Постоянная решетки

В кристаллах с занятыми междоузлиями следует ожидать более высоких, а в кристаллах с вакансиями — более низких средних значений постоянной решетки, чем в кристаллах с идеально заполненной решеткой, [c.38]

Теория твердого тела не позволяет вычислить заранее величину, а часто даже знак термо-э.д.с. и эффектов Пельтье и Томсона, однако она объясняет большинство свойств термопар. Например, зависимость термо-э.д.с. от давления вытекает из зависимости между уровнем Ферми и постоянной решетки. По той же причине изменения в структуре решетки в результате появления вакансий, а также дальнего или ближнего порядка приведут к изменениям термо-э.д.с. Точно так же введение примесей и механических напряжений окажет влияние на термопару, поскольку термо-э.д.с. очень чувствительна к изменениям в рассеянии электронов. [c.273]

Дислокации представляют собой дефекты кристаллического строения, вызывающие нарушения правильного расположения атомов на расстояниях, значительно больших, чем постоянная решетки. Они возникают случайно при росте кристалла и термодинамически неравновесны. Причинами образования дислокаций могут быть также конденсация вакансий, скопление примесей, действие высоких напряжений. Процесс преобразования скоплений точечных дефектов в линейные идет с уменьшением свободной энергии кристалла. [c.470]

Система параллельных щелей равной ширины, разделенных одинаковыми непрозрачными промежутками, называется дифракционной решеткой. Сумму ширины прозрачной [Ь] и непрозрачной а) полос принято называть постоянной решетки (d) [c.144]

Положим, что штрихи нанесены в плоскости ху перпендикулярно осям X и у. Постоянные решетки в соответствующих направлениях обозначим через d] и d . Направим на такую решетку параллельный пучок монохроматического света длиной к. Ось г направим перпендикулярно плоскости двухмерной решетки. Углы между падающими и дифрагированными лучами и осями х, у, г обозначим соответственно [c.155]

Дифракция от двухмерной решетки позволяет определить не только взаимное расположение частиц (постоянных решетки di и d ), составляющих решетку на плоской поверхности, но также вести суждения о размерах самих частиц и о взаимном расположении решеток с постоянными di и [c.156]

В этом опыте проявляется также следующая характерная зависимость чем меньше d (постоянная решетки), тем больше угловое расстояние между главными максимумами. Способность дифракционной решетки развести излучение двух определенных длин волн на некоторый угол также служит ее важной характеристикой (дисперсией), которую тоже следует ввести при количественном описании (см. 6.6). [c.295]

Легко получить в явном виде зависимость разрешающей ( илы от длины рабочей области дифракционной решетки L, исключив параметр т из уравнения (6.86). Поскольку I Nd, где d — постоянная решетки, то, используя условие возникновения максимумов (6.50), имеем [c.321]

Г - длина трещины "по прямой" в постоянных решетки у - поверхностная энергия. [c.128]

Если в кристалле имеется одновременно много дислокаций, находящихся на относительно малых (хотя, конечно, и больших по сравнению с постоянной решетки) расстояниях, то становится целесообразным их усредненное рассмотрение. Другими словами, рассматриваются физически бесконечно малые элементы объема кристалла, через которые проходит достаточно много дислокационных линий. [c.164]

Размер а области взаимного влияния оказывается сравнительно небольшим и составляет обычно величину порядка постоянной решетки кристалла а 10 —10 см). Длина волны X в оптической [c.522]

Сложность наблюдения анизотропии кубических кристаллов обусловлена чрезвычайной малостью эффекта. Согласно приведенным выше оценкам, анизотропия в этом случае определяется квадратом отношения постоянной решетки к длине волны и по порядку величины равна 10 —10 . Поэтому обсуждаемый эффект был обнаружен лишь в 1960 г., о чем говорилось в начале параграфа, хотя Лорентц обратил внимание на возможность его существования еще в 1878 г. [c.524]

При падении мягких улучей на кристалл с постоянной решетки d, сравнимой с длиной волны % % d), рассеянное излучение становится когерентным, в результате чего наблюдается интерференционная картина. Направление рассеянного излуче- [c.245]

Но именно такого порядка величину имеют расстояния между плоскостями в кристаллах. Так, постоянная решетки d кристалла [c.341]

LiF равна 2,32 А. Поэтому можно ожидать, что при падении медленных нейтронов под малым углем 0 на плоскость кристалла будет наблюдаться отражение монохроматических нейтронов под углом, равным углу падения. Связь между углом 0, длиной волны отраженных нейтронов к и постоянной решетки d дается известной формулой Брегга — Вульфа (см. 23, п. 2) [c.341]

Это значение в 2 /я раз меньше, чем проигрыш в энергии при скачкообразном (как на рис. 10.22,а) перевороте спинов. Толщина стенки Блоха увеличивалась бы беспредельно, если бы не магнитная анизотропия, препятствующая этому. Спины в доменной границе ориентированы в подавляющем большинстве не вдоль осей легкого намагничения. Поэтому доля энергии анизотропии, связанная со стенкой Блоха, увеличивается примерно пропорционально ее толщине. Баланс между обменной энергией и энергией анизотропии определяет толщину доменной стенки. В железе эта толщина составляет примерно 300 постоянных решетки, [c.349]

Постоянная решетки определяется путем дифракции рентгеновских лучей на кристалле с высокой точностью — относительная погрешность измерений 0,310 . Измерение плотности проводится с точностью 0,710 . Молярная масса М определяется масс-спектрометрическим путем. Об окончательной погрешности определения постоянной Авогадро Na можно судить по данным табл. 1 [c.71]

Сравнительное постоянство характеристической температуры в натрия (см. фиг. 26), вычисленной по формуле Блоха, можно на основании этой теории интерпретировать как свидетельство того, что среднее эффективное экранирование в этом металле является полным, и поэтому его свойства соответствуют модели свободных электронов. Падение в примерно на 50% в случае других металлов при низких температурах означает, что для них Ф 0,50, т. е. что радиус экранирования Ь сравним с постоянной решетки, которая приблизительно равна диаметру иона. Расчеты Мотта, проведенные на основе модели Томаса — Ферми, в предположении, что на каждый атом металла приходится один свободный электрон, приводят к соотношению [c.197]

При уменьшении длины волны до величины порядка постоянной решетки скорость распространения волн уменьшается, достигая нулевой величины при Х = а, т. е. волны такой (и меньшей) длины не могут распространяться в кристаллической решетке. [c.30]

Индексы Миллера и кристаллографические направления. Положение и ориентация плоскости кристалла определяются заданием координат трех атомов, лежащих в этой плоскости. Если каждый из трех атомов находится на одной из трех кристаллографических координатных осей, то положение данной плоскости может быть задано соответствующими координатами атомов по осям в единицах постоянной решетки. Так, если атомы, определяющие плоскость, имеют координаты (4, О, 0), (0, 1, 0), (0, о, 2) в какой-то системе кристаллографических координатных осей, то указанная плоскость может быть охарактеризована тремя числами 4, 1 и 2. [c.54]

Сравнение (6.26) с (6.27а) показывает, что угол дифракции (6 — фт) при наклонном падении вычисляется так же, как при нормальном падении света, но с уменьшенным значением d = d os б) периода решетки. Следовательрю, при довольно большом наклоне (б як 90°) луча кажущ,аяся постоянная решетки (d os б) становится весьма малой и на решетке (d > i) при таком освеш,ении можно будет наблюдать четкую дифракционную картину. [c.149]

Из-за известного свойства синусоидалыюй решетки кроме нулевого гюрядка максимума возникнут волны только j-1-го и —1-го порядков (рис. 8.7). Ввиду того что нитрины зон (играющие роль постоянной решетки) в зонной пластинке с удалением от центра регулярно уменьшаются, углы дифракции +1-го и —1-го порядков регулярно будут увеличиваться. В соответствии с этим волна -f-l-ro порядка является расходящейся и образует мнимое изображение точки М на том же расстоянии, на котором она находилась (дока- [c.212]

Картина, описанная в предыдущем параграфе, соответствует дифракции на пространственной решетке, рассмотренной в гл. X. Характерная особенность ее заключается в том, что при данном периоде решетки при заданном направлении первичного пучка наблюдаются максимумы лишь определенных длин волн. Поэтому если на наш кристалл падает белый рентгеновский свет, т. е. рентгеновский импульс, эквивалентный совокупности волн самых разных длин, то кристалл выделит лишь некоторые определенные длины волн (монохроматизирует их). Наоборот, если падающий рентгеновский импульс близок к монохроматическому, то при неподходящем соотношении угла падения, длины волны и постоянной решетки мы не сможем наблюдать максимумов, а обнаружим лишь равномерное рассеяние. [c.409]

Угол рассеяния 6 задавался поворотом рентгеновской трубки вокруг вертикальной оси. Для определения длины волны рассеянного излучения использовался кристалл кальцита СаСОз с постоянной решетки d = 3 10 см. Длина волны вычислялась с помощью формулы Вульфа — Брэгга (23.10) по величине угла ф, соответствующего максимуму тока в ионизационной камере. [c.246]

Здесь flo=0,53-10 м — радиус первой боровской орбиты атома водорода. Для донорной примеси в германии получаем ai=64flo== si=34-10 м. Если учесть, что постоянная решетки германия равна [c.238]

Учитывая эти соображения, можно вычислить вероятность рассеяния фоионов, если сделать некоторые унроп(ающие предположения. Так, Клеменс [21] заменяет все отношения тригонометрических функций в с (к, к ) их средним квадратичным значением (ибо в конечном результате требуется лишь с ) и считает к малглм по сравнению с 1/д (а — постоянная решетки). [c.236]

Кеезом и Пирлман (неопубликованные данные) провели измерения молярной теплоемкости антимонида индия в интервалах температур от 1 до 20° К, причем величина Н,, оказалась равной 200° К. Это вещество также имеет решетку типа алмаза, постоянная которой почти совпадает с постоянной решетки серого олова (6,45 и 6,46 А соответственно) кроме того, массы атомов индия, сурьмы и олова довольно близки. Если предположить, что величина о для серого олова также равна 200° К, то зависимости 9/в(, от Т/во для [c.348]

Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов. Кеезом н Ка] терлинг-Оннес [91] наблюдали дифракцию рентгеновских лучей на свинце выше и ниже температуры перехода и обнаружили, что дифракционная картина не меняется. Отсюда следует, что изменения постоянных решетки при переходе из нормального состояния в сверхпроводящее чрезвычайно малы. [c.671]

Рассмотрим сначала гипотетический пример простой кубической структуры кристалла. Элементарная ячейка представляет собой куб, ребро этого куба обозначим через и (так называемая постоянная решетки). Для простой кубической структуры будем иметь с1 = а, где с1 — диаметр атома, поскольку длина ребра куба равна расстоянию между ближайшими соседними атомами. Предполагается (в конце параграфа будут даны уточняющие формулировки), что атомы представляют собой твердые сферы, которые соприкаса- [c.17]

На рис. 30 [2] показано чередование разрешенных энергетических зон и щелей для периодического потенциала. Энергия электрона дана как функция волнового вектора в схеме расширенных и приведенных зон Бриллюэна для одномерного кристалла с постоянной решетки а. Нелокализо- [c.78]

Для описания экситона существуют два предельных приближения. Согласно модели Френкеля электрон и дырка в каждый момент времени принадлежат одному и тому же атому в кристалле (сильно связанная система). Согласно модели Мотта и Ванье эвситон раосматривается как слабо свят занная система, причем расстояние между электроном и дыркой считается очень большим по сравнению с постоянной решетки. [c.160]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...