Решетка дифракционная отражательная

Спектральные дифракционные решетки. Дифракционные отражательные решетки используются в качестве диспергирующих элементов в спектральных системах с 80-х годов прошлого столетия. [c.433]

Большие трудности представляет очистка заштрихованной поверхности дифракционных отражательных решеток. Поэтому решетки следует хранить в условиях, недоступных загрязнению. От частичек ныли удается иногда освободиться, если проводить мягкой кисточкой вдоль штрихов решетки. Решетки, которые нарезаны на металлической поверхности, нанесенной на стекле, можно промывать дистиллированной водой по направлению штрихов. Еслп на заштрихованной поверхности у них имеются жировые пятна от пальцев, можно попытаться промывать пх вначале слабым раствором аммиака, а затем дистиллированной водой. Предварительно для испытания безвредности этой операции промывается незаштрихованная поверхность решетки. [c.162]

Инфракрасный спектр охватывает так много октав, что приходится применять несколько призм или дифракционных решеток (см. гл. 7, 4). На рис. 501 приведена зависимость спектрального разрешения от частоты для призм, которые чаще всего применяются в области до 400 сл (25[х). Дифракционные отражательные решетки в виде эшелетт могут давать, конечно, большую разрешающую способность, чем призмы, поэтому они позволяют работать с большей геометрической шириной входной щели. Для области от 2,5 до 30 [х ири работе в первом порядке необходимо до 2—3 эшелетт, а для области до 600 не меньше 6 эшелетт. [c.667]

Спектральные вогнутые дифракционные решетки. Вогнутая отражательная решетка является диспергирующим и фокусирующим элементом одновременно. Это определяет простоту оптической схемы спектрального прибора, в котором фокусирующая оптика не нужна, и применение таких решеток в тех областях спектра, для которых отсутствуют прозрачные материалы [c.442]

Дифракционная решетка вогнутая отражательная зМ [c.745]

Рассмотренный случай дифракции на трехмерной решетке имеет исключительно важное значение. Он осуществляется практически при дифракции рентгеновских лучей на естественных кристаллах. Лучи Рентгена представляют собой электромагнитные волны, длина которых в тысячи раз меньше длин волн обычного света. Поэтому устройство для рентгеновских лучей искусственных дифракционных решеток сопряжено с огромными трудностями. Мы видели, что трудность эта может быть обойдена путем применения лучей, падающих на решетку под углом, близким к ЭО". Однако дифракция рентгеновских лучей была осуществлена задолго до опытов с наклонными лучами на штрихованных отражательных решетках. По мысли Лауэ (1913 г.), в качестве дифракционной решетки для рентгеновских лучей была использована естественная пространственная решетка, которую представляют собой кристаллы. Атомы и молекулы в кристалле расположены в виде правильной трехмерной решетки, причем периоды таких решеток сравнимы с длиной волны рентгеновских лучей. Если на такой кристалл направить пучок рентгеновских лучей, то каждый атом или молекулярная группа, из которых состоит кристаллическая решетка, вызывает дифракцию рентгеновских лучей. Мы имеем случай дифракции на трехмерной решетке, рассмотренный выше. Действительно, наблюдаемые дифракционные картины соответствуют характерным особенностям дифракции на пространственной решетке. [c.231]

Спектральная ширина излучения жидкостных лазеров составляет 4—30 нм. Ее можно сделать значительно уже, если внутрь резонатора поместить какой-либо дисперсионный элемент, т. е. создать селективный резонатор. Такого рода резонаторы могут быть различных типов. Можно, например, поместить внутрь резонатора (между активным слоем и одним из зеркал) обычную призму или интерферометр. Часто заменяют одно из зеркал отражательной дифракционной решеткой. При наличии в резонаторе селективных элементов вдоль оси лазера может распространяться излучение лишь некоторых длин волн. Излучение других волн, отражаясь от решетки или проходя через призму, отклоняется от оси и выходит за пределы резонатора. [c.294]

Поскольку полоса энергетических уровней широкая, спектральная линия излучения лазера имеет большую ширину (около 0,4 мкм). Это позволяет при помощи частотно-селективного элемента осуществлять плавную перестройку частоты лазера в широком диапазоне. Таким элементом может являться отражательная дифракционная решетка, используемая вместо глухого зеркала. Длина волны излучения такого типа лазера зависит от концентрации раствора, что позволяет осуществлять также перестройку генерации. [c.65]

Отражательные дифракционные решетки широко используются для получения спектров и спектральных изображений в рентгеновском диапазоне и являются основным средством исследования в таких областях науки, как физика твердого тела, физика горячей плазмы, космическая астрофизика и др. Известно, что в более длинноволновых диапазонах спектра (инфракрасном, видимом и ближнем ультрафиолетовом) высокого качества спектров можно достигнуть с помощью обычной сферической решетки, работающей вблизи нормального падения. В рентгеновской области спектра достаточно высокие дисперсия и эффективность отражения могут быть получены только при скользящем падении однако в этом случае обычная сферическая решетка с регулярными штрихами работает с большими аберрациями, которые ограничивают максимальное разрешение и светосилу прибора. [c.249]

Соотношения (1.30), (1.31) эквивалентны обычным условиям сшивания полей. Кроме того, они учитывают и граничные условия. Конкретный вид операторов R а Т зависит от рассматриваемой дифракционной структуры и вида падающего на решетку поля. Знания введенных матричных операторов достаточно, чтобы полностью описать дифракционные свойства структуры при периодическом ее возбуждении, а также для использования структуры в качестве элементарной при решении более сложных композиционных задач методом, который известен как метод обобщенных матриц рассеяния, метод матричных операторов, операторный метод, метод декомпозиции [54, 131, 132]. В этой главе нас интересует не конкретный вид R и Т, а некоторые общие свойства этих операторов. Рассмотрим, вначале ряд энергетических свойств, характерных для элементов обобщенных матриц рассеяния. Отдельно останавливаться на отражательных структурах нет смысла, поскольку переход к ним всегда осуществим, если в (1.28) и в последующих формулах для более общего случая полупрозрачной структуры, положить Тпр = О, п = О, 1,. .. [c.24]

Таким образом, поля дифракции на отражательных решетках представляют собой четную (1.55) для Я-поляризации и нечетную (1.56) для -поляризации части решений задач дифракции на симметричных полупрозрачных структурах. Существование такой связи позволяет глубже понять природу некоторых дифракционных явлений (см. [c.33]

Рассмотрим область частот, в которой над периодической структурой существует лишь одна распространяющаяся отраженная волна — нулевая гармоника рассеянного поля. Так как в одноволновом диапазоне отражение происходит в зеркальном направлении и с единичной мощностью, то с точки зрения наблюдателя, находящегося в дальней зоне, отражательную периодическую решетку можно заменить некоторой эквивалентной идеально проводящей плоскостью. Положение этой плоскости в пространстве будет определяться arg (Ло) и существенно зависеть от всех параметров. В многоволновом диапазоне (и > (1 + sin ф i ) ), когда над решеткой существует несколько однородных плоских волн, на первый план, естественно, выдвигается изучение энергетических, а не фазовых характеристик отраженного поля. Рассмотрим некоторые наиболее характерные особенности поведения фазы отраженной волны для трех типов отражательных дифракционных решеток гребенки с ламелями прямоугольного сечения (рис. 77, г), эшелетта (рис. 77, а) и решетки из полуцилиндров (рис. 77, д). Для единообразия плоскость 2=0 координатной системы совмещена с плоскостью, касающейся элементов структуры. Прежде всего отметим ряд общих положений. Для длин волн, гораздо больших периода структуры, профиль отдельного элемента решетки практически не сказывается на фазе отраженного сигнала, и отражение происходит практически от плоскости 2=0. При этом Е-поляризованная волна отражается с фазой, близкой к 180°, а Я-поляризованная — с фазой, близкой к нулю. С продвижением в область частот, где длина волны соизмерима с характерными размерами элемента решетки, на фазе отраженного поля начинает сказываться профиль структуры. Как показано ниже, это влияние более существенно в случае [c.136]

X < 2 присуще только достаточно глубоким отражательным дифракционным решеткам. Для прямоугольной гребенки оно наблюдается, когда по глубине щелей укладывается целое число полуволн первой волноводной волны в канавках [251. Для решетки из полуцилиндров, лежащих на плоскости, полное отражение не наблюдается, а для симметричного эшелетта имеет место только при а < 90°. Чем глубже канавки эшелетта, т. е. чем меньше а, тем больше существует точек полного отражения на интервале 1 <х<2. Как видно из рис. 105, области максимального рассеяния на [c.155]

И наконец, дуализм отражательных и пропускающих элементов можно определить следующим образом. Изображающие свойства двух элементов будут одинаковыми, если один из них записан с заданными объектной и опорной волнами, а второй, когда одна из этих волн отражается в материале подложки. Это объясняется тем, что поверхностная дифракционная решетка остается неизменной, когда нормальная составляющая вектора полос меняет знак. Один из элементов будет отражательной голограммой, а второй — пропускающей. Разумеется, амплитуды дифрагированных волн различных порядков будут сильно отличаться, поэтому практически оба элемента трудно сравнивать. Дуализм бывает полезно использовать на этапе конструирования ГОЭ. [c.639]

Представим себе сначала плоский диффузно отражающий объект, который можно поворачивать на малый угол 0 во-круг оси, лежащей в его плоскости. Объект освещают нормально падающим пучком и наблюдают спекл-структуру в направлении, близком к нормали. Очевидно, что при повороте объекта спекл-структура смещается так, как если бы объект был зеркалом на расстоянии D от объекта спекл-структура смещается на величину 29D. Это справедливо и при наблюдении спекл-структуры на бесконечности, т. е. в фокальной плоскости линзы. Такой результат будет понятен, если вспомнить, что диффузную поверхность можно рас сматривать как суперпозицию бесконечного числа отражательных дифракционных решеток, имеющих случайную ориентацию и случайные периоды. Поворот дифракционной решетки на угол 9 приводит к тому, что ее спектр поворачивается на угол 29. [c.69]

В качестве амплитудных ослабителей пригодны прозрачные (или отражательные) дифракционные решетки. Достижимая степень ослабления определяется постоянной решетки и спектральным порядком, в котором ведутся наблюдения. Если решетка грубая, ослабление может быть значительным. Эффективность ее зависит от того, параллелен или перпендикулярен электрический вектор плоскополяризованного света штрихам решетки. Можно показать, что для Шмелевой решетки отношение освеш.енности в т-ш порядке к освеш,енности в нулевом порядке равно [c.26]

Для увеличения светосилы дифракционных приборов в инфракрасной области разработаны весьма грубые отражательные решетки, содержащие всего лишь 100 линий/мм и обладающие эффективным углом блеска. Вуд назвал такие решетки эшелеттами [53, 54] ). [c.344]

Отражательные дифракционные решетки. Если вместо щелей на решетке находятся хорошо отражающий участки, а вместо непроницаемых участков — участки, поглощаюшие свет, то в отражённом свете наблюдается дифракционная картина, аналогичная картине в проходящем свете. Действующие в отраженном свете решеткй называются отражательными. Если непроницаемая часть решетки достаточно хорошо отражает свет, а щель хорошо пропускает, то решетка может одновременно действовать в качестве дифракционной решетки как в проходящем, так и в отраженном свете. Период d обеих решеток одинаков, а смысл величин ац.Ь противоположен в формулах для интенсивности они меняются местами. [c.227]

Для более узкополосной частотной селекции внутрь резонатора вносят дисперсные элементы (например, призму) либо заменяют зеркало резонатора дифракционной отражательной решеткой. Примеры такой селекции приводились в 1.3 в связи с рассмотрением селективных резонаторов. График частотной зависимости коэффициента потерь 111 (ii ) селективного резонатора имеет резкий и узкий провал шириной Qa 10 — 10 с- (рис. 2.70, б). Поворачивая призму или отражательную решетку, можно управлять положением этого провала на шкале частот и тем самым осуществлять перестройку частоты генерации в пределах ширины линии люминесценции на уровне постоянных потерь (в пределах ширины A oi см. рисунок). [c.215]

Фазовые решетки могут быть отражающими и пропускающими. Идеально отражающие решетки вызывают периодическое изменение фазы и не приводят к изменению амплитуды. Можно создать решетки, способные одновременно менять как амплитуду, так и фазу. Подобные решетки называются амплитудно-фазовыми. На практике решетки, изготовленные нанесением штрихов на стекло или металл, являются фактически амплитудно-фазовыми. Отражательные решетки были изготовлены еще в 80-х годах XIX в. Роулендом путем нанесения штрихов на плоскую н вогнутую металлические поверхности. Преимуществом вогнутой сферической дифракционной решетки является то, что она одновременно выполняет роль фокусирующего зеркала и поэтому не нуждается в наличии дополнительных объективов для получения изображения щели. Это делает ее удобной для использования во всем оптическом диапазоне. Отра- [c.150]

На практике обычно пользуются отражательными эшелонами, предложенными в 1933 г. Вильямсом (рнс. 6.33) и называемыми обыч1ю эшелонами Майкельсона — Вильямса. Эшелон Майкельсона — Вильямса состоит из ряда пластин из плавленого кварца. Специальная обработка пластин позволяет добиться оптического контакта. В результате все устройство как бы вырезано из одного куска плавленого кварца. Спектральные характеристики, в том числе и разрешающая способность эшелона Майкельсона — Вильямса, выше разрешающей способности эи1елоиа Майкельсона. Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В принципе эшелон Майкельсона — В1 пзямса можно было бы использовать также в ультрафиолетовой области. Однако это связано с очень высокой, практически неосуществимой точностью изготовления. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль [c.153]

Полученные выражения легко распространить и на случай падения плоской волны на дифракционную решетку под некоторым углом. Обозначим через О угол между направлением пучка и направлением нормали к решетке. Тогда (рис. 6.36,а) для возникновения главных максимумов вместо с(з1пф = т/. получается условие d(sin(p — sinO) =-- тХ, непосредственно следующее из вычисления разности хода Л для двух интерферирующих лучей. В дальнейшем подробно рассмотрены отражательные дифракционные решетки (рис. 6.36,6), выражение для разности хода которых следует записать в виде [c.295]

Отражательные решетки несравненно более высокого качества были впервые получены в 80-х годах XIX в. американским физиком Роулендом, наносившим штрихи на металлическую плоскую или вогнутую поверхность с помощью винтовой делительной машины. Решетки, изготовленные на машинах Роуленда, в усовершенствовании которых принимали участие Вуд и другие крупные физики, оставгипись лучшими в мире вплоть до 50-х годов нашего столетия. В настоящее время усилиями Ф. М. Герасимова и его сотрудников налажен массовый выпуск превосходных дифракционных решеток и разработаны оригинальные методы их исследования. При характеристике свойств современных решеток мы воспользуемся некоторыми результатами этих исследований. [c.298]

Седьмая глава посвящена применению отражательных дифракционных рещеток для получения рентгеновских спектров и спектральных изображений. Высокая эффективность этих элементов, как и зеркал, может быть достигнута только при скользящем падении (если не говорить о многослойных покрытиях), которое при использовании обычных сферических решеток приводит к большим аберрациям. В седьмой главе кратко рассматриваются основные типы решеток с коррекцией аберраций решетки асферической формы, с переменным шагом и кривизной штрихов. Весьма важным является вопрос об эффективности нарезных и гологра- [c.8]

Если говорить не только об отражательной оптртке, но и об оптике МР-диапазона в целом, то необходимо упомянуть дифракционную оптику нормального падения — прозрачные решетки и зонные пластинки (френелевские линзы), обсуждение которых выходит за рамки книги. Они представляют собой тончайшую регулярную структуру (с размером штриха 0,01—0,1 мкм), свободно висящую или расположенную на пленке толщиной порядка 1 мкм, либо на ажурной поддерживающей арматуре . Изготавливают их методами планарной микроэлектронной технологии. Прозрачные решетки и зонные пластинки используются как в спектроскопии плазмы, так и в микроскопии биологических объектов. Расчетная дифракционная эффективность зонных пластинок равна 15—40 % в диапазоне 2—12 нм. [c.10]

При рассмотрении эффективности дифракционных решеток используются два понятия абсолютная эффективность, равная отношению энергии, дифрагируемой решеткой при длине волны Х в данном порядке, к энергци, падаюш,ей на решетку при той же длине волны, и просто эффективность, равная отношению энергии, дифрагируемой решеткой при длине волны X в данном порядке к световому потоку, отражаемому зеркалом при тех же рабочих условиях (или полному потоку, отраженному решеткой). Абсолютная эффективность всегда меньше эффективности на множитель, характеризующий отражательную способность зеркала. Эффективность решетки существенно зависит от поляризации излучения, длины волны и угла падения. [c.253]

Вогнутые отражательные дифракционные решетки обладают свойствами как дифрагирующего, так и фокусирующего элемента. Их применя10т в вакуумной ультрафиолетовой области спектра, чтобы свести до минимума число отражательных поверхностей. Вогнутая решетка заменяет собой коллимирующий и фокусирующий объективы и плоскую решетку. Классическую вогнутую решетку получают, нанося на зеркальную вогнутую поверхность штрихи, образуемые пересечением этой поверхности равноотстоящими параллельными плоскостями. Главный недостаток таких решеток связан с астигматизмом. [c.258]

При построении светосильных рентгеновских спектрометров, в которых используются дифракционные решетки в сочетании с зеркальными объективами скользящего падения типа Вольтера, значительными преимуществами перед классической роуландовской схемой обладают схемы установки решетки в сходящемся пучке непосредственно после объектива. Такие схемы реализуются, например, в телескопах-спектрометрах для исследования спектров астрофизических источников как с пропускающими [6, 89, 90, 1011, так и с отражательными решетками [51]. [c.275]

Наиболее интересным в плане получения самых разнообразных дифракционных характеристик, но и в то же время наиболее трудным для анализа является резонансный случай, в котором длина волны возбуждения соизмерима с периодом решеток. До широкого внедрения в практику расчетов средств электронно-вычислительной техники исследования в резонансной области обычно замыкались на анализе некоторых частных или предельных ситуаций [30—41]. Вынужденные довольствоваться малым, авторы указанных и других работ заложили прочный фундамент, на котором строится современное здание теории дифракции волн на периодических решетках в резонансной области частот. Действительно, практически в каждом широко используемом сегодня методе построения математических моделей для численных экспериментов на ЭВМ явно просматривается влияние идей и результатов, полученных в 40—60-х годах. Прежде всего это касается метода частичных областей (методов переразложения, сшивания) (25, 42—46], методов теории потенциала (интегральных уравнений) 17, 47—521, модифицированного метода Винера — Хопфа — Фока [53— 56], модифицированного метода вычетов [54], метода полуобращения матричных уравнений типа свертки [25, 57, 58]. Подобная преемственность наблюдается и в желании глубже проникнуть в суть явлений и эффектов, обнаруживаемых при исследовании процессов дифракции волн на решетках различных типов и геометрий в резонансной области частот. Вслед за работами Л. Н. Дерюгина [59, 60], в которых впервые на одном частном примере теоретически проанализированы поверхностный и двойной резонансы в отражательной решетке, появились работы с результатами всестороннего аналитического и численного исследований явлений аномального рассеяния волн в области точек скольжения (на рэлеевских длинах волн) [25, 61—65], полного резонансного прохождения [25, 66, 67] и полного резонансного отражения [7, 25, 29, 53, 57, 64, 68—77] плоских волн в случае полупрозрачных решеток, полного незеркального отражения волн отражательными решетками [25, 78—88] и т. д. [c.7]

При разработке ОР для высокостабильных по частоте квантовых генераторов и создании современных спектральных приборов главным образом используются отражательные дифракционные решетки — эшелетты, работающие в автоколлимационном режиме. Добротность подобного резонатора будет тем больше, чем больше коэффициент отражения поля от эше-летта на автоколлимируюш,ей гармонике. Поскольку решетки часто применяются на длинах волн, сравнимых с периодом структуры, коэффициент отражения зависит от поляризации падаюш,его излучения. В настояш,ем параграфе приводятся результаты исследования спектрального распределения интенсивности поляризованного излучения при дифракции плоских волн на идеально проводящем эшелетте с углом при вершине зубцов 90°. Энергетические характеристики эшелеттов рассчитаны на основе математически строго обоснованного решения данной задачи [25, 58]. Наличие высокоэффективного численного алгоритма позволило поставить и решить задачу детального изучения зависимостей энергетических величин первых четырех автоколлимирующих гармоник от длины волны и угла наклона граней зубцов эшелетта [24, 82, 83, 28П. [c.182]

При распространении электромагнитного излучения в периодических средах возникает много интересных и потенциально полезных явлений. К ним относятся дифракция рентгеновского излучения в кристаллах, дифракция света на периодических изменениях механических напряжений, возникающих при прохождении звуковой волны, и запрещенная зона для света в слоистых периодических средах. Эти явления используются во многих оптических устройствах, таких, как дифракционные решетки, голограммы, лазеры на свободных электронах, лазеры с распределенной обратной связью, лазеры с распределенным брэгговским отражением, брэгговские отражатели с высокой отражательной способностью, акустооптические фильтры, светофильтры Шольца и т. д. В данной главе мы рассмотрим некоторые общие свойства электромагнитного излучения в периодических средах и общую теорию его распространения в слоистой периодической среде. Эта теория имеет весьма близкую формальную аналогию с квантовой теорией электронов в кристаллах и поэтому позволяет использовать понятия блоховских волн, запрещенных зон, затухающих и поверхностных волн. Наконец, мы обсудим применение этой теории для решения ряда хорошо известных задач, таких, как расчет коэффициента отражения от брэгговского зеркала, коэффициентов пропускания фильтра Шольца и оптических поверхностных волн. Кроме того, мы обсудим двойное лучепреломление за счет формы и его применение в дихроичных поляризаторах. Периодические структуры играют также важную роль в интегральной оптике, рассмотрение которой мы отложим до гл. 11. [c.169]

Используя такой подход, Когельник рассмотрел наиболее характерные случаи записи. В частности, он показал, что дифракционная эффективность фазовой отражательной решетки при некоторой достаточно большой толщине стремится к 100%. Дифракционная эффективность такой же амплитудной решетки не превышает 7,2%. [c.705]

Голограммы бьшают пропускающими (схема Лейта — Упатниекса [26]) и отражательными (схема Денисюка [28]) ) с весьма различными спектральными и угловыми селективностями, дифракционными эффективностями и их зависимостями от толщины. Все это, как мы увидим ниже, существенно сказывается не только на характеристиках генерации на динамических решетках обоих типов, но и на возможности ее осуществления в различных схемах резонаторов. Различают фазовые и амплитудные решетки, в которых пространственно модулированы соответственно действительная и мнимая части комплексного показателя преломления регистрирующей среды. Предельная дифракционная эффективность фазовых голограмм составляет 100%, а амплитудных - десятки процентов. Поэтому в лазерах на динамических решетках используются только фазовые динамические решетки, что и будет подразумеваться в дальнейшем изложении. Различают также тонкие (двумерные) и объемные (трехмерные) голограммы. При считывании тонких голограмм возникают несколько дифракционных порядков, что снижает дифракционную эффективность. В объемных голограммах дафракция происходит по закону Брэгга. При этом остается только один дифракционный пучок (—1)-го порядка, представляющий собой восстановленный сигнальный пучок. [c.19]

С отражательных дифракционных решеток [41—43] с такими приборами можно работать в диапазоне длин волн от 0,120 до 40 мк. В противоположность призменным приборам ди пep иv дифракционного монохроматора не зависит от Я. Самые важные параметры дифракционных приборов — разрешающая способность, дисперсия, область дисперсии, угол блеска и эффективность решетки. Теоретически разрешаюш.ая сила дифракционной решетки определяется выражением [c.338]

G точки зрения повышения дисперсии прибора выгодно работать в высшем порядке спектра. Так как интенсивность спектральных линий быстро падает с увеличением порядка спектра, то обычно не пользуются порядком выше четвертого. Исключение представляют ступенчатые отражательные решетки Эшелле, у которых А доходит до 100 для инфракрасной области спектра. Поэтому, чтобы иметь прибор с хорошей дисперсией и разрешающей способностью в спектрах низкого порядка, применяют дифракционную решетку с малым значением ее постоянной d и с достаточно общим числом штрихов. Решетки отличаются друг от друга частотой штрихов, размерами нарезанной площади, формой поверхности и другими характеристиками. В табл. 6 даны приближенная классификация решеток и спектральная область их применения. [c.44]

Существуют отражательные и прозрачные дифракционные решеткп — на первых штрихи нанесены на зеркальную (металлическую), на вторых — иа прозрачную поверхпость. У отражательных решеток результирующая интерференциоипая картина образуется в отраженном от решетки свете, а у прозрачных решеток — в проходящем свете. [c.203]

Еслп штрихи решетки нанесепы па плоскую поверхность, то такие решеткп называются плоскими если на вогнутую сферическую поверхность — вогнутыми. Последние обладают фокусирующим действием. В современных спектральных приборах используются как плоские, так и вогнутые дифракционные решетки, и г.лавпьш образом отражательные. [c.203]

Общая теория дифракционной решетки. Пусть на отражательную одномерную перподпческую решетку с периодом (1 падает световая волна. В соответствии с принципом Гюйгенса — Френеля [1.2] каждую точку поверхности решетки можно рассматривать как центр вторичных сферических волп. Результирующее световое колебаппе в любой точке пространства вне решетки мы найдем суммированием вторичных волп. приходящих в данную точку пространства от всех точек дифракционной решетки, с учетом их фаз п амплитуд. В да.льнейшем будем рассматривать решетку конечных размеров, а результирующее поле искать в удаленной от нее точке, что соответствует дифракции Фраунгофера [1.2]. Кроме того, будем считать, что и источник света также находится в достаточно удаленной точке н от него на решетку падает плоская волна. Эти условия соответствуют использованию плоской дифракционной решетки в снектральтнлх приборах с входным п выходным коллиматорами. [c.203]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...