Конденсорная система

В табл. 9 даны значения параксиальных углов в конденсорных системах при минимуме сферической аберрации (толщины линз и воздушные промежутки между ними бесконечно малы, преломляющие поверхности сферические). В табл. 10 приведены схемы оптики (ориентировочные) [c.168]

НО сходящихся пучках необходимо применять дополнительные конденсорные системы большой апертуры. [c.797]

Заметим, что при = —1,0 обе точки освещаются когерентно, но с разностью фаз 180° и интенсивность в средней точке между ними падает до нуля независимо от расстояния между ними. Если освещение объекта создается некогерентным источником посредством конденсорной системы, то существует некий эффективный размер источника, при котором ц максимально по абсолютной величине и, следовательно, максимален провал кривой распределения интенсивности на плоскости изображе- [c.308]

При освещении объекта проходящим светом, как и при всяком освещении концентрированным пучком света, источник должен был бы находиться вблизи конденсорной системы микроскопа. Однако поместить лампу накаливания или дугу в непосредственной близости от конденсора не представляется возможным. [c.137]

Спектры регистрировали на спектрографе средней дисперсии -24. Пользуясь промежуточной диафрагмой трехлинзовой конденсорной системы (высота окошка 5 мм), вырезали участок плазменной струи высотой 3,2 мм, расположенный на 2 мм выше сопла. Фотопластинки спектральные, тип I, чувствительность 1,2 ед. ГОСТ. [c.132]

Метод сечений. На щель спектрографа направляли излучение различных участков плазменной струи, вырезаемых промежуточной диафрагмой трехлинзовой конденсорной системы. Начинали с прикатодного участка струи, затем горелку передвигали и диафрагмой вырезали участок, отстоящий от предыдущего на 2 мм. Изменение абсолютных почернений двух линий свинца и линии висмута при изменении вырезаемого диафрагмой участка плазменной струи по высоте показано на рис. 3, а. Если изменение абсолютных почернений [c.134]

Рис. 14.5. Граница конденсорной линзы играет роль входного зрачка системы. 11 Ландсберг Г. С.

Между тепловым фильтром Oi и кюветой с исследуемым веществом В помещается оптический фильтр Фг для того, чтобы выделить из спектра ртутной лампы нужную монохроматическую линию. Рассеянный исследуемым вещество М свет конденсорной линзой L направляется в спектрограф ИСП-51. Пройдя его входную щель S , расположенную в фокусе коллиматорного объектива 2, и коллиматорный объектив 2, свет параллельным пучком попадает в диспергирующую часть спектрографа, состоящую из трех стеклянных призм Л, 2 и Рз- Призменная система пространственно разделяет пучки света с разными длинами волн 1. Эти пучки направляются на фотопластинку под разными углами. С помощью камерного объектива О каждый из них фокусируется на фотопластинке в виде узкой спектральной линии. В результате [c.118]

Сочетание методов тепловой микроскопии с методами рентгеноструктурного анализа и просвечивающей электронной микроскопии дает более широкие представления о механизме и кинетике протекания дисперсионного твердения аустенитных нержавеющих сталей. Возросший за последнее время интерес к электронной микроскопии связан главным образом с появлением нового метода исследования на просвет тонких (до 1000 А) пленок, полученных из массивных образцов. Это стало возможным при применении в современных электронных микроскопах электронного пучка, обладающего большой проникающей способностью и высокой интенсивностью, что обеспечивается системой двойных конденсорных линз. Метод тонких пленок позволяет полностью использовать разрешающую способность современного электронного микроскопа и имеет по сравнению с методом реплик ряд преимуществ, основные из которых заключаются в получении трехмерной картины микроструктуры и возможности легко наблюдать такие дефекты матрицы, как линии дислокаций, и изучать их взаимодействие с выделениями. Можно также изучать картину электронной дифракции с небольших участков поверхности (около 0,25 мкм). [c.223]

Put- 1. Электронный микроскоп просвечивающего типа (ПЭМ) 1—электронная пушка с ускорителем 2—конденсорные линзы 3—объективная линза 4—проекционные линзы J—световой микроскоп, дополнительно увеличивающий изображение, наблюдаемое на экране б—тубус со смотровыми окнами, через которые можно наблюдать изображение 7—высоковольтный кабель 8 — вакуумная система 9— пульт управления 10—стенд [c.575]

Эмитированные катодом электроны ускоряются и формируются в пучок, проходящий через диафрагму 4, конденсорные линзы 5 и б и объективную линзу 9, которые существенно уменьшают изображение источника электронов, фокусируя его на поверхности образца. Характеристикой электронно-оптической системы РЭМ является ее уменьшение (которое может доходить до 5000—10000 раз) и величина аберраций (сферической, хроматической, дифракционной и астигматизма). [c.65]

Несферические поверхности применяются лишь в осветительных системах (конденсорные линзы с уничтоженной сферической аберрацией), в астрономической оптике для устранения сферической аберрации (параболические зеркала, коррекционная пластинка Шмидта), в окулярах (параболическая поверхность у глазной линзы) и в широкоугольных объективах с улучшенным светораспределением по полю зрения. [c.213]

Схема трехцветного колориметра ГОИ системы Л. И. Демкиной изображена на рис. 5. Прибор состоит из источника света 1, помещенного в закрытом осветителе стенки и пробка 2 осветителя покрыты изнутри окисью магния. Свет, отразившись от поверхности пробки, выходит из отверстия 3 и, пройдя через отверстие диска 4 и конденсорную линзу 5, падает под прямым углом на кубик 6 и,проходя через него не преломляясь, падает на белую, диффузно отражающую поверхность 7. [c.25]

Освещение щели спектрографа. Начинающих иногда затрудняют слишком долгие экспозиции, недостаточная резкость и удвоение линий, а также появление у линий спутников. Эти недостатки являются следствием неправильного освещения щели спектрографа. При работе со спектрографом надо всегда уделять особое внимание условиям освещения щели, в частности, выбору и установке конденсорной линзы. Если оптика спектрографа достаточна хороша, то для сокращения экспозиции и получения резких линий существенно, чтобы диспергирующая система (призма или решетка) была полностью и равномерно заполнена светом. В то же время нежелательно, чтобы в спектрограф через щель мог поступать лишний свет, так как этот свет, не захватываемый опти ческой системой, рассеивается внутри прибора, вызывая фон на пластинке. Поэтому надо стремиться к тому, чтобы свет, входящий в щель, расходился от нее конусом, ось которого располагалась бы вдоль оптической оси коллиматора, а основание как раз заполняло бы объектив коллиматора. Источник достаточных размеров можно настолько приблизить к щели, чтобы это условие было выполнено без конденсорной линзы. Если [c.228]

I) Оптическую систему, состоящую по существу из объектива, предназначенного для получения увеличенного изображения объекта, и окуляр, которые дополнительно увеличивает наблюдаемое изображение. Эта оптическая система содержит также обычно средства для освещения объекта снизу (с помощью зеркала, освещаемого внешним или входящим в комплект источником света) и набор конденсорных линз, который направляют луч света с зеркала на объект. [c.103]

С использованием приведенных выше выражений были проведены расчеты конденсорных систем для спектрометра ВМ-3 и спектрографов скользящего падения ДФС-26 и ДФС-451, исследовано также качество изображения оптической системы приборов совместно с конденсорным зеркалом. На рис. 42 даны графики аберраций оптической системы прибора ДФС-451 при использовании его в канале синхротрона в Пахре на энергию 1,3 ГэВ. [c.244]

В связи с отсутствием конденсорных элементов спектральный состав воспринимаемого лучистого потока не искажается, прибор прост в изготовлении и эксплуатации, не требует юстировки, не нуждается в температурных компенсационных устройствах, почти не чувствителен к загрязнениям. Благодаря системе обдува и водяному охлаждению прибор может работать в агрессивных средах. Радиометр-зонд имеет небольшие поперечные размеры (диаметр 30 мм) [c.170]

Наиболее распространены плоские 3.0. В оптических системах применяются также выпуклые и вогнутые 3.0. со сферич., параболоидальными, эллипсоидальными, тороидальными и др. отражающими поверхностями. Кач-во 3. о. тем выше, чем ближе форма его поверхности к математически правильной. Микронеровности отражающих поверхностей 3. о. должны быть малы по сравнению с длиной световой волны (см. Отражение света). Максимально допустимая величина микро-неровностей поверхностей определяется назначением З.о. Так, для астр, приборов она не должна превышать 0,1 наименьшей длины волны падающего на 3, о. излучения, в то время как для прожекторных или конденсорных 3, о., отражающих большие световые потоки, она может быть в 10—100 раз больше. [c.200]

В количественном спектральном анализе освещение с помощью однолинзового или двухлинзового конденсоров может оказаться непригодным. Для сочетания условий равномерного освещения щели и заполнения действующего отверстия прибора иногда прибегают к нерезкому отображению источника на щель, проектируя его на объектив коллиматора. Чаще же применяют сложные конденсорные системы, состоящие из нескольких линз, обеспечивающие равномерные освещение щели и распределение освещенности вдоль спектральной линии при полном использовании действующего отверстия спектрографа. Примером может служить трехлинзовая система освещения, применяемая в задачах 2 и 3. [c.23]

Если в лаборатории имеется биологический микроскоп, снабженный регулируемым конденсорным устройством (например, типа М-9), то можно обойтись без специальной точно изготовляемой втулки, надеваемой на объектив, и использовать для той же цели механизм вертикального перемещения конденсора, установив вместо линзы конденсора простую шайбу. Нетрудно соответствующим образом изменить способ приклеивания диафрагмы к отпечатку. Здесь диафрагму можно заранее установить на торце специальной шайбы конденсорной системы, а отпечаток, устанавливаемый на столике микроскопа, так, как это было описано выше, можно центрировать непосредственно по отверстию диафрагмы. Преимуществом этого способа является то, что в процессе приклеивания отпечаток (и дифрагма) находятся в фокусе, благодаря чему облегчается контроль всей операции [167]. [c.119]

Сравнивая это выражение с выражением (38), можно видеть, что первые две строки представляют излучение предмета t[, расположенного в плоскости —Zo, но освещенного с помощью такой оптической системы, в которой знаки астигматизма As и сферической аберрации g изменены. Это гарантирует полную симметрию освещения предмета и его двойника . Однако излученная волна отличается фазовым множителем [последний множитель в правой части уравнения (43)]. Это означает, что элементарная волна, испущенная некоторым элементом t x, y)dxdy предмета- двойника , имеет астигматизм 2А и сферическую аберрацию 2 s. Следовательно, при наличии астигматизма или сферической аберрации предмет-,,двойник", появляющийся в процессе восстановления, более не будет резким, а будет выглядеть так, как если бы его рассматривали через оптическую систему, обладающую аберрациями, удвоенными по сравнению с аберрациями конденсорной системы. Можно, конечно, четко видеть побочное изображение, а не истинное, если воспользоваться оптической системой с аберрациями противоположного знака, но невозможно одновременно видеть четко оба изображения. [c.252]

Входная щель спектрального прибора чаще всего освещается с помощью снецпальной осветительной, или, как еще ее называют, кондепсорной, системы, которая направляет излучение источника на щель таким образом, чтобы обеспечивалось полное заполнение анертурпой диафрагмы. В простейшем случае роль конденсорной системы может выполнять простая линза. [c.51]

Первым практическим осуществлением такого прибора явился спектрометр, позволяющий разрешить 63 пространственных элемента и 15 спектральных интервалов [25]. Поскольку задача извлечения информации о поляризации не ставилась, на входе спектрометра была поставлена не двумерная, а одномерная маска. Обе маски показаны на рис. 70, схема действия прибсфа приведена на рис. 71. Излучение от объекта 1 фокусируется конденсорной системой 2 на двумерную маску 3. Затем излучение попадает в спектральный прибор разворачивающий изображения объекта, полученные в свете с различными длинами вол , по углам. На выходе спектрального прибора помещена одномерная маска 5. Прошедшее через нее излучение с помощью линзы 6 собирается на фотоприемник 7. Возникающий 5 приемнике сигнал обрабатывается с помощью ЭВМ. [c.87]

Так как функция отклика g) равна пулю, когда точка s = XRf, t) = = XRg лежит вне выходного зрачка, то из (47) следует, что для достаточно высоких частот обращается в нуль. Если выходным зрачком служит круг радиуса а, то произведение X f+f, g + g ) X f f, g + g ) и, следовательно, величина аГ (/, g f", ) могут отличаться от нуля только при условии, что в плоскости /, g отлична от нуля область наложения кругов С и С" с центрами в точках О —f, —g ), 0"(—f", —g") и одинаковыми радиусами alXR (рис. 10,15). Чтобы проиллюстрировать влияние освещения, предположим, что применяется критическое освещение или освещение по Кёлеру и что числовая апертура я sin 0 конденсорной системы в т раз превышает числовую апертуру rtobin9o системы, отображающей объект. Тогда, согласно (18)i или (30), взаимная интенсивность освещающего пучка равна [c.488]

Одна из этих плоскостей может быть принята за предметную плоскость, а другая — за плоскость входного зрачка системы. Теоретический диапазон изменения увеличения 1/ = (1 + соответствует условию совмещения главных плоскостей компонентов. Для реализации такой системы необходимо применение к ней дополнительного положительного компонента, который давал бы требуемый отрезок для выполнения соотношений, приведенных в формуле (VII. 14). Оптическая схема панкратики данного типа приведена на рис. IX.7, IX.8, где она используется в качестве конденсорной системы. [c.314]

Сферическая аберрация простой линзы для далеких предметов остается отрицательной и исправляется при положительном значении линейного увеличения в пределах от 0,5 до 2х. Такое свойство одиночной линзы было реализовано при расчете коллектора, приведенного в табл. VIII.6, схема 12. Однолинзовые коллекторы со сферическими поверхностями применяются в упрощенных осветителях ОИ-32 и ОИ-37 (рис. IX.6, поз. 2), которые в сочетании с конденсорной системой микроскопов типов БИОЛАМ и ПОЛАМ позволяют осуществлять с помощью матового стекла освещение объектов в проходящем свете по методу Д. С. Рождественского. [c.328]

Излучение от разряда 1, создаваемого генератором, через трехлинзовую осветительную систему 2 падает на входную щель 3 монохроматора (монохроматор разработан на основе оптической схемы спектрографа ИСП-51). Пройдя объектив входного коллиматора 4, пучки лучей направляются в трехпризменную диспергирующую систему 7. Часть неразложенного излучения, отражаясь от передней грани первой диспергирующей призмы, конденсорной линзой 6 фокусируется на фотокатод первого сурьмяно-цезиевого фотоэлемента 5. Излучение, разложенное диспергирующей системой в спектр, объективом выходного коллиматора 8 собирается в его фокальной плоскости, где расположена выходная щель 9. За выходной щелью находится конденсорная линза 12 и второй сурьмяноцезиевый фотоэлемент 13. [c.417]

ИСТОЧНИК мал, то должен быть применен конденсор— собирающая линза. В обоих случаях первая задача юстировки—поместить источник так, чтсбы он находился на оси коллиматора. Для этого рекомендуется следующая простая процедура. Шель спектрографа открывают примерно до ширины в 1 мм и передвигают источник (для этой дели подходит стандартная дуга с железными электродами) как в Соковом, так и в вертикальном направлении, пока узкий пучок света, проходящий через щель, не упадет на центр призмы или решетки спектрографа. Если надо применить конденсорную линзу, то ее прежде всего устанавливают так, чтобы она фокусировала на щели изображение источника. Лучше пользоваться увеличенным, нежели уменьшенным изображением источника на щели, если только обеспечено при этом полное заполнение апертуры спектрографа. Использование уменьшенного изображения не дает рыигрыша в экспозиции, так как, хотя освещенность щели при этом и увеличивается, это достигается за счет увеличения раствора конуса лучей за пределы апертурного угла коллиматорного объектива. Излишние же лучи, как указывалось, играют вредную роль. Уменьшенное изображение имеет еще и тот недостаток, что дает очень узкий и неравномерный по высоте спектр. Когда источник и конденсор приведены в надлежащее положение, следует проверить установку, поместив глаз в плоскости спектра и наблюдая, полностью ли и равномерно ли заполнена светом оптическая система. Юстируя прибор, часто полезно бывает использовать то обстоятельство, что световой луч проходит систему в прямом и обратном направлении по одному и тому же пути. Поэтому, используя, например, большую вогнутую решетку, когда источник и решетка располон<ены в отдельных помещениях, рекомендуется поместить перед решеткой полоску белой бумаги и осветить ее так, чтобы она была видна через щель, если вести наблюдение со стороны источника, а затем вывести дугу (при выключенном токе) на эту линию визирования. При использовании конденсорной линзы последующие установки источника на оптической оси коллиматора не вызывают затруднения. Установив конденсор на оси прибора, его фиксируют в этом положении. Тогда при замене источника его каждый раз устанавливают так, чтобы его изображение фокусировалось точно на щель. В повседневной работе целесообразно использовать оптическую скамью, соединив ее со спектрографом. Для фокусировки источника на щель можно также пользоваться вогнутыми зеркалами они имеют то преимущество, что дают ахроматическое изображение однако в других отношениях зеркала неудобны, и линзам обычно отдается предпочтение. Пользуясь линзами, следует помнить, что свет различных длин волн фокусируется на различных расстояниях от линзы. При работе с большими приборами, когда фотографируется единовременно только небольшой участок спектра, это несущественно, если принять меры, чтобы сфокусировать на щели именно требуемую область длин волн однако при работе с небольшими приборами, охватывающими большую область спектра, каковы обычные кварцевые спектрографы, указанное обстоятельство может повлечь за собой большие изменения интенсивности по спектру. Если нужен отдельный участок спектра, то линзу следует установить так, чтобы на щели фокусировался свет нужного интервала длин волн, но если нужен весь спектр, как, например, с целью ознакомления с общим видом спектра, то, как правило, представляется целесообразным фокусировать на щель изображение источника в самом коротковолновом ультрафиолетовом [c.229]

Качество электронограмм, получаемых в электронографе, определяется степенью мо-нохроматизации пучка электронов, зависящей от стабильности ускоряющего напряжения, формой и размерами сечения этого пучка (настройкой осветительной системы — пушки, конденсорных линз, диаметрами и ч чстотой ограничивающих диафрагм), а также свойствами объекта. От исследуемого объекта зависит интеноивность фона, резкость рефлексов и, в случае возникновения зарядов на образце или его намагниченности, смещение рефлексов (деформация интерференционных колец) на электронограмме. [c.176]

Очень часто осветитель может быть сконструирован просто из подходящего источника и конденсорной линзы. Для успешного использования малых источников эта линза должна быть по возможности свободна от аберраций. Каждый конденсор. можно заменить фокальной сферой , соответствующей источнику минимального размера, с которым еще можно. эффексивно работать. Конденсор Hj двух плоско-выпуклых линз (рнс. 6.25, а) дает обычно вполне удовлетворительные результаты. Иногда предпочтение отдается более сложной трехлинзовой системе (рис. 6. 25, б), тогда как в других случаях оказывается достаточной одиночная линза. [c.237]

Применение такого диска позволяет с успехом использовать точечные лампы тлеющего разряда Р путем помещения их за конденсорной линзой Ь, размеры которой покрывают все изображение. Хотя количество света, попадаюп1 е0 на каждое отверстие диска, вообще будет невелико, но общая яркость изображения мо кет быть увеличена соответствующим повышением мощности ламп. Такое повышение мощности легче достигается в лампах точечного типа, чем в лампах с плоскими электродами, и поэтому при применении ламп точечного типа вся система является более рационально построенной в оптическом отношении. [c.366]

Другим типом осветительной системы, особенно для мощных источников света, является вогнутое зеркало—сферическое или эллиптическое. Применяется также комбинация парабо-лич. зеркала с плосковьшуклой конденсорной линзой. Применение зеркал дает больший угол захвата (100—135°) по сравнению с конденсорами и кроме того уменьшает потери света в осветительной системе вследствие уменьшения числа стеклянных поверхностей. Для эпископической проекции наряду с перечисленны- [c.36]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...