Коэффициент отражения от слоя

С — скорость света tg 63 — тангенс угла потерь вещества среды. При значительном увеличении толщины слоя осцилляции прекращаются и коэффициент отражения от слоя становится равным коэффициенту отражения от передней границы слоя. [c.210]

Здесь также более качественное согласование наблюдается при вертикальной поляризации падающих волн. Указанные свойства зависимости коэффициента отражения от слоя используются в основе многих СВЧ методов неразрушающего контроля материалов и сред, прозрачных в диапазоне СВЧ. Аналогичные рассуждения могут быть сделаны и для коэффициента прохождения волны через радиопрозрачный слой. Более подробно об этом будет сказано ниже. Здесь лишь отметим, что оба коэффициента тесно взаимосвязаны например, для плоских волн и диэлектриков без потерь энергетический коэффициент прохождения определяется как Т = 1 — / . [c.210]

Практически заметное уменьшение коэффициента отражения от слоя воздуха в стали начинается при 5 = 10 мм. [c.289]

Коэффициент отражения от слоя, согласно формуле (2.29), равен [c.34]

Подставляя теперь (3.9) в (3.1), мы получаем для коэффициента отражения от слоя [c.16]

Т+1/23 ,2)0050+,Т1 -172 3 2)5 П -где ф k d, = (2-2 )/(2 .-н2 )-коэффициент отражения на границе -й и /г-й сред. Квадрат модуля коэффициента отражения от слоя равен [c.40]

Найти модуль % и фазу коэффициента отражения от слоя жидкости толщины t, налитого на жесткую поверхность, при падении звука под углом оС к нормали. Построить график модуля и фазы коэффициента отражения для случая, когда жидкостью является вода, слой имеет глубину = 30 см, угол падения равен 0,1 рад и частота меняется от О до Ю кГц. [c.16]

При значительном увеличении толщины слоя осцилляции прекращаются и коэффициент отражения от слоя становится равным коэффициенту отражения от передней границы слоя. [c.13]

Резкость интерференционной картины будет тем значительнее, чем больше коэффициент отражения от металлического слоя (рис. 7.6). Значение = 0,04 соответствует поверхности стекла, не покрытой металлом. При современных способах металлического покрытия коэффициент отражения удается довести до / = 0,90 — [c.139]

Измеряя расстояния между узлами (или пучностями) электрической напряженности, находят значения длины волны. При наличии второй границы раздела сред, т. е. появлении промежуточного слоя, отражения наклонно падающей волны количественно характеризуют коэффициентом зеркального отражения от слоя, рис. 7, а. Если вектор Е лежит в плоскости падения, то поляризация падающей волны называется вертикальной, а когда вектор Е перпендикулярен плоскости падения — горизонтальной. [c.208]

Зависимость для коэффициента зеркального отражения от слоя [c.208]

Рис. 21. Зависимость коэффициента отражения от толщины плоского слоя для двух диэлектриков

Амплитудно-фазовый метод использует функционалы ую связь между величиной коэффициента отражения от диэлектрического слоя и его толщиной. Принципиальная схема приведена на рис, 17, а. Изменение величины коэффициента отражения, как правило, контролируется с помощью введения дополнительного опорного сигнала той же длины волны. Поэтому, применяя высокочувствительные мостовые СВЧ схемы, осуществляют одновременный контроль модуля и фазы коэффициента отражения, несущих информацию об изменении толщины слоя. [c.224]

Принцип действия основан на сравнении в мостовой СВЧ схеме двух сигналов опорного, создаваемого эталонным плечом моста, и полезного, пропорционального коэффициенту отражения от контролируемого диэлектрического слоя. [c.225]

Таким образом, прошедший импульс, в отличие от известных решений, описывается конечной суммой многократно отраженных импульсов, амплитуда которых убывает с ростом числа отражений не только благодаря коэффициентам отражения от границ слоя, но и в связи с уменьшением энергетических коэффициентов. Так как максимум амплитуды прошедшего импульса формируется в области максимума амплитуды исходного импульса, то число М импульсов, характеризующих амплитуду прошедшего импульса, определяется целой частью соотношения [c.93]

Если длина падающей волны К отличается от ко, то, разумеется, коэффициент отражения будет иметь меньшее значение, чем то, которое получится из вычисления по формуле (4.52). Для иллюстрации характерных примеров на рис. 4.17 представлены зависимости коэффициента отражения от длины волны для 7 = 15 и /=3. Заметим, что с ростом числа слоев максимальное значение коэффициента отражения явно увеличивается и что при этом область высокой отражательной способности делается шире, а ее границы становятся более крутыми. [c.181]

Рис, 4.17. Кривые зависимости коэффициента отражения от длины волны многослойной диэлектрической стопы (с толщиной каждого слоя Х/4), изготовленной из ТЮг и 8Юг, с общим числом слоев, равным 3 (штриховая кривая) и 15 (сплошная кривая). Подложка изготовлена из стекла ВК-7, [c.182]

Действительно, для достижения значительного коэффициента отражения от многослойного зеркала, учитывая, что отраженные от различных границ раздела волны складываются в фазе, необходимо, чтобы N слоев [Яр определено в формуле [c.77]

Для 8-поляризованного излучения пиковый коэффициент отражения не зависит от угла падения ф [иначе говоря, от периода I структуры, связанного с фо брэгговским условием (3.39)], значение для р-поляризации связано с фо только через параметр (То и обращается в ноль при фо = я/4. В то же время как так и все еще остаются функциями параметра р, т. е. функциями отношения толщин слоев двух материалов, составляющих МИС, Типичная зависимость пикового коэффициента отражения от параметра Р приведена на рис. 3.6. [c.91]

Важным свойством отражения в области 0<О,80с является то, что волна проникает на определенную глубину, характеризующую толщину слоя, в котором происходит поглощение. Это видно из зависимости коэффициента отражения от р/б (рис. 9). На этой глубине амплитуда волны уменьшается в е раз, и по порядку [c.433]

Общий метод определения коэффициентов отражения, который годится как для одного слоя на подложке, так и для МИС, состоит в использовании рекуррентных соотношений, вытекающих из условий непрерывности тангенциальных компонент электромагнитного поля на каждой из границ раздела. При одном слое (пленке) амплитудный коэффициент отражения выражается через коэффициенты отражения от верхней rt и нижней границ раздела (которые, в свою очередь, определяются формулами (3), (4)) [c.433]

Этот результат показывает, что коэффициент отражения от тонкого слоя dAa 1 пропорционален частоте звуковой волны. [c.190]

Германий [39, 100, 116—119]. Коэффициент отражения германиевых слоев после их изготовления падает не так быстро, как алюминиевых, однако уменьшение коэффициента отражения все же заметно. Коэффициент отражения германия зависит от температуры, прн которой происходит испарение германия. Чем выше температура испарения, тем выше коэффициент отражения. Коэффициент отражения непрозрачного слоя герма- [c.103]

Коэффициент отражения кадмиевого слоя толщиной 1000 А при угле падения 20° исследовался в диапазоне длин волн от [c.106]

На о, новании результатов, полученных в предыдущих параграфах, мож р было бы представить себе, что коэффициент отражения от слоя с градиентом волнового сопротивления, которое монотонно изменяется по толщине, а на границах слоя совпадает с волновыми сопротивлениями прилегающих сред, должен равняться нулю. Однако эти результаты вытекают из волнового уравнения (HI.4), которое получено для сред с постоянными акустическими характе-рис гиками, а для неоднородного слоя прежняя схема уже не годится, В данном случае необходимо использовать уравнение для расл.ространения акустических волн в неоднородной среде и решить его при соответств]>ющих граничных условиях. Задача эта непростая, но она имеет важное практическое значение в современной ультраакустике, и ей поэтому стоит уделить некоторое внимание. [c.177]

Согласно (10.64) и (2.67) коэффициент отражения от слоя (/ 2), заключенного между однородными и плавио-слоистыми полупространствами (/ = 1,3, см. рис. 2.4), равен [c.216]

Результат (10.54) соответствует з-амечательно простому лучевому представлению распространения волн в плавноч лоистой среде с границами лучи рефрагируют в слоях между границами без отражений на границе, где эффективный показатель преломления изменяется скачком от значения N1 до уУг, падающий луч порождает отраженный и прошедший лучи, причем отношения их амплитуд к амплитуде падающего луча равно коэффициентам отражения и прозрачности для плоской волны на границе раздела однородных сред с параметрами /V, и N2- Применим лучевые представления к расчету коэффициента отражения от слоя. Суммируя комплексные амплитуды лучей, испытавших различное число отражений от верх- [c.216]

Чтобы найти коэффициент отражения от слоя, достаточно найти входной импеданс слоя Z , т. е. шпеданс на границе 23. Тогда V будет даваться согласно (2.15) формулой [c.15]

Рэлее.м был найден также коэффициент отражения от слоя, в котором показатель преломлепия излшпяется по закону (22.5) п вне его остается постоянным. Для I V I — коэффициента отражения по интенсивности получается при вещественном т [c.130]

Существенно также, что в реальных геофизических ситуациях параметры среды не остаются постоянными, а испытывают с течением времени как систематические изменеиия, так и изменения флюктуационного характера. Необходимо знать, как эти изменения сказываются на коэффициенте отражения от слоев с произвольным законом изменения параметра. Забегая вперед (см. 25.5), укажем, что даже небольшие изменения в этом законе могут существенно сказываться на коэффициенте отражения. [c.143]

Схема дефектоскопа на рис. 28, 6 лишена указанных недостатков. Она отличается от предыдущей тем, что в ней опорное плечо из управляемых аттенюаторов и короткозамыкателя заменено второй антенной. Симметричные плечи двойного волноводного тройника повернуты в одну сторону так, что антенны параллельны и направлены в сторону контролируемого объекта. Оба плеча тройника являются рабочими. Выявление неоднородностей производится за счет сравнения коэффициентов отражения от двух участков объекта, находящихся под антеннами. Если электрическая длина рабочих плеч одинаковая, то схема является самобалансирующейся и не реагирует на изменения зазора, толщины и диэлектрических свойств контролируемого слоя, когда эти изменения происходят одновременно и одинаково под обеими антеннами. Любое изменение параметров слоя под одной из антенн по сравнению с параметрами слоя, находящегося под другой антенной, приводит к нарушению баланса моста и появлению сигнала на выходе детекторной секции. Недостатком такой схемы является то, что она фиксирует только границы протяженных неоднородностей и не дает информации об изменении свойств изделия в целом, а результат зависит от перекоса да1чика, приводящего к разнице в величине зазора между обеими антеннами. Однако основное достоинство схемы состоит в возможности проведения контроля (без перестройки схемы) изделий с различными свойствами, толщиной и при переменном зазоре. На этом принципе основана работа дефектоскопа СД-12Д. [c.232]

Амплитудно-фазовый (интерференционный) способ контроля основан на использовании функциональной связи между коэффициентами отражения от контролируемого диэлектрического слоя и его толщиной. Этот способ применен в толщиноме- [c.380]

Как рентгеновские зеркала многослойные структуоы в практическом смысле оказались значительно более гибкими , чем обычные кристаллы. Их параметры легко можно изменять, придавая им нужные свойства. Например, подбирая период структуры в соответствии с условием (3.3), можно настраивать пик отражения на данную длину волны, или на данный угол падения, или на то и другое одновременно. Ширину пика можно варьировать в значительных пределах, подбирая пары веществ — компонентов покрытия, толщины слоев и их число. Наконец, можно так подобрать вещества и толщины слоев, чтобы пиковый коэффициент отражения был максимален. Отметим, что аналогичный резонансный характер с максимумом, положение которого определяется условием (3.3), носит и зависимость коэффициента отражения от длины волны. В связи с этим многослойное зеркало является одновременно и дисперсионным элементом для рентгеновского излучения. [c.78]

Непосредственная проверка выражения (3.61) проведена в р,а-боте [38], где измерялся коэффициент отражения от нескольких МИС, состоящих из слоев W — С и имеющих азличиые значения периода (от 1 до 5,3 нм). Число пар слоев N (от II до 274) выбиралось таким, чтобы в отсутствие шероховатостей коэффициенты, отражения были бы примерно одинаковыми. Наличие. шерохсгва-тостей, как видно из формулы (3.61), будет приводить к уменьшению коэффициента отражения, тем большему, чем меньше период МИС. Оказалось, что экспериментальные значения R хорошо описывались выражением (3.61) в предположении, чю выссоа межплоскостных шероховатостей составляет Есе.го лишь и == = 0,315 нм. Угловое разрешение всех структур было таким же, как для идеальных МИС. [c.107]

В начале 1970-х годов в связи с нуждами программ внеатмосферной астрономии были рассмотрены оптические свойства тонких пленок и многослойных покрытий в области длин волн X л 5-ь150 нм [35, 85]. Были отмечены технологические трудности, а также роль поглощения как принципиального фактора, ограничивающего оптические свойства покрытий в этой области спектра. Авторами работы [581 с помощью современной технологии впервые была успешно синтезирована и испытана МИС, содержащая 5 пар слоев углерода и золота и имеющая период 10,6 нм. Коэффициент отражения в брэгговском максимуме на длине волны 9,6 нм и при угле падения 60° составил 4,5 %. Экспериментально полученные в настоящее время коэффициенты отражения от МИС, предназначенных для различных областей МР-диа-пазона, показаны на рис. 3.16. Проблемы и развитие технологии синтеза МИС подробно освещены в статье Т. Барби (см. приложение III). Приведем лишь краткий обзор работ, иллюстрирующий основные области их применения. [c.117]

Слш с высокой отражательной способностью. Физическая причина малой отражательной способности слоя в четверть длины волны с показателем преломления меньше показателя преломления материала, на который этот слой наложен, состоит в следующем. При отражении от обеих поверхностей слоя волна изменяет фазу на п и, следовательно, разность фаз между отраженными волнами образуется исключительно-за счет двойного прохода пластинки в четверть длины волны, т. е. составляет п. Благодаря этому отраженные волны ослабляют друг друга. Чтобы увеличить коэффициент отражения, необходимо обеспечить усиление волн, отраженных от различных поверхностей слоя. Это можно сделать слоем с оптической толщиной п четверть длины волны, если на одной из поверхностей происходит изменение фазы Е на л, а па другой отражение происходит без изменения фазы. Для этого показатель преломления слоя должен бьггь больше или меньше показателей преломления соседних сред (рис. 138). В волне, представляемой лучом 7, при отражении фаза Е изменяется на л, а в волне, представляемой лучом 2, отражение происходит без изменения фазы. Следовательно, полная разность фаз Между отраженными лучами равна 2л и они усиливают друг друга. Коэффициент отражения увеличивается. Например, если на поверхность стекла (Мз = 1,5) наложить слой 8Ю ( 2,= 2) оптической толщ1шой в четверть длины волны, то по формуле (29.28) получаем Л = 0,2. Это значительно больше, чем коэффициент отражения от поверхности стекла, равный 0,04. [c.187]

Сплошные материалы. Эти материалы (бе тон, кирпич, мрамор, дерево и т. п.), как правило, твердые, т. е. имеют акустическое сопротивление значительно больше сопротивления воздуха. Поэтому их коэффициенты (7.21) очень малы, не более 5% (табл 7.1) Некоторые из этих материалов (дерево, мрамор) используются и для стен, и как облицовочные. В послед нем случае их коэффициент поглощения оказывается больше, чем в первом, так как происходит дополнитель ное поглощение из-за поперечных колебаний, возникающих в слое облицовочного материала. С yвeличeниe частоты коэффициенты отражения от твердых сплое ных материалов немного уменьшаются из-за некотороь шероховатости поверхности материалов и поэтому коэффициенты поглощения растут (см. табл. 7.1). [c.183]

Таким образом, и в случае неоднородного слоя мы опять получаем осцилляции коэффициента отражения с изменением толщины слоя d или частоты звука (о = при k d-M n = mn, где m = О, 1,2,..., коэффициент отражения обращается в нуль, а в промежуточных точках возрастает. Одиако в отличие от однородного слоя присутствие того же параметра / ,d h в знаменателе формулы (VIII. 18) приводит к затуханию амплитуды этих осцилляций с увеличением толщины слоя d, благодаря чему коэффициент отражения от такого слоя всегда можно сделать меньше некоторой заданной величины в определешюм диапазоне частот. [c.179]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...