Дифракция аномальная

Следует отметить, что несмотря на то, что зона / имеет более сложное распределение интенсивности, чем зона II, соответствующее случаю аномальной дифракции [144 ], в ряде случаев удается создать автоматическую аппаратуру, осуществляющую измерение диаметра волокна по анализу размера центрального дифракционного максимума либо одного или нескольких боковых максимумов в зоне /. Достоинством этой зоны является максимальная интенсивность излучения. [c.275]

Fe 25 P Fe-Fe Fe-P P—P 2,61 2,38 3,40 10,4 2,6 (8,i) 3.5 Аномальное рассеяние. Рентгеновская дифракция [72] [c.70]

Ni—20 P Ni—Ni -Ni-P P—P 2,55 2Л5 3,30 10,7 2,2 (8.5) 3.6 Аномальное рассеяние. Рентгеновская дифракция [73] [c.70]

Наряду с экстинкцией существенное влияние на дифракционные свойства поглощающего кристалла оказывает пространственное распределение в нем волнового поля, образованного падающей и дифрагированной волнами. При изменении угла падения плоской волны в границах дифракционного пика максимумы волнового поля в кристалле плавно смещаются в пределах межплоскостного расстояния системы отражающих плоскостей. При их совпадении с атомными слоями наблюдается повышенное поглощение, а при сдвиге поглощение аномально мало. В соответствующей последнему случаю узкой области углов падения сохраняется высокий коэффициент отражения, несмотря на значительное фотоэлектрическое поглощение в кристалле. Этот эффект, впервые наблюдавшийся при дифракции на прохождение, получил название эффекта Бормана [7]. [c.307]

Понятно, что эффективное использование решеток невозможно без серьезного теоретического и экспериментального исследования их дифракционных свойств. Первые работы такого плана появились в начале двадцатого века. Вуд усовершенствовал дифракционную решетку, нанеся на нее борозды известной геометрической формы, что позволило определять распределение энергии по отдельным спектрам, и экспериментально обнаружил свойство аномального рассеяния волн [13, 14]. Рэлей первый представил рассеянное поле вблизи периодической структуры в виде разложения в ряд по плоским волнам, теоретически исследовал дифракцию волн на эшелетте [15,16] и создал один из наиболее известных приближенных методов, которыми располагала теория дифракции до появления строгих решений. [c.6]

Замечание. Как было отмечено, для сочетаний параметров, удовлетворяющих условиям (7.27) и (7.35), развиваемый метод не позволяет найти решение задач. Такая особенность имеет место и в аналогичных задачах акустики и оптики [49, 135, 136], причем вблизи точек, соответствующих указанным сочетаниям параметров задачи, так называемых точек скольжения, наблюдались аномальные явления, которые получили название аномалий Вуда [137]. В случае антиплоской деформации, как и в задачах оптики и акустики, имеется одно семейство точек скольжения, соответствующее одному действительному волновому числу. Для периодических задач в случае плоской деформации существует два семейства точек скольжения для двух действительных волновых чисел. Для трехмерных периодических задач дифракции упругих волн имеется также два семейства точек скольжения, что характерно для упругих волновых задач. [c.164]

Для периодических задач дифракции упругих волн на ряде упругих включений также характерно наличие аномалий Вуда. Однако в этом случае картина напряженного состояния упругого тела существенно зависит от упругих свойств включений, а аномальные явления в окрестности точек скольжения выражены слабее, чем в случае отверстий или абсолютно жестких включений. Напряжения внутри самих включений, как правило, меньше напряжений на краях. Для жестких включений напряжения Огх, могут значительно превышать овх , особенно вблизи точек скольжения, что может привести к отделению волокна от матрицы в волокнистых материалах. [c.183]

По данным нейтронной дифракции, в жидком висмуте содержится около 5% кластеров Bi4. С ростом температуры концентрация этих кластеров в жидкости уменьшается. Выше Т = 950 К наблюдалось аномальное увеличение концентрации димеров Bij. В случае селена регистрировались кластеры до See, причем наибольшую концентрацию имели агрегации Seg и See во всей исследованной области температур. Снова, как и для Sb, найдена тенденция уменьшения концентрации наибольших кластеров с ростом температуры без разрывности в точке плавления. Известно, что твердый селен содержит структурные группировки в виде колец. [c.121]

В системе d—Zn величина ol отрицательна при всех температурах для составов между 10 и 100% (ат.) цинка, за исключением сплавов, лежащих между 80— 95% (ат.). Для последних сплавов и, возможно, для чистого кадмия аь положительна. Возможно, это указывает (исходя из теории Займана [304]) на аномальную концентрационную зависимость структурного фактора а (К), которая должна обнаруживаться при изучении рентгеновской дифракции в сплавах такого состава. [c.123]

Аномальная дифракция. При решении задач о рассеянии оптических волн большими мягкими частицами эффективным оказывается подход, основанный на прослеживании за лучом в пределах шара [2]. При этом в силу малых т преломление луча шаром невелико, а изменениями амплитуды поля за шаром можно пренебречь (коэффициенты отражения Френеля малы). Будем считать поле на плоскости V за шаром (рис. 1.10) равным единице вне геометрической тени. В геометрической тени за шаром учтем изменения поля только по фазе. В точке Q запаздывание фазы [c.31]

Фактор эффективности ослабления при аномальной дифракции легко определяется по оптической теореме из полученных выше амплитудных функций [2 [c.33]

Раньше, в разд. 6.22 и повсюду в гл. 7 (рассеяние Релея — Ганса), делались ссылки на асимптотические формулы для т->1. Одпако этот вопрос не был рассмотрен там до конца. Исследование области т — х, данное в разд. 10.1, показало, что при т->1 имеются два важных предельных случая. Это — рассеяние Релея — Ганса (рассмотренное для шаров в разд. 7,2) и о-но-мальная дифракция, излагаемая в этой главе. Во всех ранее опубликованных работах проблема аномальной дифракции осталась нерассмотренной, и термин аномальная дифракция предлагается здесь для любой теории, основанной на предположениях, что [c.202]

Во многих приложениях существенны только частицы, эффективность ослабления которых относительно велика. Для таких приложений при т применима теория аномальной дифракции. [c.203]

Понятно, что тщательный анализ экспериментов должен подтвердить подобные утверждения, если только на экспериментальные данные действительно влияет, как мы это считаем, указанная структура движения. Из приведенных нами утверждений следует невозможность последовательного истолкования понятий положение электрона и траектория электрона если все же попытаться сохранить эти понятия, то они неизбежно окажутся противоречивыми. Это противоречие настолько резко, что возникает сомнение, может ли вообще быть понята сущность движения в атоме с помощью пространственно-временной формы мышления. С философской точки зрения, я считаю решение вопроса в подобном духе равносильным полному поражению, так как мы в действительности не можем изменить своих методов мышления и все, что не познаваемо с помощью этих методов, не может быть понято вообще. Подобные случаи, возможно, существуют, но я не верю в то, что к ним относится и проблема структуры атома. С нашей точки зрения, нет никаких оснований для подобных сомнений, хотя, или лучше сказать потому, что их причина вполне понятна. Подобным образом мог бы также потерпеть крушение сторонник геометрической оптики, подходя в своих опытах к явлениям дифракции и используя понятие луча, оправданное макроскопической оптикой этот оптик мог бы в конце концов тоже прийти к мысли, что законы геометрии неприменимы к явлениям дифракции, поскольку считаемые им прямыми и независимыми друг от друга световые лучи при этих явлениях каждый раз замечательным образом закручиваются в однородной среде и заметно влияют друг на друга. Я считаю, что здесь имеет место очень тесная аналогия. Даже для необъяснимых закручиваний в атоме эта аналогия сохраняет силу — вспомним о внемеханическом принуждении , придуманном для объяснения аномального эффекта Зеемана. [c.691]

ГД6 мин — мин. длительность импульса при компрессии. В качестве сред с аномальной дисперсией могут быть использованы пары металлов (в области частот вблизи однофотонного резонанса), устройства, состоящие из двух дифракц. решёток, нек-рые типы интерферометров. Оптимальной нелинейной средой для получения фазовой самомодуляции оказываются одномодовые волоконные световоды. Малость нелинейности (для кварцевого волокна % = 3,2-10" см /кВт) с избытком компенсируется возможностью поддержания устойчивого поперечного профиля пучка диам. 3 — 10 мкм па расстояниях порядка длины поглощения Z и 6 (в видимом диапазоне = 10 —10 ем). Оптич. компрессор, состоящий из волновода с нормальной дисперсией и двух дифракц. решёток, позволяет получить S 10. Существ, сжатия могут быть получены и при генерации оптич. солитонов. [c.304]

Определение парциальных структурных факторов, использующее аномальное рассеяние нейтронов, еще не проводилось, но осуществлена попытка выделения парциальных структурных факторов методом рассеяния поляризованных нейтронов в ферромагнитных аморфных сплавах Со—Р [19]. Авторы [19] показали, что высота первого пика Spp(Q) больше высоты первых пиков 5 ooo(QJ и S op(Q)- Это говорит о том, что расстояние между атомами Р велико вследствии их сильного отталкивания и соседние атомы Р не могут находиться в таких положениях, когда они непосредственно соприкасаются друг с другом. Впоследствии авторами [20] проведено вычисление ближайшего атомного окружения по данным рентгеновского рассеяния и рассеяния поляризованных и не-поляризованных нейтронов в аморфном сплаве Со — 20% (ат.) Р. Подобное разделение с использованием аномального рассеяния экспериментально проведено методами рентгеновской дифракции, описанными в [21], на аморфных сплавах Ni—Р [22], Fe—Р [61], Fe—В [23]. [c.69]

Рис. 3.43. Парциальные ФРР аморфного сплава РеузРгз. а — модель СПУ-структуры с релаксацией по анизотропному потенциалу Морзе, построенная из трехгранных призм [57] б — парциальные ФРР, определенные в экспериментах по рентгеновской дифракции с использованием аномального рассеяния [61] 1 — Fe — Fe 2 —Fe —Р 3 —Р —Р

Наличие у ДЛ других порядков дифракции помимо рабочего приводит к тому, что в проекционном объективе, содержащем ДЛ, только часть света, прошедшего или отраженного от предмета, участвует в формировании полезного изображения. Само по себе это обстоятельство не ново светопропускание чисто рефракционных систем также не равно 100 %, однако для дифракционных объективов, во-первых, уровень светопропускания может быть аномально низок (10—20%), во-вторых, свет, дифрагированный в нерабочие порядки линз, попадает в плоскость изображения и искажает его структуру. Масштабы и характер этого искажения кроме эффективности ДОЭ зависят и от других параметров, в частности от фокусного расстояния. Рассмотрим два крайних случая ДЛ с большой оптической силой и дифракционные асферики. [c.213]

Наиболее интересным в плане получения самых разнообразных дифракционных характеристик, но и в то же время наиболее трудным для анализа является резонансный случай, в котором длина волны возбуждения соизмерима с периодом решеток. До широкого внедрения в практику расчетов средств электронно-вычислительной техники исследования в резонансной области обычно замыкались на анализе некоторых частных или предельных ситуаций [30—41]. Вынужденные довольствоваться малым, авторы указанных и других работ заложили прочный фундамент, на котором строится современное здание теории дифракции волн на периодических решетках в резонансной области частот. Действительно, практически в каждом широко используемом сегодня методе построения математических моделей для численных экспериментов на ЭВМ явно просматривается влияние идей и результатов, полученных в 40—60-х годах. Прежде всего это касается метода частичных областей (методов переразложения, сшивания) (25, 42—46], методов теории потенциала (интегральных уравнений) 17, 47—521, модифицированного метода Винера — Хопфа — Фока [53— 56], модифицированного метода вычетов [54], метода полуобращения матричных уравнений типа свертки [25, 57, 58]. Подобная преемственность наблюдается и в желании глубже проникнуть в суть явлений и эффектов, обнаруживаемых при исследовании процессов дифракции волн на решетках различных типов и геометрий в резонансной области частот. Вслед за работами Л. Н. Дерюгина [59, 60], в которых впервые на одном частном примере теоретически проанализированы поверхностный и двойной резонансы в отражательной решетке, появились работы с результатами всестороннего аналитического и численного исследований явлений аномального рассеяния волн в области точек скольжения (на рэлеевских длинах волн) [25, 61—65], полного резонансного прохождения [25, 66, 67] и полного резонансного отражения [7, 25, 29, 53, 57, 64, 68—77] плоских волн в случае полупрозрачных решеток, полного незеркального отражения волн отражательными решетками [25, 78—88] и т. д. [c.7]

В случае периодических задач для волн с волновыми числами, близкими к точкам скольжения , происходит резкое изменение и значительное увеличение напряжений между отверстиями. Такое аномальное явление обнаружено впервые в задачах оптики и акустики для одного волнового уравнения и названо аномалией Вуда. При решении конкретных задач, проведенном в настоящей главе, обнаружено такое же аномальное поведение полей напряжений, возникающих в результате дифракции упругих волн на ряде препятствий. В случае антиплос-кой деформации, как и в задачах оптики и акустики, имеется одно семейство точек скольжения, соответствующее одному действительному волновому числу. Для периодических задач дифракции упругих волн в условиях плоской деформации существуют два семейства точек скольжения для двух действительных волновых чисел. Для трехмерных периодических задач дифракции упругих волн имеется также два семейства точек скольжения в силу того, что в теле могут распространяться два типа волн. Из полученных результатов следует вывод о том, что в конкретных конструкциях необходимо учитывать ее рабочую частоту, чтобы избежать попадания на точку скольжения. [c.183]

Схема с аномально низкой спектральной селективностью межмодовой дифракции [c.97]

Уже в первых работах по исследованию дифракции рентгеновского излучения на внедренных в бакелитовую матрицу аэрозольных частицах РЬ D 200Л [512, 564], Sb, Bi, Sn (D 250 A [512]), Gu Dev 272 и 1300°A), Au (D p = 234 и 950 A) [565] было обнаружено аномальное ослабление рассеянного излучения с ростом температуры. Если этот эффект полностью отнести за счет действия фактора Дебая—Валлера, то в квазигармоническом приближении, учитывающем тепловое расширение частиц по формуле Грюнайзена (см. [8, 512]), получаются следующие значения отношения т] = 0/Эа> 0,84 (Т = 40 К) для РЬ 0,877 (20 °С) для Au и --0,9 (20 °С) для Си. Затем пониженные значения 9 сообщались также при рентгено- и электронографическом исследованиях аэрозольных частиц Ag [566, 567] и Au [568, 569]. Например, для частиц Ag средним диаметром 150 А получено т] = 0,735 [567], а для частиц Au средним диаметром 20 А - т] = 0,69 [569]. [c.197]

Задержку плавления Спиллер объясняет трудностью зарожде-лия жидкости на плотноупакованных гранях 111 пластинчатых кристаллитов. В подтверждение этого заключения он приводит экспериментальные результаты работ [627, 628]. В работе [627] методом дифракции медленных электронов не было обнаружено какого-либо изменения структуры граней (111), (100), (110) РЬ, (0001), (0112) Bi и (110) Sn вплоть до точки плавления массивного металла. Сток [628] непосредственно исследовал поверхностное плавление сферического монокристалла Си диаметром несколько миллиметров с помощью оптического микроскопа по различию светимости твердой и жидкой фаз. Он детектировал появление жидкой пленки толщиной в несколько монослоев немного ниже Гоо повсюду на сфере, за исключением мест выхода граней 111 и 100 . Отсутствие аномальных эффектов при плавлении округло-ограненных частиц РЬ в ранних работах, по мнению Спиллера, указывает на возможность по крайней мере некоторых граней плавиться ниже [c.213]

Аномальные структуры, найденные для некоторых жидких металлов по результатам изучения дифракции (см. раздел 1), можно также классифицировать как ап-тикристаллические , потому что возможен дальнейший рост переохлаждения и, следовательно, структура этих жидкостей не в состоянии образовывать зародыши твердого тела и поэтому твердое состояние структурно должно отличаться от нее. Эта антикристалличность , возможно, наиболее значительна в жидком селене, теллуре [c.161]

Поэтому жидкие сплавы в этих системах могут вести себя таким же образом в отношении чистых компонентов если последние показывают аномальную структуру (например, Bi—Sb), тогда так же будут вести себя и сплавы, степень отклонения сплавов от поведения свободных электронов, например, должна быть подобной степени отклонения для чистых компонентов. Желательно прямое исследование этих систем кажется, невозможно получить много информации о структуре из физических измерений. Необходимо далее изучать их электронные свойства, чтобы установить достоверность существования аномалий удельного сопротивления при атомном отношении 2 1 или 1 2 и определить предел, до которого можно использовать модель свободных электронов, чтобы описать эти свойства. Размерный фактор может влиять на зависимость от состава некоторых электронных свойств, способствуя образованию составов сплавов с относительно эффективной или неэффективной упаковкой атомов и, следовательно, влияя на зависимость от состава величин g(r) и а(К). Этот эффект также следует распознавать при изучении дифракции и, возможно, оценивать при определении измерений плотности, вязкости или даже термодинамических свойств. Аномальная зависимость магнитной восприимчивости от состава в системе Fe—Со может быть ложной, как и отсутствие скачка в температурном коэффициенте удельного сопротивления в системе Bi—Sb. Явная простота этих систем побудила исследователей игнорировать их. С теоретической точки зрения с ними легче обращаться, чем с более сложными спла- [c.169]

Для описания каналирования с помощью дифракционных явлений были сделаны различные попытки. Наблюдение аномального прохождения в направлениях плоскостей решетки напоминает эффект Боррмана. Но некоторые размышления показывают, что двухволновая динамическая теория, используемая обычно при обсуждении эффекта Боррмана даже для электронов, здесь совершенно непригодна. Для протонов длина волны составляет приблизительно 1/40 длины электронной волны с той же энергией. В то же время сила упругого взаимодействия с веществом, определяемая величиной <т = jt/A , будет приблизительно в 40 раз больше, и степень неупругого рассеяния относительно еще больше. Следовательно, в случае дифракции протонов толщина кристалла, в которой имеет место когерентная дифракция, составит десятки ангстрем, число одновременных отражений будет очень велико и сфера Эвальда будет почт плоской. При этих обстоятельствах приближение фазовой решетк с учетом поглощения должно быть достаточно точным, чтобы его применили к любому возможному наблюдению при дифракции протонов или более тяжелых ионов. [c.329]

Второй случай относится к большим частицам. Ван де Хюлст назвал его аномальной дифракцией. В этом случае показатель [c.29]

В предельном случае малых х формула (1.68) переходит в формулу теории Рэлея—Ганса. При больших значениях х угловая зависимость интенсивности рассчитывается по формуле (1.68). Такой расчет был проведен Ван де Хюлстом [2] и показал, что угловое распределение интенсивности имеет характер дифракционной картины, положение и уровень минимумов и максимумов в которой зависят от X и р и отличаются от картины при фраунгоферов-ской дифракции, т. е. имеет место аномальная дифракция. Следует отметить при этом, что приближенная теория аномальной дифракции не учитывает поляризацию рассеянного излучения, что существенно, если углы рассеяния превышают 20°. [c.33]

Это амплитуда рассеяния на малые углы для дифракции Фраунгофера. Она имеет характерные нули и максимумы, положение которых совпадает с нулями и максимумами функции Бесселя Jl. Более общий результат (3.56) отличается от результатов, получающихся при дифракции Фраунгофера Хюльст назвал его аномальной дифракцией. [c.75]

Однако для фиксированного пг всегда имеется значение х, вблизи которого Qo л. возрастает почти от О до величины порядка 2, что является его предельным значением при х->оо (разд. 8.22). Это значение х возрастает с уменьшением т, и оказывается (см. рис. 24), что положения на кривой характерных максимумов и минимумов, а также участков возрастания кривой определяется фиксированным значением р, В теории аномальной дифракции р полагается фиксированным, и затем совершается переход т 1. Отсюда следует, что х->оо, а Qo л. становится [c.202]

Возможные случаи суммируются в табл. 14. Эту таблицу можно расматривать как часть исследования, данного в разд. 10.1 (рис. 20), и поэтому пять ее столбцов обозначены соответствующим образом. Правильное описание физических процессов в области Релея — Ганса сводится к интерференции света, независимо рассеянного всеми элементами объема. Для области аномальной дифракции это будет прямолинейное распространение и последующая дифракция согласно принципу Гюйгенса. В этой области интенсивность рассеянного света всегда концентрируется вблизи первоначального направления распространения. [c.203]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...