Приборы теневые

Аналогичную конструкцию имеют приборы ПСС, ПСС-2 и приборы теневого сечения типа ПТС. Параметры этих приборов приведены в табл. 8. [c.72]

Теневая проекция и прибор теневого сечения ПТС-1. Теневая проекция является видоизменением светового сечения, удобным для измерения неровностей сравнительно грубых поверхностей профильным методом. [c.113]

Схема прибора теневой проекции ПТС-1 представлена на рис. 31, а. Пучок лучей от источника света 5 освещает щель Щ, которая проектируется объективом О на поверхность РР испытуемого образца. На эту поверхность под углом 60 к ней и к оптической оси визуального микроскопа накладывают лезвием [c.113]

Рис. 81. Прибор теневого сечения

Пример 14. Для определения цены деления /б барабана окулярного микрометра, установленного на приборе теневой проекции ПТС-1, собрана на стеклянной пластине ступенька из концевых мер с разностью длин 200 мкм. Измерения ее выполнены по схеме, показанной на рис. 29, г, и разность отсчетов составила 55,5 деления барабана. Требуется определить цену деления барабана с учетом того, что искривления теневой проекции будут измеряться по схеме, показанной иа рис. 29, д. [c.114]

Рис. 56. Прибор теневого сечения ПТС

Приборы теневого сечения ПТС-1 обычно применяются для контроля грубо обработанных поверхностей (с 1 по 3-й класс чистоты) по параметру Общее увеличение прибора 30 , поле зрения 8 мм габаритные размеры 220 X 190 X 100 мм, вес 2 кг. [c.121]

Принцип действия приборов теневого сечения аналогичен принципу действия приборов светового сечения. В приборах теневого сечения рассматривается тень, искривленная неровностями поверхности. Тень создается ножом, прикладываемым к поверяемой поверхности. [c.352]

Прибор теневого сечения ПТС-1 [c.690]

Наряду с электромеханическими профилометрами и профилографами для контроля шероховатости поверхности применяются еще оптические приборы (двойные микроскопы, приборы теневого сечения и микроинтерферометры). [c.488]

Рис. 11.157. Прибор теневого сечения ПТС-1

Наряду с контактными приборами могут быть рекомендованы бесконтактные оптические приборы, основанные на принципе светового сечения (ПСС), теневой проекции (ПТС) и интерференции света (МИИ), изготовляемые по ГОСТ 9847—79. В настоящее время промышленность выпускает также оптические приборы для измерения шероховатости поверхности микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-9, МИИ-10, МИИ-12, двойной микроскоп МИС-11, двойной микроскоп ПСС-2, прибор теневого сечения ПТС-2. [c.49]

Прибор теневого сечения ПТС-1 Пределы измерения шероховатости грубых поверхностей Ra = BO-hlO мкм [c.211]

Аналогичную конструкцию имеют приборы теневого сечения. [c.500]

Все оптические приборы предназначены для измерения величины щероховатости поверхности по параметру Rz. Приборы теневого сечения (ПТС-1) применяют для контроля грубо обработанных поверхностей с 1-го по 3-й классы. Приборы светового сечения (ПСС-2) применяют для контроля поверхностей с 4-го по 9-й классы. Приборы, основанные на принципе интерференции света — интерферометры, применяют для контроля тонко обработанных поверхностей с 10-го по 14-й классы шероховатости. [c.242]

Аппаратура ультразвукового контроля. Ультразвуковой контроль 3X0- и теневым методом осуществляется с помощью приборов, называемых дефектоскопами. Процессы преобразования энергии ультразвуковых колебаний происходят в трех трактах дефектоскопа [c.177]

В настоящее время в качестве базового шлирен-прибора применяют прибор типа ИАБ-451. Большим достоинством прибора является его универсальность. С помощью легко заменяемых приставок схема прибора может быть преобразована для выполнения всех типов теневых и шлирен-измерений. Прибор ИАБ-451 несложно приспособить также для проведения интерферометрических и голографических исследований. При правильной настройке прибор позволяет регистрировать достаточно малые градиенты показателя преломления, но не менее 10 —10 мм . При изменении температуры в турбулентном газовом потоке на 0,1 К градиент показателя преломления составляет Такие градиенты [c.222]

Значительный интерес представляет применение интерференционных приборов для исследования турбулентности. Интерферометры оказываются более чувствительными к малым изменениям показателя преломления, чем теневые приборы. Практические [c.224]

Этот метод применяют в основном в оптическом производстве. В ГОИ разработан прибор ИАБ-10 для контроля теневым методом вогнутых и выпуклых параболических зеркал диаметром до 70 мм и радиусом 5—50 мм. [c.71]

Приборы для контроля шероховатости и толщины прозрачных пленок методом светового и теневого сечення [c.72]

Аппаратурой для контроля зеркально-теневым методом может служить импульсный эхо-дефектоскоп. Строб-импульс АСД помещают в том месте линии развертки, куда приходит первый или второй донные сигналы. Контроль по вариантам а и б (см. рис. 2.14) ведут по совмещенной схеме, по вариантам виг — по раздельной. Для контроля рельсов используют прибор с упрощенной схемой, аналогичный теневому дефектоскопу. Электроннолучевая трубка и ряд других узлов отсутствуют. Предусмотрены выделение соответствующего донного сигнала с помощью строб-импульса, а также наличие аттенюатора, позволяющего настраивать АСД на регистрацию заданного ослабления донного сигнала. [c.123]

Пример 15. Требуется определить высоту Н неровностей поверхности по двум отсчетам величины искривления теневой проекции на приборе ПТС-1 170,2 и 140,4 деления барабана окулярного микрометра при измерении по схеме, приведенной на рис. 29, д. Имеем А = 170,2— 140,4 = 29,8 N = 2,5-29,8 = = 74,5 мкм. [c.114]

Действие, приборов ПСС (рис. 55) основано на принципе светового сечения, действие ПТС (рис. 56) — на принципе теневого сечения, действие МИИ (рис. 57) — на принципе интерференции света. [c.120]

В качестве измерительных приборов используют пневматические длиномеры для втулки и высокоточные миниметры с теневой шкалой для плунжера, В процессе измерений учитывают погрешности измерения, допускаемые приборами. Точность измерений находится в пределах 0,2—0,3 мк. [c.407]

Установки для исследования решеток при около- и сверхзвуковых скоростях отличаются применением больших перепадов давления, использованием теневого оптического прибора — ИАБ-451 и [c.497]

Поскольку интерферометрические, шли-рен-метод и прямые теневые методы позволяют наблюдать явления, зависящие от самой плотности и различных ее производных, эти три метода можно считать дополняющими, так как каждый из них обнаруживает такие особенности течения, которые не могут быть наблюдаемы другими методами. Эти методы и приборы описаны в [63, 64, [c.276]

Рис. 4-35. Принципиальная схема теневого прибора ИАБ-451.

Для измерений оптическими приборами, о которых будет сказано в дальнейшем (двойными микроскопами, микроинтерферометрами и приборами теневого сечения), параметры Ra и Rq не подходят, так как требуют трудоемких операций. Поэтому применительно к этой категории средств измерений неровностей применяли различные модификации параметров общей высоты неровностей Rmiix. К последним относится, прежде всего стандартизированная в СССР высота неровностей профиля по десяти точкам Rz, представляющая собой сумму средних арифметических абсолютных отклонений точек пяти наибольших минимумов и пяти наибольших максимумов в пределах базовой длины [c.35]

Контролируемые детали, если они небольших размеров, устанавливаются при измерении на столик или призму микроскопа МИС-11 или ПСС-2, а при контроле более крупных деталей микроскоп необходимо устанавливать на них. В последнем случае нужно, видимо, изготовить дополнительное устройство для его установки и крепления. Для этой цели может быть использован ручной двойной микроскоп — ругометр или же разработанный отечественной промышленностью накладной прибор теневого сечения ПТС-1, [c.94]

Прибор теневого сечения ПТС-1 по принципу действия аналогичен двойному микроскопу и предназначен для измерения микронеровностей в диапазоне от 80 до320 лгкж. Прибор выполнен накладным, что позволяет контролировать детали без снятия их со станка. Применение окуляра со специальной сеткой позволяет производить оценку неровностей поверхности путем их сравнения с сеткой, а применение окулярного микрометра — производить измерения, достаточная точность которых обеспечивается оптимальными оптическими характеристиками прибора увеличением 30 , полем зрения [c.489]

Особое место в бесконтактных измерениях шероховатости занимают оптические приборы приборы светового сечения приборы теневого сечения микроскоп измерительный интерференционный микроскоп однообъективный муаровый. [c.86]

Контроль проката и проволоки. Листы и плиты толщиной 6—60 мм контролируют теневым, эхо-, эхо-сквоз-ным и зеркально-теневым методами (ГОСТ 22727—77 ) на частотах 2— 3 МГц. При контроле эхо-методом чувствительность фиксации устанавливают по плоскодонным отверстиям площадью 7 19,6 50,2 мм . Для других методов чувствительность фиксации устанавливается по ослаблению донного или сквозного сигнала. Для контроля теневым методом применяют установки типа УЗУЛ. Листы толщиной более 60 мм контролируют эхо-(совместно с зеркально-теневым) или эхо-скБОзным методом. Преимуществом последнего метода являемся независимость показаний прибора от перемещения листа между преобра- [c.256]

Контроль наружного диаметра труб осуществляется фотоимпульсными приборами в двух взаимно перпендикулярных плоскостях. Оптическая система создает теневое изображение трубы, размер которого определяется с помощью щелевой системы сканирования и фотоумножителя. [c.323]

Аппаратура для контроля теневым методом проще эхо-дефек-тоскопа (рис. 2.12). Синхронизатор I, генератор радиоимпульсов 2, излучатель 3, приемник 5, усилитель 6, временной селектор 7 и пороговый индикатор 8 (регистратор с амплитудным дискриминатором) выполняют те же функции, что и в эхо-дефекто-скопе. Импульсные приборы используют гораздо чаш,е, чем приборы с непрерывным излучением, так как, применяя достаточно короткие импульсы (см. подразд. 3.4), легче избавиться от помех, связанных с изменением амплитуды прошедшего сигнала в результате интерференционных явлений (например установлением стоячих волн) в изделии 4 и слоях жидкости. Стробируя время прихода сквозного сигнала за счет связи синхронизатора и временного селектора, уменьшают действие внешних электрических шумов. [c.118]

Структурные помехи связаны с рассеянием ультразвука на структурных неоднородностях, зернах материала. Их часто называют структурной реверберацией. Импульсы, образовавшиеся в результате рассеяния ультразвука на различных неоднородностях и приходящие к приемгшку в один и тот же момент времени, складываются. В зависимости от случайного соотношения фаз отдельных импульсов они могут усилить или ослабить друг друга. В результате на приемнике прибора структурные помехи имеют вид отдельных близко расположенных пиков (их иногда сравнивают с травой), на фоне которых затруднено наблюдение полезного сигнала. Структурные помехи —основной постоянно действующий фактор, ограничивающий чувствительность при контроле методами отражения, а также комбинированными, связанными с наблюдением отраженных сигналов. Довольно часто структурные помехи превышают донный сигнал, исключая тем самым возможность применения эхо- или зеркально-теневого метода. [c.287]

Измерение изображения неровностей теневой проекции выполняют с помощью винтового окулярного микрометра МОВ-1-Х15, цену деления к )уговой шкалы барабана которого определяют с помощью ступеньки определенной высоты, образованной притер-тьШи к стальной или стеклянной пластине концевыми мерами различной длины, например с разностью длин 100 или 200 мкм. Осветителем служит лампочка накаливания 8 В, 20 Вт, включаемая в сеть переменного тока через трансформатор ТР8-100-220/8 В. Увеличение и апертура сменных объективов составляют ><1, 0,03 х2, 0,02 и хЗ,7, 0,11. Общее увеличение с окуляром Х15 равно Х15, ХЗО и Х55. Линейное поле зрения составляет соот-Ёетственно 11 6,3 и 2,9 мм. Пределы измерения прибора от 40 до 320 мкм.. Погрешность показаний составляет =15%. [c.114]

Приборы, основанные на щуповом методе, последовательно, по мере перемещения щупа по поверхности, преобразуют измеряемый профиль сначала в механические, а затем в электрические колебания в отличие от рассмотренных в пп. 2, 3 и 4 оптических приборов того же назначения, одновременно преобразующих участок профиля в интерференционную картину, в световое или теневое сечение или в систему муаровых полос. [c.124]

Принципиальная схема метода теневсго сечения представлена на рис. 88. Лрибор теневого сечения представляет собой систему двух микроскопов — проектирующего 1 и наблюдательного //, установленных под углом 90° по отношению один к другому. Предметные точки объективов обоих микроскопов совмещены одна с другой и с опорной плоскостью прибора на высоте 0,1 мм над опорной плоскостью установлен нож 3. На испытуемой поверхности PiPi необходимо иметь уступ высотой й, равной толщине покрытия I, нанесенного на деталь 2. Пучок лучей, выходящий из проектирующего объектива микроскопа /, встречает на своем пути нож 3, который срезает часть пучка. Часть пучка лучей, не срезанная ножом, падает под углом 45° на испытуемую поверхность Р1Р2 в пространстве между кромкой ножа LL и ее проекцией на эту поверхность. [c.94]

Рис. 88. Принципиальная схема метода теневого сечения для измерения Hei o-эрачного покрытия прибором ПТС-1

В настоящее время в СССР теневой метод используется главным образом для контроля качества металлических изделий простой формы (листы, многослойные диски, трубы, подшипники [9]) специальных пластмасс и бетона. В установках, разработанных для этих целей, наряду с точечным сканированием применяется прозву-чивание широкой зоны с помощью автоматически переключающихся пар искательных головок [10], [11] и запись показаний прибора на электротермическую бумагу [12]. Работа при этом ведется, как правило, на частотах порядка 1 мггц и выше. Однако понижение частоты в некоторых случаях является целесообразным. [c.342]

Поляризационный К. о. нрименяется для анализа состояния поляризации света. Общий принцип устройства " превращение исследуемого света в свет, поляризованный линейно (при визуальных измерениях) или циркулярно (при фотоэлектрич. измерениях). При визуальных измерениях обычно применяют дополнит, полутсыевые устройства, благодаря которым измерение производится путёц уравнивания яркостей двух полей (см. Полу теневые приборы). Фотоэлектрические методы более быстры, удобны и точны [2]. [c.428]

Визуальные исследования решеток в поле оптического теневого прибора ИАБ-451 дают также возможность обнаружить возникновение скачков конденсации в косом срезе соплового канала. На рис. 2-19 представлены спектры течения слабо перегретого пара ( ДГ 2"С) в сопловых решетках С-9012А (г = 0,75 Акр = 0,035 01=12°) при четырех значениях числа Маха Ма = 0,7 1,2 [c.48]

Для увеличения поля зрения при шли-рен-методе применяют зеркальную систему. Хорошо зарекомендовала себя зеркальноменисковая система Максутова, которая используется в приборе ИАБ-451, выпускаемом промышленностью (рис. 4-35). Прибор ИАБ-451 дает возможность визуально наблюдать теневую картину, производить фо- [c.278]

Отечественная промышленность выпускает универсальную установку ИТ-14, соединяющую в себе четырехзеркальный интерферометр типа Маха—Цендера с теневым прибором типа Максутова [64]. [c.278]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...