Анализаторы структуры

Количественные анализаторы структуры [3, 5] [c.31]

При использовании автоматических количественных анализаторов структуры необходимо иметь в виду, что они могут учитывать нежелательные детали изображения. Поэтому к анализируемым шлифам предъявляются высокие требования в отношении чистоты поверхности, отсутствия дефектов изготовления, четкости выявления структурных составляющих наряду со специфическим требованием плоско-параллельности, обеспечивающей постоянство фокусировки микроскопа. [c.32]

Анализаторы структуры количественные 31 Антиферромагнитный резонанс 182 Атомная функция рассеяния 115 Атомный объем 288, 289 Аустенит остаточный 131 [c.348]

Анализаторы структуры 1 153 Антиферромагнитный резонанс 2 189 Атомная функция рассеяния 1 214 Атомы, электронные конфигурации 2 14 --- оболочки 2 13 [c.455]

В ПИД-анализаторах используется эффект изменения электрической проводимости водородного пламени при добавлении углеводородов (рис. 8). Пламя химически чистого водорода практически неэлектропроводно. При наличии углеводородов температура пламени становится достаточной для ионизации и увеличения его электрической проводимости, которая пропорциональна количеству введенных атомов углерода С. Таким образом, структура молекул уг- [c.21]

Работой компилятора управляет монитор, который осуществляет вызов в необходимые моменты анализатора, генератора и конструктора, располагаемых в отдельных оверлейных сегментах, фиксирует время их выполнения, организует единообразный доступ к внутренне БД и наборам данных на внешних носителях, обрабатывает режимные параметры (опции) компилятора. Опции позволяют управлять форматом вывода, задавать объем ОП, доступной рабочей программе, выводить в удобной форме информацию из внутренней БД, распечатывать структуру матрицы Якоби, таблицы перенумерации и т, п. [c.144]

Схема когерентного оптического анализатора пространственных структур приведена на рис. 24. Предмет располагается в передней фокальной плоскости линзы и освещается параллельным лучом лазера, В ее задней фокальной плоскости при этом формируется спектр Фурье предмета в виде характерной картины ярких точек различного размера, образующих некоторую структуру (в общем случае непериодическую). Пространственный фильтр выполняется в виде прозрачного экрана с набором непрозрачных точек, перекрывающих изображение спектральных компонент эталонного [c.97]

Для объективной автоматической количественной оценки структуры образца весьма перспективным является использование телевизионных анализаторов изображения [c.10]

Развитие электроники и средств автоматизации привело к созданию телевизионных анализаторов изображения, применение которых в металлографии позволяет значительно ускорить количественный анализ структуры металлов и сплавов. Однако использование телевизионных анализаторов до последнего времени ограничивалось исследованием количества и распределения структурных составляющих в металлах и сплавах [1]. [c.90]

Рассмотрим в качестве примера некоторые существующие методы и технические средства аппаратурной оценки структуры образцов с помощью анализаторов изображения, что, как отмечалось выше, является одним из резервов повышения производительности установок для тепловой микроскопии. [c.282]

Представляют собой комбинацию металлографического микроскопа, телевизионного устройства и малогабаритного компьютера. Принцип действия такого автоматического анализатора строения образца основан на сканировании изображения структуры на экране монитора телевизионными строками развертки, а также подсчете и анализе числа электрических импульсов, произведенных частицами, находящимися в поле видимости [122—126]. [c.283]

На существующих автоматических анализаторах изображения -можно подсчитывать число и определять размеры зерен, оценивать протяженность их границ, а также осуществлять различные количественные исследования структуры, например проводить подсчет площади феррита и перлита, высокотемпературных включений, газовых раковин, числа дислокационных ямок травления и др. [c.283]

Все преимущества описанной методики анализа параметров деформационной структуры наиболее эффективно могут быть реализованы в случае, если телевизионная камера автоматических анализаторов изображения будет соединена с металлографическим микроскопом, которым снабжена установка для тепловой микроскопии. При этом, например, определение основных параметров развивающейся трещины может производиться в процессе испытания автоматически и кроме того, представляется возможность наблюдения за процессом на экране монитора, что значительно облегчает металлографический анализ поверхности. [c.287]

Анализатор изображения автоматический 283 Анодное растворение металлов 16 Аустенит, изучение структуры 103 [c.302]

Рассмотрим третий случай погасания луча, когда Г = = 0. В этом случае в исследуемой модели существуют так называемые особые точки, которые па экране будут темными. Эти точки модели при совместном повороте поляризатора и анализатора остаются темными и не меняют своего положения. Через них проходят изоклины всех параметров. В особых точках касательные напряжения равны нулю, а нормальные напряжения одинаковы по всем направлениям или, в частности, равны нулю (Oj = = 02 Oi = 02 = 0). Эти точки, называемые изотропными, имеют большое значение при исследовании напряженного состояния в модели, так как они определяют структуру изоклин и полос. [c.26]

Такие распады, несущие информацию о структуре исходной молекулы, можно возбудить за счёт столкновений, используя метод тандемной М.-с. Первый масс-анализатор выделяет ион определ, массы. Далее ион попадает в камеру столкновений заряж, продукты его распада регистрируются вторым масс-анализатором. [c.58]

Устройства оптической обработки выполняют все необходимые вычислительные операции (свертка функций, дифференцирование, интегрирование и т. д.) на основе двух базовых — комплексного умножения и преобразования Фурье. В основе комплексного умножения лежит модуляция световой волны, проходящей через объект в виде транспаранта с заданным амплитудным коэффициентом пропускания. (Напомним, что именно на основе представления об амплитудном коэффициенте пропускания в гл. 1 был развит волновой подход в теории ДОЭ.) Операцию преобразования Фурье выполняет оптический фурье-анализатор, состоящий в простейшем случае из транспаранта с входным изображением и линзы (объектива) с положительной оптической силой [24]. Если транспарант освещает плоская монохроматическая волна, то его фурье-об-раз (спектр пространственных частот) формируется в дальней зоне в результате дифракции света на структуре транспаранта. Линза переносит спектр из бесконечности в свою фокальную плоскость, где он представляется в виде комплексной амплитуды волнового поля. [c.150]

Структуроскопы (анализаторы структуры) — это приборы неразрущающего контроля, предназначенные для определения физико-механических и физико-химических свойств и характеристик материалов (химического состава, твердости, пластичности, электрических и магнитных характеристик, коррозионных поражений и т.п.). Для струк-туроскопии различных материалов чаще всего используются акустический, магнитный и вихретоковый виды контроля. [c.381]

Более совершенные системы анализа изображений, формируемых оптическими микроскопами, создаются с использованием электронных сканирующих систем. Примером такой системы может служить анализатор структуры изображения ТАСИ-2 (ИЭВТ АН Латв. ССР). Основным назначением прибора является автоматический анализ цитологических препаратов с целью их классификации на нормальные и патологические. Телевизионная камера, установленная вместо окулярного тубуса на микроскоп МБИ-6, преобразует световую информацию в электрический сигнал, который подается в устройство обработки. В нем производятся выбор уровня дискриминации (уровня ограничения) и измерение геометрических параметров площади и периметра —деталей изображения на выбранном уровне дискриминации. Перемещение предметного стекла с препаратом, поиск клеток и измерение осуществляются автоматически. Затем результаты измерений могут поступать на логическое устройство, в котором задается правило классификации. В выводных устройствах — цифропечатающая машинка и ленточный перфоратор — [c.264]

Результатом работы анализатора А будет набор таблиц, списков, массивов, составляющих внутреннюю базу данных ВБД компилятора, располагаемую в ОП. Основные элементы этой БД — упакованное описание структуры проектируемого объекта, таблицы паспортов подпрограмм моделей элементов, подпрограмм расчета выходных параметров и т. п. Операторы языка описания задания преобразуются анализатором в псевдокоманды, содержащие метку и код команды, режимные параметры, имя подпрограммы, реализующей необходимые для выполнения данной команды методы, параметры подпрограммы. Последовательность псевдокоманд описывает программу вычислений, которые должны быть выполнены рабочей программой. Память ЭВМ под внутреннюю БД выделяется только динамически, что определяет ее рациональное использование. При недостатке ОП некоторые наиболее крупные массивы выгружаются во внешнюю память ЭВМ. Во внутренней БД широко используется аппарат перекрестных ссылок между логически связанными элементами данных, что значительно повышает быстродействие компилятора за счет минимизации времени доступа к обрабатываемым данным. Анализатор пополняет внутреннюю БД информацией, считанной из паспортов библиотечных подпрограмм. Эта информация необходима для лексического и синтаксического контроля входного описания. Паспорта сгруппированы в каталоги библиотечных подпрограмм и хранятся во внешней памяти 7 ЭВМ. [c.142]

Голографические методы анализа размеров частиц и структуры прозрачных объектов. Голографические методы эффективно используются для анализа размеров и относительного положения частиц в диапазоне 5—100 мкм в различных газообразных и жидких средах. Подобные системы крайне необходимы для контроля окружающей среды, оценки качества двигателей, анализа процессов распыления жидкого топлива, анализа аэрозолей в ракетных двигателях. Типовой голографический анализатор частиц состоит из двух систем — системы регис грации и системы воспроизведения. В системе регистрации импульсный лазер [c.112]

Приборы телевизионной и когерентно-оптической структуроскопии. Во многих случаях информация о качестве объектов контроля может быть получена на основе анализа структуры их материала как поверхностной, так и объемной. Для этих целей создан ряд приборов, среди которых наибольшее распространение получили телевизионные анализаторы (ТВА) и когерентно-оптические процессоры (КОП). Действие ТВА основано на сканировании изображения изучаемых структур видеодатчиком (телевизионной камерой или устройством типа бегущий луч ) и последующей машинной обра- [c.114]

В СССР создан магнитошумовой анализатор МАША-1, предназначенный для контроля содержания углерода в сталях, степени поверхностного упрочнения, определения степени дисперсности структуры, а также содержания немагнитной фазы в ферромагнитных изделиях. [c.78]

Для детализации структуры продуктов высокотемпературной обработки композитных материалов на основе полиорганосилок-санов и наполнителей (слюды и окиси алюминия) авторы использовали микрозондовый рентгеновский анализатор, позволяющий наряду со съемкой исследуемой поверхности в поглощенных и отраженных электронах выполнять линейный поэлементный анализ на интересующих нас участках покрытий [2]. [c.233]

Сведения о структуре и составе матрицы представляют особый интерес, так как они в значительной степени определяют свойства покрытия и позволяют уточнить картину процессов, сопровождающих его формирование при термообработке сырого слоя до 7 = =700—800° С. Матричную структуру удалось четко выявить при увеличениях, близких к предельным для использованного микрозондового анализатора ХМА-З. Микрофотография с одного из участков шлифа, полученная в поглощенных электронах, свидетельствует о том, что основу матрицы составляют сравнительно равноосные темные зерна, окруженные более светлыми [c.233]

Для детализации структуры композитных материалов на основе полиорганосилоксанов использован микрозондовый рентгеновский анализатор. Показано, что этот метод может быть применен на стадии отработки технологии, обеспечивающей получение композиций с минимальным содержанием остаточного углерода. Лит. — 4 назв., ил. — 2. [c.271]

Металлографическое изучение деформации биметаллов целесообразно проводить с использованием комплексной методики экспериментирования, основанной на применении автоматических телевизионных анализаторов изображения. Это позволяет осуществлять количественную оценку накопления пластической деформации по числу полос скольжения в анализируемых участках материала, измерять длину трещин и площадь пластической деформации в их вершинах. Наряду с анализом деформационной структуры методика предусматривает проведение микрорентгеноспектраль-ного анализа и фрактографическое изучение изломов с помощью растровой электронной микроскопии. Ниже приведены примеры исследования процесса накопления пластической деформации в переходных зонах образцов биметалла Ст. 3+Х18Н10Т, подвергнутых циклическому нагружению на установке ИМАШ-10-68. Подсчет числа полос скольжения производится с помощью телевизионного анализатора изображения на площади, заключенной в рамку сканирования (рис. 1). Образец, размещенный на предметном столике автоматического количественного микроскопа РМС , перемещался по заданной программе вдоль выбранной базы измерения, ширина которой была равна высоте, а длина соответствовала ширине рамки сканирования, умноженной на число перемещений столика. [c.90]

В лаборатории высокотемпературной металлографии Института машиноведения впервые были сделаны попытки применить анализаторы изображения для изучения деформационной структуры образцов металлических материалов после их испытания в установках для тепловой микроскопии. Разработанные при этом методики позволяют производить количественный анализ накопления усталостных повреждений (подсчет числа линий скольжения и их площади), изучение процессов зарождения и развития усталостной трещины (измерение длины трещины и площади пластической зоны в ее вершине), измерение величины диагонали и расстояния между отпечатками ми кротвердости [76]. [c.284]

Кроме описанного прибора, предназначенного главным образом для исследования металлов и сплавов, под руководством автора Л. И. Скоробогатом разработан количественный телевизионный анализатор, позволяющий проводить оценку распределения фазового состава, удельной межфазной поверхности и линейных размеров частиц керамических материалов. Основное отличие этого анализатора заключается в применении специального устройства (дискриминатора), обеспечивающего отсутствие неравномерности фона и видеосигнала и полностью ликвидирующего так называемый краевой эффект при количественном анализе структуры. [c.291]

Анализатор полных энергий автоэлектронов является одним из наиболее перспективных автоэмиссионных приборов для исследования внутренней структуры твердого тела и поверхности потенциального барьера. [c.83]

Наиб, распространение в Э.с. получили энергоанализаторы электростатического типа с тормозящим или отклоняющим полем. Квазисферич. сеточные анализаторы с тормозящим полем позволяют, кроме анализа электронов по энергиям, визуализировать угл. распределения эмитируемых электронов на коллекторе, для этого его покрывают люминофором (напр., в дифракц. методах исследования). В случае отклоняющего поля преим. используют анализаторы типа цилиндрич. зеркала и секторные со сфе-рич. полем. С их помощью исследуют и пространств, распределения электронов во всём диапазоне их энергий. Специфика регистрирующей аппаратуры обусловлена тем, что структура энергетич. спектров наблюдается на непрерывном фоне, часто превосходящем её по величине, и задача состоит в вьщелении этой структуры и её измерении. В разработанной аппаратуре используется как аналоговая, так и цифровая техника в сочетании с ЭВМ (в частности, для увеличения отношения сигнал/фон широко применяется аналоговое дифференцирование спектра с помощью синхронного детектирования). Предложены способы полного Удаления фона. В случае цифровой техники часто применяют способ, основанный на использовании многоканального анализатора, работающего в режиме многоканального счётчика. [c.554]

Рис. 2. Упрощённая структур ная схема РОЧМ С—смеси-тельно-умножительные диоды К, — К< — клистроны, стабилизированные по цезию (водороду) АС—анализаторы спектра СЭ1, 2—стабилизирующей ячейки на СН4 и OSO4 соответственно ФАП АПЧ — системы автоподстройки /о—Л, — частоты.

Спектрометры являются удобным инструментом для промышленных измерений вибрации механизмов, систем, установок, так как представляют результат в виде определенного набора цифр. Такой результат легко обрабатывать, например сравнивать с эталонным, усреднять с другими измерениями, вводить поправки для приведения к абсолютным уровням и т. д. Эту вторичную обработку данных при большом объеме измерений можно провести на. ЭВМ [19, 13]. Однако для выявления более тонкой спектральной структуры процесса, нeoбxoди юй для ряда исследований вибраций, требуются узкополосные анализаторы спектра. Рассмотрим их функциональные схемы. [c.272]

Одними из первых и наиболее известными из таких анализаторов являются приборы типа Квантимет фирмы ambridge Instruments (Англия). В этих приборах использован принцип линейного анализа. Получаемое в обычном вертикальном микроскопе с автоматическим перемещением предметного столика изображение структуры с фокальной плоскости окуляра вводится в телевизионную камеру, сигналы с которой подаются одновременно на детектор и экран контрольного телевизора (рис. 1.13). Детектор выделяет и оценивает импульсы, соответствующие оптической отражательной способности исследуемы.х [c.31]

Результаты подобных расчетов приведены на рис. 4.12. Вычисления проводились для области значений параметров транспаранта, представляющих наибольший практический интерес [26], рабочая длина волны Я, = 632,8 нм. Вдоль каждой кривой на рис. 4.12 минимально возможное фокусное расстояние объектива постоянно, а период структуры ДЛ объектива меняется. Некоторые его значения отмечены на кривых. Данные рис. 4.12 показывают большие потенциальные возможности дифракционного фурье-объек-тива. Низкий уровень оста-точных аберраций дублета линза — асферика позволяет рассчитывать на его основе фурье-анализаторы с высокими оптическими характеристиками, причем параметры их линз технологически достижимы. Так, фокусное расстояние объектива, способного обеспечить обработку транспаранта диаметром = 80 мм при максимальной пространственной частоте 0тах = 70 ММ- , / -= 400 ММ (габаритный размер системы — 800 мм), минимальный период в структуре ДЛ "min — [c.155]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...