних и больших аберраций, что позволит установить общий вид изменения изображения при увеличении аберраций. Мы будем широко использовать различные полученные в гл. 4 соотношения, выражающие контраст изображения, учитывая, что F , у ) =Eoh kA) является м нимой величиной, причем ее аргумент feA представляет собой влияние аберрации. Достаточно легко показать, что контраст, определяемый этими выражениями, не изменяется, если А меняет знак в пределах отверстия зрачка. Следовательно, можно утверждать, что контраст является четной функцией А, так что влияние малых аберраций выражается в первом приближении квадратичной формой относительно коэффициентов аберраций. [c.152]

Изменения комплексной амплитуды С у ) остаются синусоидальными. В случае совершенного п1рибо)ра изображение, очевидно, идентично Объекту в случае малых аберраций изображение смещается параллельно оси у в направлении, определяемом углом ф. Контраст изображения MHjpbi зависит от угла Ф и может быть, в частности, равен нулю, если Ф = я/2. [c.174]

Преимущество лазеров заключается в сосредоточении энергии излучения в узком спектральном интервале при высокой направленности и пространственной когерентности пучка излучения. Эти свойства лазерного излучения позволяют получать большую глубину зоны локализации интерференционной картины и ее высокий контраст по всему полю наблюдения при практически неограниченной частоте полос. При использовании неколлимированного лазерного пучка диаметром d глубина зоны локализации, определяемая расходимостью лазерного излучения 0, будет равна /к = d/0, а при расширении лазерного пучка с помощью телескопической системы она определяется углом 0т = Qd/D, где D — диаметр пучка на выходе расширительной системы. Вследствие малости угла 0 и пространственной когерентности излучения лазера зона локализации получается протяженной, что облегчает настройку интерферометра и совмещение исследуемого объекта с областью локализации. [c.179]

Таким образом, из приведенных результатов ясно, что в технике магнитографической дефектоскопии сварных соед1шеннй определяющее влияние на процесс записи поля дефекта оказывает размагничивающее поле, обусловленное магнитными свойствами сварного соединения и формой усиления сварного щва. Влиянием размагничивающего поля и объясняется уменьщение контраста записи поля дефекта, когда данный дефект находится в сварном соединении (см. рис. 1.26 и 1.27). В этом случае размагничивающее поле влияет также на поле подмагничивания и тем самым снижает чувствительность ленты. [c.70]

Кривые 2 и 3 (рис. 3.7) описывают характер магнитной записи при намагничивании исследуемой трубы более слабыми импульсами. Как видно из рисунка, контраст магнитной записи поля дефекта при контроле изделий из низкокоэрцитивных сталей в большой степени зависит от энергии намагничивающего импульса, определяющего величину остаточной индукции 5 . В рассматриваемом варианте наилучший эффект выявления глубинного дефекта наблюдается, когда энергия намагничивающих импульсов соответствует примерно 120 Дж. При энергии 30 Дж дефект практически не выявляется. [c.102]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...