Плоская дифракционная решетка

Фиг. 6.5. Параметры плоской дифракционной решетки.

Рис. 44. Плоская дифракционная решетка в оправе

Теория плоской дифракционной решетки [c.203]

Теория плоской дифракционной решетки была создана Роуландом [3.1] еще в 1893 г. и практически осталась без изменений за исключением несущественных для практики уточнений) до настоящего времени. Мы будем придерживаться теории Роуланда. [c.203]

Монохроматоры с плоской дифракционной решеткой и с преломляющей оптикой строят иногда по схеме рис. 71. Для видимой области легко подобрать хорошие ахроматические объективы Об, и 06 так, что переход по длинам волн может осуществляться только поворотом решетки вокруг оси О при неподвижных щелях. [c.128]

В спектрометрах СФ-4 в настоящее время вместо призмы устанавливают плоскую дифракционную решетку или реплику с нее также по автоколлимационной схеме, приведенной на рис. 99. Эти спектрометры выпускают под маркой СФД-1. [c.129]

Наряду с плоскими дифракционными решетками изготовляются и вогнутые дифракционные решетки, объединяющие в себе два оптических элемента — сферическое зеркало и решетку, нарезанную на вогнутой поверхности. Такие решетки обладают свойствами фокусировать дифрагированные лучи. Постоянная й измеряется по хорде, так как штрихи решетки образуются в результате пересечения вогнутой поверхности с равноотстоящими и параллельными друг другу плоскостями. [c.349]

В случае скрещенных дисперсий в качестве вспомогательного диспергирующего элемента могут быть использованы плоская дифракционная решетка, работающая в первом порядке спектра, или призма-клин с небольшим преломляющим углом у. На рис. 7.1.13 и 7.1.14 показано расположение спектров для обоих случаев. [c.438]

Интерферометр Фабри—Перо Я расположен после выходной щели дифракционного монохроматора и для получения максимальной светосилы работает в параллельных лучах. Монохроматор, построенный на основе плоской дифракционной решетки О, имеющей 1200 штр/мм и работающей во втором порядке, служит для выделения нужного участка спектра. [c.503]

Цель работы научиться собирать установку с плоской дифракционной решеткой и юстировать спектр, рассчитывать основные характеристики дифракционных решеток, оценивать разницу в спектрах амплитудной (прозрачной) и фазовой (отражательной) решеток. [c.509]

На рис. 22.7 представлена схема двухканального интерференционного спектрометра. Интерферометр Фабри—Перо расположен после выходной щели дифракционного монохроматора и для получения максимальной светосилы работает в параллельных лучах. Монохроматор, построенный на основе плоской дифракционной решетки О, имеющей 1200 штрих/мм и работающей во втором порядке, служит для выделения нужного участка спектра. [c.178]

Вместо призмы 3 может быть установлена плоская дифракционная решетка. Расположение оптических осей входного и выходного [c.344]

ПЛОСКАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА [c.361]

Рассмотрим действие отражательной плоской дифракционной решетки. Для простоты рассуждений остановимся на случае, когда параллельный пучок лучей падает на решетку параллельно нерабочим граням штрихов (рис. 236). Предположим, что излучение падает только на один элемент дифракционной решетки DGH и точка Н находится на крайнем правом элементе решетки. Лучи 1 волнового фронта EG приходят в точку D позже, чем в точку О. Разность хода между ними равна [c.361]

ПЛОСКАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА 365 [c.365]

Плоские дифракционные решетки с 1200, 600, 300 и 200 штрихами на 1 мм изготовляются на винтовых делительных машинах. В качестве заготовки используется стекло с малым коэффициентом линейного расширения — пирекс (МКР-1). Рабочая часть заготовки полируется с точностью до 0,05 к. В пределах нарезаемой площади поверхность должна иметь высокую чистоту, так как наличие царапин, пузырей и т. д. приводит к быстрой порче резца, увеличивает рассеянный свет и может вызвать местные ошибки в постоянной решетки. [c.377]

По светосиле плоские дифракционные решетки превосходят призмы, так как они могут быть изготовлены со значительно большей апертурой. Вогнутые решетки в этом отношении могут уступать призменным системам. [c.386]

В фокальной плоскости объектива. Параллельные пучки лучей от объектива падают на новерхность плоской дифракционной решетки 4, дифрагируют на ней и, возвратившись к объективу 3, фокусируются им в плоскость фотопластинки 6. в приборе установлены две плоские решетки с числом штрихов на 1 мм 600 и 1200. Решетка 5 может быть установлена вместо решетки 4 поворотом на 180°. Фокусное расстояние зеркального объектива 4 м, а его световой диаметр 390 мм. Щель прибора симметричная, ее максимальное раскрытие составляет до 0,4 мм, точность установки [c.401]

Действие отражательного эшелона (рис. 282) по существу аналогично действию плоской дифракционной решетки. Пучок лучей падает и дифрагирует вблизи нормали к узким рабочим граням ступенек. В теории отражательного эшелона основными геометрическими параметрами являются высота ступени (толщина пластины)/ , ширина ступени и число пластин N. Разность хода между лучами 1 и 2, дифрагированными от двух соседних ступеней, составляет А=КС + СО + ОЕ. [c.448]

Аномальное отражение и прохождение звука через пластинку нетрудно пояснить следующим образом (рис. 308) ). Пусть на пластинку из жидкости падает плоская звуковая волна, когда условие совпадения (например, для изгибных волн) выполнено, пластинка начинает сильно излучать. Пластинку, в которой возбуждена система стоячих волн (см. рис. 309, 310), можно рассматривать как плоскую дифракционную решетку, составленную из двух бегущих синусоидальных решеток, соответствующую волнам, распространяющимся в пластинке в противоположном направлении. Поршневых колебаний, когда пластинка пульсирует по всей длине с одинаковой амплитудой, пластинка не совершает, и поэтому, если говорить на спектральном языке, спектр нулевого порядка (плоская волна по нормали к решетке) за пластинкой не возникает. В то же время, синусоидальная изгибная волна, бегущая по пластинке в одном направлении, дает один боковой спектр +1-го порядка, а волна, бегущая в противоположном направлении, дает спектр—1-го порядка соответственно под углами, удовлетворяющими условию [c.510]

ПЛОСКАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА ПРИНЦИП РАБОТЫ РЕШЕТКИ [c.358]

Выражение (VII.71) является основным уравнением плоской дифракционной решетки. В этом выражении для решетки каждому значению k = , 2, 3,. .. соответствуют спектры 1-го, 2-го и вообще k-TO порядка. Если на решетку падает монохроматическое излучение, в фокальной плоскости выходного коллиматорного объектива получается ряд монохроматических изображений, соответствующих различным значениям к. Если же падающее излучение имеет сложный спектральный состав, то, как видно из формулы (VII.71), при данном угле падения а для каждого к угол дифракции р есть функция длины волны. Таким образом, каждому значению к соответствует отдельный спектр к-то порядка. [c.362]

В качестве примера рассмотрим зеркальные двойные монохроматоры с плоскими дифракционными решетками, построенные по горизонтальной несимметричной схеме с 2-образным ходом лучей (рис. VII.31). [c.388]

В качестве примеров рассмотрим спектрографы со скрещенной дисперсией СТЭ-1 и с плоской дифракционной решеткой ДФС-8. [c.405]

Необходимо отметить существенное различие между дифракцией света, падающего на плоскую дифракционную решетку, и дифракцией рентгеновских лучей в трехмерном кристалле. В первом случае угол падения не равен углу, под которым выходит дифрагированный луч. В оптике устанавливается связь между этими двумя углами, длиной световой волны Х и расстоянием между соседними штрихами дифракционной решетки. Закон Вульфа—Брэгга предполагает, что падающие рентгеновские лучи отражаются зеркально (угол падения равен углу отражения). Поэтому условие наилучшего отражения, по Вульфу— Брэггу, связывает угол падения с длиной волны и расстоянием между соседними параллельными отражающими плоскостями, при этом совершенно не учитывается расположение атомов в отражающей плоскости. [c.55]

Можно сделать неправильный вывод, что интерферометр Фабри—Перо — самый лучший прибор для лазерной спектроскопии, хотя бы потому, что в спектроскопии высокого разрешения, т. е. в спектроскопии газовых лазеров, он — единственный прибор, обеспечивающий необходимое разрешение. Но при быстрых спектральных наблюдениях лучше всего пользоваться призменным спектрометром. А для точных измерений длин волн больше всего подходит метровый монохроматор Черни—Тернера с плоской дифракционной решеткой. Он особенно выгоден тогда, когда требуется разрешить вранхательные линии в излучении инфракрасных молекулярных лазеров. [c.334]

Общая теория дифракционной решетки. Пусть на отражательную одномерную перподпческую решетку с периодом (1 падает световая волна. В соответствии с принципом Гюйгенса — Френеля [1.2] каждую точку поверхности решетки можно рассматривать как центр вторичных сферических волп. Результирующее световое колебаппе в любой точке пространства вне решетки мы найдем суммированием вторичных волп. приходящих в данную точку пространства от всех точек дифракционной решетки, с учетом их фаз п амплитуд. В да.льнейшем будем рассматривать решетку конечных размеров, а результирующее поле искать в удаленной от нее точке, что соответствует дифракции Фраунгофера [1.2]. Кроме того, будем считать, что и источник света также находится в достаточно удаленной точке н от него на решетку падает плоская волна. Эти условия соответствуют использованию плоской дифракционной решетки в снектральтнлх приборах с входным п выходным коллиматорами. [c.203]

I 3.8, Основные схемы спектральг1ых приборов с плоскими дифракционными решетками [c.257]

Заменим зеркала 4 и 5 з интерферометре Майкельсона плоскими дифракционными решетками (рис. 56). Каждая ре--щетка сохраняет отраженный фронт волны плоским, но ПО ВО-рачивает его на угол, зависящий от длины волны. Разность хода между двумя лучами, таким образом, для различных длин-волн меняется при движении вдоль решетки по линейному закону. В то же время пространственная частота распределения освещенности в интерференционной картине зависит от длины-волны не только непосредственно через соотношение (38), но и вследствие того, что угол е сам является функцией к. Сопоставление рис. 54 и 56 показывает, что приборы эти по принципам действия вполне эквивалентны. Различие заключается в том,, что в спектрометре, показанном на рис. 56, пространственный фильтр выделяет составляющие спектра с очень большими Тх т. е. пространственные частоты х 0. [c.63]

На рис. 118 приведена схема автоколлимационного спектрографа с плоской дифракционной решеткой, где в качестве объек- тива использован ахроматический объектив со стеклянной оптикой. Такой прпбор пригоден для работы в видимой и ближайшей инфракрасной областях спектра. [c.148]

Это условие, очевидно, будет соблюдено, когда крест питей п его изображепие в окуляре Гаусса будут совпадать. Для этого поворачивают призму различными ее гранями и всякий раз проверяют, можно ли получить необходимое совмещение изображения с самим предметом Если этого достигнуть нельзя, следует изменить положение оси коллиматорной трубы или поло /кение оси призмы. Таким же образом проверяется установка оси второго выходного объектива относительно вертикальной оси призмы. В случае, если вместо призмы в приборе используется плоская дифракционная решетка, указанные выше юстировочные оиера-дии производятся в свете центрального белого максимума. [c.158]

Для целей эмиссионного анализа очень пригодны спектрографы ДФС-13, которые ранее были известны как модель ДФС-3. Они, как ранее тоже отмечалось, снабн ены плоскими дифракционными решетками (см. гл. 2, 5, С). К этому же типу приборов относится [c.592]

С и е к т ) о графы с п р и з м а м и и д и ф-р а к ц ц о II II ы м и решетка м п. Рядом с не-лзиестным спектром фотографируют эталонный спеБтр сравнения. /1,ля этой цели применяют диафрагмы, помещаемые в стигматич. приборах (призменных, с плоскими дифракционными решетками) перед щелью, а в случае вогнутых дифракционных решеток — непосредственно перед фотопластинкой. [c.36]

Рис. 7. а - схема дифрак-штонного монохроматора. )берта — Фасти. I., и ,ц— сферические зерь ала, Л — плоская дифракционная решетка. Сканирование спектра осуществляется поворотом ренштки. б — форма входной. Я, и выходной 5 г щелей. [c.327]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...