Побочная оптическая ось

Рис. 12.16. Положение фокусов, расположенных на главной и побочной оптических осях тонкой линзы.

Если источник света (фиг. 131) не совпадает с фокусом объектива, но расположен в фокальной плоскости на расстоянии а от главной оптической оси, то один из лучей (центральный) от источника света пройдет по побочной оптической оси, а остальные лучи, преломившись, пойдут параллельно побочной оптической оси. Встретившись с зеркальной плоскостью, перпендикулярной главной оптической оси, лучи отразятся под углом у к главной оптической оси, пройдут параллельным пучком и, преломившись в объективе, соберутся в точке О, симметричной 0 носительно точки О. Величина а = Fig у. [c.116]

Наряду с этим увеличение прибора ограничивается четкостью изображения, которая нарушается в связи с тем, что источник света имеет некоторую протяженность. Так, свет, помещенный в фокальной плоскости конденсора, может быть представлен в виде нити 551 (фиг. 152). Тогда часть лучей, выходящих из конденсора, бз дет направлена под углом (р к главной оптической оси (эти лучи пойдут параллельно побочной оптической оси), причем этот угол будет большим для лучей, исходящих из крайних точек источника света. [c.128]

Если источник света не совпадает с фокусом объектива, но расположен в фокальной плоскости на расстоянии а от оси (фиг. 7,6), то один из лучей (центральный) от источника света пройдет по побочной оптической оси, а остальные лучи, преломившись, пойдут параллельно побочной оптической оси. [c.49]

Прямая, проведенная через центры и Сг кривизны обеих поверхностей, называется главной оптической осью линзы (рис. У.1.12). В тонкой линзе точки О1 и Ог пересечения главной оптической оси с обеими поверхностями можно считать сливающимися в одну точку О, которая называется оптическим центром линзы. Побочными оптическими осями называются прямые, проходящие через оптический центр линзы и не совпадающие с главной оптической осью. Луч света, который распространяется по какой-либо из оптических осей, проходит сквозь линзу без преломления. [c.352]

Плоскость ми, проведенная через фокус линзы перпендикулярно к главной оптической оси, называется фокальной плоскостью (рис. У.1.14). Лучи, падающие на линзу параллельно какой-либо побочной оптической оси, после преломления в линзе пересекаются в точке, лежащей на фокальной плоскости. У линзы имеются две фокальные плоскости, расположенные по обе стороны от нее. Точки пересечения побочных оптических плоскостей с фокальными плоскостями линзы называют побочными фокусами линзы (точка Р на рис. У.1.14). [c.353]

Оптический метод не дает возможности определить величины aJ и Су отдельно. Для этого применяются побочные приемы. Одним из способов является замер при помощи специального тензометра изменения толщины модели в различных точках. Так как А/г пропорционально сумме напряжений, [c.520]

Рассмотрим некоторые экспериментальные стенды, включенные в схему лаборатории МЭИ. Рабочая часть установки для исследования характеристик сопл, на влажном паре методом взвешивания реактивной силы (рис. 2.2) была выполнена с однокомпонентными газодинамическими весами и присоединялась к увлажнителям стенда I (рис. 2.1). Установка предназначалась для проведения физических исследований осесимметричных двухфазных течений и определения коэффициентов тяги, расхода и потерь кинетической энергии. Равноплечий рычаг 2 жесткой конструкции подвешен с помощью упругого шарнира (ленточного креста) в сварном корпусе. На рычага на одинаковом расстоянии от точки опоры размещены два идентичных стакана, связанных с увлажнителем стенда двумя гибкими сильфонами большого внутреннего диаметра. В стаканы устанавливают исследуемые объекты. Кинематическая схема весов позволяет, во-первых, полностью освободить силоизмеритель от измерения побочного усилия, создаваемого перепадом статических давлений на стаканах и, во-вторых, получать характеристики сопл при одном заглушенном стакане и сравнительные характеристики, сли сопла установлены в обоих стаканах. Рычаги 1 и 8 предназначены для присоединения к ним силоизмерителей и индикаторов перемещения рычага 2. Измерение реактивной силы осуществляется компенсационным (нулевым) методом. Рассматриваемая рабочая часть оснащена весами высокого класса точности и другими приборами для пневмометрических и оптических исследований потока. [c.23]

Плотность почернения снимка при фотографировании, как известно, зависит не только от яркости излучения объекта, но и от общей чувствительности пленки и ее спектральной характеристики, от светосилы объектива фотокамеры, выдержки, условий проявления и некоторых других побочных факторов. Оптимальную плотность почернения изображения при прочих равных условиях можно подбирать оптическими ослабителями. [c.88]

Но если подавлен фон, картина полностью изменяется. Усиления полос не происходит, интенсивность, как показано на рис. 13, определяется суперпозицией двух краевых волн, причем одна из них сфокусирована, а вторая нет. Обе волны несут равную полную интенсивность, т. е. площади под кривыми равны. Но если предел разрешения мал по сравнению с (A,гo) интенсивность в резком изображении может быть намного больше, чем в побочном изображении. Таким образом, становится видимым правильный контур предметов, причем с очень большим контрастом, и при подходящих условиях изображение может не сильно отличаться от изображения, полученного по методу темного поля, в котором двойник полностью отсутствует. Таким образом, комбинируя методы светлого и темного полей и вообще наблюдения по методу фазового контраста, можно получить больше правильных деталей даже в случае неподходящих предметов. Это хорошо подтверждается предварительными наблюдениями в оптических экспериментах. [c.301]

Цифровые голограммы простейших объектов уже были показаны ранее. Помимо них были получены также голограммы прямоугольника, треугольника, звезды, а также различных силуэтов летательных аппаратов. Процесс восстановления изображения с этих голограмм машинным путем также изложен выше - восстановленный объект совершенно идентичен исходному. В то же время восстановление изображения оптическим путем дает иногда интересные результаты, особенно при сравнении синтезированных голограмм с физическими. Сопоставление показало, что, кроме принципиальных различий, вызванных способом получения голограмм (таких, как дискретность, непрерывность и др.), имеются различия, вызванные побочными явлениями. [c.106]

Метод активной синхронизации мод с помощью периодической модуляции параметров резонатора заключается в следующем. Внутри резонатора помещается модулятор, управляемый внешним сигналом и изменяющий потери резонатора (или другие его важные параметры, например оптическую длину пути) с течением времени по периодическому закону и с определенной частотой модуляции. Если частоту модуляции выбрать так, чтобы она равнялась частотному интервалу между модами для отдельных аксиальных мод, то вследствие модуляции для каждой моды начнется генерация побочных полос. Их частота будет совпадать с частотами обеих соседних мод. В результате этого эффекта между модами возникнет взаимодействие и при [c.95]

Побочное вредное изображение. В оптических приборах в результате неправильного выбора параметров оптической системы иногда наблю- [c.389]

На рис. 3.7.3 даны примеры коэффициентов отражения при различных числах слоев и для различных разностей фаз. Оптической толщине Х/4 соответствует разность фаз Ыпй/Х = = 180°, где расположен основной максимум. Из рисунка следует, что имеют место побочные максимумы. Увеличение числа слоев приводит к уменьшению ширины интерференционного максимума. Можно заметить, что ширина полосы с высоким коэффициентом Я тем больше, чем больше разница в показателях преломления Яи и Пв. [c.191]

Изменение дифракционной картины при аподизации. Из теории дифракции следует, что примерно 20 % световой энергии в дифракционном изображении приходится на вторичные максимумы. Эта значительная часть энергии, распределенная вне главного дифракционного максимума, снижает контраст опти- ческого изображения и, в ряде случаев, препятствует разрешению объектов. Теория дифракции показывает, что большая часть энергии, содержащаяся в побочных максимумах, определяется энергией элементарных волн на краях волновой поверхности, дифрагирующей на входном зрачке оптической системы. Следовательно, для уменьшения интенсивности вторичных дифракционных максимумов следует уменьшить интенсивность [c.363]

Для того, чтобы с помощью оптического метода определить величины напряжений, применяются побочные приемы, основанные [c.318]

Рис. 103 поясняет основную идею камеры Шмидта. На этом рисунке — вогнутое сферическое зеркало с центром в точке С, а — отверстие диафрагмы с центром в той же точке, введенной только для лучшего уяснения указанной идеи. Пучок лучей А, параллельных главной оптической оси зеркала, после отражения пройдет через кружок с центром в главном фокусе F. Размеры кружка определяются сферической аберрацией. Параллельный пучок Al, падающий наклонно, пройдет через аналогичный кружок с центром в побочном фокусе Fl. Геометрическим местом всех таких [c.178]

Как практически измеряется величина оптической нелинейности При абсолютных измерениях величину оптической нелинейности можно рассчитать, исходя из соотношения, связывающего мощность второй гармоники с мощностью основного излучения (выражение 2.52). При этом используются экспериментальные данные о профиле пучка, длине кристалла и его ориентации в направлении синхронизма. Исследуется спектр основного излучения для определения числа лазерных мод и распределения энергии по модам. Затем измеряется мощность второй гармоники при проходе через положение синхронизма. После этого можно рассчитать величину оптической нелинейности. Следует отметить, однако, что для исключения возможных ошибок при выполнении таких измерений необходим тщательный учет различных побочных факторов. [c.105]

Плечо силы 33 Побочная оптическая ось 270 Поверхностное латяжение 83 Позитрон 336 [c.363]

Рассмотрим два близких луча 1 и 2 первичного пучка, которым на выходе из источника S соответствует очень малая апертура интерференции 2и. Пусть луч 1 на прямом пути проходит диффузор Дф вблизи рассеивающего центра А без рассеяния и после отражения от зеркала 3 возвращается к А и испытывает рассеяние на центре А под углом О, формируя рассеянный луч 1. Пусть при этом луч 2 испытывает рассеяние на том же центре А под тем же углом 9 на прямом пути и проходит повторно диффузор Дф на обратном пути без рассеяния, формируя рассеянный луч 2, параллельный лучу 1. Лучи 1 и 2 перекрываются в точке Е фокальной плоскости I-I линзы Л. Проведём побочную оптическую ось ОЕ. Из треугольника EOS видно, что расстояние г между точками Е и S составляет г = Ftg или, с учётом малости угла 9, имеем г = Е 9. Проведём далее отрезок D перпендикулярный к лучам 1 и 2. В силу таутохронности участков [c.38]

Оптиметры (рис. 6.8) выпускают с ценой деления шкалы 0,001 мм. В их схеме использован принцип автоколлимации - свойство объектива ОБ превращать пучок расходящихся лучей, исходящих из точечного источника света О, расположенного в фокусе объектива ОБ, в пучок параллельных лучей, который после отражения плоским зеркалом собирается в том же фокусе объектива. Если источник света О расположить не в фокусе объектива, а в его фокальной плоскости на расстоянии а от главной оптической оси (рис. 6.8, а), то один из лучей (центральный) пройдет по побочной оптической оси, а остальные, преломившись, пойдут параллельно побочной оптической оси. Встретившись с зеркальной плоскостью ЗП, перпендикулярной к главной оптической оси, лучи возвратятся параллельным пучком и, преломившись в объективе, соберутся в точке Oi, симметричной точке О и находящейся на расстоянии а по другую сторону от главкой ОиТичсСКОй оси. [c.92]

Параллельный пучок, падающий на линзу под углом к главной оптической оси, собирается в фокальной плоскости, в точке пересечения ее с побочной оптической осью — щш-мой, проходящей через оптическш центр О и параллельной направлению пучка. [c.203]

Примененная кинематическая схема аэродинамических весов дает возможность, во-первых, полностью освободить силоизмеритель от измерения побочного усилия, создаваемого перепадом статических давлений на стаканах, превышающего величину тяги в десятки раз, и, во-вторых, получать обычные характеристики сопл (при одном заглушенном стакане) и сравнительные характеристики, если сопла установлены в обоих стаканах. Рычаги / и S предназначены для присоединения к ним силоизмерителей и индикаторов перемещения рычага 2. Измерение реактивной силы осуществляется комненсационным (нулевым) методом. Рассматриваемая рабочая часть оснащена рейтерными весами высокого класса точности и другими приборами для пнеамометрических и оптических исследований потока. [c.391]

Прежде чем приступить к анализу экспериментальных электрооптических коэффициентов, следует в какой-то степени познакомиться с тем, как эти данные получают. Большинство общепринятых методов определения электрооптических коэффициентов заключается в измерении изменений фазы света и интенсивностей побочных максимумов. Все изменения фазы (7.3.11) и интенсивностей в побочных максимумах (7.3.15) непосредственно связаны с соответствующими электрооптическими коэффициентами. Оба метода измерений обычно реализуются при квазиэлектростатических условиях, т. е. при частотах модуляции, которые много ниже фундаментальных частот акустических резонансов образца. При этих условиях кристалл может свободно деформироваться в соответствии с законами пьезоэлектричества и изменение напряжения в нем отслеживает модуляцию поля. Измеренный таким образом электро-оптический коэффициент обозначают через гТ , (низкочастотный ко- фициент). Если частота действующего электрического поля много выше фундаментальных частот акустических резонансов, то кристалл не деформируется и является фактически сжатым (т. е. находится при постоянном сжатии). В этом случае измеренный электро- [c.284]

Авторы работы [20] отмечают, что поперечная структура генерации является сильно неоднородной, а это указьшает на многомодовый характер генерации. Причиной его является большое число Френеля резонатора и отсутствие в нем угловой селекции. Затравочным же излучением является излучение, рассеянное на флуктуациях плотности жидкости, залитой в кювету. Кроме того, под действием излучения высокой интенсивности в жидкости возникали побочные явления, приводившие к уменьшению ее. оптической неоднородности. [c.186]

Основным источником ошибок, вызванных побочными явлениями, будут изменения оптических фаз, например, вследствие изменения среднего показателя преломления кристалла за счет оптического разрушения . По этой причине невозможно, в частности, использование в метрологических целях лазеров на кристаллах ниобата лития. При работе на малых смешениях, когда возрастает время измерений и pa Tjrr требования к механической стабильности системы, за счет добавления постоянного вклада небольшой компоненты локального отклика, например приложением внешнего электрического поля, можно смещать рабочую точку в диапазон больших частот [13]. [c.219]

Сравнивая это выражение с выражением (38), можно видеть, что первые две строки представляют излучение предмета t[, расположенного в плоскости —Zo, но освещенного с помощью такой оптической системы, в которой знаки астигматизма As и сферической аберрации g изменены. Это гарантирует полную симметрию освещения предмета и его двойника . Однако излученная волна отличается фазовым множителем [последний множитель в правой части уравнения (43)]. Это означает, что элементарная волна, испущенная некоторым элементом t x, y)dxdy предмета- двойника , имеет астигматизм 2А и сферическую аберрацию 2 s. Следовательно, при наличии астигматизма или сферической аберрации предмет-,,двойник", появляющийся в процессе восстановления, более не будет резким, а будет выглядеть так, как если бы его рассматривали через оптическую систему, обладающую аберрациями, удвоенными по сравнению с аберрациями конденсорной системы. Можно, конечно, четко видеть побочное изображение, а не истинное, если воспользоваться оптической системой с аберрациями противоположного знака, но невозможно одновременно видеть четко оба изображения. [c.252]

Таким образом, комбинируя линейные и нелинейные оптические элементы, можно осуществить эффективное укорочение импульса [8.22, 8,24—8.28, 8.37, 8.38], При этом, однако, не следует забывать, что сделанные выше приближения, следствием которых является постоянный во времени чирп , справедливы лишь для центральной части импульса. На фронтах импульса образуется зависящий от времени чирп , компенсация которого линейными оптическими диспергирующими элементами невозможна. В результате этого фронты импульса не сжимаются и образуются побочные импульсы (рис. 8.12, б). [c.308]

Табл. 1 также показывает, что невоз1можно улучшить одновременно все параметры оптического прибора. В частности, за уменьшение величины побочных максимумов приходится расплачиваться обязательным уменьшением интегрального пропускания. Если при иссл1вдоваииях ишользуетоя только центральная часть дифракционного пятна рассеяния, то проигрыш в про- [c.29]

В оптических приборах в результате неправильного выбора параметров оптической системы иногда наблюдается наложение друг на друга основного и побочного изображений. Побочное изображение в телескопических системах возникает в тех случаях, когда вследствие неправильного выбора размеров призменной системы различные пучки лучей имеют неодинаковое число отражений. Для устранения побочного изображения, даваемого качающимися визирньиш призмами, иногда приходится вводить подвижные шторки (фиг. 261). [c.414]

Астигматизм. При сохранении гомоцентричности каждая точка источника света дает одну точку изображения. Такие изображения называются точечными или стигматическими. Хорошо корригированная система собирает в одну точку лишь лучи такого пучка, осью которого служит главная оптическая ось. Если осью пучка служит побочная ось, составляющая конечный угол с главной оптической осью, то после преломления предмета точка изображается кружком рассеяния, форма которого зависит от положения экрана, на который она проектируется. Такое неточечное изображение называется астигматическим. Вследствие астигматизма невозможно, например, получение одновременно отчетливого изображения перекрестия, один из штрихов которого пересекает главную оптическую ось. [c.14]

Как уже отмечалось выше, с возникновением спонтанной поляризации в сегнетоэлектриках связаны аномалии ряда их свойств в области Аазового перехода упругих, диэлектрических, оптических и пр. Этого нельзя сказать, однако, с такой же определенностью о пьезоэлектрических свойствах. Все здесь зависит от того, каким пьезокоэффициентом характеризуются его пьезосвойства в области фазового перехода й ж е или д ж к. Пьезокоэффициенты йж ев области перехода меняются очень сильно, в то время как коэффициенты д ж Ъ сохраняются относительно постоянными . Причину такого различия в поведении этих пар коэффициентов легко понять из условий их определения (см. рис. 56) при определении коэффициентов д ж к электрическая сторона обусловливается механической (и наоборот) без влияния побочных явлений. В то же самое время при определении коэффициентов с и е постоянство Е требует при изменении диэлектрической проницаемости кристалла (что наиболее характерно нри сегнетоэлектрическом фазовом переходе) изменения заряда на его обкладках, не связанного с пьезоэффектом как таковым. [c.138]

Совершенно иная картина будет наблюдаться в том случае, когда исследуемый образец будет неоднородным, например нла-стннка со свнлямп или слой жидкости, имеющей разную плотность в разных местах. Присутствие свилей обусловливает появление косых нучков, которые в фокальной плоскости наряду с основным изображением щели будет давать в той или иной мере выраженные побочные ее изображения. При затемнении побочных изображений ножом в местах, соответствующих изображениям неоднородностей объекта, на матовом стекле или фотопластинке будут наблюдаться потемнения. Если диафрагмой перекрыть только основное изображение щели, то на темном фоне останутся светлые пятпа, соответствующие исследуемым неоднородностям. С помощью рассматриваемого метода можно исследовать такие неоднородности образцов, которые способны отклонять световые пучки в направлениях, перпендикулярных к оптической оси прибора. Эти отклонения могут в зависимости от характера неоднородностей происходить в различные стороны. Поэтому для всестороннего исследования образцов теневые приборы делаются так, чтобы имелась возможность вращать относительно оси прибора либо образец, либо щель и нож. [c.480]

На рис. 16.5 представлена конструкция ДУИФ. Здесь 1 — подложка, на которую наносятся диэлектрические слои 2 — защитная пластина или фильтры, которые должны отрезать побочные полосы пропускания. Оптические детали 1 и 2 помет,аются в оправу 3 и разделяются фторопластовой прокладкой 4. Все детали крепятся резьбовым кольцом 5. [c.120]

В оптические приборы через объектив наряду с лучами света, образующими изображение, попадает так называемый побочный свет , который может значительно ухудщить качество изображения. [c.90]

ПОБОЧНОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕ (и л и к) - см, Раг-сс.чние света в оптических приборах. [c.53]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...