Эшелон Майкельсона

II. СТУПЕНЧАТЫЕ РЕШЕТКИ (ЭШЕЛОН МАЙКЕЛЬСОНА И МАЙКЕЛЬСОНА-ВИЛЬЯМСА) [c.152]

Подставляя /г 1 см, и 1,5 и - = 5000 А, получим т = 10 . Забегая вперед, отметим достоинства эшелона Майкельсона. При ознакомлении со спектральными характеристиками оптических приборов Г гл. Vn мы увидим, что разрешающая сила дифракционной решетки равна [c.153]

Эшелон Майкельсона — Вильямса. [c.153]

Эшелон Майкельсона 152, 153 --Вильямса 153 [c.429]

Важной разновидностью фазовой решетки является ступенчатый эшелон Майкельсона, представляющий собой решетку со сравнительно небольшим числом отдельных щелей (число интерферирующих пучков не превосходит 30). Так как при этом разность [c.209]

Рис. 9.24. Схема эшелона Майкельсона.

Рис. 9.25. Ход лучей в эшелоне Майкельсона.

Различие обусловливается тем, что в дифракционных решетках (включая и эшелон Майкельсона) суммируются N пучков равной интенсивности, тогда как в интерференционных спектроскопах суммируется бесконечное число постепенно ослабевающих пучков. [c.214]

Формула (50.4) показывает, что разрешающая способность спектрального аппарата равна произведению порядка спектра т на число световых пучков, интерферирующих в приборе. Число это для дифракционной решетки равно числу штрихов для пластинки Люм-мера—Герке или Фабри—Перо можно условно считать число N равным числу отраженных световых пучков значительной интенсивности (число эффективных лучей), которое тем больше, чем больше коэффициент отражения Я (см. 30). Для интерферометра Майкельсона Л/ = 2 для эшелона Майкельсона N равно числу пластин и т. д. [c.216]

Вычислить угловую дисперсию эталона Фабри — Перо, пластинки Люммера — Герке, эшелона Майкельсона, выразив ее через длину волны, толщину пластинки, показатель преломления материала пластинки. Зависит ли дисперсия эталона Фабри — Перо от расстояния между пластинками [c.880]

В эшелоне Майкельсона 20 плоскопараллельных пластинок толщиной 1 мм (показатель преломления п — 1,5). Высота ступенек 0,5 см. Найти угловую ширину дифракционных максимумов и порток интерференции. Длина волны X = 0,55 мкм. [c.234]

Для решения задач, связанных с изучением спектров, требуется применение спектральных приборов с высоким пределом разрешения. К числу таких приборов относятся большие дифракционные решетки, эшелон Майкельсона, интерферометр Фабри — Перо и др. [c.46]

Ступенчатая решетка (эшелон Майкельсона) [c.47]

Ступенчатая решетка действует по принципу дифракционной решетки. Разность хода между соседними пучками, падающими нормально к поверхности интерферометра (фиг. 12), равна А — п—i)d, где п — показатель преломления пластинки толщиной й. При (1=1 см, га = 15 и Я, = 5 X X 10 см из формулы Д = п—1) й == Л"Я, определяющей положение главных максимумов, получим к = 10000. Эшелон Майкельсона дает спектры весьма высокого порядка [c.47]

В отражательном эшелоне Майкельсона, применяемом в широкой спектральной области, предел разрешения [c.48]

С помощью пластинки Люммера—Герке и эшелона Майкельсона исследуются лишь очень узкие участки спектра, предварительно выделенные из общего спектра спектрографом. [c.49]

Рис. 3.5. Эшелон Майкельсона (а), эшелон Майкельсона — Вильямса (6).

Рис. 162. Дифракция на прозрачном эшелоне Майкельсона

Рис. 166. Распределение интенсивности в дифракционной картине, даваемой эшелоном Майкельсона.

Эшелон Майкельсона (50 ступеней толщиной ( = 1 см, д = 1,5)...... 50 10 1 0,01 5 105 0. [c.13]

ЭШЕЛОН МАЙКЕЛЬСОНА — см. Майкельсона эшелон. [c.539]

Подставляя п = 1,5, /i = 1 см, /V = 30, X = 5000 А, получим для разреи]ающей силы эшелона Майкельсона с общей толщиной 30 см (А = 3-10 ) то же, что и для отражающей фазовой решетки с профилированным штрихом общей длиной 15 см. Исходя из этого и учитывая большие затруднения, связанные с изготовлением большого числа пластин одинаковой толщины (с точностью до 0,11), можно сделать заключение о непрактичности использования эшелона Майкельсона. [c.153]

На практике обычно пользуются отражательными эшелонами, предложенными в 1933 г. Вильямсом (рнс. 6.33) и называемыми обыч1ю эшелонами Майкельсона — Вильямса. Эшелон Майкельсона — Вильямса состоит из ряда пластин из плавленого кварца. Специальная обработка пластин позволяет добиться оптического контакта. В результате все устройство как бы вырезано из одного куска плавленого кварца. Спектральные характеристики, в том числе и разрешающая способность эшелона Майкельсона — Вильямса, выше разрешающей способности эи1елоиа Майкельсона. Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В принципе эшелон Майкельсона — В1 пзямса можно было бы использовать также в ультрафиолетовой области. Однако это связано с очень высокой, практически неосуществимой точностью изготовления. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль [c.153]

В настоящей главе рассмотрено действие некоторых спектральных аппаратов (дифракционная решетка, эшелон Майкельсона), позволяющих определять с очень большой точностью длины волн или разницу в длинах волн двух близких спектральных линий. Аналогичную задачу можно решить и при помощи интерференционных спе.ктроскопов (пластинка Лю.ммера—Герке, интерферометр Майкельсона, интерферометр или эталон Фабри—Перо), описанных в гл. VII. [c.211]

В приборе Белопольского (рис. 21.5) зеркала представляют собой радиальные лопасти двух колес (подобных пароходным), приводимых во вращение моторами. Окончательная скорость т была около 500 м/с (в опытах Белопольского 0,67 км/с у Голицына от 0,25 до 0,35 км/с). Спектральным прибором для наблюдения смещения служил у Белопольского трехпризменный спектрограф, у Голицына — эшелон Майкельсона. Расхождение опытных данных с теорией составляло 5%, что следует признать чрезвычайно хорошим результатом для таких трудных опытов. [c.439]

Эшелле по своим параметрам оказываются промежуточными между эше.зеттами (т =- 1—2, с/ > /.) и эшелоном Майкельсона [c.248]

Эшеллета, эшелле, эшелон Майкельсона — Вильямса. Названия эшеллета и эшелле были даны, чтобы показать, что такие решетки являются разновидностью ступенчатой решетки, или эшелона Майкельсона, который состоит, как известно, из ряда [c.135]

Следует подчеркнуть, что профилированная решетка, эшелле и эшелон — приборы, основанные на одном и том же принципе. В случае решетки число штрихов NxlO —10 , порядок спектра k l—10 для эшелле N 10 —10" и 10—100, для эшелона Л/ 10—50 и k-xW—10 . Эшелле и эшелон позволяют получить большую разрешающую способность при относительно малых габаритах прибора. Решетка же дает большую область спектра, свободную от наложений. Пока эшелон Майкельсона — Вильямса применялся в очень ограниченном числе работ. [c.136]

При рассмотрении общей теории пластинки Люмдгера —Герке также следует принимать во внимание дифракционные явления, которые происходят на входном отверстии пластинки. Общая формула, описывающая распределение интенсивности в картине, нри учете дифракции будет пметь вид, аналогичный соответствующей формуле для эшелона Майкельсона, а именно [c.216]

СДВИГОВ уровней энергии атомов, изучение вакуумных эффектов, исследование тонкой структуры линий рэлеевского рассеяния и др. К спектроскопам высокой разрешающей силы относятся ступенчатая решетка (эшелон Майкельсона) отражательный эшелон, пластина с боковым входом луча (пластина Люммера—Герке) интерферометр (пластина) Фабри —Перо и сложный интерферометр-мультиплекс (на основе последнего прибора). [c.448]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...