Решетка эшелетт

Для увеличения светосилы дифракционных приборов в инфракрасной области разработаны весьма грубые отражательные решетки, содержащие всего лишь 100 линий/мм и обладающие эффективным углом блеска. Вуд назвал такие решетки эшелеттами [53, 54] ). [c.344]

Л. ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА — ЭШЕЛЕТТ 233 [c.233]

J. . 4. ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА - ЭШЕЛЕТТ 235 [c.235]

S .4. ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА — ЭШЕЛЕТТ 2-47 [c.237]

Элементы с подобной зависимостью /(Фо) были открыты в 1969 г. и названы киноформами [52]. До сих пор, однако, не существует удовлетворительной технологии их изготовления, за исключением нарезных спектральных решеток [35]. Такие решетки, называемые в спектроскопии эшелеттами, были известны задолго до появления понятия киноформ. [c.195]

Были также предложены дифракционные решетки типа эшелетт в качестве фильтров с пропусканием в широкой инфракрасной области между 2 и 15 мкм. Будучи использованы в качестве зеркал, они ослабляют путем дифракции коротковолновые излучения, если угол падения и постоянная решетки выбраны правильно [Л. 149]. [c.78]

Как уже отмечалось, асферические решетки и решетки о переменным шагом штрихов могут иметь значительно большую апертуру (до 1/10—-1/20), которая ограничивается ростом других типов аберраций — комы и кривизны поля. В п. 7.1.2 было показано, что эффективность эшелетта максимальна в положении блеска, т. е. при равенстве углов падения и дифракции по отношению к отражающей грани штриха. Нарезка вогнутых решеток обычно выполняется так, что угол наклона граней штрихов постоянен по отношению к хорде, стягивающей края решетки. При выполнении условия блеска для центра решетки оно нарушается для ее краев, поэтому эффективность дифракции от центра к краям заметно снижается (особенно для решеток о увеличенной апертурой) [24, 28, 77]. Для устранения этого дефекта и повышения полезной апертуры решетка по ширине разделяется на несколько участков, и в пределах каждого участка угол наклона граней при нарезке подстраивается под средний угол падения лучей. Такой прием широко используется, например, в УФ-области (Я < 250 нм), где среднюю эффективность сферической решетки в пределах апертуры около 1/16 удается увеличить в 1,1—1,7 раза [33]. Поскольку отражение от отдельных участков некогерентно, спектральное разрешение такой решетки определяется не полной шириной, а шириной отдельного участка. [c.269]

В области 1 <3 А, <2 < 10 нм реальная эффективность эшелеттов и голографических решеток практически одинакова и не превосходит 15—17 % [13, 50, 47, 48, 63, 87]. В этой области начинает сказываться влияние неоднородности формы штрихов и шероховатости поверхности граней, поэтому эффективность зависит в большей степени от индивидуального качества изготовления решетки, чем от ее типа. Например, измерения 24 нарезных и голографических решеток на длине волны 4,4 нм показали [63], что разброс в эффективности решеток одинакового типа доходит до одного порядка. Эффективность на этой длине волны максимальна при плотности 600 штрихов/мм (17 %) и монотонно уменьшается примерно до 2 % для 3600 штрихов/мм. [c.271]

Для длин волн короче 1 нм наибольшую эффективность (около 5 %) имеют ламинарные решетки, полученные травлением на стекле без. покрытия к ним приближаются голографические ре-шетки-эшелетты, также изготовленные о помощью травления [87, 81]. Нарезные решетки в этой области имеют очень низкую эффективность (менее 1 %) вследствие сильного рассеяния на неоднородностях штрихов [54, 87], (особенно для решеток с высокой плотностью штрихов, у которых в отражении участвует лишь верхушка штриха). [c.271]

Дальнейшее снижение аберраций возможно при переходе от прямолинейных штрихов к искривленным. Оптимальная форма штрихов, очевидно, должна соответствовать интерференционной картине от двух источников, располагающихся в стигматических точках ХдЯ т = 0. Центральный штрих такой картины — прямой, остальные — гиперболы противоположного знака. Изготовление такой решетки для рентгеновской области спектра очень сложно, так как при голографировании с использованием лазеров видимого или ближнего УФ-диапазона ( 300 нм) решетка должна работать в высоких порядках спектра, т. е. быть эшелеттом о высоким качеством штрихов. Более простое решение состоит в замене гиперболических штрихов на концентрические окружности, центр симметрии которых лежит в плоскости решетки на прямой, соединяющей точки фокуса я т — 0 (рис. 7.12, а). Такую решетку уже технически возможно нарезать на существующих станках. [c.277]

Понятно, что эффективное использование решеток невозможно без серьезного теоретического и экспериментального исследования их дифракционных свойств. Первые работы такого плана появились в начале двадцатого века. Вуд усовершенствовал дифракционную решетку, нанеся на нее борозды известной геометрической формы, что позволило определять распределение энергии по отдельным спектрам, и экспериментально обнаружил свойство аномального рассеяния волн [13, 14]. Рэлей первый представил рассеянное поле вблизи периодической структуры в виде разложения в ряд по плоским волнам, теоретически исследовал дифракцию волн на эшелетте [15,16] и создал один из наиболее известных приближенных методов, которыми располагала теория дифракции до появления строгих решений. [c.6]

Второй нетривиальный вывод из (1.48) получаем при исследовании спектральных свойств эшелетта с прямоугольными зубцами (рис. 6, в). Во многих оптических и микроволновых устройствах используется важное свойство такой структуры — полное отражение энергии Я-поляризованной волны назад в передатчик в случае, когда угол падения ф равен углу блеска решетки (ф = 90° —г )) и одна из высших гармоник находится в авто-коллимационном режиме. Последнее условие означает, что такая волна распространяется в направлении, противоположном падающей волне, при этом q = —2х sin ф, где q — номер гармоники, находящейся в авто- [c.30]

Зеркальные резонансы ярко выражены не только в решетках жалюзи, но и во всех решетках типов жалюзи и эшелетт. [c.129]

Рассмотрим область частот, в которой над периодической структурой существует лишь одна распространяющаяся отраженная волна — нулевая гармоника рассеянного поля. Так как в одноволновом диапазоне отражение происходит в зеркальном направлении и с единичной мощностью, то с точки зрения наблюдателя, находящегося в дальней зоне, отражательную периодическую решетку можно заменить некоторой эквивалентной идеально проводящей плоскостью. Положение этой плоскости в пространстве будет определяться arg (Ло) и существенно зависеть от всех параметров. В многоволновом диапазоне (и > (1 + sin ф i ) ), когда над решеткой существует несколько однородных плоских волн, на первый план, естественно, выдвигается изучение энергетических, а не фазовых характеристик отраженного поля. Рассмотрим некоторые наиболее характерные особенности поведения фазы отраженной волны для трех типов отражательных дифракционных решеток гребенки с ламелями прямоугольного сечения (рис. 77, г), эшелетта (рис. 77, а) и решетки из полуцилиндров (рис. 77, д). Для единообразия плоскость 2=0 координатной системы совмещена с плоскостью, касающейся элементов структуры. Прежде всего отметим ряд общих положений. Для длин волн, гораздо больших периода структуры, профиль отдельного элемента решетки практически не сказывается на фазе отраженного сигнала, и отражение происходит практически от плоскости 2=0. При этом Е-поляризованная волна отражается с фазой, близкой к 180°, а Я-поляризованная — с фазой, близкой к нулю. С продвижением в область частот, где длина волны соизмерима с характерными размерами элемента решетки, на фазе отраженного поля начинает сказываться профиль структуры. Как показано ниже, это влияние более существенно в случае [c.136]

Поведение фазы поля, отраженного от эшелетта, иллюстрируют рис. 82— 84. В случае -поляризации (рис. 82) наиболее сильным изменениям в диапазоне О < и < 1 подвергается фаза волны, отраженной от симметричной решетки. Возрастание tf) уменьшает arg Aq. вероятно, вследствие того, что при фиксированном периоде уменьшаются глубина канавки и соответственно глубина проникновения поля в глубь последней. [c.139]

Зависимости arg ад (Ло) и 2о от х и s (s — отношение ширины выступа к периоду решетки) для решетки из полуцилиндров приведены на рис. 85, 86. Сравнивая эти результаты с данными для других решеток, приходим к выводу, что свойства отражательной решетки из полуцилиндров для Я-поляризации при ф = 0 0,3 < s < 1 и х < 1 больше похожи на свойства гребенки с неглубокими канавками и 0 0,7, чем на свойства эшелетта. В случае Я-поляризации то же имеет место для 0,4 < s < 0,9 и 0 0,5. Можно утверждать, что свойства неглубоких гребенок и решеток из полуцилиндров в длинноволновой области в значительной мере совпадают, если площади поперечных сечений их отдельных элементов близки друг к другу. В этой же области частот наиболее сильно возмущающими свойствами обладают решетки с s = 0,4 ( ) и 0,65 (Я-поляризация). [c.140]

Эшелеттом называют решетку со штрихами ступенчатого профиля, сыгравшую важную роль в развитии спектроскопии и расширении наших знаний [c.141]

Несмотря на хорошо разработанную технологию изготовления для всех волновых диапазонов, эшелетт до сих пор не нашел еш,е достаточно широкого распространения при создании приборов милли- и субмиллиметрового диапазонов. Причиной этого является отсутствие до последнего времени методов строгого решения в полном объеме задачи дифракции волн на этой решетке, а следовательно, отсутствие теоретического исследования дифракционных свойств эшелетта. [c.142]

Прежде всего обратимся к случаю -поляризации. Картина линий равной энергии основной гармоники Wo k, ф, if>) в координатах х, г з при нормальном падении волны на эшелетт приведена на рис. 88. До х = 1 при всех If) энергия нулевой гармоники равна единице, так как в данном случае лишь эта гармоника является распространяющейся. С переходом точки X = 1 возникают еще две уходящие от эшелетта гармоники, на существование которых расходуется часть энергии начальной волны. Теперь эшелетт уже нельзя заменить плоскостью с точки зрения наблюдателя, находящегося в дальней зоне, потому что дифракционные явления заметны во всем полупространстве над решеткой. [c.143]

При стремлении ij) к 90° эшелетт вырождается в плоскость, поэтому при всех X имеем Wo - 1 Для -поляризованных волн при ifi, близких к 90°, дифракционные характеристики системы наклонных полуплоскостей, решетки жалюзи и эшелетта оказываются практически идентичными. Это обусловлено тем, что волноводы, образованные лентами решетки жалюзи и полуплоскостями, становятся запредельными (рис. 90). Аналогичными свойствами обладает эшелетт с произвольно острыми зубцами, если одна из граней зубца составляет с нормалью к плоскости решетки угол, близкий к 90°. [c.144]

Рассмотрим распределение энергии нулевой гармоники при г з = 45° (см. рис. 88, 89). В точках скольжения Wo достигает единицы — в этих точках на нулевой гармонике имеет место геометрический резонанс I. Между точками скольжения WI k) имеет минимумы при и=ус + 0,25, / = 1, 2,, со значениями W o = 0,25 0,46 0,55 . .. С ростом х провалы графика становятся все меньшими и должны совсем исчезнуть при к- оо. Это соответствует принципам геометрической оптики пучок лучей, падаюш,ий нормально на симметричный эшелетт с прямоугольными зубцами, отражается в прямо противоположном направлении. В рассматриваемом случае при х > 1 луч уходит вертикально от решетки, т. е. вся энергия падаюш,ей волны трансформируется в нулевую гармонику отраженного поля. [c.144]

Обнаруженное явление можно использовать, для создания антенны с электрическим сканированием луча в некотором секторе. Рассмотрим эшелетт, у которого = 67°. При облучении его нормально падаюш,ей волной, у которой 1,02 < X < 1,21, отраженный от решетки луч будет сканирующим в секторе 22° (от ф = 78 до ф = 56°) при этом интенсивность отраженного луча составляет не менее 90 % интенсивности падающего поля. Естественно, что основную частоту можно модулировать произвольным образом. В рассмотренном явлении амплитуда минус первой гармоники тем больше, чем ближе х к единице (см. рис. 98). Здесь поперечный размер отраженного луча по сравнению с падающим уменьшается и одновременно увеличивается амплитуда поля, т. е. луч как бы уплотняется . [c.151]

Из оптики известно, что эшелетт обладает способностью сосредоточивать почти всю энергию упавшей волны в одной из гармоник вторичного поля. При коротких длинах волн это объясняется просто энергия трансформируется в ту гармонику, направление распространения которой совпадает с направлением луча, зеркально отраженного от одной из граней зубца. Как оказывается, зеркальный резонанс наблюдается и в средневолновом диапазоне. Линия (3.2) изображена на рис. 99, 100 кружочками. Вершины хребтов и дно ущелий обозначены штриховой линией. Наличие максимума интенсивности минус первой гармоники вблизи линии (3.2) при Ф = О объясняется зеркальным резонансом. Этот резонанс четко выражен, как только длина волны становится короче периода решетки. На рис. 99 зеркальный резонанс ответствен за наличие глубокого ущелья вблизи рас- [c.151]

Одно из важнейших свойств эшелетта — расширение области поляризационной восприимчивости, обусловленное взаимодействием электромагнитной волны с глубокими эшелеттами. Характер этого взаимодействия связан с величиной проникновения поля разной поляризации в глубь канавок в Я-случае амплитуда поля практически одинакова всюду в канавке, в -случае поле всегда спадает при стремлении ко дну канавки. Именно вследствие этого поведение коэффициента отражения сильно отличается в - и Я-случаях у глубоких решеток. Частотная зависимость jOo и в - и Я-случаях для симметричного прямоугольного эшелетта в диапазоне изменения длин волн от много больших периода решетки до много меньших приведена на рис. 103. Из него следует важное заключение решетка чувствует поляризацию волны на всем представленном интервале к, т. е. даже X = 10 для этой решетки еще лежит за пределами применимости методов геометрической оптики. Поляризационная восприимчивость решеток особенно необходима при создании преобразователей вида поляризации и т. д. [c.155]

X < 2 присуще только достаточно глубоким отражательным дифракционным решеткам. Для прямоугольной гребенки оно наблюдается, когда по глубине щелей укладывается целое число полуволн первой волноводной волны в канавках [251. Для решетки из полуцилиндров, лежащих на плоскости, полное отражение не наблюдается, а для симметричного эшелетта имеет место только при а < 90°. Чем глубже канавки эшелетта, т. е. чем меньше а, тем больше существует точек полного отражения на интервале 1 <х<2. Как видно из рис. 105, области максимального рассеяния на [c.155]

Для эшелетта с углом а = 45° в Я-случае наблюдается геометрический резонанс I при целочисленных значениях х, нормальном падении и тех ситуациях, когда одна из граней зубца перпендикулярна поверхности решетки (oj) = О или 45°). При этом амплитуды основной и скользящих гармоник равны единице, все остальные амплитуды — нулевые. [c.158]

Рассмотрим внеплоскостную схему более подробно (рис. 7.9). Пусть параллельный пучок излучения освещает плоскую решетку — эшелетт о прямолинейными регулярными штрихами, так что волновой вектор пучка лежит в плоскости, перпендикулярной к плоскости дисперсии. Угол между волновым вектором пучка и нормалью на плоскость дисперсии обозначим 0, а углы между проекциями на эту плоскость волновых векторов падающего и дифрагированного пучков и нормалью к плоскости решетки [c.272]

При разработке ОР для высокостабильных по частоте квантовых генераторов и создании современных спектральных приборов главным образом используются отражательные дифракционные решетки — эшелетты, работающие в автоколлимационном режиме. Добротность подобного резонатора будет тем больше, чем больше коэффициент отражения поля от эше-летта на автоколлимируюш,ей гармонике. Поскольку решетки часто применяются на длинах волн, сравнимых с периодом структуры, коэффициент отражения зависит от поляризации падаюш,его излучения. В настояш,ем параграфе приводятся результаты исследования спектрального распределения интенсивности поляризованного излучения при дифракции плоских волн на идеально проводящем эшелетте с углом при вершине зубцов 90°. Энергетические характеристики эшелеттов рассчитаны на основе математически строго обоснованного решения данной задачи [25, 58]. Наличие высокоэффективного численного алгоритма позволило поставить и решить задачу детального изучения зависимостей энергетических величин первых четырех автоколлимирующих гармоник от длины волны и угла наклона граней зубцов эшелетта [24, 82, 83, 28П. [c.182]

В этом отношеппи призменные спектральные приборы заметно уступают дифракционным спектральным приборам с илоскоп дифракционной решеткой — эшелеттом. [c.185]

Дифракционные решетки (эшелетты) для инфракрасной области спектра изготавливаются с различным числом хытрихои на 1 мм (от единиц до сотни). Они предназначаются для работы в области от 2,5 до 600 д.. Площадь заштрихованной поверхности для решеток с малым числом штрихов достигает 200x200 и 300 X х300 ль% Эшелетты для инфракрасной области нарезаются на слоях меди, нанесенных электролитическим способом на заготовках из латуни. С целью увеличения коэффициента отражения нарезанные на меди эшелетты покрываются затем топким слоем никеля или палладия. Коэффициент отражения никеля в области 2,5 достигает 80%, а палладия 90%, но уже в области 8 [х коэффициенты отражения указанных металлов не уступают золоту и серебру, которые считаются лучшими отражателями в инфракрасной области спектра. В последнее время налажен выпуск реплик с отражательных решеток ). Качество реплик ненамного уступает оригиналу. [c.98]

Очевидно, что Am минимально при = i, т. e. при автоколлима-ционном ходе лучей. Современные отражательные решетки — эшелетты и эшелле — имеют штрихи с гранями, составляюш ими между собой угол, близкий к 90°, поэтому а d os i (см. рис. 41.2) и Ат 1/ os i. При малых i Am 1 и положение главных максиму- [c.299]

Нашли применение несколько типов фильтров абсорбционные, интерференционные и нейтральные. Действие абсорбционных фильтров основано на избирательном поглощении излучения они изготавливаются из твердых, жидких и газообразных избирательно-поглощающих сред. Примерами абсорбционных фильтров могут служить цветные стекла, окрашенные желатины и пластмассы, пленки германия и кремния, пары С1а, Вга, щелочно-галлоидные соли и другие материалы. Для монохроматизации инфракрасных излучений нашли применение кристаллические пластинки из некоторых диэлектриков (Na l, кварц и др.), а в длинноволновой инфракрасной области спектра в качестве отсекающих применяются дифракционные решетки— эшелетты, д твующие как регулярные, шероховатые поверхности. [c.209]

МАЙКЕЛЬСОНА ЭШЕЛОН — многолучевой интерференционный оптич. прибор в виде набора плоскопараллельных стеклянных или кварцевых пластинок строго одинаковой толщины, сложенных на оптич. контакт таким образом, что их концы образуют ступеньки лестницы (рис. 1). Принцип действия, снособ образования когерентных лучей и распределение интенсивности в результирующей интерференц. картине такие же, как у дифракционной решетки — эшелетта, отличие лишь в том, что период М. э. много больше длины волны света <1 нескольких мм), а число ступенек (штрихов) мало 30. М. э. бывают нро- [c.116]

Можно изготовить такую решетку с профилированным штрихом, которая обеспечит зпачител1.ную интенсивность в 20-м или 30-м порядке, но тогда придется соответственно уменьшить число штрихов на единицу длины. Гак работают дифракционные решетки в инфракрасной области спектра эшелетт). Е1 последние годы созданы аналогичные решетки для видимой и ультрафиолетовой областей (эшель), которые с успехом используют в оригинальных спектральных приборах. [c.322]

Мысль о том, что дифракционные решетки можно получать голографическим способом, впервые высказал Ю. Н. Денисюк в 1962 г. С тех пор голографические решетки получают все большее распространение в спектральном приборостроении благодаря своим преимуш,ествам отсутствию духов (порядков, обусловленных нарушением периодичности), малого случайного светорассеяния, быстроты изготовления, дешевизны, меньшей трудоемкости. Естественно, что от голографических решеток сложнее добиться нужных дифракционных характеристик, чем в случае нарезной решетки, например типа эшёлетт, где геометрия просто определяет так необходимый оптикам угол блеска. Однако, как неоднократно отмечалось во многих работах, при меньшей, чем у нарезных решеток, дифракционной эффективности решетки, изготовленные голографическим методом, обеспечивают более высокое качество волнового фронта в рабочем порядке (гармонике). К тому же в последнее время появился ряд работ, в которых утверждается, что с использованием фоторезиста и определенных схем записи — восстановления голограмм — возможно получение рельефно модулированных решеток с заданным профилем, в том числе и эшелеттов. [c.6]

Во-вторых, результаты, полученные методом задачи Римана — Гильберта, охватывающим структуры из бесконечно тонких плоских экранов или экранов с осевой (центральной) симметрией, стимулировали поиск подходов, позволявших бы также эффективно анализировать электродинамические свойства решеток других типов. Эта проблема частично решена с появлением метода, в основе которого лежит аналитическое преобразование матричных уравнений типа свертки [25, 57, 58, 92, 93]. Методологическая основа у этих подходов общая — обращение части оператора некорректного исходного операторного уравнения. Отличает их техника выполнения процедуры полуобращения (решение задачи сопряжения теории аналитических функций и вычисление главных частей в разложении Миттаг — Леффлера мероморных функций), а также то, что в первом подходе выделяется и обращается статическая часть задачи (и = 0), а во втором — часть задачи, отвечающая определенной геометрии периодического рассеивателя. По существу при этом использовалась возможность явного аналитического решения задач статики и дифракции плоских волн на системе идеально проводящих полуплоскостей [38, 40]. Недавно полученные в [94—96] результаты, видимо, также могут послужить основой для создания новых вариантов метода полуобращения. Эффективность последнего подтверждается практическим решением проблемы дифракции волн в резонансной области частот на периодических решетках основных типов 124, 25, 58] идеально-проводящих эшелеттах, решетках жалюзи и ножевых, плоских ленточных и решетках из незамкнутых тонких экранов, решетках из брусьев металлических и диэлектрических с прямоуголь- [c.8]

Roo (ф) = - 00 (— Ф) = О, I R—, o (— Ф) I = 1, т. е. и при замене знака угла падения на противоположный будет наблюдаться полное отражение энергии падающего поля от эшелетта снова в передатчик. Следовательно, условия резонансного отражения запишутся в виде для обычной ситуации q = —2к os г ), ф = 90°—г ) для нетривиального случая X = (2 osiji) , ф =г ) — 90° ( ф < 70,5°). Нетривиальный случай характерен тем, что эффективность решетки в минус первом порядке спектра не зависит от поворота решеток относительно оси Ог на 180°. Такой результат лля эшелеттных решеток наблюдался экспериментально в 60-е годы и вызывал удивление, поскольку считалось, что для получения максимального автоколлимационного отражения должна освещаться большая грань эшелетта. [c.30]

Рис. 83. Сравнительные характеристики фазы отраженной волны и глубины проникио-веиия поля (сплошные криные) для решетки из полуплоскостей и эшелетта (5-поляризация, X = 0,2, ф = 0 ).

Такая решетка при малых х и -поляризации также является структурой, полностью отражающей падающее поле. С ростом величина г для решетки из наклонных полуплоскостей уменьшается от 2 1п2 при ijj = О до нуля при1 ) = 90° (решетка вырождается в плоскость), npnijj > 70° зависимости для решетки из полуплоскостей и эшелетта практически совпадают малая грань канавки практически не влияет на фазу отраженного сигнала. Таким образом, при малых х и гр > 70° фаза волны, отраженной от эшелетта, с успехом может быть вычислена по формуле (3.1). [c.140]

В последние десять — пятнадцать лет у нас в стране и за рубежом широкое развитие получили два прямых метода исследования задач дифракции. Один основан на приближенном решении строгого интегрального уравнения, полученного методами теории потенциала, а другой — на приближенном решении бесконечной системы обыкновенных дифференциальных уравнений с краевыми условиями на двух концах [47, 52, 206, 257, 258, 263 —265]. По эффективности эти методы эквивалентны методу частичных областей, приближенное решение обычно имеет относительную погрешность 2—5 %, а основные результаты в силу больших затрат машинного времени получены пока при 1/Х < 1,5, где I — характерный размер решетки. Построение строгого и эффективного решения задачи дифракции волн на эшелетте стало возможным благодаря использованию идеи частичного обращения оператора задачи. В [25, 58 при реализации этой идеи обращалась часть матричного оператора, соответствующая решетке из наклонных полуплоскостей [82, 83, 11, 112, 262]. Использование процедуры полуобращения в иной форме явилось предпосылкой для появления другого строгого метода [54, 266]. Ключевым моментом в нем является выделение и аналитическое обращение части решения, обеспечивающей правильное поведение поля вблизи ребер. Эффективности этих методов равнозначны, так как при одинаковых затратах машинного времени обеспечивают одинаковую точность окончательных результатов. Отметим, что применение метода работы [54] ограничено и пока не получило широкого развития на решетках другой геометрии, отличных от 90-градусного эшелетта. В то время как метод, развитый в [25, 58], привел к построению эффективных решений задач дифракции электромагнитных волн на эшелетте с несимметричными прямоугольными и острыми зубцами при произвольном падении первичной волны и любых соотношениях между длиной волны и периодом решетки. Результаты данной главы получены методом, приведенным в [25, 58]. [c.142]

Рассматриваемый эшелетт для Я-поляризованной волны представляет собой гораздо более неоднородное препятствие, чем для -поляризованной. Поэтому зависимости, отражающие дифракционные свойства эшелетта, в этом случае более сложны и ярче выражены максимумы кривых, хотя н расположенные вблизи расчетных точек, могут быть неожиданно очень широкими, или, напротив, очень узкими по сравнению со случаем -поляри-зации. Дифрагированное поле варьированием параметров задачи можно формировать с большим произволом как с точки зрения диапазонности, так и в смысле величин интересуюш,их нас гармоник. В Я-случае эшелетт позволяет сконцентрировать почти всю энергию вторичного поля в одной выбранной гармонике, период решетки при этом может быть одного порядка с длиной волны. Для -поляризации такая возможность представляется при более коротких длинах волн. Таким образом, дифракционные зависимости для прямоугольного эшелетта всегда можно объяснить и предугадать, имея в виду установленные нами режимы рассеяния. [c.154]

Для несимметричного прямоугольного эшелетта в момент геометрического резонанса пороговый эффект обычно имеет то же значение, что и в симметричном случае. Заметим, что в случае -поляризации при увеличении глубины эшелеттных канавок аномалии Вуда не становятся более значительными. Даже когда аномалии существенны, значения их всегда меньше соответствующих значений в аналогичных случаях для Я-поляри-зации. В общем случае несимметричного острого эшелетта наиболее интенсивные аномалии происходят, когда зеркально резонирующий спектр является скользящим вдоль решетки (рис. 106). При этом впервые сталкиваемся с ситуацией, когда аномалии Вуда на эшелетте столь же значительны, как и в случае Я-поляризации. [c.157]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...