Параметры оптических приборов

Параметры оптических приборов [c.301]

ПАРАМЕТРЫ ОПТИЧЕСКИХ ПРИБОРОВ 247 [c.247]

Для оптического прибора выходные параметры — сферическая аберрация, кома, астигматизм, хроматизм положения, фокусное расстояние системы внутренние параметры — радиусы поверхностей линз и расстояния между ними [c.22]

В современных оптических приборах используют оптические детали, имеющие чаще всего плоскую, сферическую и асферическую поверхности. Наиболее важным параметром, определяющим их качество, является отклонение от заданной геометрической формы. Предельное отклонение от. эталонной поверхности иногда не превышает десятых и даже сотых долей микрометра. Столь малые величины можно обнаружить и измерить с помощью приборов, в основу которых положены голографические методы контроля. [c.99]

При стандартизации размерных рядов неровностей поверхности в начале использовали Rq (или Я к) — среднее квадратическое отклонение профиля неровностей от его средней линии (США) и Ra —> среднее арифметическое, точнее, среднее абсолютное отклонение его от той же линии (Англия). Эти параметры измеряли электромеханическими профилометрами возможно потому, что они представляют собой хорошо известные в электротехнике эффективное и среднее значения функций, а также статистические характеристики, подходящие для описания рассеивания случайной ординаты профиля относительно ее среднего значения, за которое в данной ситуации была принята средняя линия. Позднее, повсеместно, а также в международном масштабе, был принят параметр Ra из соображений, приведенных выше. Сохранившийся до настоящего времени параметр Ra используют с начала 40-х годов, т. е. более 30 лет. Для измерений оптическими приборами (двойными микроскопами и микроинтерферометрами) параметр Ra не подходит, так как требует трудоемких вычислений. Поэтому применительно к этой категории средств измерений неровностей принимали различные модификации характеристик общей высоты неровностей, такие, как R max — максимальная на фиксированной длине высота неровностей (ранее обозначавшаяся через Я а с). Яср — средняя высота неровностей и Rz—высота неровностей, определяемая по 10 точкам профиля. Для сопоставимости результатов измерений и однозначности стандартизуемых величин потребовалось выделить шероховатость из общей совокупности неровностей поверхности. Это сделали путем установления стандартного ряда базовых длин, полученного из рядов предпочтительных чисел. Значения параметров определяют на соответствующих базовых длинах. Неровности с шагами, превышающими предписанную базовую длину, в результат измерений шероховатости не входят, и стандартизация шероховатости поверхности на них не распространяется. [c.59]

В ряде случаев требуется уменьшать плотность потока при помощи ослабителей света, которые являются составной частью большого числа современных оптических приборов и установок. Измерение лазерных параметров без ослабителей затруднительно, [c.88]

Оптические приборы изготавливают по ГОСТ 9847—79. Действие их основано на принципе одновременного преобразования профиля. Оптические приборы по результатам измерения позволяют определять параметры Rz, i max и S. [c.349]

Те.хнические характеристики оптических приборов для измерения параметров шероховатости приведены в работе [6J. [c.352]

Методы расчёта электронно- и ионно-оптических систем, позволяющие проводить всесторонний анализ параметров спроектированных приборов и установок, достигли такого уровня, что с нх помощью, с привлечением вычислит, средств и программного обеспечения, становится возможным решение проблемы синтеза создаваемых устройств—т. е. нахождения их конфигурации, др. данных, обеспечивающих реализацию заданных параметров при выполнении всех ограничит, условий (предельных габаритов, максимально допустимых напряжений, токов и т. п.). Переход от развития методов анализа электронно-и ионно-оптических систем к их синтезу станет одним из перспективных направлений развития и ИО в обозримом будущем. [c.549]

Ввиду большой трудоемкости измерения оптические приборы применяются в основном для выборочного контроля отливок. Для оценки поверхности отливок с низкой шероховатостью можно использовать микроинтерферометры. Параметры некоторых типов микроинтерферометров приведены в табл. 15. [c.503]

Это можно уточнить, если использовать теорему интерполяции гл. 2, 7 полоса пространственных частот, пропущенных оптическим прибором, ограничена в результате изображение будет полностью известно, если будет известна освещенность в конечном числе точек, надлежащим образом выбранных. Предположим, например, что прибор -обладает квадратным зрачком, сторона которого видна из центра плоскости изображений под углом 2 а (фиг. 97) пропущенные пространственные частоты не будут превышать по модулю предельную величину 2 а Д, и общая ширина полосы пропускания будет равна 4 а 1%. Теорема интерполяции, распространенная на случай двух измерений, позволяет показать, что изображение будет полностью известно, если известны значения освещенности /[у, z ) в точках, расположенных в узлах (вершинах) квадратиков со стороной Я/4а (см. фиг. 97). Иначе говоря, функция 1 у, z ) зависит от конечного числа параметров. На единице поверхности в плоскости у, z достаточно знать значение освещенности в точках, число которых равно Л =16а /Я . Можно показать, что в случае когерентного [c.211]

Побочное вредное изображение. В оптических приборах в результате неправильного выбора параметров оптической системы иногда наблю- [c.389]

Основные световые н электрические параметры и размеры ламп накаливания для оптических приборов (см. рис. 1) [c.656]

Светосила. Светосила спектрального прибора характеризует освещенность (или световой поток), которую создает оптическая система в плоскости изображения спектра. От светосилы спектрального прибора зависит экспозиция, с которой фотографируется спектр на спектрографе, и ширина щели, когда спектр регистрируется на спектрофотометре. В зависимости от способа регистрации света и источника света (линейчатого или непрерывного) светосила определяется через различные параметры спектрального прибора, но во всех случаях она пропорциональна квадрату относительного отверстия с1Ц объектива камеры (с — диаметр, — фокусное расстояние, см. рис. 11.1) и коэффициенту пропускания т (отношению монохроматического светового потока, прошедшего через прибор, к падающему на входную щель). [c.127]

Электромеханические приборы последовательно, по мере перемещения щупа по поверхности, преобразуют измеряемый профиль в электрическое напряжение для записи или измерения нужного параметра, а оптические приборы для того же назначения одновременно преобразуют участок профиля в интерференционную картину, световое или теневое сечение . [c.478]

Установка была снабжена координатниками для измерения насадками полей параметров потока на входе в решетку и на выходе из нее. Для исследования решеток оптическим методом в одну из обойм вставлялось металлическое зеркало, на котором крепились лопатки. Зеркальный оптический прибор позволял фотографировать оптические картины течения по методу полос одновременно с измерением распределения давления по контуру центрального профиля и на стенке межлопаточного канала. [c.6]

Очевидно, что все величины, имеющие размерность длины (например, фокусное расстояние, коэффициенты аберрации и т.п.), изменяются вместе с радиусом-вектором R. Следовательно, безразмерные величины, такие, как коэффициент аберрации, отнесенный к фокусному расстоянию (см. разд. 5.7.4), являются масштабно-инвариантными и могут служить универсальными параметрами для характеристики электронно-оптических и ионно-оптических приборов. [c.62]

Отличие К от дельта-функции приводит к определенной неоднозначности при восстановлении предмета по изображению. На это указывает, например, тот факт, что два точечных источника при наблюдении через один оптический прибор различимы по отдельности только в том случае, когда расстояние между ними больше некоторой величины W. При этом W можно оценить как поделенный на увеличение размер области в плоскости Ц, в которой К существенно отлична от нуля. Как мы увидим ниже, параметр W, определяющий минимальное разрешимое прибором расстояние, линейно уменьшается с уменьшением длины волны. Таким образом, чем выше частота, тем лучше разрешающая способность. Этим объясняется популярность синхротронных источников, с помощью которых получают высокие [c.319]

С удалением от сонла граница между потоками размывается, сверхзвуковое ядро эжектирующей струи суживается, происходит постепенное выравнивание параметров газа по сечению сме сительной камеры. На фиг. 147 и 148 приведены фотографии тече- ния в начальном участке камеры на различных режимах, полученные при помощи оптического прибора. [c.309]

Погрешности резко уменьшаются, если с тографировать интерференционную картину и определить из нее i 2- Основные параметры оптических приборов для определения шероховатости поверхности стандартизированы (см. ГОСТ 9847—61). [c.721]

Табл. 1 также показывает, что невоз1можно улучшить одновременно все параметры оптического прибора. В частности, за уменьшение величины побочных максимумов приходится расплачиваться обязательным уменьшением интегрального пропускания. Если при иссл1вдоваииях ишользуетоя только центральная часть дифракционного пятна рассеяния, то проигрыш в про- [c.29]

Параметр Яа измеряется обычно профилометром, а Rz — про-филографом или оптическими приборами одновременного преобразования профиля. [c.60]

Голографические (или 10лограммные) оптические. элементы (ГОЭ) представляют собой голограммы, на которых записаны волновые фронты специальной формы. ГОЭ можно сконструировать для преобразования любого входного волнового фронта в любой другой выходной фронт независимо от параметров материала подложки, например от кривизны или показателя преломления. С их помощью возможна коррекция аберраций оптических систем, в таком случае ГОЭ выступают в качестве составных. элементов сложных оптических приборов. ГОЭ используют и как самостоятельные оптические элементы в качестве линз, зеркал, дифракционных решеток, мультипликаторов и др. [c.49]

Для измерений оптическими приборами, о которых будет сказано в дальнейшем (двойными микроскопами, микроинтерферометрами и приборами теневого сечения), параметры Ra и Rq не подходят, так как требуют трудоемких операций. Поэтому применительно к этой категории средств измерений неровностей применяли различные модификации параметров общей высоты неровностей Rmiix. К последним относится, прежде всего стандартизированная в СССР высота неровностей профиля по десяти точкам Rz, представляющая собой сумму средних арифметических абсолютных отклонений точек пяти наибольших минимумов и пяти наибольших максимумов в пределах базовой длины [c.35]

Универсальная влажнопаровая труба (стенд /П на рис. 2,1) позволяет проводить исследования турбинных решеток в поле оптического прибора. Для этой цели служит рабочая часть, схематически показанная на рис. 2.5. Решетка профилей, скрепленных по торцам тонкими пластинами, имеющая прозрачные каналы, укрепляется в поворотных кольцах, в которых установлены оптические стекла. Конструкция допускает исследования решеток различного типа в широком диапазоне углов входа потока изменение угла входа существляется поворотом решетки и соответствующим перемещением направляющих, подвижно соединенных с концевыми лопатками. Предусмотрена специальная организация потока на входе и за решеткой, обеспечивающая возможность изучения решеток в неравномерном поле скоростей при разной дисперсности жидкой фазы и рассогласовании скоростей фаз. Все рабочие части стенда /// имеют систему измерений, включающую определение параметров потока на входе и выходе дисперсности, скольжения капель и степени влажности, полного и статического давлений, направления потока, температуры торможения, а также распределения давления по обводам каналов, пульсаций полного и статического давлений. [c.29]

Стенды XII и XIII (рис. 2.1) предназначены для измерения критических параметров и скорости звука в двухфазных средах (временным методом и методом акустического интерферометра). В схему лаборатории включена радиальная экспериментальная турбина XIV, смонтированная в поле оптического прибора. Сегмент соплового аппарата и часть каналов рабочей решетки выполнены прозрачными с целью изучения процесса движения влажного пара оптическими методами в реальных условиях взаимодействия решеток. В схему газодинамической лаборатории МЭИ на рис. 2,1 и в описание не включены сгекды, работаю- щие на воздухе. [c.32]

Следовательно, появление второго максимума Арст связано с колебательным движением адиабатных скачков, располагающихся вблизи минимального сечения сопла. Визуальные наблюдения в поле оптического прибора подтверждают возникновение колебательного движения адиабатных скачков. Подавление конденсационной нестационарности адиабатными скачками внутри сопла объясняется влиянием двух факторов 1) скачки уплотнения повы-Щ13ЮТ давление и температуру пара и снимают переохлаждение, устраняя механизм спонтанной конденсации 2) скачки приводят к отрыву пограничного слоя, а в зонах отрыва интенсивно генерируется жидкая фаза. Увеличение амплитуд пульсаций в интервале 0,60<еа 0,72 обусловлено пульсациями параметров в зонах отрыва в расширяющейся части сопла, частота которых равна или кратна частоте пульсаций и перемещений адиабатных скачков, т. е. возникновением второго резонанса, не связанного с конденсационной нестационарностью. [c.209]

Последствия, вызванные откликами оператора, влияют на окружающие условия, параметры процесса и другие факторы и воспринимаются им как некоторое изменение окружающей обстановки. С этим изменением ассоциируются некоторые передаваемые по каналу обратной связи сигналы. Так, например, следствием пушечного выстрела является поражение цели поражение цели свидетельствует о том, что стрелок взял правильный прицел на цель. Капал обратной связи может дать косвенное свидетельство в виде изменения на индикаторах аппаратуры (например, зал игается зеленая индикаторная лампочка, что свидетельствует о том, что цель поражена) изменение может восприниматься непосредственно, например, в случае, когда за изображением цели наблюдают визуально-с помощью оптических приборов, которые увеличивают его в размере. [c.94]

Наблюдением за процессом сварки контролируется режим сварки, защита зоны дуги, правильность наложения и качество отдельных валиков в многослойных швах. Проверка наличия микротрещин в первых слоях шва или наплавленного металла может предотвра тить образование в зоне сварки больших трещин. Качество отдельных слоев шва можно проверить путем сравнения с эталоном. Наблюдение может проводиться дистанционно с помощью специальных оптических приборов. Контроль параметров процесса сварки ведут с непрерывной их записью самопишущими приборами. Когда скорость процесса велика, а требования к качеству высоки или если в связи с вредными условиями труда присутствие оператора нежелательно, применяют автоматизированные системы управления и активного контроля, позволяющие поддерживать или изменять режимы сварки при изменении какого-либо показателя качества. На готовых изделиях осмотру подвергается сварной шов и зона прилегающего основного металла на расстоянии не менее 20 мм от шва после очистки от шлака, брызг и загрязнений. [c.341]

Параметр Ra измеряется обычно профилометром, Rz - профилог-рафом или оптическими приборами одновременного преобразования профиля. Измерение производят выборочным путем в нескольких местах поверхности детали (на малых участках) и подсчитывают среднюю высоту микронеровностей. [c.93]

Как отмечено в гл. 1, синтез подразделяют на параметрический и структурный. Проектирование начинается со структурного синтеза, при котором генерируется принципиальное решение. Таким решением может быть облик будущего летательного аппарата, или физический принцип действия датчика, или одна из типовых конструкций двигателя, или функциональная схема микропроцессора. Но эти конструкции и схемы выбирают в параметрическом виде, т. е. без указания числовых значений параметров элементов. Поэтому, прежде чем приступить к верификации проектного решения, нужно задать или рассчитать значения этих параметров, т. е. выполнить параметрический синтез. Примерами результатов параметрического синтеза могут служить геометрические размеры деталей в механическом узле или в оптическом приборе, параметры электрорадиоэлементов в электронной схеме, параметры режимов резания в технологической операции и т. п. [c.153]

Современные средства измерения шероховатости делят в основном на две группы бесконтактные и контактные. Из бесконтактных средств измерения параметров шероховатости наиболее распространены приборы, действие которых основано на принципах светового сечения, теневого сечения, интерференции света и применения растров оптические приборы для измерения шероховатости, основанные на перечисленных принципах, соответственно условно называют ППС, ПТС, МИИ иОРИМ. [c.698]

При описании конкретных оптических схем в скобках будут указаны пшфры и некоторые параметры отечественных приборов, в которых исиоль-зована данная схема пли близкая к ней. [c.193]

Оптические приборы позволяют получить изображение, а профилографы — запись профиля в первоначальной системе Координат. При этом дальнейшая реализация алгоритма определения числового значения параметра шероховатости производится оператором. Профилометры позволяют автомати кски получать числовое значение параметра шероховатости. [c.652]

Вертикальное увеличение должно быть наибольшим из возможных профилограмма не должна выходить за пределы рабочей зоны ленты записывающего прибора профилографа изображение профиля в оптических приборах не должно выходить за пределы поля изображения. Вертикальное увеличение микроинтерферометра и растрового мик роскопа, определяемое через ширину полосы (интерференционную, муаровую), выбирается, исходя, из оптимального числа полос в поле изображения прибора. Горизонтальное увеличение при измерении параметра / щах и Яг существенного значения не имеет. При измерении интегральных параметров горизонтальное увеличение профилографа должно быть таким, чтобы коэффициент сжатия не превышал 20 или угол наклона боковых сторон неровностей на профилограмме ве превышал 80°. [c.654]

В оптических приборах в результате неправильного выбора параметров оптической системы иногда наблюдается наложение друг на друга основного и побочного изображений. Побочное изображение в телескопических системах возникает в тех случаях, когда вследствие неправильного выбора размеров призменной системы различные пучки лучей имеют неодинаковое число отражений. Для устранения побочного изображения, даваемого качающимися визирньиш призмами, иногда приходится вводить подвижные шторки (фиг. 261). [c.414]

Для определения способа выправки путь осматривают, при необ-ходимоста в отдельных местах делают предварительные измерения искажений профиля с использованием визирок или оптических приборов, отклонения в плане на прямых оценивают с помощью бинокля, а в кривых промером стрел прогиба от 20-метровой хорды. Для оценки могут быть использованы результаты прохода путеизмерительного вагона ЦНИИ-4. При осмотре должны быть выявлены места максимальной сдвижки и подъемки пута, их величина, а также участки, положение которых не подлежит изменениям или эта изменения могут носить ограниченный характер переезды, мосты, пассажирские платформы, негабаритные места, междупутья и т.п. Для оценки указанных параметров следует также использовать имеющиеся в дистанции пута документы, включая продольный профиль, съемку кривых, габаритаых размеров и т. д [c.25]

Определение числовых значений производят специальными измерительными устройствами профилометрами, профилографами и различными оптическими приборами (микроинтерферометраьш, растровыми микроскопами и др.). Кроме того, для контроля шероховатости используют рабочие образцы сравнения (эталоны), на которых нанесены числовые значения параметров. [c.230]

Спектральные приборы часто соединяют с другими оптическими приборами фотометрами, поляриметрами, рефрактометрами, микроскопами, многолучевыми интерферометрами и т. д. Такое соединение иногда носит характер простой связи оптических систем обычного спектрального аппарата и вспомогательного прибора. Эта связь осуществляется путем изменения осветительной или приемно-регистрирующей системы, которая не затрагивает оптических параметров и конструктивных особенностей спектрального прибора. В других же случаях спектральное устройство, специализированное для определенных физических исследований, получает такие конструктивные особенности, что оно теряет свою универсальность и приобретает новые черты, а вместе с тем и новое название спектрофотометр, спектрополяриметр, спектро-рефрактометр и т. д. [c.68]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...