Анализ структуры изображения

Для операций проектирования оптических систем характерно большое процентное соотношение арифметических вычислений в общем бюджете затрат и их значительная трудоемкость. Поэтому при оценке быстродействия ЭВМ следует исходить из типичной для научных задач смеси арифметических операций [14]. Ввиду большой трудоемкости таких операций проектирования, как анализ структуры изображения и оптимизация, требующих до 10 арифметических действий, минимально приемлемым для этих целей является быстродействие порядка 50 тыс. операций в секунду. Среднее время на анализ структуры изображения при этом составляет для одного варианта оптической системы от 20 [c.12]

Для выполнения операций на высших уровнях анализа и оптимизации существенным также является объем оперативной памяти, так как эти операции сопряжены с необходимостью вычислять и хранить матрицы большой размерности. Например, для анализа структуры изображения методом быстрого преобразования Фурье, рассмотренным в гл. 4, требуется хранить в памяти и преобразовывать матрицы, состоящие как минимум из 64 X X 64 === 4096 действительных или комплексных чисел. В задачах оптимизации используются матрицы размерностью т X п (где т — количество оптимизируемых характеристик, п — количество параметров оптимизации) и поэтому при вполне реальных значениях т =- 200 и п = 50 получаем 10 ООО чисел. Кроме того, в памяти должны храниться и сами программы. Естественно, что для выполнения указанных операций, необходимых при проектировании, минимальный объем оперативной памяти составляет 32 тыс. чисел, а при обслуживании нескольких конструкторов — не менее 250 тыс. чисел. [c.13]

АНАЛИЗ СТРУКТУРЫ ИЗОБРАЖЕНИЯ [c.144]

Более рациональные и экономичные методы основаны на аппарате аппроксимации, описанном в 18 гл. 3. Исходной информацией при этом являются коэффициенты аппроксимации, полученные либо по результатам расчета лучей, либо по экспериментальным данным, либо синтезированные искусственно. Применение этого способа позволяет сделать программы анализа структуры изображения независимыми от программ расчета лучей, но требует умения вычислять по коэффициентам аппроксимации значений волновых и поперечных аберраций в любой точке зрачка. [c.149]

Основная проблема при анализе структуры изображения состоит в вычислении определенных интегралов от двумерных комплексных функций общего вида (4.11), где в качестве ф (х) может выступать, например, волновая аберрация при вычислении дифракционной ФРТ по формулам (4.2) и (4.3), разностная волновая аберрация при вычислении ОПФ по формуле (4.7) и т. д. Для определения полихроматических ФРТ и ОПФ в соответствии с выражениями (4.5) и (4.9) необходимо вычислять определенные интегралы от одномерных функций. [c.156]

В реальных оптических системах, когда функция аберраций достаточно сложна, эти интегралы не могут быть найдены аналитически и определяются численными методами, составляющими основу анализа структуры изображения. [c.156]

АНАЛИЗ СТРУКТУРЫ ИЗОБРАЖЕНИЯ В ГЕОМЕТРИЧЕСКОМ ПРИБЛИЖЕНИИ [c.178]

Если точечная структура ориентирована в основном на возможности ЭВМ, то линейная структура изображения отвечает прежде всего ручной технологии построения модели. Геометрический анализ формы в графическом пространственном эскизировании может быть осуществлен только с помощью определенных линейных построений. Плоскость, поверхность, как воспринимаемые элементы композиции, возникают на пространственно-графической модели также при помощи линий. [c.46]

В конкретных условиях процесса обучения инженерной графике полнота и динамичность пространственного образа будут определяться как характером наглядной основы, так и особенностью задачи, в которой требуется использование этого образа. В процессе решения графических задач формирование образа возникает не на одной наглядной основе, а в результате анализа нескольких изображений, использующих различные уровни обобщения и абстракции. В отдельных случаях могут применяться наглядные изображения внешнего вида, объемно-пространственной структуры, принципиальные схемы функционирования различных элементов, кинематические схемы и т. д. [c.81]

Композиционно-графический анализ пространственной структуры изображения [c.141]

Обычно построение задачи такого типа производится на изображении, только что выполненном студентом. Оно позволяет осуществить дополнительный анализ структуры уже созданного пространства. Ошибки вносятся студентом в этом случае сознательно, так как целью работы является се- [c.143]

Анализ структуры тесно связан с чувством полноты изображения и возможностью определения инциденций, характеризующих взаимную связь элементов формы. На рис. 3.5.54 приведено упражнение на вариацию структуры взаимосвязи трех ортогонально ориентированных элементов формы. Это упражнение позволяет не только осознать основные идеи условных изображений, но и глубоко прочувствовать их характерные особенности. [c.148]

Следующую большую группу задач, полезную для развития инверсионного мышления студентов, составляют задания, связанные с абсурдными изображениями. Структура действий анализа таких изображений подробно рассмотрена в главе 3, здесь же остановимся только на вопросе создания проблемной ситуации. [c.177]

После того как истина кажется установленной, преподаватель выдвигает неожиданное утверждение о возможности построения реальной конструкции, соответствующей приведенному абсурдному изображению и предлагает осуществить структурно-геометрический анализ последнего. С помощью различных наводящих вопросов осуществляется постановка проблемной ситуации. Студент пытается исправить заданное изображение, но это ему не удается, так как трансформации подвергается какая-то одна часть, а не целостная структура изображения. [c.177]

Развитие электроники и средств автоматизации привело к созданию телевизионных анализаторов изображения, применение которых в металлографии позволяет значительно ускорить количественный анализ структуры металлов и сплавов. Однако использование телевизионных анализаторов до последнего времени ограничивалось исследованием количества и распределения структурных составляющих в металлах и сплавах [1]. [c.90]

В последние годы заметен значительный прогресс в анализе структуры различных тонкопленочных систем и покрытий с помощью метода ПЭМ ВР. Этот прогресс связан с разработкой не только новых микроскопов, таких, например, как микроскопы с автоэлектронной эмиссионной пушкой, но и новых методов приготовления тонких фольг и компьютерного моделирования изображений высокого разрешения. Возможности метода значительно расширяются с использованием анали- [c.503]

Книга известного американского физика О Нейла, основанная на курсе лекций автора для студентов-физиков и аспирантов Бостонского университета (США), посвящена новому направлению в оптике — анализу оптической системы с точки зрения теории связи как фильтра пространственных частот. Теория формирования изображения, в частности теория аберраций и дифракции, излагается на основе методов преобразования Фурье. Проблема структуры изображения и оценки его качества рассматривается с применением теории информации. На основе матричной теории анализируются свойства когерентного и частично когерентного излучения, а также вопросы частичной поляризации. Книга написана так, что она будет понятна и аспиранту-физику, и радиоинженеру. По содержанию она рассчитана на физиков и инженеров-конструкторов, занимающихся разработкой оптических и оптико-электронных систем, применяемых в фотографии, телевизионной технике, военном деле, приборостроении и т. д. Она может быть полезной для студентов старших курсов университетов и оптико-механических факультетов втузов, специализирующихся в вопросах вычислительной и физической оптики, а также для аспирантов и научных работников. [c.4]

В качестве другого примера, иллюстрирующего метод анализа оптических систем как фильтров пространственных частот, мы рассмотрим теперь проблему формирования оптического изображения с весьма элементарных позиций. Посмотрим, что произойдет с идеальным оптическим изображением (фиг. 2.9), если переместить его из фокальной плоскости. При этом вследствие идеализации явления мы пренебрегаем влиянием дифракции и аберрациями. В дальнейшем мы исследуем их влияние на структуру изображения, но пока что будем иметь дело с идеализированной картиной, чтобы было легче проиллюстрировать нашу точку зрения. [c.49]

Под математическими методами анализа структуры в инженерной геологии нередко понимают любые приемы, позволяющие получить структурные характеристики в количественном виде. Это чрезвычайно узкое понимание математических методов далеко не полностью отражает их содержание. Всякое математическое описание включает как количественные, так и качественные стороны. Получению числа в структурных исследованиях грунта предшествует ряд операций (выбор объекта исследований, выделение его части для проведения непосредственных измерений, выявление отдельных структурных форм и дефектов, увеличение изображения, опробование, расчет обобщенных характеристик и т. д.), в процессе которых вольно или невольно производятся определенные преобразования и схематизация исходной структуры. Практика показывает, что именно в ходе этих преобразований, связанных с необходимостью схематизации и упрощения природной картины, в исходную струк- [c.105]

Наблюдалось, что сетки в основном образованы неровными геликоидальными дислокациями, приблизительно параллельными плоскости 100 . Они вытянуты в направлениях <100> и <210> и только иногда в направлении <110> [29, 30]. Такие непрерывные удлиненные дислокационные структуры, обозначенные на рис. 8.3.3 буквами Л и S, обычно называются диполями. Кроме диполей, образованных геликоидальными дислокациями, к сетке присоединены петли дислокаций, которые представляют из себя дислокационные структуры, в которых дислокация замыкается сама на себя, так что в результате она окружает область с лишней парой плоскостей атомов III группы и атомов V группы (внешняя петля, или петля типа внедрения) или область, в которой отсутствует пара атомных плоскостей (внутренняя петля, или петля вакансионного типа). Так как вдали от непосредственной окрестности дислокации кристалл является совершенным, методом ПЭМ можно обнаружить только границы петли, т. е. собственно дислокацию. Анализ контраста изображения, полученного методом ПЭМ, позволяет определить, является ли данная петля внешней или внутренней. [c.332]

Одним из простых, но нерациональных способов является непосредственный расчет луча через систему каждый раз, когда требуется получить значение аберраций. Можно сказать, что аберрации в этом способе представлены алгоритмом расчета луча, рассмотренным в гл. 3. Естественно, что при этом затрачивается большое количество излишних действий. Кроме того, программы расчета структуры изображения оказываются связанными с программами расчета луча. Невозможно, например, при помощи этих программ определить качество изображения по экспериментальным данным об аберрациях. Ввиду простоты этот способ можно рекомендовать для одноразовых задач анализа изображения в системах с небольшим количеством поверхностей, когда перечисленные отрицательные факторы не имеют решающего значе- [c.148]

Для анализа волноводно-диэлектрической структуры, изображенной на рис. 1.1, в соответствии с методом декомпозиции [40, 49] разобьем исследуемую область на элементарные подоб-10 [c.10]

Кинематическая схема механизма дает полное представление о структуре механизма и определяет его кинематические свойства. Она является графическим изображением механизма посредством условных обозначений звеньев и кинематических пар с указанием размеров, которые необходимы для кинематического анализа механизма. [c.15]

Процесс создания изображения должен сопровождаться его верификацией, т. е. анализом полноты и, при необходимости, метрической определенности структуры пространственно-графической модели. [c.46]

Геометрический анализ пространственно-графической модели сводится к рассмотрению ее точечной структуры. Так как в начертательной геометрии отдельные поверхности задаются своими каркасами, то основными элементами построения для композиции из таких поверхностей служат узловые точки-инциденции двух или нескольких каркасных элементов. Геометрический анализ структуры изображения сводится к анализу таких инциденций. Точечная структура изображения редко акцентируется при ручном создании пространственно-графической модели, но она лежит в основе математического моделирования на ЭВМ и поэтому имеет большое значение для перевода эскизного наброска в окончательную форму машинной модели разрабатываемой конструкции. В отличие от эскизирования в последнем случае ставится тр ование не только пространственного (позиционного), но метрического соответствия модели оригиналу. [c.30]

Расчет хода лучей, рассмотренный в предыдущих параграфах, позволяет получить значения волновых и поперечных аберраций в любой точке зрачка. Для анализа структуры изображения необходима, как было показано в гл. 2, полная внутренняя функциональная модель оптической системы, включающая в себя в качестве основной составляющей функцию (х, сг, р) волновой аберрации от координат на зрачке, предмете и спектральном интервале. В принципе можно каждый раз, когда понадобится значение волновой или поперечной абаррации в какой-либо точке зрачка, поля и спектрального интервала, рассчитывать необходимый луч и определять требуемые значения. Этот довольно простой путь нерационален, так как при анализе изображения, например, требуются значения аберраций в очень большом количестве точек зрачка (до нескольких десятков тысяч) и ясно, что расчет такого количества лучей займет значительное время. С другой стороны, очевидно, что аберрации изменяются достаточно плавно по зрачку, полю и спектральному интервалу, и для полного суждения об аберрациях обычно достаточно иметь их значения в небольшом количестве точек. В 8 было показано, что волновая аберрация может быть полностью описана при помощи коэффициентов разложения по удачно выбранному базису. Причем требуется сравнительно небольшое количество коэффициентов. [c.124]

Пример синтеза оптической системы с последующей оптимизацией и анализом структуры изображения. В качестве иллюстрации приведем некоторые этапы автоматизированного проектирования широкоугольного гидрообъектива при помощи САПР оптических систем в диалоговом режиме на ЭВМ ЕС-1040 с комплексом алфавитно-цифровых дисплеев ЕС-7906. Угловое поле в пространстве предметов (в воде) объектива равно 2со = 90°, апертура Л о = 0,14 (относительное отверстие 1 3,6). Сначала была синтезирована половинка объектива с помощью набора из поверхностей с заданными свойствами в следующей последовательности [c.253]

Пооперационная верификация графических действий, связанных с созданием графических пространстронных моделей, приводит к верности окончательного результата. Верификация законченной графической модели (см. например, рис. 1.3.5) предусматривает специальный геометрический анализ полноты изображения. Такой анализ может быть осуществлен в двух возможных вариантах. В первом варианте анализа ставится цель восстановить иерархическую структуру действий, определяющих инциденции изображейчя. Сама структура формы, ясность базового объема подсказывают часто такой технологический подход к анализу верности изображения (см. рис. 1.3.5, б). Возможен и второй путь, требующий дополнительных геометрических построений, не связанных с созданием пространственной модели формы на изображении. В данном случае определяются две основные плоскости изображения и с помощью специальных построений ищутся элементы первого порядка, определяющие все конструктивные элементы пространственно-графической модели. После выполнения такой процедуры анализ определенности всех инциденций и, как следствие, однозначности пространственных соотношений элементов не представляет особой трудности. [c.35]

Задания пра1Ктически-действенного типа построены на основе пространственного конструктора , который появился в результате тщательного анализа структуры подобных задач и таких объектов изображения, в которых можно было реализовать материализованный этап [12] формирования умственных действий. В содержании задания более ясно должны отображаться такие характеристики объекта формообразования, как пространственная структура, а также процесс его целесообразного преобразования. Обычные ма- [c.171]

Приборы телевизионной и когерентно-оптической структуроскопии. Во многих случаях информация о качестве объектов контроля может быть получена на основе анализа структуры их материала как поверхностной, так и объемной. Для этих целей создан ряд приборов, среди которых наибольшее распространение получили телевизионные анализаторы (ТВА) и когерентно-оптические процессоры (КОП). Действие ТВА основано на сканировании изображения изучаемых структур видеодатчиком (телевизионной камерой или устройством типа бегущий луч ) и последующей машинной обра- [c.114]

Выявление структуры стали методом магнитной суспензии [10]. Подготовленный обычным способом шлиф помещают в неоднородное магнитное поле, образуемое при помощи специального электромагнита, и покрывают его при наложенном поле магнитным коллоидом (суспензией). Частицы магнитного порошка, затягиваясь магнитным полем поверхности шлифа, образуют узор, характер которого обусловливается распределением магнитного потока в зависимости от ферромагнетизма структурных составляющих. Узор этот рассматривается под обычным металломикроско-пом при увеличении в 100, 200, 400 раз в зависимости от сложности структуры. Полученные изобрамтения структуры стали по окраске своей дают часто негативное изображение структуры, выявленной травлением. Метод позволяет производить быстрый анализ структуры стали, трудно поддающейся травлению. [c.178]

Более совершенная модель Квантимет 720 сконструирована по модульному принципу (т. е. может состоять из различных узлов-модулей, предназначенных для выполнения определенных задач) и обеспечивает гораздо более широкие возможности количественного анализа структуры. Этот прибор автоматически выбирает заданные структурные составляющие, оценивают их количество, классифицируют по размерам, форме, ориентации, оптической плотности и т. д. С по.мощью специального светового пера можно корректировать анализируемое изображение, исключая из него те или иные элементы (например, дефекты приготовления шлифа, отдельные включения и др.) или, наоборот, дорисовывая структуру (например, невыявленные при травлении границы зерен). [c.32]

Полученные результаты позволяют перейти непосредственно к синтезу алгоритмов распознавания и анализу их эффективности. Естественно, что для распознавания особое значение имеет информация, закодированная в пространственной структуре лазерного излучения, по которой можно судить о форме лоцируемой цели и о характеристиках ее поверхности, В повседневной практике подобная информация получается непосредственно из анализа оптических изображений. Однако в лазерной локации даже тогда, когда влияние турбулентной атмосферы оказывается незначительным, формируемое изображение настолько отличается от обычного (см. гл. 2), что воспользоваться известными алгоритмами оказывается возможным лишь при весьма существенном их усовершенствовании. В общем случае оптимальная обработка приводит к более сложным операциям нежели формирование изображения, что естественно усложняет вид той информации, которая поступает на вход алгоритмов распознавания. Отмеченные особенности предъявляемой для распознавания информации, обладающей к тому же ярко выраженным статистическим характером, приводят к необходимости при синтезе алгоритмов распознавания опираться на основные принципы теории статистических решений. [c.132]

Применение современных цифровых технологий позволяет су-ш ественно снизить трудоемкость металлографических исследований и повысить объективность количественных оценок. Регистрация изображения структуры в металлографических микроскопах при этом осушествляется с помощью цифровых фото- или видеокамер. Далее изображение вводится в компьютер, где обрабатывается с помощью специальной программы-анализатора. Существует ряД версий таких программ, как отечественных, так и зарубежных. В инженерном центре Архангельского государственного технического университета применяется отечественная программа-анализатор Grain Analyzer PRO 2.9, разработанная НИИИН МНПО Спектр . Программа позволяет решать основные стандартные металлографические задачи и, выполняя фазовый, морфологический и гранулометрический анализы структуры, получать соответствующие объективные количественные оценки с минимальными трудозатратами. [c.191]

Более совершенные системы анализа изображений, формируемых оптическими микроскопами, создаются с использованием электронных сканирующих систем. Примером такой системы может служить анализатор структуры изображения ТАСИ-2 (ИЭВТ АН Латв. ССР). Основным назначением прибора является автоматический анализ цитологических препаратов с целью их классификации на нормальные и патологические. Телевизионная камера, установленная вместо окулярного тубуса на микроскоп МБИ-6, преобразует световую информацию в электрический сигнал, который подается в устройство обработки. В нем производятся выбор уровня дискриминации (уровня ограничения) и измерение геометрических параметров площади и периметра —деталей изображения на выбранном уровне дискриминации. Перемещение предметного стекла с препаратом, поиск клеток и измерение осуществляются автоматически. Затем результаты измерений могут поступать на логическое устройство, в котором задается правило классификации. В выводных устройствах — цифропечатающая машинка и ленточный перфоратор — [c.264]

Несомненно, одна из важнейших функций фона — его способность стать именно фоном для объекта , т. е. отойти в отдаление, стушеваться, занять подобающее место в композиции, выгодно оттенить главный объект изображения. Частично мы уже занимались этим вопросом, когда говорили об акценте на сюжетном центре композиции. Но сейчас мы вынуждены еще раз вернуться к этой теме, потому что в изобразительной структуре кадра все прочно связано и строгое деление целого на отдельные элементы изобразительности невозможно, да и не нужно. Поэлементный анализ структуры фотокартины ведется лишь в целях методических, чтобы, выделив, несколько искусственно определенную проблему, можно было уделить ей должное внимание и всесторонне изучить ее. Но лишь для того, чтобы, получив необходимые знания, в дальнейшем, в творческом процессе синтезировать элементы и создать законченную фотографию в виде целостного произведения, в единстве всех ее частей. [c.99]

Итак, структурный анализ исследуемого шарнирного четьфехзвенника показал, что он обладает двумя степенями свободы. Однако эксперимент и предварительный логический анализ работы механизма, изображенного на рис. 2.80, дают основания утверждать зная закон движения только одного звена, например первого, получим однозначное перемещение выходного звена 5. Это означает, что данный механизм является одноподвижным или имеет одну степень свободы, т. е. налицо расхождение теории и практики. Однако это не так. Более тщательный анализ структуры механизма показьшает, что шатун 2 может вращаться вокруг своей оси, поэтому, чтобы однозначно определрггь положение любых точек, лежащих на поверхности этого шатуна, необходимо еще знать закон вращения его вокруг своей оси. Значит, для того чтобы определить положение, скорости, ускорения всех точек анализируемого механизма, необходимо знать законы движения начального звена и вращения шатуна. Это и показал проведенный структурный анализ исследуемого механизма. [c.166]

Для всех г. п. у. металлов возникает характерная трудность, обусловленная обращением в нуль структурного фактора на шестиугольных гранях первой зоны Бриллюэна в случае отсутствия спин-орбитальной связи (стр. 175). Вследствие этого слабый периодический потенциал (или псевдопотенциал) не вызывает в первом порядке расщепления зон свободных электронов на таких гранях. Сказанное справедливо не только в приближении почти свободных электронов если пренебречь спин-орбитальной связью, то на подобных гранях всегда будет иметься по меньшей мере двукратное вырождение. Следовательно, в тех случаях, когда спин-орбитальная связь мала (как для более легких элементов), при построении искаженной поверхности Ферми свободных электронов лучше опускать такие брэгговские плоскости в результате мы получим гораздо более простые структуры, изображенные на фиг. 9.12. Какая из картин более точна — зависит от размера энергетических щелей, возникающих за счет спин-орбитальной связи. Размер щели может быть таков, что для анализа гальваномагнитных данных в слабых полях окажутся применимы структуры, изобрая<енные на фиг. 9.11, тогда как в сильных полях нарастает вероятность [c.299]

Операции Минковского на множествах лежат в основе логического плана технических устройств для проведения количественного анализа структуры. Первая модель такого устройства была разработана группой французских ученых под руководством, Ж. Серра. Обычно эти устройства состоят из трех объединенных в систему функциональных узлов 1) телевизионного устройства ввода и вывода изображения структуры 2) логического или программирующего устройства для производства анализа 3) ЭВМ общего назначения для обсчета результатов и построения графиков. [c.114]

Из телевизионной камеры 11зображение структуры грунта в виде электрического сигнала поступает в логическое устройство. Предварительно сигнал разделяется по интенсивности (дискриминируется по уровню) и регулярно опробуется через определенный интервал времени (дискретизируется). На этом преобразованном сигнале проводятся все логические операции. В частности, операция сравнения структуры с эталоном осуществляется по схеме совпадения, путем пропускания электрического сигнала изображения структуры через серию логических модулей (эталонов). В принципе, эта операция эквивалентна перемещению эталона в пределах структуры X, как это было описано выше. Число совпадений фиксируется счетчиком импульсов и обрабатывается на ЭВМ общего назначения. Таким образом, весь анализ структуры выполняется в процессе сканирования изображения структуры грунта. [c.114]

На рис. 5.23—5.25 представлены результаты анализа характеристик структуры изображения конструкции, полученной в результате оптимизации. Изображенные на рис. 5.23 графики модуляционных передаточных функций (частотно-контрастных характеристик) получены методом эллиптической аппроксимации области интегрирования, рассмотренным в гл. 4. Точечные диаграммы и концентрация энергии в геометрическом приближении получены методом элементарных площадок, описанным в 24 (рис. 5.24 и 5.25) дифракционная ФРТ вычислена методом БПФ, рассмотренным в 25, с количеством узлов 128x128 концентрация энергии в дифракционном приближении (рис. 5.25, сплошные линии) получена по этой ФРТ численными кубатурами Симпсона. [c.258]

Ортогональный чертеж соответствует технической задаче формообразования прежде всего по своей геометрической основе. Он дает структурно верный эквивалент реальной конструкции. Трехмерный объект и плоское изображение могут рассматриваться в плане как позиционного, так и метрического соответствия. Складывающийся на основе чертежа в сознании конструктора образ по своей структуре вполне соответствует реальному пространству. Метрическая эквивалентность чертежа и технического объекта определяет возможность увязкн размеров всех деталей в единое целое. Благодаря данной графической модели конструктор получил эффективное средство анализа и синтеза задач, которые практически не поддавались решению в дочертежный период. [c.15]

Теория условных изображений Н. Ф. Четверухина, дополненная целостным композиционным анализом процесса формообразования, позволяет организовать графическую деятельность конструктора (дизайнера) таким образом, чтобы в максимальной степени обеспечить свободу творчества. Ограничение такой свободы связано только с конкретной структурой изображаемой формы и необходимостью подсчета параметров, расходуемых при изображении пространственной сцены. При небольшом навыке чувство полноты изображения и параметража становится внутренним чувством, определяющим деятельность конструктора. [c.33]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...