Дисперсия по массам

Смещение траекторий ионов с разным значением т/е после отклонения частиц на угол ф есть дисперсия по массам. Для отклонения на 180° (см. рис- 1.1) легко найти эту величину, учитывая, что [c.11]

Корреляционные отношения характеризуют только степень тесноты связи между величинами X и Y (сосредоточения массы вероятности в области рассеивания на плоскости около кривых регрессии) и вовсе не характеризуют вид этой зависимости (смещение области рассеивания), Поэтому в общем случае криволинейной регрессии они должны дополняться другими характеристиками, например в виде указания обеих кривых регрессии. В случае, когда не имеет места и постоянство (или практическая близость к постоянству) условных дисперсий D Х/у и D Ylx при всех значениях х и у, они должны дополняться еще и значениями условных дисперсий по формулам (5.24) и (5.27). [c.183]

Такая высокая дисперсия даже для относительно широких рабочих щелей в источнике и приемнике ионов позволяет получить высокую разрешающую способность по массам. Допустим, что размер щелей fi+52 = 0,3 мм, а суммарные аберрации не превышают 0,1 мм, тогда разрешающая способность прибора согласно выражению [c.148]

Наличие в приборе МС-62 большой дисперсии (4,6 мм на 1%) /S.mlm), хорошей фокусировки по направлениям и относительно малого разброса начальных скоростей ионов позволяет получить сравнительно высокую разрешающую способность. В табл- 6.2 приведены результаты определения разрешающей способности прибора. Измерения производили по масс-спектрограммам, содержащим дуплеты и триплеты, т. е. пики, соответствующие ионам с одинаковым массовым числом, но имеющим разные дефекты масс. Таблица составлена по спектрам смесей криптона с углеводородами, паров ртути с углеводородами (см. приложение 7, рис. П,5, П.7), дублета с массовым числом 29 (см. приложение 7, [c.164]

Электрооптический метод основан на явлении релаксации оптической анизотропии после снятия ориентирующих дисперсию электрических полей. По снятой кривой релаксации путем решения интегрального уравнения для интенсивности светового потока определяется функция распределения частиц по размерам. Чувствительность метода 10 % (по массе). Таким образом, электрооптический метод позволяет определить концентрацию и размеры частиц. Метод используется только в лабораторных условиях. [c.187]

Легкоплавкие стекла, используемые в качестве заливочных компаундов, имеют в исходном состоянии удовлетворительные диэлектрические и механические свойства, однако их применение для заливки представляет определенные технологические трудности, связанные с высокой температурой их плавления и возможностью разрушения заливаемых узлов. Кроме того, после заливки обмоток и других элементов электротехнических конструкций неизбежно появление значительных внутренних напряжений, а иногда и трещин. Следует также иметь в виду, что диэлектрические свойства многих легкоплавких стекол резко снижаются с ростом температуры [5, 225]. Компаунды, содержащие в своем составе легкоплавкие стекла, имеют весьма низкую пористость, однако для этого приходится вводить в композицию до 70— 80% (по массе) стекла. Иногда легкоплавкие стекла диспергируют в растворителе и такие дисперсии используют в качестве связующих для получения заливочных компаундов. Получить заливки большого объема в этом случае не представляется возможным из-за испарения растворителя. [c.151]

Область энергий, в которой черепковские детекторы могут разделять частицы по массам, ограничена сверху, поскольку различие скоростей частиц разной массы с ростом их энергии уменьшается. Например, разделение по скоростям пионов и К-мезопов пороговыми газовыми черепковскими счетчиками возможно до энергий в несколько десятков ГэВ, а дифференциальными газовыми счетчиками с компенсацией дисперсии излучения — до нескольких сот ГэВ. [c.59]

Рассмотрим особенности устройства масс-спектрометров на примере статического масс-спектрометра отечественного производства МИ-1305, предназначенного для анализа состава газов и паров легколетучих жидкостей. В масс-анализаторе прибора для разделения ионов по массам и фокусировки ионного пучка используется секторное магнитное поле. Радиус центральной траектории 200 мм при дисперсии 1,45 мм на 1% относительной разности масс. Вакуумная система состоит из трех частей. В фор-вакуумной части используется насос типа ВН-4ИМ, в высоковакуумной —ДРН-10. Анализируемый пар вводится в источник ионов через третью часть вакуумной системы — систему напуска. Она состоит из двух идентичных каналов один для напуска одной или двух анализируемых проб, а другой — для напуска эталонных проб с известным составом. Обязательным является контроль давления в вакуумной системе. Для этого используются манометры с термопарным измерительным преобразователем (для форвакуумной части) и с ионизационным преобразователем (для высоковакуумной части). Ионизация паров осуществляется методом электронной бомбардировки (наиболее широко распространенный способ) в ис точнике ионов используется типовая ионная коллимирующая оптика по схеме ВИРА АН СССР [69]. Электронные блоки включают устройства для измерения ионных токов, давления, вакуумной блокировки, для контроля питания электромагнита и источника ионов. [c.291]

В 1965 Г. Н. Флёров предложил использовать для синтеза Т, э. деление ядер под действием тяжёлых ионов(Хе, U). Осколки деления имеют симметричное распределение по массе и заряду с большой дисперсией. Следовательно, в продуктах деления можно обнаружить элементы с 2 значительно большим, чем суммы 2 элемента-ми-шени и 2 бомбардирующего иона. Распределение осколков деления становится шире по мере использования всё более тяжёлых ч-ц (см. Деление атомного ядра). [c.765]

Зная по ходу дисперсионной кривой значения п вблизи разных соо , можно оценить, какие заряды С и массы /П фигурируют в нашей формуле, т. е. определить, какие электрические элементы атома участвуют в явлении дисперсии. Однако точное определение отношения е,7/П( невозможно, поскольку остаются [c.555]

Пусть зависимость Е (к) в одной из зон имеет вид, показанный на рис. 7.11,а. Минимум энергии соответствует центру зоны Бриллюэна (А=0), а максимумы —ее границам (k = dzn/a). Часто зоны с такой зависимостью E(k) называют стандартными. Согласно (7.97) эффективная масса определяется кривизной кривой E(k). Вблизи значений к, соответствующих экстремумам функции Е(к), закон дисперсии можно представить параболической зависимостью, аналогичной зависимости E k) для свободного электрона. Покажем это. Если экстремум достигается в точке k = ko, то разложив E k) в ряд по степеням к—ко), получим [c.234]

Таким образом, вблизи дна зоны закон дисперсии квадратичен по волновому числу k. Межионное расстояние влияет на ха рактеристики зоны и эффективную массу электронов. Чем больше а, тем уже зона (меньше 8i) и тем больше эффективная мае-са. Физически эти результаты могут быть объяснены тем, что при увеличении а уменьшается межионная связь и слабеет взаимное влияние атомов. [c.83]

Рассмотрим усредненные характеристики случайных полей, такие как среднее значение напряжений aij x,y)), дисперсии afj x,y) - 5tj x,y)y и другие моменты второго рода (Tij x,y)x y.(Tki x,y))i полученные путем усреднения по целому ряду реализаций структуры границы зерна. При этом под реализацией имеется в виду конкретный массив дислокаций в границе зерна, который удовлетворяет упомянутый выше закон случайного однородного распределения. Указанные характеристики определяют среднеквадратичные упругие деформации и избыточную энергию, вызванную хаотическими дислокационными массивами. [c.102]

Поэтому при проектировании металлоконструкций необходимо стараться не допускать образования щелей, а если уж это невозможно — заранее предусматривать их заполнение материалами, препятствующими щелевой коррозии. По нашему мнению, наиболее эффективными для заполнения щелей могут быть ингибированные смазки, о которых мы писали выше. В ряде случаев эффективными могут оказаться и безусадочные цементные массы с пористым легким заполнителем, ингибитором коррозии и с компонентами, повышающими их адгезию к металлу, например с поливинилацетатной дисперсией. [c.84]

Наибольшие надежды в смысле возможности создания промышленных автоматических масс-спектрометрических приборов, выполняющих сложные командные функции, подает, по нашему мнению, радиочастотный метод, получивший значительное развитие в США, а также метод, основанный на динамической дисперсии масс по скорости, или, что то же, по времени пролета, получивший свое основное развитие в Советском Союзе. [c.374]

Прямопролетный масс-спектрометр, так же как и радиочастотный масс-спектрометр, выгодно отличается от масс-спектрометров с пространственной дисперсией масс в магнитном поле сравнительно малыми размерами аналитических камер, простотой измерительных и вспомогательных электронных схем и по своим конструктивным особенностям, габаритам и простоте эксплуатации может быть с успехом использован в промышленных условиях. Поэтому развитию этих методов, их практическому усовершенствованию и исследованиям придается большое значение. [c.375]

Рассмотрим, например, процесс распространения волны синусоидальной формы в потоке пара, несущем частицы жидкой фазы. Если длина волны достаточно велика, а масса жидких частиц и их размер достаточно малы, то частицы жидкости будут иметь скорость поступательного движения, близкую к скорости пара. С ростом частоты волны или массы жидкой фазы относительная скорость движения частиц в паровом потоке будет увеличиваться. Таким образом, в двухфазных средах в отличие от однофазных дисперсия звуковых волн определяется не только частотой волны, но и структурой двухфазной среды. В мелкодисперсной среде область дисперсии смещается в область более высоких частот по сравнению с крупно дисперсной. По этой причине в двухфазных средах в отличие от однофазных дисперсию принято характеризовать не только частотой волны, но и временем релаксации обменных процессов, косвенным образом учитывающим структуру двухфазной среды. Эти параметры, с помощью которых учитываются дисперсионные свойства двухфазной среды, носят название частотно-структурных (или временно-структурных). Выражение для скорости звука, учитывающее особенности дисперсии звука в двухфазной смеси, приведено в [55] [c.33]

Ц. р.— важный метод исследования полупроводников. Он даёт возможность определить закон дисперсии (энергетич. спектр) носителей заряда (р—квазиимпульс носителей), знак заряда носителей, эфф. массу, концентрацию, времена жизни позволяет изучить механизм рассеяния носителей заряда, разогрев носителей переменным полем и др. (ем. ниже). Преимуществом Ц. р. по сравнению с др. методами является его избирательность — возможность подбором частоты выделить определ. группу носителей в полупроводнике. [c.430]

Для звуковых волн очень важной характеристикой является зависимость скорости звука от частоты возмущений (дисперсия звука). Причинами дисперсии в двухфазных средах, в частности, являются наличие сдвига по фазе между волнами давления, плотности и температуры, фазовый сдвиг между изменением давления и скоростью частиц жидкой фазы, протекание различных неравновесных процессов. Если масса жидкой фазы достаточно мала, а ча- [c.79]

Общее выражение для дисперсии по массам справедливо, как указывает Барнард [1], для секторных систем с выходом лучей по нормали к границам магнитного поля- На рис. 1.2 представлены траектории движения ионов с массами т и т + Ат. [c.11]

При рассмотрении дисперсии по массам мы имели в виду узкий параллельный пучок и полагали, что он входит в магнитное поле перпендикулярно к его границе. В реальном случае чаще всего приходится оперировать с пучками ионов, имеющими некоторый угол расхождения, поэтому - необходимо -фокусйровать их по направлению. Возможны конфигурации однородных магнитных полей, которые одновременно будут удовлетворять двум требованиям диспергировать пучки по массам и фокусировать их по направлению. [c.13]

В магн. Э.п. с двумерным полем роль цилиндрич. линз играют поля рассеяния на краях магн. полюсов. При определ. угле падения пучка на призму эти поля образуют телескопич. систему (рис. 2). Э. п. широко применяются в бета-спектрометрах, масс-спект-ро.иетрах. В последних дисперсия ионов по массе осуществляется магн. Э.п., а электростатич. Э.п. применяют для дисперсии по энергии. [c.572]

Поверхность лежащего ниже слоя обеспыливают без увлажнения водой и грунтуют раствором поливинилаце-татной дисперсии состава 1 5 (дисперсия вода). Мастику наносят полосами шириной 4—5 м соплом-форсункой или пистолетом-распылителем. Первый выравнивающий слой мастики выполняют толщиной 1,5—2 мм, через двое — трое суток после его затвердевания наносят второй, лицевой слой толщиной 1—1,5 мм. Через трое суток после этого покрытие шлифуют и 2 или 3 раза покрывают смесью лаков пентафталевого ПФ-170 и масляно-смоляного ПФ-283 в соотношении 3 2. Для придания большей водостойкости в состав мастики вводят этилсиликат-32 (5—7 % по массе от ПВАД стандартного состава), хлорное железо (около 1 % от ПВЛ Д) или двухромовокислый аммоний (1,5 % от ПВАД). [c.78]

Затем в 2,5-3,2 проц. по массе ( в пересчете на сухое вещество ) отходов производства поливинилацетатной дисперсии вводят 3,0-4,5 лроц. по массе каолина, после чего обе композиции перемевивают в течение 2-5 мин при 65-80 град.С, добавляя 15-25 проц. по массе минеральной ваты [c.79]

На рис.5.33 приведены профили скорости свободной поверхности образцов керамики из карбида титана с никелевой связкой [53], полученных методом самораспространяющегося высокотемпературного синтеза. Содержание карбида титана составляло 80% по массе. Четкий упругий предвестник на профилях не фиксируется из-за дисперсии волн в этом смесевом материале с разной скоростью звука в компонентах. Откольная прочность керамики составляет 0,4 — 0,55 ГПа и несколько уменьшается с ростом давления ударного сжатия. Так как откольная прочность никеля в 3 — 4 раза выше, результаты измерений подтверждают инициирование разрушений в хрупкой компоненте. [c.205]

ПИЮ с однородным магнитным полем в 1/(1 — п) раз большей дисперсией, что обусловливает его использование в М.-с. с большой разрешающей си- юй [131. Ионы с массой Мц — ЩНЦ Шц при соответствующем начальном направлении движутся по осевой окружности Л о. Ионы большей массы описывают окружности с большим R и попадают в более слабое поле, а ноны меньшей массы попадают в область более сильного поля, отчего разделение пучков по массам возрастает. Пучки траекторий, близких к окружности радиуса R , фокусируются (в первом приближении) после поворота в поле на угол ф = = л/]/ 1 — п в радиальном направлении и на угол фг = я/ в осевом нанравлении. При п = 0,5 фж = Ф21 и изображение становится стигматическим. Ширина изображения щели источника равна ширипо [c.140]

Изображение щели источника, перпендику п4рной плоскости симметрии, имеет в радиальном направлении ту же ширину, что и щель источни ка, и смещено ио радиусу от осевой окружности в сторону, противоположную смещению щели источника. В плоскости радиальной фокусировки имеет место дисперсия как по массам, так и по энергиям [c.141]

Метод дублетов. Наивысшая точность достигается, когда М я Мо составляют компоненты одного мультиплета. В качестве Мх может служить линия ионов любого соседнего массового числа. М и Мо наз. дисперсионными линиями, т. к. расстояние между ними и разность их масс определяют дисперсию прибора по массам. Метод дублетов дает зависимость М =/ (Мд, М ) в соответствии с (1). Чтобы сравнить М с массой атома О, к-рой принята за а. е. м. (новая единица массы, равная 1/13 массы атома 12с, пока не является общепринятой [14]), необходимо предварительно произвести это сравнение для масс Мд и М , либо непосредственно (если они образуют дублет с ионами кислорода), либо с помощью вторичных стандартов. В качестве вторичных стандартов особенно удобны атомы Н, 0,к. комбинации этих атомов образуют ионы почти для любого массового числа, и их массы можно методом дублетов непосредственно сравнить о массой вО. Например, для определения масс Н, В и 1 С одновременно измеряются 3 т. н. основных дублета Астона Н " — В+ — а, — 12С++ GHt —1 0 = у, совместно с соответствующими дисперсионными линиями Н+, В " и СН . Расчет нрово-дят методом последоват. приближений из измеренных бр и Др для каждого дублета в соответствии с (2) вычисляют а, р и причем для масс дисперсионных линий подставляют наилучшие существующие приближенные значения. Из 3 ур-ний 2Н—2)= = а 30 — 1/2 1 С = Р С 4Н — 16 = V определяют массы вторичных стандартов Н, и и, В след, цикле вычислений для масс дисперсионных линий [c.146]

Четвертый этап включал оценку экспертами относительного объема внедрения каждого типа материалов (проценты от общего объема применения), состояния проектно-конструкторских работ и готовности смежных отраслей. Полученный от экспертов массив анализировался с целью выявления невозможных комбинаций. После дальнейшей обработки матрицы экспертных оценок по значению среднего арифметического и дисперсии получили ранжировочный ряд, который позволил установить тенденции изменения объема внедрения каждого типа материала и выбрать наиболее перспективный из них. Определение состояния проектноконструкторских разработок и готовности смежных [c.106]

ЗАКОН [Бера для разбавленных растворов поглощающего вещества в непоглощающем растворителе коэффициент поглощения света веществом зависит от свойств растворенного вещества, длины волны света и концентрации раствора Био для вращательной дисперсии в области достаточно длинных волн, удаленной от полос поглощения света веществом, угол вращения плоскости поляризации обратно пропорционален квадрату длины волны Био — Савара — Лапласа элементарная магнитная индукция в любой точке магнитного поля, создаваемого элементом проводника с проходящим по нему постоянным электрическим током, прямо пропорциональна силе тока в проводнике, абсолютной магнитной проницаемости, векторному произведению вектора-элемента длины проводника на модуль радиуса-вектора, проведенного из элемента проводника в данную точку и обратно пропорциональна кубу модуля-вектора Бойля — Мариотта при неизменных температуре и массе произведение численных значений давления на занимаемый объем идеальным газом постоянно Брюстера отраженный свет полностью линейно поляризован при угле падения, равному углу Брюстера, тангенс которого должен быть равен относительному показателю преломления отражающей свет среды Бугера — Ламберта интенсивность J плоской волны монохроматического света уменьшается по мере прохождения через поглощающую среду по экспоненциальному закону J=Joe , где Jo — интенсивность света на выходе из слоя среды толщиной / а — показатель поглощения среды, который зависит от химической природы и состояния поглощающей среды и от волны света Бунзеиа — Роско количество вещества, прореагировавшего в фотохимической реакции, пропорционально мощности излучения и времени освещения Бернулли в стационарном потоке сумма статического и динамического давлений остается постоянной ] [c.231]

Общая масса галактик, входящих в скопления галактик, определяется суммированием масс галактик данного скопления с учётом их типов. С др. стороны, полная масса скопления может быть определена по теоре.ме о вириале (по дисперсии лучевых скоростей галактик в скоплении в предположении, что галактики скооления являются гравитационно связанными между собой). Подобные определения показывают, что полная масса скопления (её наз. вириальной массой) больше суммы масс отд, галактик скопления. Это свидетельствует о том, что в межгалактич. пространстве в скоплениях содержится много невидимой (скрытой) массы. Сверхскоплоние галактик с центром в созвездии Девы обладает суммарной массой 10 Мо. [c.60]

При всей сложности законов дисперсии представление об электронах М. как легких (по сравнению с ионами) заряженных частицах качественно правильно. Оно, возвращая нас к модели Друде — Лоренца — Зоммерфельда, даёт возможность оценивать порядок величины оси. характеристик М.— электронную теплоёмкость, ЭЛ,- и теплопроводность, толщину скин-слоя (см. Скин-эффект) и т. д. Правда, нек ые соединения ( eAlg, e u,, e ujSij, UB a и др.) обнаруживают необычные свойства (напр., гигантскую электронную теплоёмкость), заставляющие сделать вывод, что в них есть электроны, обладающие аномально большой эфф. массой т (m/mo- iOO—600). Эти электроны получили назв. тяжёлых фермионов. [c.116]

Расстояния до далёких галактик, в к-рых индивидуальные объекты неразличимы (далее 10—15 Мпк), определяются с малой точностью. Наиб, значение имеют ди-намвч. методы, основанные на корреляции между массой и светимостью галактик. Индикатором массы служат макс, скорость вращения галактики п определяемая ею дисперсия наблюдаемых скоростей звёзд (находится по ширине линий поглощения в спектре галактики) или, чаще, нейтрального водорода. [c.286]

В скоплении галактик кроме видимой массы Ме, определяемой по общей светимости всех галактик скопления и средней масса — светимость зависимости для галактик, можно найти динамич. (вириальную) массу М, , определяемую с помощью вириала теоремы по наблюдаемой дисперсии скоростей галактик скопления. Оценки динамич. массы подтверждаются наблюдениями рентг. излучения горячего межгалактич. газа скоплений, что позволяет получить независимые оценки темп-ры газа и тем самым — гравитац. потенциала и массы скопления. Для богатых скоплений динамич. масса М,у примерно в 10—20 раз превосходит видимую массу галактик Мь- [c.549]

Кроме получения ионов непосредственно из источника, возможен и др. метод генерации высокозарядных ионов. Ускоренные тяжёлые ионы при прохождении через тонкую мишень (газовую или твердотельную) в результате взаимодействия с атомами мишени теряют часть электронов и увеличивают своё зарядовое состояние. При равновеской толщине мишени прошедшие частицы имеют заряды Z, распределённые вокруг нек-рого среднего, равновесного заряда по нормальному закону Гаусса F(Z = = ( ld /2n) xp[- Z- j2d ]. Равновесный заряд Z определяется атомным номером ускоренной частицы и её скоростью (энергией). Величина равновесного заряда растёт с энергией ионов, а дисперсия распределения d падает с её увеличением. Этот метод получения высокозарядных тяжёлых ионов, называемый обдиркой, широко используется и является основой для создания больших ускорительных комплексов разл. типов, позволяющих получать пучки ионов в большом диапазоне масс и энергий. [c.197]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...