Спектральная плотность излучения относительная

Сравнивая формулы (1-43) и (1-45), видим, что функция ===InX дает положение максимума спектральной плотности излучения, при длине волны, определяющей границу двух частей спектра по сделанной выше интерпретации закона смещения. Оказывается также [2], что этим же соотношением (1-45) определяется температура, при которой лучистый поток, выделяемый полосой бесконечно малой ширины, имеет наибольшее относительное значение в интегральном излучении черного тела. [c.26]

Л - спектральная плотность излучения, Вт/(м м) g - ускорение свободного падения, м/с - относительная концентрация (массовая доля) 1 - го компонента в газовой смеси [c.9]

Рис. 38. Спектральная плотность (в относительных единицах) реликтового излучения как функция длины волны Л = 2яс/со (масштабы логарифмические). Прямоугольники — результаты эксперимента, кривая соответствует распределению Планка при

Определить температуру Т , при которой на спектральный участок X >. + ( >. приходится наибольшая относительная плотность излучения, так что эта плотность имеет максимум при длине волны X или соответствующей ей частоте v = / k. [c.221]

Уравнение (13.68) получено в приближении диффузии излучения, поэтому оно относительно простое, так как в этом случае перенос энергии зависит только от условий в ближней окрестности данной точки и может быть выражен через градиенты параметров в точке. Уравнение (13.68) используется при выводе зависимости для определения локальной плотности спектрального потока излучения (1ф ,(л ) в сечении х, распространяющегося в направлении х, путем умножения bi на os 3dA, и интегрирования по всем телесным углам. Зависимость для d p ) имеет вид [28] [c.294]

Заслуживает внимания тот факт, что использование лазеров в спектроскопии определяется относительной простотой регистрации сигнала, несущего информацию об исследуемом явлении. Высокая спектральная плотность привела к появлению лазерной спектроскопии, основанной на комбинационном рассеянии, и методов инфракрасной флуоресценции с высоким временным разрешением, а также измерений, основанных на поглощении излучения. Высокая степень когерентности и узость полосы излучаемых частот позволяют использовать лазер для гетеродинной спектроскопии и спектроскопии, основанной на рассеянии света. [c.218]

Цветовая температура Тс Температура черного тела, при которой относительное распределение спектральной плотности энергетической яркости черного тела и данного источника излучения в видимой области спектра максимально близки [c.22]

Тепловое излучение Относительное распределение спектральной плотности энергетической яркости излучения Цветовой пирометр 800— 6000° С [c.195]

Обычно удобно использовать ослабители с соотношением коэффициентов пропускания ступеней 1 2 4 8 16 и т. д. Обозначая интенсивность излучения, прошедшего через ступень с т = 1 (на которую не нанесен металл), через /р, интенсивность излучения, прошедшего через г-ю ступень, через / , и измеряя соответствующие плотности О, на фотопластинке, строят характеристическую кривую О = [ ( g 1). Измерение плотностей почернения на фотографиях спектров (спектрограммах) выполняется на микрофотометрах, например МФ-4 или МФ-10. Измерив плотность О интересующей нас спектральной линии, по графику О / (lg I) определяют / в выбранных условных единицах, т. е. находят lg /, lg I —1 /о, и отсюда ///о, т. е. интенсивность спектральной линии в относительных единицах. При этом не обязательно знать величину интенсивности излучения эталона /о, прошедшую через ступень с т 1 ее можно принять равной /о условных единиц. [c.405]

В этих формулах и — спектральная плотность потока излучения черного тела при температуре среды Газетенки Т , определяемая по закону Планка — средний угловой коэффициент поверхности стенки 7 относительно поверхности среды [c.98]

Влияние высокочастотной части спектра турбулентности на флуктуации интенсивности лазерного излучения в области насыщения дисперсии рассмотрим с использованием модели спектральной плотности (1.14), (1.17), полагая фо(х/>со) = 1. В этом случае выражение для относительной дисперсии флуктуаций интенсивности на оси коллимированного пучка в фазовом приближении метода Гюйгенса—Кирхгофа имеет вид [7, 14] [c.93]

Спектральная плотность реверберационной помехи обладает параметрами, приведенными в пп. 12.3.1, с центральным пиком, смещенным по частоте относительно излученного сигнала пропорционально скорости носителя н курсовому углу характеристики направленности. На практике при преобладающей реверберационной помехе частота излученного сигнала, как правило, изменяется таким образом, что пик реверберации сохраняется постоянным на некоторой фиксированной частоте. Это позволяет использовать в приемной системе неизменный набор фильтров. [c.383]

Результаты контроля качества просвечиваемых изделий определяются взаимодействием ряда параметров, зависящих от вида источника излучения, свойств изделия и детектора излучения. Основные параметры источников излучения — энергия, спектр ее распределения, мощность экспозиционной дозы (МЭД) изделия и дефектов — атомный номер, плотность, линейный коэффициент ослабления, дозовый фактор накопления детектора — спектральная чувствительность, контрастность и разрешающая способность процесса контроля — абсолютная и относительная чувствительность, производительность контроля. [c.18]

Во-вторых, из (2-36) вытекает и другое не менее важное следствие, позволяющее определить длину волны, для которой объемная плотность равновесного излучения при заданной температуре будет максимальной. Пользуясь соотношением =Xv, формулу (2-36) можно записать относительно спектральной объемной плотности энергии равновесного излучения, приходящейся на единицу интервала длин волн )> следующим об- [c.70]

Решая совместно (4-13) и (4-15) относительно и получаем выражение для спектральной поверхностной плотности результирующего излучения [c.120]

Решая (4-33) и (4-34) относительно Я ад v эф v находим выражение для спектральной поверхностной плотности результирующего излучения [c.130]

На основании проделанных выкладок получаем систему уравнений диффузионного приближения, состоящую из уравнений вектора потока излучения (5-34) или (5-35), уравнения энергии (5-36) и уравнений граничных условий (5-37) или (5-40). Нетрудно видеть, что, подставив выражение для согласно (5-34) или (5-35) в (5-36), получим одно дифференциальное уравнение относительно спектральной объемной плотности энергии излучения и , которое совместно с граничными условиями (5-37) или (5-40) является формально точным и замкнутым при задании в каждой точке объема величины Т или рез. V граничной поверхности — величины или ез, V [c.153]

С учетом изложенных выше предположений относительно оптических свойств поверхности запишем интегральное уравнение для спектральной поверхностной плотности эффективного излучения стенки [21, 22] (излучение, идущее от стенки, т.е. собственное [c.228]

Экстремальный характер зависимости плотности потока собственного излучения от длины волны А, наиболее резко выражен для экранов в камере горения. Здесь максимум достигается при Я 2 мкм, в то время как для камеры охлаждения он располагается в более длинноволновой области спектра, при X 3,5 мкм. Относительно высокие значения плотности потока собственного излучения экранов в коротковолновой части спектра, характерные для камеры горения, объясняются более высокими значениями температуры, а также более высокой спектральной степенью черноты пленки жидкого шлака в этой области спектра. [c.225]

В физике плазмы рентгеновская спектроскопия применяется для диагностики источников двух типов с большим размером плазменного объема 0,1—1,0 м (например, токамаков) и источников малого размера 0,1—1,0 мм (лазерной плазмы, плазменного фокуса, вакуумной искры). Температура этих источников одного порядка — от единиц до нескольких десятков миллионов градусов, и основная часть линейчатого и непрерывного излучения приходится на мягкий рентгеновский диапазон от нескольких сотен электронвольт до нескольких килоэлектронвольт. В термоядерных установках проводятся исследования Н, Не, Ы, Ве — подобных ионов легких (О, С, Н) и тяжелых (Т1, N1, Ре) элементов, по которым определяются электронная и ионная температуры, ионный состав и состояние равновесия, а также исследуются макроскопические процессы и кинетика плазмы. Исследуемые линии принадлежат ионам примесей, поступающих в плазменный объем из стенок или остаточного газа, поэтому их интенсивность по сравнению с континуумом относительно невелика. Для разделения линий ионов различных элементов и кратностей необходимо разрешение порядка (1 — 3). 10 в отдельных, относительно узких, участках спектра. По изменению интенсивностей линий ионов различных кратностей можно судить об изменениях температуры, плотности и ионного состава плазмы по объему. Для таких измерений спектральная аппаратура должна иметь пространственное разрешение порядка 1 см для токамаков и 1 мкм для лазерной плазмы. Горячая плазма существует непродолжительное время (характерное время изменения параметров плазмы токамаков порядка 1 мс, лазерной плазмы — 10 нс), поэтому приборы должны обладать достаточно большой апертурой и многоканальной системой детектирования. Поскольку большинство координатно-чувствительных детекторов высокого разрешения имеют плоскую чувствительную поверхность, фокальная поверхность спектрометра тоже должна быть плоской, и угол падения излучения к ней должен по возможности быть небольшим. [c.286]

В ряде практических ситуаций важно обнаружить и выделить из шумов полезный сигнал, являющийся некогерентным (например, при приеме многомодового излучения лазера, прошедшего турбулентную атмосферу при обнаружении ретранслированного и несущего информацию или отраженного от цели когерентного излучения оптически шероховатой отражающей поверхностью и т. д.). Поскольку некогерентный сигнал и шумовое поле имеют гауссовское распределение амплитуд и описываются гауссовскими весовыми функциями (плотность распределения вероятностей комплексной амплитуды), то и весовая функция, соответствующая суперпозиционному полю также является гауссовской. В частном случае при выделении некогерентного сигнала и медленно флуктуирующих шумов при близких частотах сигнала й шума и медленных флуктуациях сигнала распределение вероятностей потока фотоэлектронов характеризуется законом Бозе—Эйнштейна (10 а) 1 табл. 1.1). Однако в общем случае присутствие шумового поля вызывает изменение распределений при этом спектрально — корреляционные характеристики шумового поля, величина смещения центральной частоты шума относительно центральной частоты сигнала и время наблюдения Т существенно изменяют вид получающихся распределений. [c.48]

Вынужденное испускание. Гипотеза Эйнштейна относительно вынужденного испускания состоит в том, что под действием электромагнитного поля частоты V молекула может, во-первых, перейти с более низкого энергетического уровня Е1 на более высокий 2 с поглощением кванта энергии кх = Е2— 1 (рис. 35.1,6) и, во-вторых, перейти с более высокого уровня 2 на более низкий 1 с испусканием кванта энергии Ау = 2— ( (рис. 35.1, в). Первый процесс принято называть поглощением, второй — вынужденным (индуцированным или стимулированным) испусканием. Скорость каждого из этих процессов пропорциональна соответствующим вероятностям 12 и 21 , где 12 и 21 — коэффициенты Эйнштейна для поглощения и вынужденного испускания и — спектральная плотность излучения. Согласно принципу детального равновесия при термодинамическом равновесии число квантов света йп, поглощенных за время (11 при переходах / —>- 2, должно равняться числу квантов с1п2, испущенных в процессе обратных переходов 2- 1. Число поглощенных квантов согласно Эйнштейну пропорционально спектральной плотности радиации и и числу частиц П на нижнем уровне [c.269]

Оценки основных термодинамических характеристик плазмы искрового канала температуры, коэффициентов и показателей поглощения, потерь энергии с излучением и других - основаны на измерениях спектральной плотности лучистого потока (или яркости Ья). Результаты измерений спектральной плотности яркости искрового канала в оптически прозрачных твердых диэлектриках (ЩГК, органическом стекле, полевом шпате) по методу сравнения, несмотря на тщательный контроль за сохранением условий эксперимента (параметров разрядной цепи, длины межэлектродного промежутка, параметров оптической системы, геометрии образца и т.д.), подвержены значительным статистическим флуктуациям. Природа этих разбросов обусловлена малыми радиальными размерами искрового канала, особенно в начальной стадии его расширения, искривлениями и нестабильностью положения канала относительно оси электродов, вариациями кинетики трещин вокруг канала и т.п. Изучение влияния типа ЩГК, режимов энерговклада и других факторов возможно только с применением статистических методов, в частности, дисперсионного анализа. Результаты проверки закона распределения отдельных измерений максимального значения спектральной плотности [c.45]

ШУМОВАЯ TEMIIEKttYBi (жвивалентная)—эфф. величина, служащая относительной мерой спектральной плотности мощности эл.-магн. излучения источников шумов. Вводится по аналогии с равновесным излучением тепловым шумом) согласованного сопротивления, спектральная плотность мощности для к-рого определяется ф-лой Найквиста S=kT (k—постоянная Больцмана, Т—абс. темп-ра сопротивления). Т. о., под Ш. т. источника шума следует понимать такую темп-ру согласованного сопротивления, при к-рой спектральная плотность мощности теплового шума этого сопротивления будет равна спектральной плотности мощности шумов данного источника. Относительной Ш. т. (или шумовым числом) наз. отношение Гц. к комнатной темп-ре Го = 290 К. [c.480]

Будем считать, что относительный состав излучения нечерного источника, имеющего температуру Т, воспроизводится (в пределах видимой части спектра) составом излучения абсолютно черного тела, имеющего температуру Т . Воспользовавшись снова законом Кирхгофа и формулой Вина, напишем, что при сделанном допущении спектральная плотность яркости нечерного излучателя может быть представлена так [c.151]

В некоторых случаях можно определять п на основании. измерений ширины спектральных линий излучения столба. В столбе атомы, испускающие излучение, все время лодвержены действию кулоновских полей ионов и электронов с относительно большим радиусом действия. В таких полях наблюдается уширение линий — явление, сходное с эффектом. Штарка. Оно может быгь использовано для оценки плотностей ионов и электронов. Это уширение особенно сильно выражено у таких 30 [c.30]

Тот факт, что интегральная плотность излучения в каждой точке равна равновесной, соответствующей температуре вещества, вовсе не означает, что то же самое относится и к спектральным плотностям ). Однако чем дальше от поверхности в глубь фотосферы, тем меньше относительные изменения температуры на расстояниях порядка среднего пробега, а следовательно, и пробегов разных частот. Поэтому вдали от поверхности имеет место локальное равновесие и в каждой частоте и под средним пробегом Г = 1/х следует понимать росселандово среднее. Практически росселандов способ усреднения можно распространить на всю фотосферу вплоть до самой поверхности. Зная распределение температуры по сред- [c.142]

Методика испыташп пластмасс в аппаратах искусственной погоды изложена в ГОСТ 17171—71, В качестве источника световой радиации применяют угольные дуговые лампы закрытого типа или газосветные ксеноновые лампы со светофильтрами. Такой источник света дает возможность получить излучение, по спектральному составу близкое солнечной радиации на поверхности Земли в июньский полдень (длина волны 300—400 нм, интегральная плотность потока в ближней части ультрафиолетовой области спектра 69,78 Вт/м ). Аппарат искусственной погоды имеет также устройство для дождевания образцов, устройство для поддержания в рабочей камере необходимого температурного режима и заданной относительной влажности. Длительность испытаний может быть различной (оговаривается в стандарте). После испытаний образцы пластмассы тн1,ательыо осматривают, поверхность их очищают мягкой хлопчатобумажной тканью, затем их кондиционируют, а затем подвергают механическим, электрическим или другим испытаниям. [c.194]

На рис. 2-1 показано распределение электромагнитной энергии в спектре равновесного излучения, получаемое на основании формул Планка, Рэлея — Джинса и Вина. При этом все три формулы приведены к безразмерному виду относительно спектральной поверхностной плотности равновесного излучения и аргумента hvjkT. Рис. общность закона Планка Вина и Рэлея — Дншнса. [c.77]

Амплитудный анализатор АИ-100 с датчиком УСД-1, оснащенный кристаллом NaJ(Ta), имеет разрешающую способность по Y-линии s 9%. Основные процессы взаимодействия Y-квантов с веществом — фотоэлектрические поглощения, комптоновское рассеивание и образование пар. Результатом взаимодействия излучения с веществом сцинтиллятора является возбуждение атомов молекул, которые, возвращаясь в нормальное состояние, испускают фотоны с частотой в области спектральной чувствительности фотокатода фотоумножителя ФЭУ-13. Кристалл йодистого натрия, активизированный таллием, обладает световым выходом относительно большой плотности, содержит атомы йода с большим атомпы. весом (Z = 53), хорошо себя зарекомендовал в спектрометрии рентгеновского и у-излучения. Так как интенсивность световой вспышки линейно связана с энергией, возбужденной 7-квантом в кристалле, на аноде фотоумножителя ФЭУ-13 появляется пропорциональный ей импульс тока, регистрируемый набором статистически распределенных импульсных счетчиков. [c.57]

КРАСНОЕ СМЕЩЕНИЕ — увеличение длины волны монохроматич. компонента спектра источника излучения в системе отсчёта наблюдателя ( .(,) по сравнению с длиной волны этого компонента в собств. системе отсчёта (>.f,). Термин К. с. возник при изучении спектральных линий оптич. диапазона, смещенных в сторону длинноволнового (красного) конца спектра. Прячи-пой К. с. может явиться движение источника относительно наблюдателя — Доплера эффект пли (и) отличие напряжённости поля тяготения в точках пспуска-пия и регистрации излучения — гравитационное К. с. В обоих случаях параметр смещения 2 s (X,(,— кеМ е н зависит ОТ ДЛИНЫ волны, так что наблюдаемая плотность распределения энергии излучения /(, (Я.) связана с аналогичной плотностью в собств. системе отсчёта /е(л) соотноп1ением [c.487]

Опыты по исследованию спектрального распределения поверхностной плотности потока падающего излучения были проведены при номинальной нагрузке агрегата, коэффициенте избытка воздуха а = 1,02 и степени рециркуляции дымовых газов г = 12 На рис. 4-18 показаны характерные для различных зон топки зависимости <7пад (Я). Как уже отмечалось выше, относительное расположение зон характеризуется здесь безразмерным параметром X = (Н— — Hr), где Яг и — соответственно уровни расположения горелок и выходного окна топки. Для ядра факела, расположенного на уровне горелок, Я = Яг и X = 0. Для зоны на уровне выходного окна топки Я = Ят и X = . Приведенные данные показывают высокую степень селективности теплового излучения топки во всех зонах по ходу выгорания факела. [c.141]

Смотреть страницы где упоминается термин Спектральная плотность излучения относительная : [c.357] [c.358] [c.546] [c.181] [c.39] [c.294] [c.15] [c.159] [c.344] [c.109] [c.40] [c.19] [c.703] [c.17] [c.170] [c.241] [c.184] [c.121]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...