Коэффициент когерентности отражений

Коэффициент когерентности отражений [c.12]

Указанное обстоятельство, казалось бы, противоречит материалам 2.1, в соответствии с которыми общее усиление каждого из двух составляющих моду следующих навстречу друг другу когерентных пучков должно определяться исключительно интегралом от коэффициента усиления по длине / /Гус(2 ) dz ведь в этот интеграл входят и зоны вблизи узлов поля, не принимающие реального участия в процессе усиления Противоречие снимается, если принять во внимание, что среда, к которой относится рис. 3.126, образует подобие толстой голографической решетки , от которой происходит частичное отражение создавших эту решетку пучков. В данном варианте взаимодействия отраженные пучки накладываются на проходящие, находясь с последними в противофазе и ослабляя их. Благодаря этому эффективный показатель усиления и оказывается меньше его среднего значения. [c.177]

Определим в качестве примера параметры АК ИФП с взаимно наклоненными зеркалами, освещаемого когерентным светом. Пусть параметр 2 = гД = 0,05, где Я2 — максимальная амплитуда клина, коэффициенты отражения и поглощения зеркал R = 0,93 6 = 0,02 и, таким образом, параметр 02 = 2/60 = = 4,328. Расчет АК такого ИФП при некогерентном освещении был приведен ранее в п. 1.3. Пропускание реального ИФП в [c.85]

Расчет по этим формулам позволяет сделать вывод, что в случае пространственно-когерентного короткого светового цуга при X 10 влияние неидеальности ИФП оказывается незначительным и его следует принимать во внимание только при цугах большей длины (х 20). Например, для зеркал с коэффициентом отражения 0,85 0,99 влияние неидеальности ИФП при X = 3 и ai = 0,05 вносит ошибку в определение профиля интерференционной полосы не более 1,5%. При переходе к бесконечно длинному цугу формула (3.61) переходит в выражение [c.99]

Пример 1. Определить, насколько будут отличаться полуширины АК реального ИФП, зеркала которого имеют малый параболический дефект (параметр О < l 0,05) I = Oj/X, где щ — максимальное отклонение зеркал ИФП от плоскости, при освещении ИФП пространственно-когерентным и некогерентным излучениями. Пусть коэффициент отражения зеркал равен R= 0,93. [c.146]

Все упомянутые свойства — анизотропия дифракции, нелокальный и динамический характер записи голограмм — являются очень интересными в научном отношении и весьма ценными для практических применений, так как, в частности, позволяют усилить слабые изображения с помощью более мощного когерентного луча, обеспечивать высокие значения (больше 1) коэффициента отражения для обращенной волны, производить запись и считывание голограмм на различных длинах волн света и т. д. [c.28]

По крайней мере частично удается решить данную проблему путем введения несимметричной накачки, когда один из пучков накачки, осуществляющий когерентное стирание голограммы, уступает по интенсивности другому (г = I/ 2 Р/ 1). Как показано в [6.29], максимальное значение коэффициента отражения при этом достигается при оптимальном значении г = ехр (—Г4/2) и равно [c.114]

В предшествующем рассмотрении мы не обращали внимания на особенности, которые могут быть вызваны размещением поглотителя вблизи зеркала с большим коэффициентом отражения. Ряд экспериментальных исследований показал, что расположение узкой кюветы с поглотителем в контакте с глухим зеркалом увеличивает стабильность генерации и способствует укорочению импульсов (см., например, [6.12]). Такое действие тонкого контактного поглотителя обусловлено тем, что падающий на зеркало и отраженный импульсы перекрываются в насыщающемся поглотителе, это позволяет достигать насыщения при меньших интенсивностях или энергиях импульсов и благоприятствует процессу синхронизации мод. Эффекты когерентного перекрытия двух импульсов могут быть использованы особенно эффективно, если такие встречные импульсы распространяются в кольцевом резонаторе и перекрываются в тонком поглотителе [6.6, 6.7, 6.33, 6.37—6.39]. Таким путем к настоящему времени были получены наиболее короткие импульсы длительностью около 50 фс, возбуждаемые в резонаторе лазера (ср. п. 6.3.4). При этом максимальное перекрытие встречных импульсов в поглотителе обеспечивается системой автоматически, так как оно соответствует оптимальным условиям генерации, если только оба импульса одинаково усиливаются активной средой. Последнее обеспечивается таким размещением усилителя и поглотителя, когда расстояние между ними составляет четвертую часть длины резонатора. В этом разделе мы хотим вывести уравнения, описывающие когерентное перекрытие двух встречных импульсов в лазере. Это описание в одинаковой степени должно касаться двух различных ситуаций контактного поглотителя в линейном резонаторе и режима синхронизации мод в лазере с кольцевым резонатором со сталкивающимися импульсами (СРМ) ([6.13, 6.29]). Мы будем считать, что в случае линейного резонатора оптические элементы расположены, как показано на рис. 6.3, при Ua = 0 я оптимальном размещении усилителя в середине резонатора (Ur = Ui). В случае кольцевого СРМ-лазера отраженный луч на модели рис. 6.3 не проходит снова через отдельные элементы, а направляется оптической системой непосредственно к точке 2. При этом расстоя- [c.202]

Когерентный режим. Выражения для коэффициентов отражения и пропускания монохроматического света плоско параллельной пластинкой с учетом интерференции и поглощения имеют при нормальном [c.25]

Существенным является также и вопрос о коэффициенте отражения света от поверхностей пластинки. Контрастность интерференционной картины определяется соотношением между интенсивностями интерферирующих пучков. Наиболее контрастной картина получается в том случае, когда интенсивности когерентных пучков одинаковы. Избыток энергии в одном из них создает вредный светлый фон. В настоящее время имеется возможность изменять коэффициент отражения в очень широких пределах путем нанесения металлических пленок на отражающие поверхности. [c.172]

Сведением положительной обратной связи параметрический усилитель можно превратить в генератор. Для этого нелинейную среду, как в лазерах, помещают в оптический резонатор, образованный двумя зеркалами (рис. 10.4). Нелинейный кристалл ориентируется так, что для волн, распространяющихся в одном направлении перпендикулярно зеркалам, выполняется условие пространственного синхронизма к + к2 = к либо к1 +к2 = кз. Зеркала М и имеют высокие коэффициенты отражения для частот (01 и со2, так что сигнальная и холостая частоты (01 и (02 соответствуют высокодобротным модам резонатора. Зеркало М одновременно должно быть прозрачно для частоты и>з излучения накачки. При достаточно большой мощности волны накачки параметрическое усиление одной из волн С01 или (02 на длине нелинейного кристалла превысит суммарные потери за проход, возникающие из-за неполного отражения от зеркал, поглощения, рассеяния и других причин. Тогда происходит самовозбуждение генератора (с затравкой из-за параметрической люминесценции ) и возникает когерентное излучение на частотах со1 и со2. [c.496]

При прохождении через кристалл как пучки резких (основных или сверхструктурных) отражений, так и диффузное рассеяние претерпевают дальнейшее рассеяние. Для резких отражений это будет когерентное динамическое рассеяние обычного типа, но с некоторым коэффициентом поглощ,ения, поскольку часть энергии, отвечающая этим резким отражениям, уйдет на образование диффузного фона. [c.384]

Он представляет собой в простейшем случае два зеркала М и М расположенных по обе стороны активной среды А и обладающих высоким коэффициентом отражения (рис. 3.3). Ось резонатора 00 определяет направление распространения лазерного излучения. Возникший в активной среде каскад фотонов внутри резонатора многократно проходит через массу возбужденных атомов, образуя направленное вдоль оси мощное излучение. Именно вдоль этого направления выполняется условие генерации. Это излучение, кроме того, будет иметь высокую степень монохроматичности, так как оптический резонатор задерживает излучение внутри себя и тем самым как бы увеличивает время жизни излучателя, а следовательно и время когерентности. Распределение амплитуд и фаз на поверхности зеркал не является однородным. Для описания структуры светового поля вводят понятие моды. [c.32]

Явление многолучевой интерференции связано с интерференцией бесконечно большого числа когерентных лучей. Для осуш ествления такого типа интерференции необходимо обеспечить многократное отражение лучей. Это можно сделать, например, покрыв плоскопараллельную (или клиновидную) пластину тонкой пленкой, обла-даюш ей высоким коэффициентом отражения. В этом случае интенсивность лучей, испытавших два, три и большее число отражений, будет медленно спадать. Впервые такого типа многолучевая двухзеркальная система была предложена учеными Фабри и Перо в 1897 г. [c.66]

Трехзеркальный интерферометр последовательного типа может работать и при параллельном расположении пластин. В этом случае при требуемых коэффициентах отражения пластин будут наблюдаться многолучевые полосы наложения, происхождение которых дано в 9. На рис. 9.6 показаны группы лучей, которые дают картину многолучевого типа, представляющую собой результат сложения большого числа групп когерентных лучей. [c.98]

Интерферометр Фабри—Перо как резонатор лазера. Для получения эффекта генерации излучения, т. е. создания когерентного и направленного излучения, необходим оптический резонатор, настроенный на определенную длину волны. Он представляет собой ИФП с зеркалами сравнительно небольших размеров, между которыми помеш ается активная среда (см. 3). Часто одно из зеркал делают полупрозрачным, а другое — полностью отражаюш им. Коэффициент отражения R зеркал выбирается в зависимости от заданного усиления активной среды и может лежать в пределах 0,2—0,98. Чаще всего стремятся к увеличению параметра Rt. Лавина фотонов, возникающая в активной среде и увлекающая за собой все новые и новые порции фотонов, оказывается как бы зажатой между двумя зеркалами. В оптическом резонаторе происходит накопление электромагнитной энергии. Оптический резонатор определяет пространственную и временную когерентность лазерного излучения, а следовательно, существенно влияет на форму и ширину генерируемой спектральной линии. [c.128]

При помощи отъюстированной установки покажите, что две плоские волны, распространяющиеся вдоль- оси Сх, когерентны и синфазны. Какова интенсивность каждого отдельного луча /о — интенсивность источника. Коэффициенты пропускания и отражения для делителей лучей точно равны /2- [c.28]

Коэффициент когерентности отражений служит для определения меры подобия формы сигналов для соседних трасс вдоль профиля. С позиций геологического истолкования, коэффициент когерентности отражений количественно характеризует гладкость отражающих границ и характер частых (по отношению к базе анализа) изменений толщины пластов по латерали. [c.12]

Высокоотражающие интерференционные покрытия (интерференционные зеркала). Наряду с необходимостью уменьшать коэффициент отражения на практике часто приходится решать противоположную задачу — получать высокоотражающие поверхности. При решении также и этой задачи па помош,ь приходит явление интерференции. Легко убедиться, что если в системе, изображенной на рис. 5.14, показатель преломления диэлектрического слоя взять больше показателя преломления стекла п > п ), то произойдет увеличение коэффициента отражения. Вследспзие того, что потеря полуволны будет происходить теперь только на пиеш-ней поверхности пленки, оптическая разность хода между отраженными когерентными волнами I и 2 будет равна Л/4 + Х/4 + к/2 = = X, что соответствует разности фаз, равной 2я. Таким образом, [c.108]

ОПТИКА [ асферическая содержит элементы, поверхности которых, не имеют сферической формы просветленная обладает уменьшенными коэффициентами отражения света у отдельных ее элементов путем нанесения на них специальных покрытий) как оптическая система (волновая изучает явления, в которых проявляется волновая природа света волоконная рассматривает передачу света и изображений по световодам и пучкам гибких оптических волокон геометрическая изучает законы распространения света в прозрачных средах на основе представлений о световых лучах интегральная изучает методы создания и объединения оптических и оптоэлектронных элементов, предназначенных для управления световыми потоками квантовая изучает явления, в которых при взаимодействии света и вещества существенны квантовые свойства света и атомов вещества когерентная изучает методы создания узконаправленных когерентных пучков света и управления ими нелинейная изучает распространение мощных световых пучков в оптически нелинейных средах (твердые тела, жидкости, газы) и их взаимодействие с веществом силовая изучает воздействие на твердые тела интенсивного светового излучения, в результате которого может нарушаться механическая цельность этих тел статистическая изучает статистические свойства световых полей и особенности их взаимодействия с веществом тонких слоев изучает прохождение света через прозрачные слои вещества, толщина которых соизмерима с длиной световой волны физическая изучает природу света и световых явлений) как раздел оптики электронная занимается вопросами формирования, фокусировки и отклонения пучков электронов и получения с их помощью изображений под воздействием электрических и магнитных полей корпускулярная изучает законы движения заряженных частиц в электрическом и магнитном полях нейтронная изучае взаимодейс вие медленных нейтронов со средой) как раздел физики] [c.255]

Пусть с пучком, имеющим интенсивность 1о> когерентно складывается пучок с интенсивностью 0,04 I о (коэффициентом отражения по интенсивности, равным 4%, обладает граница между воздухом и обычным стеклом при нормальном падении). Суммарная интенсивность в максимуме образующейся благодаря наложению пучков интерференционной картины составляет ( у/1 + л/оЖЬ) 1,44 1о, в минимуме (v — / ,041о) = 0,64 1о. Эти цифры особых комментариев не требуют. [c.133]

Рассмотрим в качестве примера АК реального ИФП при параболическом дефекте зеркал и когерентном освеш,ении, если зеркала интерферометра имеют коэффициент отражения R = = 0,9, коэффициент поглош,ения е = 0,03 и параметр 0j = = ai/6o = 2, т. е. ai == 0,0336. Такими же параметрами мы пользовались при рассмотрении АК при некогерентном освещении в п. 1.2, что позволяет сравнить АК реального ИФП при когерентном и некогерентном освещениях. Пропускание в мадсимуме интерференционной картины реального ИФП в единицах мак- [c.82]

В качестве примера рассмотрим два способа образования интерферирующих лучей. На рис. 1, а показано образование интерферирующих пучков делением амплитуды свеговой волны. Плоская световая волна L, падающая на полупрозрачные зеркала Si и Sa. разделяется в результате многократного отражения на зеркалах. В отраженном свете наблюдается множество когерентных Пучков волн Г, 2, 3, 4, . ... в проходящем 1, 2, S, 4., . Амплитуда калщого из вновь образуемых пучков уменьшается на величину р — коэффициент отражения зеркал для амплитуды. Следовательно. амплитуду падающей световой волны можно представить в виде последовательности постепенно убывающих амплитуд [c.9]

Многочисленные применения в течение более чем 30 лет метода Уоррена — Авербаха [76—78] и вариантного метода Вильсона [80, 81] привели к огромному количеству рентгеновских экспериментальных данных. Однако интерпретация уширения рентгеновских линий этими методами была недостаточно эффективной. Получаемые при этом значения среднего размера областей когерентного рассеяния О и среднего квадрата деформации (е )у д трудно связываются с микроструктурой деформированных твердых тел, например, с плотностью и параметрами распределения дислокаций и дисклинаций. Возможности метода Уоррена — Авербаха были проверены при исследовании распределения интенсивности рассеянных рентгеновских лучей цилиндрическими кристаллами, на оси которых расположена одна дислокация, в нескольких ранних работах Вилькенса [82—85]. При этом вычислялись коэффициенты Фурье кривой распределения интенсивности на дебаеграм.ме для отражений вплоть до третьего порядка. Рассмотрение в [82] проводилось в приближении линейной изотропной теории упругости для винтовой дислокации. Обработка коэффициентов Фурье по методу Уоррена — Авербаха показала, что получаемый размер блоков отличается от размера Я блоков неискаженного цилиндрического кристалла. Это обусловлено тем, что функция распределения Рп п) деформаций решетки е , которые расположены на расстоянии па в пределах области когерентности, имеет длинные хвосты , не соответствующие нормальному закону распределения. Эти хвосты функции Рп (е ) вызваны большими деформациями решетки вблизи линии дислокации. Кроме того, среднеквадратичные деформации (е ), полученные усреднением е , которое соответствует винтовым дислокациям, заметно отличаются от (е )у д, найденных методом Уоррена — Авербаха. Так, при ( а// ) >0,1 различие получается почти в 2 раза, причем (е,г)Хе у д- При л-)-О (е5-> [c.232]

К числу интерферометров, ра-ботаюш их на принципе многолучевой интерференции, можно отнести интерференционные светофильтры, клиновые многолучевые интерферометры, резонаторы лазеров. Рассмотрим принцип работы двухзеркальной системы с промежуточным диэлектрическим слоем толш иной (рис. 7.1). Пусть на двухзеркальную систему падает плоский фронт волны. Световая волна, попадая на первое полупрозрачное покрытие, расш епляется на отраженную и проходяш ую, которая бесконечное число раз проходит через диэлектрик. Интерес представляет интерференционная картина, получаемая в, проходяш ем свете. Благодаря высокому энергетическому коэффициенту отражения полупрозрачных слоев А 0,8- -0,9) при каждом последовательном отражении происходит незначительное снижение интенсивности пучка. Таким образом, как в проходяш ем, так и в отраженном свете получается система параллельных когерентных лучей. [c.66]

Фотонно-лучевые источники. При лазерной обработке материалов изделие нагревается когерентным излучением. Лазерное излучение при попадании на поверхность твердого тела частично отражается. Интенсивность отражения энергии определяется значением коэффициента отражения, который зависит от рода материала и длины волны излучения. [c.19]

Процессы рассеяния Р. л., условия возникновения интерференционных максимумов и их интенсивность рассматриваются в кинематической и (более полной и строгой) динамической теориях интерференции Р. л. В последней учитывается многократное взаимодействие между первичными и отражептшми волнами Р. л. 1 дипамич. теории интерференции Эвальда— Лауэ электрич. свойства среды учитываются через ее диэлектрическую постоянную, со.чдаваемую периодически распределенной плотностью зарядов электронов в кристалле (см. Дифракция рентгеновских лучей). На основе этой теории были получены все основные соотношения для интегрального коэффициента отражения Р. л., зависимость коэффициента отражения от толнщны кристалла, дисперсионные соотношения, выражение для показателя преломления. Ослабление интенсивности Р. л. при отражении учитывается в динамич. теории рассеяния через первичную (в случае идеальных кристаллов) или вторичную экстинкции. В последнем случае волны, отраженные различными блоками кристалла, не когерентны и суммарная отраженная интенсивность волн выражается суммой интенсивностей волн, отраженных различными блоками. [c.425]

Огюст Жан Френель (1788-1827) — французский физик, член Парижской академии наук и Лондонского королевского общества. Окончил Политехническую школу и Школу мостов и дорог в Париже. Работал инженером по ремонту и строительству дорог в различных департаментах Франции, с 1817 г. — в Политехнической школе. Дополнил известный принцип Гюйгенса, введя представление о когерентности элементарных волн и их интерференции (принцип Гюйгенса—Френеля). Исходя из этого разработал теорию дифракции света. Выполнил классические опыты по интерференции света с бизеркалами и бипризмами. Исследовал интерференцию поляризованных лучей. Открыл в 1823 г. эллиптическую и круговую поляризации света. Установил законы отражения и преломления света на плоской поверхности раздела двух сред (формулы Френеля). Исследовал проблему о влиянии движения Земли на оптические явления. Высказал мысль о частичном увлечении эфира и вывел коэффициент увлечения света движущимися телами. Однако эти его выводы получили свое объяснение лишь в рамках теории относительности. [c.22]

На рис. 16, б—г показаны результаты преобразования Гильберта синтетического разреза для этой модели в виде тонокодированных мгновенных амплитуд, когерентности и частот. Светлый тон соответствует понижению значений параметра, темный — наибольшим значениям. На тонокодированное изображение параметров наложен разрез коэффициентов отражений, [c.37]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...