Система анализа изображений

Благодаря новому подходу к проблеме создания искусственного интеллекта появились и все шире используются комплексные программы, обеспечивающие выполнение сложных мыслительных задач экспертные системы обучающие системы системы распознавания речи системы анализа изображений автоматизированные системы программирования. [c.72]

Все эти задачи должны решать информационные системы анализа изображений. Поэтому рассматриваемым системам в проблемах искусственного интеллекта уделяется большое внимание. В результате появились комплексы программ, которые обеспечивают анализ изображений для нужд физики, биологии, медицины, геологии и т. д. [c.75]

Так, в одном из вариантов СТЗ с контурной системой анализ изображения основан на случайном выборе отдельных контурных элементов. Развертывающая точка движется по полю кадра по случайному закону, и в момент, когда она попадает на контур, начинает действовать следящая развертка. Далее точка движется вдоль контура, считывая его фрагмент некоторой заданной длины. После этого слежение принудительно прекращается, и система вновь переходит в режим поиска до начала передачи следующего фрагмента. Такая система позволяет отказаться от запоминающих устройств для хранения информации об изображении или свести их объем к минимальному, она также обеспечивает работу в реальном масштабе времени. [c.96]

Развитие системы цифрового анализа изображений, когда набор статистики осуществляется РЭМ с преобразованием аналогового сигнала в цифровые коды, позволило решить проблему проведения анализа параметров рельефа в автоматизированном режиме с использованием ЭВМ [85-89]. В этом случае удается достичь хороших результатов измерения параметров рельефа с обеспечением требуемых метрологических характеристик получаемых данных. В направлении развития усталостной трещины нарастание скорости усталостных трещин сопровождается нарастанием шага усталостных бороздок или иных регулярно повторяющихся элементов рельефа. Речь идет об изменении рассматриваемых параметров рельефа на мезоскопическом масштабном уровне от нескольких сотен ангстрем (несколько сотых долей микрона) до нескольких микрон. Состав и структура рельефа усталостных изломов чрезвычайно разнообразны для разных конструкционных материалов. От точности получения информации при проведении измерений параметров рельефа во многом зависит не только практическая ценность получаемых данных, но особенно важно получать объективную информацию при анализе механизмов и закономерностей развития процесса разрушения. В связи с этим ниже дается краткая информация о методических особенностях получения данных о параметрах рельефа излома в автоматизированном режиме анализа изображения, формируемого в электронном микроскопе или считываемого с любого объекта видеокамерой. [c.207]

Проанализировав знак второй производной полной потенциальной энергии по углу отклонения системы, можно установить, какие из ветвей полученного решения соответствуют устойчивым положениям равновесия. Для фп <я результат такого анализа изображен на рис. 1.13, 6. Как видим, поведение этой системы при Фо = О качественно отличается от поведения рассмотренной выше системы. При фо О критическая точка бифуркации второго типа трансформируется в критическую предельную точку l. При достижении этой предельной точки происходит потеря устойчивости исходной формы равновесия системы, причем поскольку в окрестности предельной точки нет новых устойчивых положений равновесия, система вынуждена скачком перейти в новое устойчивое положение, удаленное от исходного на конечное расстояние. [c.20]

Для получения уравнения замкнутой системы управления нужно продифференцировать уравнение динамики (5.38) и подставить в полученное выражение (5.42). В результате получим нелинейное дифференциальное уравнение четвертого порядка относительно вектора обобщенных координат q = (Qi,. .., qmV Анализ этого уравнения показывает, что подбором постоянной времени ТГ, передаточного числа редуктора и коэффициентов передачи основных элементов системы управления, изображенной на рис. 5,14, можно обеспечить лишь устойчивость ПД qp (() в малом, т. е, при достаточно малых начальных возмущениях. Такая система программного управления весьма чувствительна к сколько-нибудь значительным параметрическим возмущениям, что отрицательно сказывается на характере переходных процессов (ухудшаются точность и быстродействие). Другим существенным недостатком этой системы является взаимное влияние каналов локального сервоуправления ввиду того, что все приводы работают на общую нагрузку. [c.164]

С другой стороны, известно [48], что внеосевое разложение описывает формирование изображения объекта, расположенного на сфере радиуса R с центром на ДЛ, причем изображение располагается на концентрической сфере радиуса R. Это крайне неудобно для анализа систем ДЛ, во-первых, потому, что исходный объект для системы, формирующей изображение, в подавляющем больщинстве случаев плоский и для его точек расстояние до центра линзы непостоянно. Во-вторых, в системе изображение, формируемое одной линзой, является предметом для следующей, причем условие постоянства расстояния всех точек этого промежуточного изображения от центра линзы никак не может быть выполнено для обеих ДЛ одновременно, если изображение находится на конечном расстоянии от них. Осевое разложение описывает формирование плоского изображения плоского объекта, и при его использовании подобных проблем не возникает. [c.22]

До недавнего времени информация об объекте анализировалась обычно в виде плоского изображения. При этом и сам объект, если он обладал трехмерной структурой, при анализе часто заменялся плоским эквивалентом. Чаще же всего анализ разрешающей способности проводился для объекта, целиком расположенного в плоскости, нормальной к оптической оси. Исключением являлись измерения, осуществляемые радиолокационными системами, в которых для определения расположения деталей объекта по глубине пространства служило время прохождения импульса по пути источник — деталь объекта — приемник. Но даже и при передаче системой плоского объекта или объекта, приводимого к плоскому, анализ изображения с точки зрения передачи пространственной информации оказывается достаточно сложным. [c.79]

Посредством операционной системы выполняются программы управления томографом, сканирования сварного шва, восстановления изображения из полученных проекций, анализа изображения, а также тестирования работоспособности оборудования ЭВМ и самого томографа. В режиме ожидания сканирования под управлением операционной системы проводится тестирование узлов ЭВМ, и данные тестирования выводятся на дисплей. [c.55]

При анализе явления дифракции Френелем был сделан вывод, о том, что на оси круглого непрозрачного экрана может быть воспроизведено волновое поле, распространяющееся до экрана. Зонная пластинка Френеля, состоящая из прозрачных и непрозрачных кольцевых зон, создает, как известно, усиление освещенности в определенных точках на оси. Она дает результат, сходный с действием традиционной линзовой оптической системы, формирует изображение в плоскости, сопряженной с плоскостью объекта. Как известно, фотографическая запись сохраняет информацию только о распределении интенсивности. Информация о фазе теряется. Вследствие этого в полученном изображении (негативе или позитиве) содержится не полная информация об исследуемом объекте. [c.300]

Космический вояж к дальним планетам [34, 61, 62]. В августе и сентябре 1977 г. начался полет АМС Вояджер-2 и Вояджер-1 . Пятого марта 1979 г. Вояджер-1 пролетел на расстоянии 286 ООО км от Юпитера — самой загадочной и самой большой планеты Солнечной системы (масса в 318 раз больше массы Земли). Анализ изображения планеты и спутников привел к поразительным открытиям. Прежде всего, у Юпитера обнаружено кольцо на расстоянии 3/4 радиуса от центра планеты. Поскольку граница предела Роша находится на расстоянии 2,4Й то, по-видимому, кольцо образовалось в результате разрушения спутника приливными силами. Получены уникальные снимки непрерывно изменяющегося облачного покрова планеты. Неподвижным осталось Большое Красное пятно — гигантское возмущение (24 х 40 тыс. км), впервые описанное более 300 лет назад Р. Гуком. На спутнике Ио обнаружены активно действующие вулканы — единственные вулканы внеземного происхождения. [c.98]

В автоматическое или машинное проектирование входят следующие основные работы и операции представление исследуемой физической системы в виде модели, ее анализ, изображение в некотором представлении этой модели и результатов вычислений, связанных с ней, а также формирование, аннулирование и изменение ее отдельных элементов. При этом физическая система может моделироваться с любой степенью глубины и точности. Например, при анализе электронных схем может удовлетворять модель с сосредоточенными постоянными, соответствующая функционально-электрической схеме. В свою очередь можно представить характеристики поведения каждого элемента схемы уравнениями или эмпирическими зависимостями с любой степенью точности. Очевидно, что моделировать следует лишь существенные характеристики системы. Например, если в форме аналитических уравнений накапливается информация о форме корпуса корабля, то вряд ли имеет смысл хранить данные о материале, из которого этот корпус сделан, удельном весе этого материала или его цвете. Концепции моделирования с помощью ЭВМ в этом плане ничем не отличаются от общих концепций моделирования, повседневно используемых при проектировании и инженерных исследованиях. [c.100]

Перейти к оригиналу, вообще говоря, можно различными способами, однако применение стандартных методов, основанных на анализе изображения на комплексной плоскости (р), в данном случае затруднено ввиду сложности изображения (23.5). Поскольку нас обычно интересует лишь начальный период, в течение которого деформации или другие характеристики процесса достигают максимальных значений, для перехода к оригиналу нет нужды использовать сведения о поведении функции при t > оо, определяемом особыми точками изображения. Здесь, вообще говоря, целесообразнее использовать методы, основанные на том факте, что движение системы в период О Г не зависит от вида динамических податливостей при > Г. По-видимому, наиболее простым приближенным способом определения оригинала правой части (23.5) является [c.121]

Одним из простых, но нерациональных способов является непосредственный расчет луча через систему каждый раз, когда требуется получить значение аберраций. Можно сказать, что аберрации в этом способе представлены алгоритмом расчета луча, рассмотренным в гл. 3. Естественно, что при этом затрачивается большое количество излишних действий. Кроме того, программы расчета структуры изображения оказываются связанными с программами расчета луча. Невозможно, например, при помощи этих программ определить качество изображения по экспериментальным данным об аберрациях. Ввиду простоты этот способ можно рекомендовать для одноразовых задач анализа изображения в системах с небольшим количеством поверхностей, когда перечисленные отрицательные факторы не имеют решающего значе- [c.148]

Как показано на рис. 3.9, конфигурация объекта может быть получена с помощью однокоординатного дальномера путем проецирования одного луча или сетки лучей из точки 2 на объект 3 и обзора или сканирования объекта из точки 1. Обычно достаточно проецировать один луч. Эта система имеет параллакс только в направлении оси X. Значение параллакса прямо пропорционально дистанции. Конфигурацию объектов можно также получить, если создать растровую подсветку. Обработка изображения, полученного с помощью растра, может быть проведена методом Фурье. Анализ изображения может быть проведен как цифровыми методами, так и путем непосредственной обработки оптической информации. [c.66]

Более совершенные системы анализа изображений, формируемых оптическими микроскопами, создаются с использованием электронных сканирующих систем. Примером такой системы может служить анализатор структуры изображения ТАСИ-2 (ИЭВТ АН Латв. ССР). Основным назначением прибора является автоматический анализ цитологических препаратов с целью их классификации на нормальные и патологические. Телевизионная камера, установленная вместо окулярного тубуса на микроскоп МБИ-6, преобразует световую информацию в электрический сигнал, который подается в устройство обработки. В нем производятся выбор уровня дискриминации (уровня ограничения) и измерение геометрических параметров площади и периметра —деталей изображения на выбранном уровне дискриминации. Перемещение предметного стекла с препаратом, поиск клеток и измерение осуществляются автоматически. Затем результаты измерений могут поступать на логическое устройство, в котором задается правило классификации. В выводных устройствах — цифропечатающая машинка и ленточный перфоратор — [c.264]

Металлографический метод определения пористости основан на определении просвета пористого материала по микрофотографиям. Для этой цели используют анализаторы изображений различных видов. К ним, в частности, относится телевизионный микроскоп Кван-тимет-720 , оптическая система анализа изображений с ручным приводом и др. Преимуществом этого метода определения пористости является возможность оценки не только абсолютного значения пористости, но и ее распределения по сечению исследуемого образца. [c.81]

Во многих областях практического применения радиационного неразрушающего конфоля в ближайшее время будет происходить постепенный переход от опоры на специалиста-оператора, интерпретирующего визуальные данные, на специалистов, профессия которых основана на применении ЭВМ и в ценфе которой находятся экспертные системы анализа изображений. [c.97]

Современные методы неразрушающего контроля автоматизированные средства диагностирования с анализом сигналов во времени и системами обработки изображения (АСОИЗ) [c.223]

ОЭП называется прибор, в котором обработка входного сигнала осуществляется как оптическими, тар и электронными системами. Переход от обработки оптического сигнала к обработке электрического сигнала требует анализа изображения. Входной сигнал ОЭП - всегда многомерный оптический, а выходной — электрический или 01ггический. Физическим носителем оптического сигнала является электромагнитное излучение. По шое излучение объекта может состоять из пассивного собственного и отраженного излучений естествет ых и искусственных источников. [c.4]

Итак, для решения задачи синтеза ОЭП, сформулированной в настоящем параграфе, необходимо, чтобы в ТЗ было наложено ограничение на закон анализа изображения, причем пакон анализа должен быть выбран для случаев плоскопараллельного или чисто вращательного переноса поля Е х, у) относительно системы коорданат, в которой задана функция пропускания Л (Ха, уа) (или наоборот, Л (х , > а) относительно (х, >>). [c.20]

Такой подсистемой может быть юдвижный и неподвижный растры, оправа приемника лучистой энергии мозаика фоторезисторов и т. п. В вырожденном случае - это неподвижная диафрагма и стоящий непосредственно за ней приемник лучист13й энергии. Методически удобно отнести к подсистеме анализатор изобр 1жения — развертывающее устройство, характеризуемое некоторым коэффициентом пропускания г и законом перемещения в поле анализа изображения, а также устройство, осуществляющее преобразование многомерного сигнала в одномерный без искажений во временной координата. Таким устройством может быть, например, безынерционный фотоприемник. В этом случае можно считать, что на вход анализатора изображения поступает сигнал в виде распределения освещенности, создаваемого либо оптической системой, либо слоем пространства. [c.60]

Часто задача проектирования ОЭП облегчается наличием прибора-про-тотипа или существованием уже разработг нных узлов ОЭП. Например, произведен выбор оптической системы, осчовных параметров электронного тракта. Требуется осуществить выбор закона анализа изображения. В этом случае оптическая система моделируется набором конструктивных параметров - радиусов кривизны поверхностей, оптических толщин, показателей преломления. [c.149]

Лазерный Фурье-процессор с цифровой ТВ системой для анализа изображений структур разрешение составляет 20 мм в плоскости объекта КОП с набором управляемые транспарантов Интерактивная система обработки изображений с набором программ применительно к задачам микробиологии и металловедения (в том числе вычисление стереологических характеристик сплавов,, композитов и других объектов) [c.115]

Первый Л. 3. был построен 9. Мюллером (Е. W. Miil-1ег) с сотрудниками (1968). Это был узкоапертурньм А. 3. с анализом ионов по времени пролёта (т. и. в р е-м я п р о л ё т н ы й А. 3.). В этом приборе экран полевого ионного микроскопа имеет небольшое зондо-вое отверстие, на к-рое с помощью механич. системы наводится изображение выбранного оператором анализируемого атома. Затем короткий высоковольтный [c.154]

При построении системы анализа стереопар очень важно уменьшить число элементов изображения — для облегчения нахождения соответствующих точек. Как правило, в прикладных задачах оказывается, что анализировать необходимо не всю информацию, содержащуюся в стереопаре, а лишь небольшую её часть. В ряде случаев, вапр., особый интерес представляют сведения-о прямых линиях, в частности о вертикаль- [c.688]

В классической термодинамике равновесных процессов, по существу, обсуждаются процессы перехода между устойчивыми состояниями, поскольку здесь мы. имеем дело с макроскопическими явлениями, рассматривая как некоторый континуум вещество любой системы, например изображенной на рис. 1.1. Отсюда неизбежно возникает предел возможного осмысления поведения физической системы. В то же время конкретная природа вещества и квантование энергии учитываются в статистической термодинамике, предсказывающей макроскопическое поведение системы на основе анализа микроскопических процессов. Это позволяет существенно углубить наши представления о свойствах физических систем. Однако в настоящей книге мы ограничимся изучением основ термодинамики равновесных процессов, обращая особое внимание на процессы, встречающиеся в инлсенерной практике. В качестве введения мы вначале обсудим и определим некоторые термины. широко распространенные и имеющие специальное содер- [c.26]

К сожалению, построение голографической системы передачи изображения по каналам связи еще очень далеко от завершения. Создание такой системы невозможно без предварительного решения ряда проблем, к которым в первую очередь относятся анализ процесса передачи голограмм, изыскание способов оптимального согласования параметров передаваемой голограммы с параметрами системы передачи изображения, создание приемных и передающих устройств гелографической системы, обеспечивающих работу в реальном времени. При рассмотрении этих проблем учтены как соответсг-вующие работы, проделанные в СССР и за рубежом, гак и исследования авторов. [c.169]

Оптические системы согласованной пространственной фильтрации могут найти применение для решения задач обнаружения полностью известных двумерных сигналов (изображений) на сложном шумоподобном фоне, для идентификации изображений в оптических системах распознавания образов, а также для корреляционного анализа изображений. [c.239]

Дальнейший детерминированный анализ становится невозможным, поскольку мы не знаем конкретных значений для каждой пары координат (х,у). Самое большее, на что мы можем рассчитывать, — это на основании статистического распределения коэффициента вычислить средннй частотный отклик системы, проводя усреднение по некоему ансамблю экранов. Конечно, такая средняя частотная характеристика системы, формирующей изображение, вообще говоря, не будет совпадать с ее фактической характеристикой при наличии в ней данного конкретного экрана. Но, поскольку мы не знаем структуры данного экрана, нам ничего не остается, как вычислять среднюю характеристику. [c.346]

Графики на рис. 19—21 позволяют полностью проанализировать области создания панкратических систем различного типя (Л1Щ30ВЫХ, зеркальных и зеркальпо-лпнзовых) в зависимости от передаточных отношений i, 2, перепада увеличений /М и смещения плоскости изображения Д, характеризуемого величиной б. В зависимости от оптической схемы панкратической системы анализ соответствующих областей (рис. 19—21) позволяет выбрать параметры соответствующей панкратической системы. Vo, fi, [2, do, 20 передаточные отношения o, 1 и i , обеспечивающие зада шый перепад увеличений М, и максимально допустимое смещение ПИ Дта-ч. [c.44]

Например, одна из систем анализа изображений предназначена для изучения структуры живых клеток, шлифов минералов, звездного неба, капель бензинов и масел. В этой системе вьщеляются объекты анализируемых изображений (клетки, звезды, пылинки и т. д.). Для каждого объекта определяются площадь, оптическая плотность (степень черноты), длина линии, огибающей этот объект и т. д. Затем проводится классификация объектов, определяются статистические характеристики изображений. В результате обеспечиваются диагностика заболеваний, вьщелеиие спутников на небосводе, определение качества топлива либо решаются другие важные для народного хозяйства задачи. [c.75]

В предыдущих разделах описан порядок построения и анализа изображений в идеальных оптических системах. При этом использовался ряд ограничений, например параксиальности пучков, добиться выполнения которых в реальных системах практически невозможно, Поэтому важно упомянуть о погрешностях аберрациях), возникаюитх в реальных оптических системах, исправлением которых занимается прикладная оптика. [c.73]

Расчет хода лучей, рассмотренный в предыдущих параграфах, позволяет получить значения волновых и поперечных аберраций в любой точке зрачка. Для анализа структуры изображения необходима, как было показано в гл. 2, полная внутренняя функциональная модель оптической системы, включающая в себя в качестве основной составляющей функцию (х, сг, р) волновой аберрации от координат на зрачке, предмете и спектральном интервале. В принципе можно каждый раз, когда понадобится значение волновой или поперечной абаррации в какой-либо точке зрачка, поля и спектрального интервала, рассчитывать необходимый луч и определять требуемые значения. Этот довольно простой путь нерационален, так как при анализе изображения, например, требуются значения аберраций в очень большом количестве точек зрачка (до нескольких десятков тысяч) и ясно, что расчет такого количества лучей займет значительное время. С другой стороны, очевидно, что аберрации изменяются достаточно плавно по зрачку, полю и спектральному интервалу, и для полного суждения об аберрациях обычно достаточно иметь их значения в небольшом количестве точек. В 8 было показано, что волновая аберрация может быть полностью описана при помощи коэффициентов разложения по удачно выбранному базису. Причем требуется сравнительно небольшое количество коэффициентов. [c.124]

Параметры и характеристики приемника излучения (13) выбираются, как правило, из условий обеспечения необходимой чувствительности и наилучшей помехозащищенности всего прибора. При этом важнейшей практической задачей разработчика является оптимальное согласование параметров приемника с параметрами других звеньев ОЭП, а также с параметрами наблюдаемого объекта и среды распространения излучения. Часто приемник выполняет помимо своих основных функций — преобразования световой энергии в электрическую и другие функции, например координатно-чув-ствительные приемники являются одновременно и анализаторами изображения, а многоэлементные мозаичные приемники и фотоматрицы выполняют одновременно функции пространственных фильтров и анализаторов. Конечно, и в этом случае анализ изображения и фильтрация сигнала осуществляются не одним приемником, в них участвуют и другие звенья прибора, и прежде всего объектив и электронный тракт системы. (На рис. 1.2 представлен лишь предварительный усилитель (14) этого тракта.) [c.16]

В настоящей работе исследовалось сухое трение ряда контактных узлов типичнь1х подшипниковых материалов (сталь-латунь, сталь-медь, сталь-алюминий) с помощью комплексной методики, включающей в себя акустическую эмиссию, морфологический анализ продуктов разрушения с использованием автоматизированной системы обработки изображений, исследование температуры на контакте и изучение коэффициента трения. [c.105]

Пример L3.I. Осуществим двойное проецирование точки А из центров S и Sa на плоскость я (рис. 1.3.1). Необходимые графические операции, связанные с построением исходной плоскости и определением проекции точки А, осуществляются пока произвольно. Само изображение задает некоторую аксонометрическую проекцию. Но если мы возьмем вторую произвольную точку В и попытаемся определить две ее центральные проекции на ту же плоскость, то заданный аппарат проецирования требует осуществления уже совершенно строгого построения. Так, две плоскости a(SiAflS2A) и ip(S B П S2B) имеют следы на плоскости л, задаваемые проекциями точек А н Б. Эти следы пересекаются в точке М, лежащей на прямой S1S2. Из данного анализа следует, что произвольно.задать можно лишь одну проекцию точки В, вторую же проекцию необходимо построить исходя из общих структурных требований принятой системы проецирования. [c.31]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...