Влияние дифракции

Ответ D S hl 100 — изображение отверстия, D< h/ 00 — изображение источника при очень малых отверстиях необходимо учесть влияние дифракции. [c.860]

При контроле единичных изделий, например, стаканов и плит шиберного затвора, применяемых для разливки стали (когда экспериментальное построение тарировочного графика невозможно), определение у и П по величине производится расчетным путем по приведенным выше формулам. При этом точность контроля несколько ниже и зависит от полноты учета маскирующих факторов (дифракции и интерференции, связанной с многократным отражением). Выбор зон контроля производится в соответствии с конкретными потребностями. С целью ослабления влияния дифракции зоны контроля (просвечивания) по возможности сдвигаются относительно краев изделий (не менее чем на 2 см). В тех случаях, когда требуется провести контроль именно в краевых зонах, например вокруг отверстия в изделии, применяют поглощающие заглушки, перекрывающие прохождение излучения вне зоны контроля. Следует иметь в виду, что в этом случае построение тарировочного графика возможно только по экспериментальным данным. [c.248]

Говоря о влиянии дифракции, заметим, что наличие ограниченной апертуры приведет к такому искажению волны от точечного источника, как если бы эта волна создавалась объектом, в котором вместо светящейся точки представлена картина дифракции Фраунгофера от нее на зрачке Р х, у), расположенном на расстоянии Z2 от точки, с точностью до постоянной импульсный отклик д я такой системы можно представить [c.84]

I. Схема экспериментальной установки с многолучевым интерферометром для оценки влияния дифракции на чувствительность измерений [c.119]

Схема экспериментальной установки для оценки влияния дифракции на чувствительность измерений приведена на рис. 69. Источник света / — ртутная лампа низкого давления с водяным охлаждением, светофильтр 2 и объектив 3 (фокусное расстояние f — 300 мм) образуют коллиматорную систему. Параллельный пучок света освещает многолучевой интерферометр, представляющий собой две стойки с закрепленными в них зеркалами 4, между которыми установлен непрозрачный экран 5. Объектив 6, диафрагма 7 и фотоаппарат 8 составляют регистрирующую часть установки. Интерференционная картина представляет собой равномерно освещенное поле (настройка на бесконечно широкую полосу) Параметры установки р - 82% Л = 50 мм X = 577 нм масштаб изображения на пленке 1 2. [c.119]

Так, например, если работа производится с широкой входной щелью ( 1 Э то влиянием дифракции и аберраций можно [c.46]

ВЛИЯНИЕ ДИФРАКЦИИ И АБЕРРАЦИИ 59 [c.59]

Совершенно аналогично тому, как мы учитывали влияние дефокусировки на форуму аппаратной функции, можно учесть и влияние дифракции. Вместо распределения освещенности кх в формуле (27) следует взять соотношение, описывающее распределение освещенности в дифракционном изображении точки кц(х)=5тс хЬ/К1). Тогда [c.45]

На зеркалах конечного размера световые волны будут дифрагировать. При обычных спектроскопических исследованиях влиянием дифракции на 8Хр можно пренебречь, так как зеркала имеют большие размеры (диаметр зеркала приблизительно 50 мм) и отклонения лучей невелики. В случае применения ИФП в качестве открытого резонатора для лазера влияние дифракции следует учитывать. [c.461]

В случае линейчатого спектра без учета влияния дифракции и аберраций лучистый поток, участвующий в образовании спектральной линии, равен [c.405]

При диафрагмировании до относительного отверстия 1 22 резкость изображения будет заметно снижена, так как при таком отверстии объектива становится ощутимым влияние дифракции света на качество изображения. Лучше использовать относительное отверстие 1 8 или 1 11.— Прим. ред. [c.110]

В 1 было указано, что из системы (7.3) для определения угла ш получается квадратное уравнение (1.16). Зная угол ш, из формулы (1.15) можно легко определить угол а между стенкой угла и прямолинейной частью отраженной ударной волны. Определение потенциального течения за отраженной волной, в области влияния дифракции угла, сводится к следующей задаче. Найти функцию (р (Е, т )), связанную с потенциалом скорости по формуле (4.6) и удовлетворяющую уравнению [c.468]

Простейший случай с двумя отверстиями рассмотрен в 7.Й в связи с теорией интерференции. Но там мы пренебрегали зависимостью от р ж д (т. е. влиянием дифракции на каждом отверстии) и рассматривали только эффект суперпозиции. Легко показать, что прежний результат (7.2.17) находится в согласии с соотношением (24). При N = 2 оно сводится к [c.367]

В строгой теории (см. ссылки на литературу в гл. 14 и 15) исходят из основных дифференциальных уравнений — уравнений Максвелла или волнового уравнения, вводят характеристики рассеяния и поглощения частиц и получают соответствующие дифференциальные или интегральные уравнения для таких статистических величин, как дисперсии и корреляционные функции. Такой подход является математически строгим в том смысле, что при этом в принципе можно учесть как эффекты многократного рассеяния, так и влияние дифракции и интерференции. Однако построить теорию, которая полностью учитывала бы все эти эффекты, практически невозможно, поэтому все теории, дающие приемлемые решения, являются приближенными и справедливы лишь в определенной области значений параметров. Теория Тверского, диаграммный метод и уравнения Дайсона и Бете — [c.163]

В качестве другого примера, иллюстрирующего метод анализа оптических систем как фильтров пространственных частот, мы рассмотрим теперь проблему формирования оптического изображения с весьма элементарных позиций. Посмотрим, что произойдет с идеальным оптическим изображением (фиг. 2.9), если переместить его из фокальной плоскости. При этом вследствие идеализации явления мы пренебрегаем влиянием дифракции и аберрациями. В дальнейшем мы исследуем их влияние на структуру изображения, но пока что будем иметь дело с идеализированной картиной, чтобы было легче проиллюстрировать нашу точку зрения. [c.49]

Учет ограниченности пучка и длительности импульса в усло ВИЯХ сильного энергообмена между волнами (когда неприменимо приближение заданного поля) представляет собой одну из наиболее трудных задач нелинейной оптики. Лишь в самое последнее время (см. [6, 7]), в основном с помощью численного счета, здесь были получены результаты, относящиеся к учету влияния дифракции на предельный к. п. д. нелинейного преобразования (см. также раздел V Дополнения). [c.234]

При измерениях скорости звука и поглощения необходимо учитывать влияние дифракции однако в первых работах на это [c.342]

Дифракционные аффекты. Влияние дифракции необходимо учитывать при снижении рабочей частоты, так как при этом уменьшается направленность излучателей. На необходимость [c.344]

Влияние дифракции должно учитываться также при точных измерениях скорости, хотя в этом случае оно менее существенно. [c.345]

Фиг. 80. Влияние дифракции на фазовую скорость.

При этом первый (гиперболический) множитель в уравнении (4.26) характеризует геометрическое влияние кривизны излучателя, а второй (синусный) — влияние дифракции в зависимости от значений О и "к. [c.102]

Учтем влияние дифракции (гл. 2) [c.93]

С учетом влияния дифракции расчетная кривая чувствительности приемника [c.97]

Изделие, покрытое шликером и высушенное, нагревают в печи до оплавления эмали. Температура и продолжительность обжига неодинаковы для различных эмалей. Так как эмаль представляет собой стекло, то изменение ее оптических свойств может быть достигнуто введением в состав частиц, имеющих - иной показатель преломления (глушитель). Падающий на эмаль свет из-за наличия посторонних частиц рассеивается в процессах отражения и дифракции. Таким образом, можно при меньшей толщине слоя покрытия исключить влияние подложки и сделать эмаль непрозрачной при достаточно малой толщине 30—40 мкм. [c.102]

Если мы утверждаем, что голограмма-оригинал является тонкой, то это означает, что влиянием дифракции Брэгга можно пренебречь при этом недифрагированная волна сопровождается двумя дифрагированными волнами, одна из которых соответствует восстановленному действительному изображению, а другая — мнимому. Эти три волны интерферируют попарно, образуя общую интерференционную картину, которая засвечивает эмульсию копии. По сравнению с другими вкладами система интерференционных полос, образуемая при взаимодействии двух волн восстановленных изображений, оказывается, как правило, слабой (из-за низкой дифракционной эффективности голограммы-ориглнала), и ею можно пренебречь. Две остальные системы интерференционных полос, обусловленные взаимодействием продолженной опорной волны с каждой из двух волн восстановленного изображения, имеют одинаковые амплитуды и контраст. [c.410]

На рис. 2.7 приведены результаты численных расчетов на ЭВМ спектральной плотности индуцированных флуктуаций диэлектрической проницаемости воздуха (рис. 2.7 а) и восстановления нормированной корреляционной функции флуктуаций интенсивности с симметричным разносом точек наблюдения относительно оси пучка (рис. 2.7 6) при воздействии расходящегося Fq= 10 см) пучка С02-лазера (> =10,6 мкм, Ro=l см) на пылевую дымку с комплексным показателем преломления вещества частиц Ша = = 1,3 — /0,1. Смещение максимума спектральной плотности на рис. 2.7 а связано с временным расплыванием температурных орео-лов за счет молекулярной теплопроводности 2 VXrt. Уменьшение радиуса когерентности на рис. 2.7 б для кривой 1 объясняется влиянием дифракции. [c.52]

Структура неоднородных полей высокой интенсивности, содержащих области фокусировки или каустики, определяется совместным влиянием нелинейных и дифракционных эффектов. При приближенном теоретическом описании их также удается применить поэтапный подход, пренебрегая влиянием нелинейности в областях фокусировки, где в силу малой протяженности области они не успевают накопиться и влияние дифракции оказьшается более сильным [Островский, Сутин, 1975]. [c.116]

Из вышеприведенных выражений для чувствительности различных типов микрофонов можно определить, каким параметром должна управляться механоэлектрическая система микрофона, чтобы получить равномерную частотную характеристику по давлению т. е. без учета влияния дифракции и резонанса углубления перед диафрагмой. Эти требования обобщены в табл. 5.2 для микрофонов давле- [c.71]

Пренебрегая влиянием дифракции, мы вывели выражение /=/osin o. Функция sin у получилась в результате вычисления интеграла по поверхности перекрывающихся растров. Предположим, что положение границы растра описывается не прямоугольником, а какой-то более сложной зависимостью y=F(x). Поступим так, как мы делали при исследовании аподизации формой зрачка системы — разобьем функцию F(x) на две части и будем считать, что нижняя граница растра описывается функцией —F(x)l2, а верхняя— +F(x) 2, тогда получим [c.42]

В области за отраженной волной и стенками угла, вне указанной выше окружности радиуса а(, влияние дифракции вершиг. [c.462]

Опнсанпые представления об О. р. справедливы для бесконечных плоскостей раздела. Этими результатами можно пользоваться также для тел ограниченных размеров, а также для тел с переменными физ. свойствами. Важно только, чтобы геометрич. и фнз. свойства тела мало менялись в пределах неск. первых зон Френеля. Нри размерах тел, меньших размеров френелевских зон, из-за сильного влияния дифракции следует говорить пе об О. р., а об нх рассеянии (понятия дифракции и рассеяппя часто имеют один и тот же смысл). Под отраженным полом понимают часть дифракционного поля, рассеиваемую в обратном направлении. Интенсивность этого отраженного поля зависит от поперечника рассеяния тела а. Ири этом имеет место соотношение [7] [c.565]

Расчет П.п., как одного из видов электромехапич. преобразователей, имеет целью установить связь между величинами электрическими (нанряжение на электродах U, ток через преобразователь/) и механическими (приложенная к механич. системе сила F, смещение или колебательная скорость = 3 1 сЧ). В случаях, когда П. п. являются электроакустическими, необходимо также рассчитать сопротивление излучения Zg (см. Акустический излучатель), направленность преобразователя (см. Направленность ai y-стических излучателей и приемников), влияние дифракции звуковой волны на поверхности npeo6pa JO-вателя приемника. [c.254]

В заключение укажем, что все результаты этого параграфа получены без учета ограниченности звуковых пучков. Влияние дифракции — в тех случаях, когда оно сухцественно (см. гл. IX),— приведет к уменьшению амплитуд волн на оси пучков и, следовательно, к ослаблению нелинейного взаимодействия. [c.168]

Кроме того, почти всегда за счет выбора параметров установки можно сделать влияние дифракции пренебрежимо малым. Эти вопросы рассмотрены в работах Паркера 150] и Доль Гроссо и др. [30]. Увеличение фазовой скорости по сравнению со скоростью в плоской волне было теоретически рассчитано Бассом 1) результаты этих расчетов представлены на фиг. 80. Точ1сами обозначены экспериментальные данные, полученные в работе [51 ] для изотропных твердых тел согласно теории, это увеличение одинаково для твердых тел и для жидкостей. [c.345]

Легко видеть, что йк — угловое расстояние между двумя точечными источниками света, которые иаутилус еще может видеть раздельно, т. е. бк — тловой предел разрешения. Чем меньше бк, тем больше острота зрения. От- юда можно сделать вывод, что выгодно уменьшать d. Но при уменьшении отверстия возрастает вредное влияние дифракции, которая связана с полно-пой природой света. Угловой предел разрешения, обусловленный дифракцией, выражается формулой [c.11]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...