Поверхность фокальная

Отклонение электронного луча и обеспечение требуемой траектории перемещения точки его встречи с обрабатываемой поверхностью (фокального пятна). [c.107]

В физике плазмы рентгеновская спектроскопия применяется для диагностики источников двух типов с большим размером плазменного объема 0,1—1,0 м (например, токамаков) и источников малого размера 0,1—1,0 мм (лазерной плазмы, плазменного фокуса, вакуумной искры). Температура этих источников одного порядка — от единиц до нескольких десятков миллионов градусов, и основная часть линейчатого и непрерывного излучения приходится на мягкий рентгеновский диапазон от нескольких сотен электронвольт до нескольких килоэлектронвольт. В термоядерных установках проводятся исследования Н, Не, Ы, Ве — подобных ионов легких (О, С, Н) и тяжелых (Т1, N1, Ре) элементов, по которым определяются электронная и ионная температуры, ионный состав и состояние равновесия, а также исследуются макроскопические процессы и кинетика плазмы. Исследуемые линии принадлежат ионам примесей, поступающих в плазменный объем из стенок или остаточного газа, поэтому их интенсивность по сравнению с континуумом относительно невелика. Для разделения линий ионов различных элементов и кратностей необходимо разрешение порядка (1 — 3). 10 в отдельных, относительно узких, участках спектра. По изменению интенсивностей линий ионов различных кратностей можно судить об изменениях температуры, плотности и ионного состава плазмы по объему. Для таких измерений спектральная аппаратура должна иметь пространственное разрешение порядка 1 см для токамаков и 1 мкм для лазерной плазмы. Горячая плазма существует непродолжительное время (характерное время изменения параметров плазмы токамаков порядка 1 мс, лазерной плазмы — 10 нс), поэтому приборы должны обладать достаточно большой апертурой и многоканальной системой детектирования. Поскольку большинство координатно-чувствительных детекторов высокого разрешения имеют плоскую чувствительную поверхность, фокальная поверхность спектрометра тоже должна быть плоской, и угол падения излучения к ней должен по возможности быть небольшим. [c.286]

Совокупность фокальных точек О1 и 02,д(и), построенных для всех точек поверхности Д(И), образует пару фокальных поверхностей. Фокальных поверхностей в общем случае две, поскольку в каждой точке гладкой регулярной поверхности существует только два главных радиуса ее кривизны - 1 .()( ) и Я2.()(и) соответственно. В вырожденных случаях две фокальные поверхности сливаются в одну общую фокальную поверхность и др. [c.391]

Конкретно свет от источника S, расположенного в фокусе линзы Л, направляется на поверхность полупрозрачной пластинки СС. Отраженный от этой пластинки световой пучок через линзу л направляется на поверхность воздушного зазора. Отраженные лучи, налагаясь, дают на экране F, расположенном в фокальной плоскости линзы, интерференционную картину. Если исследуемая поверхность такая же гладкая, как и поверхность эталона, то в зависимости от относительного положения этих пластин будет наблюдаться интерференция полос равного наклона [c.104]

Эта поверхность носит название передней фокальной поверхности. Аналогично построим заднюю фокальную поверхность радиуса 1/а — 1- Малые участки этих поверхностей (для параксиальной области) могут быть приняты за плоскости (фокальные плоскости). [c.283]

Если при заданном угле падения 0 его изменение ДО достаточно велико, смещение картины спеклов будет сопровождаться изменением ее микроструктуры, которое обусловлено именно шероховатостью поверхности S. После проявления фотопластинки Ф негатив наблюдают в параллельном пучке света, пользуясь схемой, показанной на рис. 44, б. В фокальной плоскости объектива О будут наблюдаться прямолинейные параллельные полосы, угловое расстояние между которыми равно к/хц, где л — длина волны источника света. Контраст (ч полос зависит от шероховатости поверхности и определяется выражением [c.112]

Лампа накачки имеет либо форму опирали, внутрь которой помещается активный элемент, либо прямолинейную форму. В последнем случае используют специальный отражатель в виде эллиптического цилиндра с внутренними отражающими поверхностями. Лампа накачки располагается вдоль одной из фокальных линий цилиндра, отраженный свет концентрируется на активном стержне, помещаемом вдоль другой фокальной линии. Питание ламп накачки осуществляется от батареи высоковольтных конденсаторов. [c.280]

Передний фокальный отрезок Sp — расстояние от вершины передней поверхности до переднего фокуса F. [c.199]

Задний фокальный отрезок Sp.—расстояние от вершины задней поверхности до заднего фокуса F. [c.199]

Для совмещения фотопластинки с фокальной поверхностью производится фокусировка камерной части. Это делается в несколько этапов. Прежде всего производится предварительная фокусировка с помощью лупы и матового стекла. После этого фокусировка ведется фотографическим способом по методу последовательных приближений. Пользуясь тем, что ось вращения кассетной части камеры лежит в плоскости фотопластинки, вначале производится фокусировка камерного объектива для узкого участка спектрограммы вблизи оси вращения. Из серии последовательных фотоснимков, сделанных на одной пластинке при одинаковых временах экспозиции, но при различных положениях камерного объектива, выбирается такой снимок и такое положение объектива, при которых указанный узкий участок спектрограммы имеет наиболее резкие изображения линий . [c.27]

Отцентрировав систему и установив осветитель в нужное положение приступают к работе с ртутной лампой. Пустив в действие водяное охлаждение и убедившись в правильности его работы, включают лампу ПРК-2. Наблюдая спектр ртутной лампы на матовом стекле, установленном в фокальной плоскости камеры, поворотом призменной системы спектрографа выводят на середину кассеты синюю линию Hg 435,8 нм. Источником света в этом случае служит поверхность крышечки, надетой на отверстие с задней стороны осветителя. Рассеянного света ртутной лампы от крышечки достаточно для получения яркого спектра. [c.129]

При контроле шероховатости крупногабаритных изделий предварительно снимают слепок (реплику) с его поверхности, который затем помещают в кювету с иммерсионной жидкостью, располагаемой в фокальной плоскости микроинтерферометра, и исследуют обычным методом. Этот способ кон- [c.68]

Более широкие возможности для получения сложного контура обеспечивает проекционный способ формирования излучения [5]. При использовании этого способа с помощью телескопической (осветительной) системы 2 (рис. 33) излучение ОКГ 1 расширяется до размеров маски 3, а затем уменьшенное изображение этой маски с помощью объектива 4 фокусируется на обрабатываемой поверхности 5. Причем, обрабатываемая поверхность располагается не в фокальной плоскости, а на некотором расстоянии Ь.Р от нее в плоскости изображения маски (в плоскости проекции). Форма зоны лазерного воздействия при этом зависит от конфигурации маски [c.54]

При скорости относительного перемещения луча либо детали, соизмеримой или большей скорости процессов разрушения материала либо изменения его свойств, воздействие импульсного излучения на материал в пределах длительности импульса становится в определенной мере подобным процессу обработки непрерывным излучением. В результате на поверхности детали образуется зона обработки, размеры и форма которой зависит как от формы фокального пятна, так и от режимов обработки (паз, щель, зона линейного упрочнения и т. п.). [c.68]

С увеличением плотности мощности лазерного излучения, сопровождающимся появлением на поверхности тонкого слоя оплавленного материала, вызванном неравномерным распределением плотности мощности в фокальном пятне, наблюдается снижение растягивающих напряжений и выравнивание их по глубине. [c.83]

Для того, чтобы обеспечить плотность мощности излучения, не превышающей уровня, при котором может произойти плавление или испарение материала, излучение дефокусируют путем смещения поверхности образца относительно фокальной плоскости 2 фокусирующей линзы на расстояние Vf (рис. 71), определенное экспериментально. При диаметре лазерного луча на выходе из лазерной полости, равном 24 мм, фокусном расстоянии фокусирующей линзы = 254 мм, расходимости лазерного излучения 1,4 мрад и расстоянии Af = 14 мм площадь облученного пятна на поверхности алюминия составляла 0,005 см (резонатор был отрегулирован таким образом, что облученное пятно имело приблизительно прямоугольную форму с размерами по осям X — V соответственно = 0,1 см Sy = 0,5 см). На рис. 72 показано соотношение между [c.94]

Помимо микротвердости, важной характеристикой упрочненной поверхности является ее шероховатость. Поскольку наиболее перспективными для лазерного упрочнения являются контактные поверхности различных деталей, важно знать влияние параметров этого процесса на шероховатость обработанной поверхности. При импульсной обработке основными факторами, влияющими на шероховатость поверхности, являются плотность мощности излучения (энергия, длительность импульса, размер фокального пятна), схемы [c.99]

Метод светового сечения (рис. 58, а) состоит в том, что пучок света, направленный через узкую щель / под некоторым углом а на измеряемую поверхность 4, проектируется объективом 2 на эту поверхность в виде светящейся линии. Другой объектив 5 переносит изображение щели в фокальную плоскость окуляра 6. [c.120]

Схема оптического квантового генератора с вихревым охлаждением активного элемента — излучателя показана на рис. 6.10. Активный элемент I размещен в оправках на оси камеры энергоразделения 2, изготовленной из прозрачного материала — кварцевого стекла. Сжатый газ подается в полость камеры энер-горазделения через тангенциальное сопло в виде интенсивно закрученного потока. На удаленном от соплового ввода конце камеры энергоразделения установлен щелевой диффузор 3. Ось вихревой трубы совмещена с одной из фокальных осей эллиптического отражателя 4. В другой его фокальной плоскости под камерой энергоразделения 2 размешена лампа накачки 5. Эллиптический отражатель 4 имеет зеркальную внутреннюю поверхность. Регулирование интенсивности охлаждения излучателя осуществляется сменой работы вихревой трубы путем изменения щелевого зазора при перемещении подвижной щеки диффузора. Время выхода оптического генератора на установившийся режим определяется теплогенерационными свойствами охлаждаемого активного элемента-излучателя. [c.296]

Интересно рассмотреть случай, когда источник находится в бесконечности, т. е. отраженные от поверхности лучи идут параллельно и наблюдение производится глазом, адаптированным на бесконечность или же в фокальной плоскости объектива телескопа. В этом случае оба интерферирующих луча, идущих от 5 к А, происходят от одного падающего луча SM (рис. 4,17). В зависимости от разности хода лучей в точке А будут наблюдаться максимум и минимум. Так как интерференционная картина определяется оптической разностью хода между интерферирующими лучами, то необходимо найти эту разность. Вследствие того что оптические длины (произведение геометрической длины пути луча на показатель преломления среды, в которой распространяется луч) всех прощедших [c.85]

Вывод формулы тонкой линзы. Выведем формулу тонкой линзы, исходя из формулы сферической поверхности. Показатель преломления материала лнизы обозначим через п. Показатели преломления сред справа и слева от линзы обозначим соответственно через и Г/.2- Построим изображение точки М, лежащей на главной оптической оси на расстоянии от линзы. Построение изображения точки А на тоик ой Л1итзе произведем следующим образом построим сперва изображение точки на од1юй поверхности, затем, рассматривая это изображение как источник, построим его изображение на второй поверхности. Будем пользоваться правилом, согласно которому лучн, идущие параллельно данно) оптической оси, после преломления в линзе пересекутся в одной точке, лежащей на фокальной плоскости. Соответствующее построение показывает, что изображение точки уИ на первой сферической поверхности, разграничивающей среды с показателями преломления слева (п ) и справа (гц), находится на расстоянии М А — а от этой поверхности. Тогда, согласно [c.180]

Если в силу каких-либо причин волновая поверхность обладает различной кривизной в разных сечениях, то тогда и возникнет астигматизм. Известно, что два сечения, обладающие минимальной и максимальной кривизной, взаимно перпендикулярны. Это и объясняет появление фокальных линий аа и ЬЬ на рис. 6.59, заменивщих стигматический фокус. Для того чтобы астигматизм не возникал, нужно, чтобы при всех преобразованиях пучок света оставался гомоцентрическим. Этого добиться трудно, так как при любом преломлении (даже на идеально плоской границе) гомоцентричность пучка нарушается. Возникнет астигматизм наклонных пучков. Следовательно, неизбежен астигматизм и при использовании призмы, на преломляющую поверхность которой свет всегда падает наклонно. [c.329]

Подобным же образом, повторяя рассуждения 73, 74, можно показать, что небольшой участок плоскости, расположенный в первой среде перпендикулярно к оптической оси центрированной системы, изобразится в последней преломляющей среде сопряженной плоскостью, также перпендикулярной к оптической оси, причем изображение остается геометрически подобным объекту. Наличие двух ( юкусов и двух фокальных поверхностей, установленное для одной сферической поверхности, сохраняется также и для всякой центрированной системы поверхностей. Точно так же для центрированной системы поверхностей сохраняет силу и теорема Лагранжа — Гельмгольца, т. е. [c.288]

К камерному объективу также предъявляются высокие требования. Он должен давать резкое (стигматичное) и достаточно плоское изображение спектра. Практически даже с применением сложных объективов часто не удается в достаточной степени выровнять фокальную поверхность. [c.20]

Наряду с установками башенного типа могут применяться автономные СЭУ, в которых нагреватель рабочего тела теплового двигателя, преобразующего тепловую энергию, например, в электрическую размещается в фокальной плоскости отражательной зеркальной параболической поверхности большого диаметра (10—100 м), и несколько таких установок работают на общую электрическую сеть. Такой способ преобразования солнечной энергии пригоден для электрических сетей общей мощностью до 10 МВт. [c.216]

Модификацией этого метода является автоколлимационный растровый способ измерения глубины неровностей. Схема растрового устройства показана на рис. 18. Растры 2 и 3 проектируются полупрозрачным, зеркалом 4, тубусной линзой 5 и объектом 6 па контролируемую поверхность 7. Растры расположены симметрично относительно фокальной плоскости F F. Шаг растров выбирают с учетом разрешающей способности микрообъектива 6. При точной фокусировке автоколимациониые изображения растров симметрично располагаются относительно рястра-ама-лизатора 8, причем их штрихи смещены на 1/2 шага относительно растра — анализатора 8. Поэтому в момент точной фокусировки в плоскости растра 8 устанавливается фотометрическое равновесие. При дефокусировке оно нарушается и регистрируется визуально или фотоприемником 9—12, как показано на рисунке. [c.75]

Чем меньше размер преобразователя, тем меньше его чувствительность. Для совмещения требований широкой диаграммы направленности и достаточно высокой чувствительности применяют фокусировку ультразвука, располагая фокальное пятно на границе иммерсионной жидкости с поверхностью изделия. В контактном варианте применяют концентратор, т. е. конический волновод, на широком торце которого располагают пьезопластину, при этом размер контактирующего с изделием торца приблизительно равен длине волны. [c.396]

Даваемые объективами 6 и 10 вторичные изображения полевой диафрагмы проектируются на испытуемую поверхность 7 и зеркало 11. Компенсационная пластина 9 уравнивает длины хода в стекле двух пучков лучей. Отразившись от испытуемой поверхности и зеркала, пучки лучей, вновь пройдя микрообъективы 6 и 10, соединяются полупрозрачной пластиной 8 и объективом 13 вместе с зеркалом 14 направляются в окуляр 12, в фокальной плоскости которого и наблюдается изображение испытуемой поверхности и система интерференционных полос, образованная соединившимися пучками когерентных лучей. При фотографировании интерференционной картины зеркало 14 выводят из хода лучей и с помощью объектива 15 и зеркала 17 лучи направляют на фотопленку, помещенную в кадровом окне 16. Разность хода когерентных световых пучков создается децентрированием объектива 10. Оно вызывает разделение зрачков выхода оптической системы и тем самым создает в поле интерференции переменный наклон пучков, которые разделяет и собирает в фокальной плоскости объектив 13. [c.92]

Плотность мощности лазерного излучения, подводимого в зону обработки, наиболее целесообразно регулировать расфокусировкой, т. е. путем расположения обрабатываемой поверхности детали в до-фокальной или в зафокальной области фокусирующей линзы. Кривые зависимостей глубины и диаметра зоны лазерного воздействия от степени расфокусировки в одну и другую стороны фокуса имеют приблизительно симметричный характер, поэтому принципиальной разницы, в какой области фокусирующей линзы вести обработку, нет. Однако расположение обрабатываемой поверхности выше ( ю-куса имеет ряд существенных недостатков, одним из которых является оплавление боковых поверхностей рабочих кромок, расположенных в фокальной плоскости. [c.110]

На характер формирования упрочненного слоя большое влияние оказывает равномерность распределения энергии в лазерном луче, поэтому обработка дефокусированным лучом не всегда целесообразна, так как неравномерность распределения энергии в расфокусированном пучке намного выше, чем в сфокусированном. В случае размещения обраба-тываемой поверхности в фокальной плоскости при одновременном высокочастотном сканировании лазерного луча можно легко контролировать ширину и длину фокального пятна, а следовательно, и распределение мощности. Одним из примеров сканирования лазерного луча можно назвать механическую вибрацию зеркала с частотой 1—2 кГц (рис. 35, а). [c.113]

Отсюда видно, что при h= п, если все знаменатели положительны, мы имеем эллипсоид, при Л = 1, 2,..., п — 1—центральную поверхность второго порядка иного вида все эти поверхности второго порядка будут софокус-ными, так как соответствующие фокальные многообразия зависят исключительно от разностей знаменателей, которые при изменении q не изменяются. [c.381]

Нагрев в отражательных печах. Отражательная печь представляет собой конструкцию, внутренняя полость которой образована отражающими поверхностями (концентраторами), выполненными в виде эллиптических цилиндров, В одном фокусе эллипса FiFi (рис. 4) помещаются источник лучистой энергии (излучатель), в другом F2F2 образец. Нагрев основан на концентрации энергии излучения источника в фокальной области пространства — области расположения образца. [c.286]

Измерительная головка 7 представляет собой подвижный интерферометр. Параллельный пучок монохроматического света от осветителя 5 падает на плоскопараллельную светоделительную пластину Р и разделяется на два когерентных луча. Первый луч проходит на зеркало 10, а второй, отражаясь от пластиныР,— на зеркальную поверхность 6. После отражения от зеркал лучи снова соединяются у пластины 9 и выходят в направлении фотоэлектронного умножителя (ФЭУ) 11. При приближении измерительной головки к поверхности 6 в плоскости диафрагмы 12 ФЭУ возникает интерференционная картина и будут перемещаться интерференционные полосы. В момент, когда фокальная плоскость объектива головки совпадает с зеркальной поверхностью 6, черная полоса интерференционной картины перекроет диафрагму 12 и на выходе ФЭУ будет импульс максимальной амплитуды. [c.90]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...