Ослабление вторичного у-излучения

ОСЛАБЛЕНИЕ ВТОРИЧНОГО г ИЗЛУЧЕНИЯ [c.61]

Поле у-квантов в защите реактора, обусловленного вторичным у-излучением из материалов активной зоны, может быть рассчитано по формулам, приведенным в 9.4. Ниже рассматривается в основном задача расчета ослабления вторичного у-излучения из материалов защиты. [c.61]

Как указывалось, на экипаж космического корабля могут воздействовать разнообразные излучения [18, 19, 21, 22] протоны, а-частицы, более тяжелые ядра, различающиеся по своему происхождению и физическим характеристикам. Для обеспечения радиационной безопасности экипажа приходится применять специальную защиту. В защите космических кораблей наряду с ослаблением потоков заряженных частиц, падающих извне на оболочку космического корабля, происходит образование вторичных излучений протонов, нейтронов, мезонов. Вторичные излучения образуются также в биологической ткани тела космонавта. [c.271]

Толщина первичной защиты и ее эффективность ослабления излучения реактора обычно превосходят толщину вторичной защиты и соответственно эффективность последней. Однако доля первичной защиты в полном весе биологической защиты может быть, наоборот, меньше, поскольку площадь поверхности вторичной защиты намного превосходит площадь поверхности первичной. [c.76]

Знание законов ослабления излучения в защитных средах подразумевает знание характеристик полей излучения (вторичного и рассеянного), инициированных взаимодействием первичных ускоренных частиц с мишенями, конструкционными материалами и защитой. [c.230]

При упругом рассеянии на ядрах фотоны только меняют направление своего движения. Их энергия меняется только в той мере, в какой это обусловлено законом сохранения энергии. При неупругом рассеянии энергия фотона передается ядру. Поглотив избыточную энергию, ядро, как правило, излучает ее в виде вторичного фотона, направление движения которого скорее всего не совпадает с направлением движения первичного фотона. Если исключить ту небольшую долю актов неупругого рассеяния, которые сопровождаются излучением электронов с атомных оболочек, можно сказать, что рассеяние фотонного пучка на ядрах приводит к ослаблению его интенсивности при незначительном выделении энергии в веществе. [c.337]

При измерениях же дозы вторичного у-излучения за плитой необходимо учитывать ослабление защитой плотности потока у-излучения от источника, что вносит дополнительную погрешность. [c.310]

После того как мы рассмотрели в предыдущих разделах когерентность первого порядка, упомянем теперь об удивительном явлении, характерном для лазерного излучения и называемом спекл-картиной. Спекл-картину можно увидеть, если наблюдать лазерный свет, рассеянный от стены или рассеивающего транспаранта. Наблюдаемый рассеянный свет состоит из хаотического скопления ярких и темных пятен (или спеклов) (рис. 7.10, а). Несмотря на хаотическое распределение пятен можно различить пятно (или зерно) средних размеров. Из первых же работ стало ясно, что это явление обусловлено интерференцией вторичных волн с усилением и ослаблением, распространяющихся от небольших рассеивающих центров, расположенных на поверхности стены или рассеивающего транспаранта. Поскольку рассматриваемое явление наблюдается только тогда, когда излучение имеет высокую степень когерентности первого порядка, оно представляет собой неотъемлемое свойство лазерного излучения. [c.466]

Поглощение рентгеновского излучения в веществе сопровождается образованием фотоэлектронов, оже-электронов и испусканием атомами вещества вторичных фотонов. Ослабление интенсивности рентгеновского излучения происходит по экспоненциальному закону [c.809]

Источниками 7-, - и а-излучений обычно служат искусственные радиоактивные вещества. Подбор используемого вещества производится в зависимости от степени поглощения данного вида излучения. Для -излучения и других заряженных частиц некоторая толщина материала полностью поглощает данное излучение и определяет максимальный пробег частиц. При прохождении у-лучей через вещество их ослабление происходит по экспоненциальному закону, определяемому свойствами вещества. Наиболее распространенными типами приемников жесткого излучения являются ионизационные камеры, пропорциональные счетчики, счетчики Гейгера—Мюллера, сцинтилляционные и кристаллические счетчики. В первых трех типах приемников измеряется интенсивность ионизации, возникающей в результате действия а-, - и у-лучей в некотором разрядном промежутке, к которому приложено напряжение. Сцинтилляционные счетчики используют явление люминесценции кристаллов некоторых веществ под воздействием облучения вторичный световой поток обычно воспринимается высокочувствительным фотоэлементом. Для регистрации у-частиц применяется активированный серебром или медью сернистый цинк для - и а-лучей используются кристаллы натрия, иода, теллура. [c.117]

Если частицы состоят из поглощающего вещества, то амплитуды максимумов на кривой /<(р, т) уменьшаются. При х—1 мелкомасштабные осцилляции и вторичные максимумы полностью исчезают и на кривой /С(р, т) остается только весьма размытый первый максимум. Увеличение величины х для частиц с радиусом, сравнимым с длиной волны падающего излучения, сопровождается снижением коэффициента рассеяния частицы, причем уменьшение коэффициента рассеяния при увеличении к значительно больше, чем увеличение истинного поглощения. Это приводит к несколько неожиданному, на первый взгляд, результату — с увеличением % уменьшается коэффициент ослабления частицы. На рис. 4.2 приведена зависимость факторов эффективности ослабления, рассеяния и поглощения от показателя поглощения для частиц с р = 6 и /г= 1,4. [c.116]

Далее с помощью простейших приближенных методов расчета с идеализацией геометрии, в ряде случаев даже не делая наиболее трудоемких расчетов интенсивности и ослабления вторичного у-излучения, производят грубую оценку (в пределе даже одногрупповую) примерной толщины защиты в основных направлениях. При этом на основании опыта проектирования и расчетов защиты ЯЭУ (может быть, даже других типов) вводится некоторый запас на пренебрежение вторичным у-излуче-нием, на возможность наличия каналов и пустот в защите. Полученные результаты позволяют скомпоновать защиту согласно выбранному типу компоновки с учетом принципов, изложенных в начале параграфа, примерной формы контура охлаждения, необходимости перегрузки реактора и различных особенностей установки. На начальной стадии проектирования защиты необходимо выявить все особенности данной установки не существуют ли какие-нибудь ограничения, обусловленные остаточной активностью нет ли необходимости в частном демонтаже какой-либо части защиты не предъявляет ли особых требований к защите система дистанционного управления и т. д. [c.79]

Распространённым методом Н.р. является просвечивание объекта коллимированным пучком нейтронов. При этом определяется степень ослабления нейтронного потока в результате поглощения или рассеяния ядрами. Это позволяет судить о внутр. строении и составе объекта. Для регистрации прошедших через образец нейтронов используются экраны-преобразователи (ыапр., фольги из Gd, Dy, In), к-рые служат источником вторичного излучения, регистрируемого детектором. Участкам образца, содержащим элементы, сильнее поглощающие нейтроны, соответствуют более светлые места на плёнке. [c.275]

ПОГЛОЩЕНИЕ СВЕТА,ослабление его при прохождении сквозь веш ество вследствие превращения части лучистой энергии в иные формы (тепловую, химическую, электрическую, вторичное излучение). Помимо истинного П. с., связанного с энергетич. превращениями. ослабление пучка света, выходящего из вещества, называется рассеянием иотражениямина границах в этом случае изменяется только направление световых волн. Впрочем провести вполне резкую принципиальную границу между истинным П. с. и П. с. вследствие рассеяния затруднительно при молекулярном рассеянии наблюдается изменение длины световой волны (см. Рассеяние света), соответствующее превращению энергии случай т. н. резонансного излучения (см. Люминесценция) может быть с равным правом истолкован как вторичное из.яучение и как рассеяние. Наряду с истинным положительным П. с. в некоторых случаях (например при комбинационном рассеянии) обнаруживается и отрицательное П. с,, состоящее в том, [c.446]

Усиливающее действие металлических экранов, используемых при методе прямой экспозиции, определяется вторичными электронами, образующимися в экране при прохождении через него ионизирующего излучения. В качестве материала этих экранов используют фольги тяжелых металлов (свинец, вольфрам, олово и др.), так как они обеспечивают высокие коэффициенты усиления (рис. 16). Для каждого источника ионизирующего излучения, в зависимости от его энергии, должен выбираться материал экрана. Так, для тормозного излучения целесообразно использовать олово, вольфрам, свинец для у-излучения — вольфрам, свинец. Толщина экрана должна быть равна максимальной длине пробега вторичных электронов в экране. Изменение толщины фольги привода уменьшению коэффициента преобразования энергии излучения в кинетическую энергию вторичных электронов или к ослаблению интенсивности ионизирующего излучения и, как следствие, к уменьшению усиливающего действия экрана (табл. 13 и 14). Металлические экраны рекомендуется использовать с безэкранными радиографическими пленками типа РТ-1, РТ-3, РТ-4М, РТ-5, их применение практически не влияет на ухудшение разрешающей способности изображения на пленках. Промышленность выпускает экраны 15 типоразмеров согласно ГОСТ 15843—70. Эти экраны выполнены в виде свинцовой фольги толщиной от 0,05 до 0,5 мм, нанесенной на гибкую пластмассовую подложку. [c.32]

Томофаф ВТ-300 предназначен для контроля изделий из легких материалов с диаметром до 350 мм алюминия и его сплавов диаметром до 140 мм, а также жаропрочных и аустенитных сталей диаметром до 20 мм. Возможно масштабирование, т.е. повышение разрешающей способности системы с уменьшением диаметра максимальное разрешение по линейному коэффициенту ослабления (ЛКО) 0,5 % матрица изображения 512x512 элементов источник излучения до 300 кВ с рентгеновской трубкой с фокусами 1,5 х 1,5 мм и 4,0 х 4,0 мм и соответственно Л max = 4 мА и Jo max = Ю мА. ПрИНЦИП СТа-билизации - по вторичной цепи с электронной управляющей лампой в цепи обратной связи в матрице детекторов применены сменные элементы рентгенооптики. [c.164]

Примерные толщины основных материалов биологичесш защиты, обеспечивающие десятикратное ослабление радиоа тивного излучения, приведены в табл. 27. На практике для не тронного и у-излучения требуется ослабление порядка 10 —К Суммарная толщина первичной и вторичной биологической з щиты при этом может достигать нескольких метров (на С вулфе , например, толщина защиты 2,4 м.) [c.214]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...