Отражательный эшелон

В отражательном эшелоне Майкельсона, применяемом в широкой спектральной области, предел разрешения [c.48]

Полагая толщину ступеней отражательного эшелона f=5 л.и [c.136]

Для измерения длин волн в вакуумном ультрафиолете могут применяться и интерферометрические методы отражательный эшелон в сочетании с дифракционной решеткой применялся в [c.234]

Теория отражательного эшелона аналогична теории прозрачного эшелона. Пусть лучи света ЕС и С А (рис. 163) падают нормально па поверхности ступеней эшелона, покрытых металлом, имеющим высокий коэффициент отражения. [c.211]

Рис. 163. Отражательный эшелон Майкельсона.

Разрешающая способность отражательного эшелона будет [c.212]

Отражательный эшелон является мощным прибором высокой разрешающей сплы. Кроме того, являясь часто отражательным устройством, эшелон может применяться в широкой спектральной области. [c.212]

Отражательные эшелоны собираются из пластин, изготовленных из плавленого кварца. Пластины соединяются на оптическом контакте. Рабочая поверхность эшелона покрывается зеркальным слоем. Толщина пластин должна выдерживаться с точностью до 0,01 наиболее короткой длины волны той области спектра, на которую рассчитывается эшелон. [c.448]

Действие отражательного эшелона (рис. 282) по существу аналогично действию плоской дифракционной решетки. Пучок лучей падает и дифрагирует вблизи нормали к узким рабочим граням ступенек. В теории отражательного эшелона основными геометрическими параметрами являются высота ступени (толщина пластины)/ , ширина ступени и число пластин N. Разность хода между лучами 1 и 2, дифрагированными от двух соседних ступеней, составляет А=КС + СО + ОЕ. [c.448]

Предел разрешения, т. е. минимальный интервал длин волн, разрешаемый отражательным эшелоном, равен [c.448]

Рис. 282. Схема дифракции на отражательном эшелоне

Пусть отражательный эшелон имеет следующие параметры /1=10 мм, g = 1 мм, N = 30, fou = 1000 лш. [c.449]

Как следует из рассмотренного примера, отражательный эшелон обладает весьма высокой дисперсией и разрешающей способ- [c.450]

Рис. 283. Распределение энергии в спектре отражательного эшелона

Большим достоинством отражательного эшелона является то, что он пригоден для работы в широком диапазоне спектра от вакуумной ультрафиолетовой до далекой инфракрасной области. [c.450]

Так же, как и отражательный эшелон, эталон Фабри — Перо требует предварительной монохроматизации излучения. Наиболее часто применяют скрещивание эталона со спектрографом. Возможна его установка за выходной щелью монохроматора, при этом на эталон должны падать параллельные пучки лучей, [c.458]

Более важное значение имеет отражательный эшелон. У него каждая [c.377]

На практике обычно пользуются отражательными эшелонами, предложенными в 1933 г. Вильямсом (рнс. 6.33) и называемыми обыч1ю эшелонами Майкельсона — Вильямса. Эшелон Майкельсона — Вильямса состоит из ряда пластин из плавленого кварца. Специальная обработка пластин позволяет добиться оптического контакта. В результате все устройство как бы вырезано из одного куска плавленого кварца. Спектральные характеристики, в том числе и разрешающая способность эшелона Майкельсона — Вильямса, выше разрешающей способности эи1елоиа Майкельсона. Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В принципе эшелон Майкельсона — В1 пзямса можно было бы использовать также в ультрафиолетовой области. Однако это связано с очень высокой, практически неосуществимой точностью изготовления. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль [c.153]

Наиболее типичные способы сочлепепия отражательного эшелона со спектральным нриборол представлены на следующих рисунках. [c.213]

СДВИГОВ уровней энергии атомов, изучение вакуумных эффектов, исследование тонкой структуры линий рэлеевского рассеяния и др. К спектроскопам высокой разрешающей силы относятся ступенчатая решетка (эшелон Майкельсона) отражательный эшелон, пластина с боковым входом луча (пластина Люммера—Герке) интерферометр (пластина) Фабри —Перо и сложный интерферометр-мультиплекс (на основе последнего прибора). [c.448]

Спектральные характеристики отражательного эшелона — угловая дисперсия, угловая величина области дисперсии, спектральная величина области дисперсии и разрешающая способность — определяются по формулам (VII.49) — ( 11.53), выведенным для эшелле. [c.448]

Так же, как и для эшелетт, распределение 1штенсивности излу- чения в спектре отражательного эшелона определяется уравнением [c.449]

Помимо прозрачного эшелона, существует отражательный эше лон, работающий подобно отран ательной решетке. Такие эшелоны строятся из кварцевых пластинок (чаще используется плавленый кварц), посаженных на оптический контакт. Существенными при этом являются не оптическая толщина и однородность пластинок, а их метрическая толщина. Так как в случае отражательного эпгело-на световые пучки дважды проходят толщину ступеньки, то метрическая точность в изготовлении поверхностей пластинок до.лжна быть в 4 раза выше, чем для прозрачного эшелона. [c.211]

Майкельсону принадлежит также идея использования эшелона как отражательной решетки. Такой эшелон был построен Вильямсом в 1933 г. из пластин плавленого кварца. Тщательно очищенные пластины кварца сажались на оптический контакт и нагревались до температуры, значительно меньшей температуры плавления кварца. В результате пластины прилипали друг к другу настолько прочно, что после охлаждения их удавалось отделить одна от другой только при значительном усилии. Отражающие ступеньки эшелона покрывались алюминие1 1, напыленным в вакууме. [c.319]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...